光學檢測設備及方法
【專利摘要】一種光學檢測設備及方法，該光學檢測設備是用以檢測一弧面待測物，并包含一攝影機和一環形燈。該攝影機間隔地面向該弧面待測物。該環形燈位于該攝影機與該弧面待測物間，且其中心位在該攝影機與該弧面待測物的連線上，該環形燈分割成不同時發光的一第二發光部與一第一發光部，該方法是通過該第二發光部和該第一發光部分別朝該弧面待測物發光，且其光線通過在該弧面待測物的表面漫射至該攝影機分別形成一第一影像與一第二影像，對位比較該第一影像與該第二影像以找出該弧面待測物是否有瑕疵。
【專利說明】光學檢測設備及方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種光學檢測設備及方法，特別是檢測弧面待測物的光學檢測設備及方法。
【背景技術】
[0002]由于電子產品的興起，帶動了很多的產業蓬勃發展，像是一些專門生產電子元件的工廠等等。然而由于電子產品內部電子元件的構造越來越復雜，所以必然要在組裝完成電子產品前，就先對各式的電子元件進行檢測，以確保出貨時給消費者的合格率。
[0003]參閱圖1，現有一種光學檢測架構，包含:一攝影機61及一環形燈62。當該光學檢測架構用于檢測一待測物63時，該待測物63置于該環形燈62的中央，且該環形燈62位于該攝影機61與該待測物63間，并通過該環形燈62發光，使該待測物63的漫射光被攝影機61所擷取。然而當該待測物63具有弧形邊緣631的時候，自該環形燈62發射出的光線會在該弧形邊緣631上，則會如圖2所示產生入射角Θ等于反射角Θ，且反射光剛好射入該攝影機61的正反射，因為正反射的原因，該攝影機61在所述區域收到過多的光線，因而會如圖3所示，在一影像64上出現兩個相互間隔的過曝亮帶641，而二個過曝亮帶641分別是來自于該待測物63的二弧形邊緣631，導致在進行檢測該待測物63時，無法辨別該過曝亮帶641是否有瑕疵問題。
【發明內容】
[0004]本發明的目的在于提供一種能夠檢測具有弧形邊緣的待測物的光學檢測設備。
[0005]本發明光學檢測設備，是用以檢測一弧面待測物，并包含:一攝影機和一環形燈。該攝影機，間隔地面向該弧面待測物。該環形燈，位于該攝影機與該弧面待測物間，且其中心位在該攝影機與該弧面待測物的連線上，該環形燈分割成不同時發光的一第二發光部與一第一發光部，該第二發光部和該第一發光部會分別朝該弧面待測物發光，且其光線通過在該弧面待測物的表面漫射至該攝影機分別形成一第一影像與一第二影像。
[0006]較佳地，該攝影機具有一感光的電荷耦合裝置，以及一設于該環形燈與該電荷耦合裝置間的透鏡。
[0007]較佳地，該環形燈的橫截面為正圓形。
[0008]較佳地，該第二發光部和該第一發光部對稱地自該環形燈分割，使該第一發光部與該第二發光部的橫截面分別呈一半圓形。
[0009]較佳地，本光學檢測設備還包含一控制單元，該控制單元用以控制該第二發光部與該第一發光部輪流發光。
[0010]本發明的另一目的，即在提供一種能夠檢測具有弧形邊緣待測物的光學檢測方法。
[0011]該方法包含以下步驟:將一環形燈的一第一發光部朝一弧面待測物發光。利用一攝影機擷取自該弧面待測物漫射的光線形成一第一影像并進行檢測。將該環形燈的一第二發光部朝該弧面待測物發光。利用該攝影機擷取自該弧面待測物漫射的光線形成一第二影像并進行檢測。將該第一影像與該第二影像對位比較找出該弧面待測物是否有瑕疵。
[0012]較佳地，其中，該第二發光部與該第一發光部對稱地自該環形燈分割。
[0013]本發明的功效在于:通過將該環形燈分割成該第二發光部和該第一發光部，以及閃頻方式的發光，搭配兩次的拍攝，就能夠確切的檢測具有弧形邊緣的弧面待測物是否具有瑕疵，故確實能達成本發明的目的。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0014]圖1是一不意圖，說明現有技術；
[0015]圖2是現有技術的局部放大示意圖；
[0016]圖3是一示意圖，說明該現有技術拍攝的一影像；
[0017]圖4是一示意圖，說明本發明光學檢測設備的一較佳實施例；
[0018]圖5是一仰視圖，說明該較佳實施例的一弧面待測物與一環形燈的相對位置關系;
[0019]圖6是一示意圖，說明該較佳實施例拍攝的一第一影像；
[0020]圖7是本發明光學檢測方法的流程示意圖；
[0021]圖8是一示意圖，說明該較佳實施例；及
[0022]圖9是一示意圖，說明該較佳實施例拍攝的一第二影像。
【具體實施方式】
[0023]下面結合附圖及實施例對本發明進行詳細說明，應當注意在以下的說明內容中，類似的元件是以相同的編號來表示。
[0024]參閱圖4與圖5，本發明光學檢測設備的一較佳實施例，是用以檢測一弧面待測物4，并包含:一攝影機1、一環形燈2與一控制單元3。該攝影機I間隔地面向該弧面待測物4。該環形燈2位于該攝影機I與該弧面待測物4間，且其中心位在該攝影機I與該弧面待測物4的連線上，該環形燈2分割成不同時發光的一第二發光部21與一第一發光部22，且具體來說，該環形燈2具有一燈座23及數個設置于該燈座23上的LED燈24，所述LED燈24面朝該弧面待測物4，且其中一半數量的LED燈24屬于該第二發光部21，另一半數量的LED燈24屬于該第一發光部22，換句話說，所述LED燈24會分成兩部分輪流發光。該控制單元3用以控制該第二發光部21與該第一發光部22輪流發光。前述的環形燈2態樣僅為舉例，本發明并非以此為限，詳細來說，該攝影機I具有一感光的面陣電荷耦合裝置
11(AreaC⑶)，以及一設于該環形燈2與該電荷耦合裝置11間的透鏡12。該弧面待測物4具有二面向該攝影機I的弧形邊緣41。該環形燈2的橫截面能夠為正圓形、正方形等等，但以正圓形效果最佳。該第二發光部21和該第一發光部22對稱地自該環形燈2分割，例如但不限于該第一發光部22與該第二發光部21的橫截面分別呈一個半圓形，且該弧面待測物4位于該環形燈2的中央，二個弧形邊緣41分別鄰近該第二發光部21和該第一發光部22。
[0025]參閱圖7，接下來說明該較佳實施例的光學檢測方法，首先步驟SI 一將該環形燈2的該第一發光部22朝該弧面待測物4發光。如圖4所示，由于該環形燈2的該第一發光部22鄰近該弧面待測物4的其中半側，因而只有在該弧面待測物4鄰近該第一發光部22的弧形邊緣41會產生正反射，而另一側的弧形邊緣41則不會有此現象產生。
[0026]步驟S2 —利用該攝影機I擷取自該弧面待測物4漫射的光線形成一第一影像52并進行檢測。如圖6所示，自該第一發光部22發光后，其光線通過在該弧面待測物4的表面漫射至該攝影機I產生的該第一影像52只具有一過曝亮帶521，因而在對該第一影像52進行檢測時，將避開具有該過曝亮帶521的部分。
[0027]步驟S3—將該環形燈2的該第二發光部21朝該弧面待測物4發光。如圖8所示，由于該環形燈2的該第二發光部21鄰近該弧面待測物4的另一半側，因而只有在該弧面待測物4鄰近該第二發光部21的弧形邊緣41會產生正反射。
[0028]步驟S4 一利用該攝影機I擷取自該弧面待測物4漫射的光線形成一第二影像51并進行檢測。如圖9所示，自該第二發光部21發光后，其光線通過在該弧面待測物4的表面漫射至該攝影機I產生的該第二影像51只具有一過曝亮帶511，因而在對該第二影像51進行檢測時，將避開具有該過曝亮帶511的部分。
[0029]步驟S5 —將該第一影像52和該第二影像51對位比較找出該弧面待測物4是否有瑕疵。將該第二發光部21和該第一發光部22發光所分別產生的該第一影像52和該第二影像51重疊，并避開該過曝亮帶521和該過曝亮帶511，則可以完整的確認該弧面待測物4是否有瑕疵。
[0030]綜上所述，通過將該環形燈2分割成該第二發光部21和該第一發光部22，以及閃頻方式的發光，再分別做兩次的拍攝動作，就能夠確切的檢測具有弧形邊緣41的弧面待測物4是否具有瑕疵，故確實能達成本發明的目的。
[0031]以上所述，僅是本發明的較佳實施例而已，并非對本發明作任何形式上的限制，雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發明，任何熟悉本專業的技術人員，在不脫離本發明技術方案范圍內，當可利用上述揭示的技術內容作出些許更動或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未脫離本發明技術方案的內容，依據本發明的技術實質對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發明技術方案的范圍內。
【權利要求】
1.一種光學檢測設備，是用以檢測一個弧面待測物，并包含: 一個攝影機，間隔地面向該弧面待測物；以及 一個環形燈，位于該攝影機與該弧面待測物間； 其特征在于:該環形燈的中心位在該攝影機與該弧面待測物的連線上，且該環形燈分割成不同時發光的一個第二發光部與一個第一發光部，該第二發光部和該第一發光部會分別朝該弧面待測物發光，且其光線通過在該弧面待測物的表面漫射至該攝影機分別形成一個第一影像與一個第二影像。
2.根據權利要求1所述的光學檢測設備，其特征在于:該攝影機具有一個感光的電荷耦合裝置，以及一個設于該環形燈與該電荷耦合裝置間的透鏡。
3.根據權利要求1所述的光學檢測設備，其特征在于:該環形燈的橫截面為正圓形。
4.根據權利要求3所述的光學檢測設備,其特征在于:該第二發光部和該第一發光部對稱地自該環形燈分割，使該第一發光部與該第二發光部的橫截面分別呈一個半圓形。
5.根據權利要求4所述的光學檢測設備，其特征在于:該光學檢測設備還包含一個控制單元，該控制單元用以控制該第二發光部與該第一發光部輪流發光。
6.一種光學檢測方法，其特征在于包含以下步驟: 將一個環形燈的一個第一發光部朝一個弧面待測物發光； 利用一個攝影機擷取自該弧面待測物漫射的光線形成一個第一影像并進行檢測； 將該環形燈的一個第二發光部朝該弧面待測物發光； 利用該攝影機擷取自該弧面待測物漫射的光線形成一個第二影像并進行檢測；以及 將該第一影像與該第二影像對位比較找出該弧面待測物是否有瑕疵。
7.根據權利要求6所述的光學檢測方法，其特征在于:該第二發光部與該第一發光部對稱地自該環形燈分割。
【文檔編號】G01N21/88GK104515775SQ201310600914
【公開日】2015年4月15日 申請日期:2013年11月22日 優先權日:2013年10月1日
【發明者】陳登文, 林宥丞 申請人:由田新技股份有限公司