測量系統的制作方法
【專利摘要】本發明公開了一種測量系統測量物體的光穿透率，該測量系統包含光源組件、感應單元、承載單元與處理單元。該光源組件發射第一光線。該感應單元通過感應該第一光線的光強度而產生第一感應信號。該承載單元設置在該光源組件與該感應單元之間，以承載該物體。該第一光線入射至該物體的一側，使得該第一光線的光強度經過該物體的衰減或增強，而從該物體的另一側出射第二光線。該感應單元通過感應該第二光線的光強度而產生第二感應信號。該處理單元執行演算法以計算該第一感應信號與該第二感應信號而產生計算結果。該處理單元通過該計算結果而確定該物體的光穿透率。
【專利說明】測量系統
【技術領域】
[0001]本發明涉及光學測量的【技術領域】，尤其涉及一種測量系統。
【背景技術】
[0002]在現有技術中，通過例如紫外線/可見光分光光譜儀對物體進行測量，以精確地計算出該物體的光穿透率。
[0003]然而，實際上，對于光穿透率的精準度要求不高的物體，不適合采用體積大且價格昂貴的紫外線/可見光分光光譜儀對該物體進行測量，例如在一間工廠中的多條生產線上，為降低生產成本，無法大量采購紫外線/可見光分光光譜儀。
[0004]有鑒于此，本發明提出一種測量系統，以解決現有技術的缺陷。
【發明內容】
[0005]本發明的目的在于提供一種測量系統，通過簡易的與低制作成本的架構，以測量物體的光穿透率。
[0006]為達到上述目的，本發明提供一種測量系統用于測量物體的光穿透率，該測量系統包含光源組件、感應單元、承載單元與處理單元。該光源組件發射第一光線，該第一光線的光學頻譜范圍介于300納米與800納米之間。該感應單元接收該第一光線。該感應單元通過感應該第一光線的光強度而產生第一感應信號。該承載單元設置在該光源組件與該感應單元之間。該承載單元承載該物體。當該第一光線入射至該物體的一側之后，該第一光線的光強度經過該物體的衰減或增強，而從該物體的另一側出射第二光線。該感應單元接收該第二光線，以通過感應該第二光線的光強度而產生第二感應信號。該處理單元連接該感應單元。該處理單元執行演算法以計算該第一感應信號與該第二感應信號而產生計算結果。該處理單元通過該計算結果而確定該物體的光穿透率。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0007]圖1為本發明一實施例的測量系統的框圖。
[0008]圖2說明圖1中該光源組件的第一實施例的框圖。
[0009]圖3說明圖1中該光源組件的第二實施例的框圖。
【具體實施方式】
[0010]為充分了解本發明的目的、特征及功效，通過下述具體的實施例，并配合附圖，對本發明做詳細說明，說明如后:
[0011]請參考圖1，本發明一實施例的測量系統的框圖。在圖1中，該測量系統10測量物體2的光穿透率。該穿透率的定義為出射光的光強度除以入射光的光強度的百分比。
[0012]該測量系統10包含光源組件12、感應單元14、承載單元16與處理單元18。
[0013]該光源組件12發射第一光線LB115該第一光線LB1S可見光,該第一光線LB1的光學頻譜范圍介于300納米與800納米之間。
[0014]該感應單元14接收該第一光線LB1,例如該感應單元為太陽能板或發光二極管。該感應單兀14通過感應該第一光線LB1的光強度而產生第一感應信號SS115舉例而言,若該感應單元14為太陽能板，該第一光線LB1將在該太陽能板產生電流，而該第一光線LB1的光強度將決定該電流的電流強度，該第一感應信號SS1對應該電流的電流強度。
[0015]該承載單元16設置在該光源組件12與該感應單元14之間。該承載單元16承載該物體2。當該第一光線LB1入射至該物體2的第一側22之后，該第一光線LB1的光強度經過該物體2的衰減或增強，而從該物體2的第二側24出射第二光線LB2。該感應單元14通過感應該第二光線LB2而產生第二感應信號SS2，該第二感應信號SS2對應該電流的電流強度。
[0016]該處理單元18連接該感應單元14。該處理單元18執行演算法(圖中未示出)以計算該第一感應信號SS1與該第二感應信號SS2而產生計算結果CR。該處理單元18通過該計算結果CR而確定該物體2的光穿透率。
[0017]請參考圖2，說明圖1中該光源組件的第一實施例的框圖。該光源組件12’包含發光二極管122與驅動單元124。
[0018]該發光二極管122的數量為一個(在一個發光二極管的外延上制作至少三個波長的發光二極管，例如紅光、綠光與藍光)或多個(例如三個發光二極管可各自發射出紅光、綠光與藍光)，而該發光二極管122通過施加電壓而產生具有某一特定頻譜范圍中一波長的第一光線LB115
[0019]該發光二極管122連接該驅動單元124。該驅動單元124產生驅動信號DS以驅動該發光二極管122產生該第一光線LB115此外,該驅動信號DS可改變該發光二極管122發射該第一光線LB1的光強度與改變該發光二極管122發射該第一光線LB1的波長。
[0020]請參考圖3，說明圖1中該光源組件的第二實施例的框圖。該光源組件12’’包含白熾燈126、驅動單元128與濾光單元1210。
[0021]該白熾燈126相較于單一波長的發光二極管具有較高的演色性，即該白熾燈126的光線的光學頻譜的范圍大于該發光二極管的光學頻譜。該白熾燈126的光線包含可見光以及非可見光。
[0022]該白熾燈126連接該驅動單元128。該驅動單元128產生驅動信號DS’以驅動該白熾燈126產生第三光線LB3。由于該第三光線LB3具有較高演色性，若要將該第三光線LB3的光學頻譜限制在某一特定光學頻譜(例如可見光的波長范圍)，則該第三光線LB3進一步通過該濾光單元1210濾除多余的波長,而讓該第三光線LB3的光學頻譜與該第一光線LBi的光學頻譜相同。
[0023]本發明在上文中已經以優選實施例公開，然而本領域技術人員應理解的是，該實施例僅用于描繪本發明，而不應解讀為限制本發明的范圍。應注意的是，各種與該實施例等效的變化與置換，均應設為涵蓋于本發明的范疇內。因此，本發明的保護范圍當以權利要求書所界定者為準。
【權利要求】
1.一種測量系統，用于測量物體的光穿透率，其特征在于，該測量系統包含: 光源組件，其發射第一光線，該第一光線的光學頻譜范圍介于300納米與800納米之間； 感應單元，其接收該第一光線，該感應單元通過感應該第一光線的光強度而產生第一感應信號； 承載單元，其設置在該光源組件與該感應單元之間，該承載單元承載該物體，當該第一光線入射至該物體的一側之后，該第一光線的光強度經過該物體的衰減或增強，而從該物體的另一側出射第二光線，該感應單元接收該第二光線，以通過感應該第二光線的光強度而產生第二感應信號；以及 處理單元，其連接該感應單元，該處理單元執行演算法以計算該第一感應信號與該第二感應信號而產生計算結果，該處理單元通過該計算結果而確定該物體的該光穿透率。
2.如權利要求1所述的測量系統，其特征在于，所述光源組件包含發光二極管與驅動單元，該發光二極管連接該驅動單元，該驅動單元產生驅動信號以驅動該發光二極管而產生所述第一光線。
3.如權利要求1所述的測量系統，其特征在于，所述光源組件包含白熾燈與驅動單元，該白熾燈連接該驅動單元，該驅動單元產生驅動信號以驅動該白熾燈以產生第三光線。
4.如權利要求3所述的測量系統，其特征在于，還包含濾光單元，該濾光單元設置在所述光源組件與該承載單元之間，所述第三光線經由該濾光單元，讓所述第三光線的光學頻譜與所述第一光線的光學頻譜相同。
5.如權利要求1所述的測量系統，其特征在于，所述感應單元為太陽能板或發光二極管。
【文檔編號】G01N21/59GK104237171SQ201310524732
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2013年10月30日 優先權日:2013年6月14日
【發明者】林雨潭 申請人:杰瑞科技有限公司