一種紅外熱像儀快速測量材料表面發射率的方法
【專利摘要】本發明公開了一種紅外熱像儀快速測量材料表面發射率的方法，涉及紅外熱成像溫度測量【技術領域】，包括紅外熱像儀、黑盒及加熱平臺，其測試步驟如下：1）獲取紅外熱像儀對環境溫度下黑盒的響應；在保持環境溫度不變的情況下，該過程只進行一次就足夠，其數據將存入計算機以備調用。2）將被測物加熱到一個比較高的溫度一般大于等于70℃，獲取紅外熱像儀對于被測物的響應；3）依據公式進行運算既可以得到準確的發射率測量結果。該測量方法對于紅外熱像儀，僅需對紅外熱像儀增加一個輔助裝置，能夠快速測量復雜材料表面的發射率，提高紅外熱像儀發射率檢測速度及檢測效率，同時保證檢測結果的準確可靠，擴大紅外熱像儀的使用范圍。
【專利說明】一種紅外熱像儀快速測量材料表面發射率的方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及紅外熱成像溫度測量【技術領域】。
【背景技術】
[0002]紅外熱像儀作為一種無損、非接觸的測溫裝置，廣泛應用于電力電子、建筑、鋼鐵、微電子等領域。紅外熱像儀的基本物理原理是普朗克黑體輻射定律，該定律揭示了理想黑體輻射與溫度及波長之間的關系。但是，現實中的物體都不是黑體，要采用紅外手段測量非黑體的溫度就必須首先獲得被測物體表面的發射率，這是紅外準確測溫的關鍵前提。發射率測量不準確，最終的紅外溫度測量結果也必然受到影響。
[0003]理論上發射率的測量較為簡單，根據公式可知只需在已知溫度下獲取輻射量即可得到被測表面的發射率。但是，實際的紅外測溫裝置都是處在一定的環境條件下的，環境條件中的紅外輻射不可避免的會入射到被測表面，由于被測表面都不是黑體，所以必然存在著對于環境輻射的反射。所以對于紅外熱像儀總的入射量，表示為公式，
【權利要求】
1.一種紅外熱像儀快速測量材料表面發射率的方法，其特征在于利用紅外熱像儀和加熱平臺進行測量，并設有一個黑盒，所述黑盒為表面留有一個圓孔的封閉箱體，黑盒上的圓孔與紅外熱像儀的鏡頭尺寸匹配，其測試步驟如下: 1)保持環境溫度Ta不變，把紅外熱像儀的鏡頭由黑盒的圓孔深入黑盒內，利用紅外攝像儀獲取黑盒的總光子通量響應值，作為標定值進行存儲； 2)利用加熱平臺對被測物進行加熱至Ts； 3)把紅外熱像儀的鏡頭上黑盒取下，利用紅外熱像儀測量被測物體表面的總光子通量響應值； 4)計算被測物體在溫度7；下的表面發射率為e二0-03，完成物體表面發射率的快速測量。
2.根據權利要求1所述的一種紅外熱像儀快速測量材料表面發射率的方法，其特征在于在步驟2中，溫度7；大于等于70°C。
3.根據權利要求1所述的一種紅外熱像儀快速測量材料表面發射率的方法，其特征在于所述黑盒由金屬材質加工而成的、內壁涂有黑色涂料的箱體。
4.根據權利要求1所述的一種紅外熱像儀快速測量材料表面發射率的方法，其特征在于所述的紅外熱像儀型號為H2640/H2640D。
【文檔編號】G01N25/20GK103675019SQ201310669324
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年12月11日 優先權日:2013年12月11日
【發明者】翟玉衛, 梁法國, 鄭世棋, 喬玉娥, 劉霞美 申請人:中國電子科技集團公司第十三研究所