一種高精度螺旋測微儀的制作方法
【專利摘要】本發明公開了一種高精度螺旋測微儀，涉及機械設備領域，一種高精度螺旋測微儀，包括固定支架和測微螺桿，所述固定支架上設有測砧，所述測微螺桿上設有螺母套筒、微分筒和棘輪，所述測微螺桿上設有可見光發射裝置，所述測砧上設有凹槽，所述可見光發射裝置與凹槽在同一水平線上，所述凹槽的寬度為8~10mm，測量實物時，可在實物上劃一條線，測微螺桿發射可見光，移動實物使其上線條與可見光以及凹槽在同一水平線上，提高所測尺寸的精度，結構合理，適于推廣使用。
【專利說明】一種高精度螺旋測微儀
【技術領域】
[0001]本發明涉及機械設備領域，具體涉及一種高精度螺旋測微儀。
【背景技術】
[0002]隨著社會生產的發展，機械行業的快速發展，大量的工業工具被生產、使用，在生產中常會進行測量作業，有長度、寬度、高度、直徑測量等等，對于測量來說，準確度是生命，而千分尺無疑是測量小型工件尺寸中準確度最高的一種儀器，申請號為CN201220154510.0公開了一種螺旋測微儀，涉及測量工具領域，千分尺的起點都是0，實際操作過程中，由于使用不當，初始狀態多少和上述要求不符，即有一個不等于零的讀數，零差為負工人往往會犯錯，導致測量結果錯誤，為克服千分尺起點刻度為零帶來的讀數不便，本發明將千分尺的主尺刻度向左移動一定的距離，將螺旋測微儀的主尺向左邊移動1_3_，本刻度方法回歸長度等于兩坐標之差的本質，可以不再使用零差的概念；可以避免負零差帶來的讀數不便，但是該千分尺，測量實物時，無法保證實物與測砧和測微螺桿在同一水平線上，不利于測量的進行，測量精度低。
【發明內容】
[0003]本發明的目的是提供一種高精度螺旋測微儀，以解決現有技術中導致的上述多項缺陷。
[0004]本發明所解決的技術問題可以采用以下技術方案來實現:一種高精度螺旋測微儀，包括固定支架和測微螺桿，所述固定支架上設有測砧，所述測微螺桿上設有螺母套筒、微分筒和棘輪，所述測微螺桿上設有可見光發射裝置，所述測砧上設有凹槽，所述可見光發射裝置與凹槽在同一水平線上，所述凹槽的寬度為8?10mm。
[0005]優選的，所述固定支架上設有圓槽。
[0006]優選的，所述固定支架上設有支撐底座。
[0007]優選的，所述支撐底座與固定支架為卡接。
[0008]優選的,所述圓槽直徑為8?10cm。
[0009]本發明的優點在于:測量實物時，可在實物上劃一條線，測微螺桿發射可見光，移動實物使其上線條與可見光以及凹槽在同一水平線上，提高所測尺寸的精度，結構合理，適于推廣使用，凹槽可放置劃線筆，便于在實物上面劃線，制成底座可將千分尺放置于桌面上測量，便于測量不同類型的實物，卡接保證了底座與支架的活動連接，不使用底座時，可將底座從支架上拆卸下來，方便實用。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0010]圖1是本發明所述的一種高精度螺旋測微儀的主視圖。
[0011]圖2是本發明所述的一種高精度螺旋測微儀固定支架的側視圖。
[0012]其中:1 一固定支架，2—測微螺桿，3—測砧，4一螺母套筒，5—微分筒，6—棘輪，7—可見光發射裝置，8—凹槽，9 一圓槽，10—支撐底座。
【具體實施方式】
[0013]為了使本發明實現的技術手段、創作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結合具體圖示，進一步闡述本發明。
[0014]如圖1和圖2所示，本發明所述的一種高精度螺旋測微儀，包括固定支架I和測微螺桿2，所述固定支架I上設有測砧3，所述測微螺桿2上設有螺母套筒4、微分筒5和棘輪6，所述測微螺桿2上設有可見光發射裝置7，所述測砧3上設有凹槽8，所述可見光發射裝置7發出的可見光與凹槽8在同一水平線上，所述凹槽8的寬度為flOmm，測量實物時，可在實物上劃一條線，測微螺桿發射可見光，移動實物使其上線條與可見光以及凹槽在同一水平線上，提高所測尺寸的精度，結構合理，適于推廣使用。
[0015]值得注意的是，所述固定支架I上設有圓槽9，凹槽可放置劃線筆，便于在實物上面劃線，所述固定支架I上設有支撐底座10，支撐底座可將千分尺放置于桌面上測量，便于測量不同類型的實物，所述支撐底座10與固定支架I為卡接，卡接保證了底座與支架的活動連接，不使用底座時，可將底座從支架上拆卸下來，所述圓槽9直徑為8?10cm，方便實用。
[0016]此外，所述測微螺桿2和測砧3應定時清理污潰，以免影響測量精準度。
[0017]基于上述，測量實物時，可在實物上劃一條線，測微螺桿發射可見光，移動實物使其上線條與可見光以及凹槽在同一水平線上，提高所測尺寸的精度，結構合理，適于推廣使用，凹槽可放置劃線筆，便于在實物上面劃線，支撐底座可將千分尺放置于桌面上測量，便于測量不同類型的實物，卡接保證了底座與支架的活動連接，不使用底座時，可將底座從支架上拆卸下來，方便實用。
[0018]以上顯示和描述了發明的基本原理和主要特征和本發明的優點。本行業的技術人員應該了解，本發明不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中的描述只是說明本發明的原理，在不脫離本發明精神和范圍的前提下，本發明還會有各種變化和改進，這些變化和改進都在要求保護的本發明范圍內，本發明要求保護范圍由所附的權利要求書及其等效物界定。
【權利要求】
1.一種高精度螺旋測微儀，包括固定支架和測微螺桿，所述固定支架上設有測砧，所述測微螺桿上設有螺母套筒、微分筒和棘輪，其特征在于:所述測微螺桿上設有可見光發射裝置，所述測砧上設有凹槽，所述可見光發射裝置與凹槽在同一水平線上，所述凹槽的寬度為8?10伽1。
2.根據權利要求1所述的一種高精度螺旋測微儀，其特征在于:所述固定支架上設有圓槽。
3.根據權利要求1所述的一種高精度螺旋測微儀，其特征在于:所述固定支架上設有支撐底座。
4.根據權利要求3所述的一種高精度螺旋測微儀，其特征在于:所述支撐底座與固定支架為卡接。
5.根據權利要求2所述的一種高精度螺旋測微儀，其特征在于:所述圓槽直徑為.8 ?10。！！！。
【文檔編號】G01B3/18GK104457475SQ201310417914
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2013年9月16日 優先權日:2013年9月16日
【發明者】簡文秀 申請人:上海偉陽紙業有限公司