輔助校準裝置制造方法
【專利摘要】本發明涉及一種測量儀器的輔助裝置，具體是一種外徑千分尺校準、內徑百分表輔助校準裝置。該輔助校準裝置包括基板以及設于基板上并列設置的至少兩量架；各量架均設有可讓外徑千分尺的測砧或測微螺桿架設于量架上的至少一個支撐部；設于某一量架的一個支撐部與至少一個設于其它量架的支撐部并排設置，使外徑千分尺的測砧與測微螺桿可同時架設兩量架上。該輔助校準裝置可輔助外徑千分尺校準零位，以及內徑百分表的校準。
【專利說明】輔助校準裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種測量儀器的輔助裝置，具體是一種外徑千分尺校準、內徑百分表校準輔助裝置。
【背景技術】
[0002]目前，在汽車維修行業中測量發動機汽缸直徑普遍采用的方法是:先將外徑千分尺校準零位，然后再調整好外徑千分尺尺寸；再把內徑百分表放在調好的外徑千分尺上校準，校準完成后，再拿內徑百分表去量汽缸。但是在實際操作過程中，內徑百分表校準步驟復雜，操作難度大；而且外徑千分尺在內徑百分表校準過程中難以固定和保持水平，導致內徑百分表的校準結果不精確，使最終內徑的測量數據存在較大的誤差。
【發明內容】
[0003]有鑒于此，有必要針對上述內徑百分表校準步驟復雜，操作難度大，內徑百分表的校準結果不精確的問題，提供一種校準輔助裝置，并通過以下技術方案實現。
[0004]一種輔助校準裝置，包括基板以及設于基板上并列設置的至少兩量架；各量架均設有可讓外徑千分尺的測砧或測微螺桿架設于量架上的至少一個支撐部；設于某一量架的一個支撐部與至少一個設于其它量架的支撐部并排設置，使外徑千分尺的測砧與測微螺桿可同時架設兩量架上。該輔助校準裝置可輔助外徑千分尺校準零位，以及內徑百分表的校準。
[0005]所述量架中，位于最外排的其中一個量架設有至少兩個支撐部，其它量架上支撐部數量少于該最外排量架支撐部的數量，并且其它量架上的各個支撐部均分別與該最外排量架的其中一個支撐部并排設置。從而設置較少的量架即可架設多種規格的外徑千分尺。
[0006]所述量架的數量至少為三，位于非最外排的任一量架的各支撐部均與其相鄰的其中一個量架的其中一個支撐部并排設置，那么在外徑千分尺進行校準調零時，可以有三個支撐部對標準桿進行支撐，或有兩個支撐部對測微螺桿進行支撐。
[0007]所述量架總體呈板狀，并且相鄰量架的中心平面之間的距離為25mm的整數倍，以對應外徑千分尺不同的規格，從而擴大該輔助校準裝置的應用范圍。優選所述相鄰量架的中心平面之間的距離為25mm。
[0008]本發明輔助校準裝置結構簡單，可以固定外徑千分尺，從而方便對外徑千分尺校準零位；該輔助校準裝置還可以使外徑千分尺保持平行，從而使內徑百分表在校準過程中，外徑千分尺與內徑百分表實現平行校準，從而提高內徑百分表校準結果的準確性。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0009]圖1為本發明輔助校準裝置的實施例一的立體圖。
[0010]圖2為圖1所示輔助校準裝置的俯視圖。
[0011]圖3為圖2的A向視圖。[0012]圖中:1-第一量架，2-第二量架，3-第三量架，4-第四量架，5-第五量架，6-第六量架，7-基板，8-支撐部。
【具體實施方式】
[0013]以下結合附圖對本發明進行詳細描述。
[0014]圖1至圖3所示為本發明輔助校準裝置的實施例一。該輔助校準裝置包括基板7以及設于基板7上并列設置的至少兩量架。在本實施例中，量架總體呈板狀，其數量為六，參見圖1，現從左至右定義各量架分別為第一量架1、第二量架2、第三量架3、第四量架4、第五量架5、第六量架6。各量架均設有可讓外徑千分尺的測砧或測微螺桿架設于量架上的至少一個支撐部8，參見圖1，第一量架I設有四個支撐部8，第二量架2設有一個支撐部8，第三量架3設有二個支撐部8，第四量架4設有二個支撐部8，第一量架I設有二個支撐部8，第一量架I設有一個支撐部8，且設于某一量架的一個支撐部8與至少一個設于其它量架的支撐部8并排設置(即處于同一直線上)，參見圖2，使外徑千分尺的測砧與測微螺桿可同時架設兩量架上。
[0015]使用該輔助校準裝置對外徑千分尺校準零位時，需要將外徑千分尺的測砧與測微螺桿同時架設并排設置的兩支撐部8上，此時再將外徑千分尺的標準桿置于測砧與測微螺桿之間進行校準零位。使用該輔助校準裝置對內徑百分表校準時，先采用上述方法對外徑千分尺進行校準零位，再調整好外徑千分尺尺寸且將外徑千分尺架設于量架上，由于各支撐部8位于同一平面上(相對于基板7)，那么架設于量架的外徑千分尺將保持平行，把內徑百分表放在調好的外徑千分尺上校準即可。
[0016]第一量架I上支撐部8的數量比其它量架上支撐部8的數量多，且處于最外側，可作為基準量架，通過其它量架與第一量架I的配合，使該校準架設置少量架而卻可以輔助校準多個規格的外徑千分尺；當然，這需要其它量架上設有與第一量架I上某一支撐部8并排設置的支撐部8。
[0017]位于非最外排的任一量架的各支撐部8均與其相鄰的其中一個量架的其中一個支撐部8并排設置，那么在外徑千分尺進行校準調零時，可以有三個支撐部8對標準桿進行支撐，或有兩個支撐部8對測微螺桿進行支撐。
[0018]目前，常用的外徑千分尺的規格為0-25mm，25-50mm，50-75mm，75-100mm，100-125mm等，以25mm為倍增。為便于多種規格的外徑千分尺的測砧與測微螺桿同時駕設于該校準架的量架上，相鄰量架的中心平面之間的距離為25mm。同時，為配合外徑千分尺其它部位的尺寸，如測砧、測微螺桿的形狀及尺寸，該量架的厚度設置為5_，支撐部8為半徑為5mm的半圓形凹槽,支撐部8底端與基板7的距離為5mm。
[0019]所述基板7、量架均為硬塑料板，應該理解，基板7、量架還可以為其它合適的硬質板件，如硬質合金板件。
[0020]以上所述實施例僅表達了本發明的一種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本發明專利范圍的限制。應當指出的是，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本發明的保護范圍。因此，本發明專利的保護范圍應以所附權利要求為準。
【權利要求】
1.一種輔助校準裝置，其特征在于:包括基板以及設于基板上并列設置的至少兩量架；各量架均設有可讓外徑千分尺的測砧或測微螺桿架設于量架上的至少ー個支撐部；設于某ー量架的一個支撐部與至少ー個設于其它量架的支撐部并排設置，使外徑千分尺的測砧與測微螺桿可同時架設該兩量架上。
2.根據權利要求1所述的輔助校準裝置，其特征在于:所述量架中，位于最外排的其中ー個量架設有至少兩個支撐部，其它量架上支撐部數量少于該最外排量架支撐部的數量，并且其它量架上的各個支撐部均分別與該最外排量架的其中一個支撐部并排設置。
3.根據權利要求2所述的輔助校準裝置，其特征在于:所述量架的數量至少為三，位于非最外排的任一量架的各支撐部均與其相鄰的其中一個量架的其中一個支撐部并排設置。
4.根據權利要求1所述的輔助校準裝置，其特征在于:所述量架總體呈板狀，并且相鄰量架的中心平面之間的距離為25mm的整數倍。
5.根據權利要求4所述的輔助校準裝置，其特征在于:所述相鄰量架的中心平面之間的距離為25mm。
6.根據權利要求4所述的輔助校準裝置，其特征在于:所述量架的厚度為5_。
7.根據權利要求4所述的輔助校準裝置，其特征在于:所述基板、量架均為硬塑料板。
8.根據權利要求1所述的輔助校準裝置，其特征在于:所述支撐部為量架頂部開設的半圓形凹槽。
9.根據權利要求8所述的輔助校準裝置，其特征在于:所述支撐部為半徑為5mm的半圓形凹槽。
10.根據權利要求9所述的輔助校準裝置，其特征在于:所述支撐部底端與基板的距離為 Smnin
【文檔編號】G01B3/18GK103453814SQ201310378099
【公開日】2013年12月18日 申請日期:2013年8月27日 優先權日:2013年8月27日
【發明者】趙占鰲, 王哲 申請人:私立華聯學院