一種可控硅簡易檢測板的制作方法
【專利摘要】本申請涉及可控硅檢測【技術領域】，特別涉及一種可控硅簡易檢測板，包括檢測模塊和通路控制模塊，所述檢測模塊包括表頭M和與表頭串聯的電源E1，所述通路控制模塊包括翻轉電路和可分別用于連接待測可控硅接腳的A端子、B端子和C端子，所述翻轉電路包括常正輸出端和常負輸出端，所述B端子和翻轉電路的常正輸出端之間串接有開關支路，所述檢測模塊的兩個輸出端對應與翻轉電路的兩個輸入端連接，所述翻轉電路的常正輸出端和A端子連接，所述翻轉電路的常負輸出端和C端子連接，本檢測板可以有效的對單向可控硅和雙向可控硅進行檢測，檢測過程簡單快捷，可靠性高。
【專利說明】—種可控硅簡易檢測板
【技術領域】
[0001]本申請涉及可控硅檢測【技術領域】，特別涉及一種可控硅簡易檢測板。
【背景技術】
[0002]在電子、電器設備的生產和維修過程中，進程需要使用到可控硅這一電子元件，自然也經常會碰到需檢測可控硅(晶閘管)性能好壞的問題。現有技術中，檢測可控硅通常是采用“晶體管特性圖示儀”來檢測可控硅。但“圖示儀”價格昂貴，且體積笨重，不便攜帶，使用不便，一般生產和維修場合無此設備。
[0003]眾所周知，可控硅分為單向可控硅和雙向可控硅，單向可控硅具有單相導電性，但它與普通二極管是不一樣的是在它的陽極(A)和陰極(K)之間加上正向電壓后它并不自動導通，要使單硅導通，必須在它的控制極(G)加上一個正向觸發脈沖。因此，在沒有“晶體管特性圖示儀”的條件下對于單向可控硅的性能檢測至少必須包括以下幾個步驟:(1)，在單向可控硅的陽極(A)和陰極(K)之間施加正向電壓，控制極不加觸發脈沖，判斷是否截止；
(2)控制極加觸發脈沖，檢測其是否導通；(3)觸發脈沖消失，檢測是否繼續導通；(4)施加反向電壓，判斷是否截止。一個單向可控硅必須經過以上四個步驟的檢測才能判斷其性能的好壞。對于雙向可控硅，其基本性能與單向可控硅類型，只不過其具有雙向導通的特性，即沒有正負極之分，因此其檢測步驟除了以上的四個步驟外還需要重復步驟(2)至(4) 一遍。可見，對于可控硅的檢測過程步驟繁多。
[0004]而在現有技術中，如果沒有“晶體管特性圖示儀”，檢測者智只能手動檢測，其必須將待檢測的可控硅連接到電源兩端，用測試表檢測是否導通，然后再用電源施加一個脈沖，然后再檢測是否導通，之后還需要將待測可控硅與電源反接后再檢測等等步驟，整個過程極為繁瑣，檢測效率低下，檢測過程容易出錯。
【發明內容】
[0005]本申請的目的在于避免上述現有技術中的不足之處而提供一種結構簡單，能在快速檢測出單相可控硅或雙向可控硅性能是否正常，便于生產和維修過程使用的可控硅簡易檢測板。
[0006]本申請的目的通過以下技術方案實現:
提供了一種可控硅簡易檢測板，包括檢測模塊和通路控制模塊，所述檢測模塊包括表頭M和與表頭串聯的電源El，所述通路控制模塊包括翻轉電路、用于連接待測可控硅正極的A端子、用于連接待測可控硅負極的B端子和用于連接待測可控硅控制極的C端子，所述翻轉電路包括常正輸出端和常負輸出端，所述翻轉電路可調換所述常正輸出端和常負輸出端的極性，所述B端子經過一個開關支路連接至翻轉電路的常正輸出端，所述檢測模塊的兩個輸出端對應與翻轉電路的兩個輸入端連接，所述翻轉電路的常正輸出端和A端子連接，所述翻轉電路的常負輸出端和C端子連接。
[0007]其中，所述翻轉電路包括負電輸入端和正電輸入端，所述負電輸入端和常正輸出端之間串接有雙控開關K2，所述正電輸入端和常負輸出端之間串接有雙控開關K3，所述負電輸入端與常負輸出端連接，所述正電輸入端與第一輸出端連接。
[0008]其中，所述通路控制模塊還包括電源補充模塊，所述電源補充模塊可被短路的輔助電源Ε2，輔助電源Ε2受控與電源El串聯。
[0009]其中，所述翻轉電路的一個輸入端設置有D接線端子，另一個輸入端設置有E接線端子，通過D接線端子和E接線端子使得所述檢測模塊和通路控制模塊可分離式連接。
[0010]其中，所述開關支路包括串接于A端子和B端子之間的按鈕開關Κ1。
[0011]其中，所述檢測模塊為歐姆表。
[0012]本申請的有益效果:本發明提供一種可控硅簡易檢測板，檢測時將待測可控硅的陽極、控制極和陰極依次插設于本檢測板上的A端子、B端子和C端子，由于在翻轉電路無翻轉控制的情況下翻轉電路常正輸出端輸出高電平，常負輸出端輸出低電平，因此能實現在待測可控硅兩端增加電壓的目的，同時通過控制開關支路的通/斷，能夠控制待測可控硅控制極與高電平之間的通/斷，從而實現方便的對可控硅控制極施加正向脈沖的目的；進一步，通過控制翻轉電路實現電極翻轉，即可實現在可控硅陽極和陰極之間施加反向電壓的目的，可見，通過本檢測板能夠方便的對可控硅進行檢測，檢測過程變得極為簡潔可靠。此外，對于雙向可控硅則無需考慮正負極問題，而本檢測板同樣能夠提供脈沖施加、電極翻轉等功能，同樣可以方便的進行檢測。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0013]利用附圖對本申請作進一步說明，但附圖中的實施例不構成對本申請的任何限制，對于本領域的普通技術人員，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據以下附圖獲得其它的附圖。
[0014]圖1為本申請一種可控硅簡易檢測板的電路結構示意圖。
【具體實施方式】
[0015]結合以下實施例對本申請作進一步描述。
[0016]本申請一種可控硅簡易檢測板的【具體實施方式】，如圖1所示，包括:檢測模塊I和通路控制模塊2，所述檢測模塊I包括串連的表頭M、l.5V電源El和電阻R0。
[0017]通路控制模塊2包括翻轉電路21，用于連接待測可控硅接腳的A端子、B端子和C端子，用于連接檢測模塊I的D端子和E端子。
[0018]翻轉電路21包括負電輸入端211、正電輸入端212、常正輸出端213和常負輸出端214。所述負電輸入端211與常負輸出端214連接，所述正電輸入端212與常正輸出端213連接，所述負電輸入端211和常正輸出端213之間串接有雙控開關Κ2，所述正電輸入端212和常負輸出端214之間串接有雙控開關Κ3。
[0019]本實施例中，雙控開關Κ2的常閉觸點連接負電輸入端211，雙控開關Κ2的常開觸點連接常正輸出端213，雙控開關Κ3的常閉觸點連接正電輸入端212，雙控開關Κ3的常開觸點連接常負輸出端214，當然具體的連接方法可以靈活調整，例如將常閉觸點和常開觸點的連接端進行交換也可實現，總之只要能夠實現電極翻轉即可。本實施例中雙控開關Κ2和雙控開關Κ3為聯動的按鈕開關，當然根據具體的需要還可以采用其他類型開關。[0020]本實施例中，常正輸出端213和A端子連接，常負輸出端214和C端子連接，負電輸入端211和D端子連接，正電輸入端212和E端子連接。A端子和B端子之間連接有開關支路，該開關支路由處于常開狀態的按鈕開關Kl構成。
[0021]使用時，將檢測模塊I的正極輸出端11 (根據電源El的正負極確定)插接至E端子，將檢測模塊I的負極輸出端12插接到D端子。
[0022]對于單向可控硅Ql (以下簡稱單硅)，(I)將待測單硅Ql的三個電極A (陽極)、G(控制極)、K (陰極)分別接到A端子、B端子和C端子，此時單硅Ql兩端被施加了正向電壓，如果表頭M無指示，表明單硅Ql在僅有正向電壓而無正向觸發電壓條件下未導通，可進行下一步；(2)當按下開關Κ1，B端子獲得高電平，單硅Ql的G極被施加正向觸發電壓，如果表頭有指示，表明在有正向電壓且有正向觸發電壓條件下能夠導通，可進行下一步；(3)放開開關Κ1，單硅Ql的G極上的正向觸發電壓消失，如果表頭指示不變，表明單硅Ql在正向觸發電壓消失的條件下能繼續維持導通，可進行下一步；(4)按下開關Κ2和開關Κ3，A端子由高電平變為低電平，C端子由低電平變為高電平，單硅Ql的A極和K極間被加上反向電壓，此時如果表頭指示降為零，表明單硅Ql在被施加反向電壓后能夠順利從導通變為阻斷，被測單硅Ql性能正常；若未能順利完成以上步驟，則說明單硅Ql性能異常。
[0023]對于雙向可控硅(以下簡稱雙硅)，其基本原理與單向可控硅一致，只不過其不具有A極和K極，僅具有Τ2極、G極和Tl極，其中G極同為控制極，Τ2極和Tl極無正負之分，檢測時可將待測雙硅Q2的G極插接到B端子，Τ2極和Tl極插接到A端子和C端子，之后依次按照以上步驟執行，完成后再重復(2)至(4)即可。在此不再贅述。
[0024]綜上可知，本檢測板可以有效的對單向可控硅和雙向可控硅進行檢測，檢測過程簡單快捷，可靠性高。此外，由于本檢測板提供了一個標準化的檢測過程，且檢測過程無需對可控硅做過多操作，因此在生產過程中還可以配合自動化儀器實現自動化檢測，檢測者只需件將待測可控硅插設與相應端子上即可，由設備自動依照程序控制開關Κ1、開關Κ2和開關Κ3并檢測表頭的顯示情況即可自動得到檢測結果，可以有效的提高檢測效率。
[0025]進一步的，通路控制模塊2還包括電源補充模塊22，所述電源補充模塊22包括連接于翻轉電路21的負電輸入端211的雙控開關Κ4(也可連接于正電輸入端212)，所述雙控開關Κ4的常開觸點和常閉觸點之間跨接有輔助電源Ε2，所述輔助電源Ε2受控開關Κ4控制與電源El串聯。在通常情況下整個檢測過程可直接檢測模塊I的電源El提高供電，但是在對于一些大功率可控硅時，可以按下雙控開關Κ4，此時輔助電源Ε2即串聯至電源El上，從而得到較大電壓的電源以檢測大功率可控硅。
[0026]觀察可知，本檢測板中檢測模塊I電路與現有的歐姆表的電路是一致的，因此在實際使用過程中可以直接將歐姆表的兩個表筆直接插接到D端子和E端子上進行使用。為此，本實施例中檢測模塊I和通路控制模塊2采用可分離連接的設計方式，當然根據具體需要也可以將兩者直接集合在同一電路板上。
[0027]最后應當說明的是，以上實施例僅用以說明本申請的技術方案，而非對本申請保護范圍的限制，盡管參照較佳實施例對本申請作了詳細地說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本申請的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本申請技術方案的實質和范圍。
【權利要求】
1.一種可控硅簡易檢測板，其特征在于，包括檢測模塊和通路控制模塊，所述檢測模塊包括表頭M和與表頭串聯的電源E1，所述通路控制模塊包括翻轉電路、用于連接待測可控硅正極的A端子、用于連接待測可控硅負極的B端子和用于連接待測可控硅控制極的C端子，所述翻轉電路包括常正輸出端和常負輸出端，所述翻轉電路可調換所述常正輸出端和常負輸出端的極性，所述B端子經過一個開關支路連接至翻轉電路的常正輸出端，所述檢測模塊的兩個輸出端對應與翻轉電路的兩個輸入端連接，所述翻轉電路的常正輸出端和A端子連接，所述翻轉電路的常負輸出端和C端子連接。
2.如權利要求1所述的一種可控硅簡易檢測板，其特征在于，所述翻轉電路包括負電輸入端和正電輸入端，所述負電輸入端和常正輸出端之間串接有雙控開關K2,所述正電輸入端和常負輸出端之間串接有雙控開關K3，所述負電輸入端與常負輸出端連接，所述正電輸入端與第一輸出端連接。
3.如權利要求1所述的一種可控硅簡易檢測板，其特征在于所述通路控制模塊還包括電源補充模塊，所述電源補充模塊包括可被短路的輔助電源E2，輔助電源E2受控與電源El串聯。
4.如權利要求1所述的一種可控硅簡易檢測板，其特征在于，所述翻轉電路的一個輸入端設置有D接線端子，另一個輸入端設置有E接線端子，通過D接線端子和E接線端子使得所述檢測模塊和通路控制模塊可分離式連接。
5.如權利要求1所述的一種可控硅簡易檢測板，其特征在于，所述開關支路包括串接于A端子和B端子之間的按鈕開關Kl。
6.如權利要求1所述的一種可控硅簡易檢測板，其特征在于，所述檢測模塊為歐姆表。
【文檔編號】G01R31/26GK103529374SQ201310520740
【公開日】2014年1月22日 申請日期:2013年10月29日 優先權日:2013年10月29日
【發明者】李正中, 顏榮 申請人:東莞市大忠電子有限公司