一種信號測試電路及燈具的制作方法
【專利摘要】本發明實施例公開了一種信號測試的電路，包括測試模塊、量程選擇模塊和輸出模塊；所述測試模塊分別與所述量程選擇模塊和所述輸出模塊連接，所述量程選擇模塊與所述輸出模塊連接；采用本發明，所述測試模塊包括至少一種量程，所述量程選擇模塊根據測試精度從所述至少一種量程中選擇一種量程，由所述測試模塊根據所述量程選擇模塊所選擇的量程對被測信號進行測試，可以實現對被測信號以多種量程方式進行選擇測試，以實現不同精度的要求，電路結構簡單，效率高。
【專利說明】一種信號測試電路及燈具
【技術領域】
[0001 ] 本發明涉及電子【技術領域】，尤其涉及一種信號測試電路及燈具。
【背景技術】
[0002]隨著電子技術的飛速發展，信號測試在自動控制、數字儀表及電流檢測方面得到了廣泛的應用，傳統的信號測試電路在對被測信號進行測試的過程中所使用的量程通常是固定的，無法根據測試精度靈活地進行量程的選擇，從而使得測試出來的結果的準確度和精度較差。
【發明內容】
[0003]本發明實施例所要解決的技術問題在于，提供一種信號測試電路及燈具，能夠簡單、便捷地針對測試精度靈活選擇量程進行測試，提升信號測試的準確度和精度。。
[0004]為了解決上述技術問題，本發明實施例提供了一種信號測試電路，包括測試模塊、量程選擇模塊和輸出模塊；所述測試模塊分別與所述量程選擇模塊和所述輸出模塊連接，所述量程選擇模塊與所述輸出模塊連接；所述測試模塊包括至少一種量程，所述量程選擇模塊根據測試精度從所述至少一種量程中選擇一種量程，由所述測試模塊根據所述量程選擇模塊所選擇的量程對被測信號進行測試，并由所述輸出模塊輸出測試后的信號。
[0005]其中，所述測試模塊包括運算放大器ARl、電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9 ;所述運算放大器ARl的反相輸入端與所述電阻R8 —端連接，所述電阻R8另一端與所述電阻R9 一端連接，所述電阻R9另一端與所述電阻R7 —端連接，所述電阻R7另一端與所述電阻R6 一端連接，所述電阻R6另一端分別與所述量程選擇模塊和輸出模塊連接，其中，所述電阻R8組成第一量程，所述電阻R8和所述電阻R9串聯組成第二量程，所述電阻R7、所述電阻R8和所述電阻R9串聯組成第三量程，所述電阻R6、所述電阻R7、所述電阻R8和所述電阻R9串聯組成第四量程。
[0006]其中，所述量程選擇模塊包括三極管Q1、M0S管Q2、M0S管Q3、三極管Q4?Q8 ;所述三極管Q6的集電極分別與所述運算放大器ARl的輸出端和所述三極管Q5的基極連接，所述三極管Q7的集電極分別與所述運算放大器ARl的輸出端和三極管Ql的基極連接，所述三極管Q8的集電極分別與所述運算放大器ARl的輸出端和所述MOS管Q2的柵極連接，所述三極管Q4的集電極分別與所述運算放大器ARl的輸出端和MOS管Q3的柵極連接，所述三極管Q5的發射極分別與所述電阻R6和輸出模塊連接，所述三極管Ql的發射極連接于所述電阻R6和所述電阻R7之間，所述MOS管Q2的源極連接于所述電阻R7和所述電阻R9之間，所述MOS管Q3的源極連接于所述電阻R8和所述電阻R9之間。
[0007]其中，所述量程選擇模塊還包括電阻Rl?R4 ;所述電阻Rl串聯于所述運算放大器ARl輸出端與所述MOS管Q3的柵極之間，所述電阻R2串聯于所述運算放大器ARl輸出端與所述MOS管Q2的柵極之間，所述電阻R3串聯于所述運算放大器ARl輸出端與所述三極管Ql的基極之間，所述電阻R4串聯于所述運算放大器ARl輸出端與所述三極管Q5的基極之間。
[0008]其中，所述三極管Q5的集電極、所述三極管Ql的集電極、所述MOS管Q2的漏極和所述MOS管Q3的漏極均連接電源。
[0009]其中，所述三極管Q4的發射極和所述三極管Q6?Q8的發射極均接地。
[0010]其中，所述三極管Ql和三極管Q4?Q8均為NPN型三極管。
[0011]其中，所述MOS管Q2和MOS管Q3均為N溝道耗盡型MOS管。
[0012]其中，所述輸出模塊包括運算放大器AR2 ;所述運算放大器AR2的同相輸入端連接于所述三極管Q5的發射極和所述電阻R6之間，所述運算放大器AR2的反相輸入端與所述運算放大器AR2的輸出端連接。
[0013]相應的，本發明實施例還提供了一種燈具，包括上述的信號測試電路。
[0014]實施本發明實施例，具有如下有益效果:
[0015]本發明的信號測試電路由測試模塊、量程選擇模塊和輸出模塊構成，結構簡單，其中，測試模塊可包括至少一個可供選擇的量程，在信號測試過程中可由量程選擇模塊根據測試精度選擇量程以對被測信號進行測試，從而使得本發明的測試電路能夠便捷地、靈活地針對測試精度進行量程選擇以實現信號測試，從而提升了信號測試的準確度和精度。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0016]為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0017]圖1是本發明實施例提供的一種信號測試電路的框圖。
[0018]圖2是本發明實施例提供的一種信號測試電路的電路原理圖。
【具體實施方式】
[0019]下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。
[0020]請參考圖1，為本發明實施例提供的一種信號測試電路的框圖，包括測試模塊、量程選擇模塊和輸出模塊；所述測試模塊分別與量程選擇模塊和輸出模塊連接，所述量程選擇模塊與所述輸出模塊連接；所述測試模塊包括至少一種量程，所述量程選擇模塊根據測試精度從所述至少一種量程中選擇一種量程，由所述測試模塊根據所述量程選擇模塊所選擇的量程對被測信號進行測試，并由所述輸出模塊輸出測試后的信號。
[0021]請參見圖2，為本發明實施例提供的一種信號測試電路的電路原理圖。
[0022]在本實施方式中，測試模塊包括運算放大器ARl、電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9 ;其中，電阻R8為2歐姆，電阻R9為18歐姆，電阻R7為180歐姆，電阻R6為1.8K歐姆；運算放大器ARl的反相輸入端與電阻R8 —端連接，電阻R8另一端與電阻R9 —端連接，電阻R9另一端與電阻R7 —端連接，電阻R7另一端與電阻R6 —端連接，電阻R6另一端分別與量程選擇模塊和輸出模塊連接，運算放大器ARl的同相輸入端接地，被測負電流從運算放大器ARl的反相輸入端輸入，電阻R6?R9為反饋電阻，運算放大器ARl與反饋電阻組成一個反向放大器。
[0023]若有負電流從運算放大器的反相輸入端輸入時，則運算放大器與反饋電阻組成的反向放大器對被測負電流進行線性放大，其放大的倍數取決于所接入反相放大器中反饋電阻的大小，并且其放大倍數與反饋電阻也成線性關系。
[0024]在本實施方式中，量程選擇模塊用于控制測試模塊中接入反向放大器中反饋電阻的大小，從而實現不同的量程選擇，當信號測試電路工作時，所述量程選擇模塊選擇一種量程，所述測試模塊根據所述量程選擇模塊所選擇的量程對被測信號進行測試。量程選擇模塊包括三極管Q1、M0S管Q2、M0S管Q3、三極管Q4?Q8、電阻R5和電阻RlO?R12 ;三極管Q6的集電極分別與運算放大器ARl的輸出端和三極管Q5的基極連接，三極管Q7的集電極分別與運算放大器ARl的輸出端和三極管Ql的基極連接，三極管Q8的集電極分別與運算放大器ARl的輸出端和MOS管Q2的柵極連接，三極管Q4的集電極分別與運算放大器ARl的輸出端和MOS管Q3的柵極連接，三極管Q5的發射極分別與電阻R6和輸出模塊連接，三極管Ql的發射極連接于電阻R6和電阻R7之間，MOS管Q2的源極連接于電阻R7和電阻R9之間，MOS管Q3的源極連接于電阻R8和電阻R9之間，三極管Q5的集電極、三極管Ql的集電極、MOS管Q2的漏極和MOS管Q3的漏極均連接電源12V電源，三極管Q4的發射極和三極管Q6?Q8的發射極均接地，三極管Q6的基極通過電阻R12與I檔連接，三極管Q7的基極通過電阻Rll與2檔連接，三極管Q8的基極通過電阻RlO與三檔連接，三極管Q4的基極通過電阻R5與I檔連接，且三極管Ql和三極管Q4?Q8均為NPN型三極管，MOS管Q2和MOS管Q3均為N溝道耗盡型MOS管。
[0025]當選擇4檔時，則給I檔、2檔和3檔高電壓信號，4檔給低壓信號，則三極管Q6?Q8導通，三極管Q4截止，相對應的，MOS管Q3導通，三極管Ql、三極管Q5和MOS管Q2截止，所以測試模塊中只有電阻R8接入反相放大器，即是該量程為2歐姆檔。
[0026]當選擇3檔時，則給I檔、2檔和4檔高電壓信號，3檔給低壓信號，則三極管Q6、三極管Q7和三極管Q4導通，三極管Q8截止，相對應的，MOS管Q2導通，三極管Q1、三極管Q5和MOS管Q3截止，所以測試模塊中只有電阻R8和電阻R9接入反相放大器，即是該量程為18+2=20歐姆檔。
[0027]當選擇2檔時，則給I檔、3檔和4檔高電壓信號，2檔給低壓信號，則三極管Q6、三極管Q8和三極管Q4導通，三極管Q7截止，相對應的，三級管Ql導通，三極管Q5、MOS管Q2和MOS管Q3截止，所以測試模塊中只有電阻R7、電阻R8和電阻R9接入反相放大器，即是該量程為18+2+180=200歐姆檔。
[0028]當選擇I檔時，則給2檔、3檔和4檔高電壓信號，I檔給低壓信號，則三極管Q7、三極管Q8和三極管Q4導通，三極管Q6截止，相對應的，三級管Q5導通，三極管Q1、M0S管Q2和MOS管Q3截止，所以測試模塊中電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9接入反相放大器，即是該量程為18+2+180+1800=2000歐姆檔。
[0029]進一步可選的，在上述實施方式中，量程選擇模塊還可以包括電阻Rl?R4，電阻Rl串聯于運算放大器ARl輸出端與MOS管Q3的柵極之間，電阻R2串聯于運算放大器ARl輸出端與MOS管Q2的柵極之間，電阻R3串聯于運算放大器ARl輸出端與三極管Ql的基極之間，電阻R4串聯于運算放大器ARl輸出端與三極管Q5的基極之間；這里電阻Rl?R4主要用于電路限流。
[0030]在本實施方式中，輸出模塊包括運算放大器AR2 ;所述運算放大器AR2的同相輸入端連接于所述三極管Q5的發射極和所述電阻R6之間，所述運算放大器AR2的反相輸入端與所述運算放大器AR2的輸出端連接，這里運算放大器所組成的是一個電壓跟隨器，電壓跟隨器對前級電路呈高阻狀態，對后級電路呈低阻狀態，并且輸出電壓近似等于輸入電壓，主要對前后級電路起到隔離的作用，穩定輸出電壓。
[0031]本發明實施例的用于信號測試的電路工作過程如下:
[0032]輸入被測負電流，量程選擇模塊選擇一種量程，測試模塊根據量程選擇模塊所選擇的量程對被測信號進行測試。
[0033]當選擇4檔時，則給I檔、2檔和3檔高電壓信號，4檔給低壓信號，則三極管Q6?Q8導通，三極管Q4截止，相對應的，MOS管Q3導通，三極管Ql、三極管Q5和MOS管Q2截止，所以測試模塊中只有電阻R8接入反相放大器，即是量程選擇模塊選擇的是2歐姆檔量程，運算放大器ARl、電阻R1、M0S管Q3和電阻R8形成反相放大器的回路，其中電阻Rl起限流的作用，進行線性放大后的信號通過輸出模塊輸出。
[0034]當選擇3檔時，則給I檔、2檔和4檔高電壓信號，3檔給低壓信號，則三極管Q6、三極管Q7和三極管Q4導通，三極管Q8截止，相對應的，MOS管Q2導通，三極管Q1、三極管Q5和MOS管Q3截止，所以測試模塊中只有電阻R8和電阻R9接入反相放大器，即是量程選擇模塊選擇的是18+2=20歐姆檔，運算放大器ARl、電阻R2、M0S管Q2、電阻R8和電阻R9形成反相放大器的回路，其中電阻R2起限流的作用，進行線性放大后的信號通過輸出模塊輸出。
[0035]當選擇2檔時，則給I檔、3檔和4檔高電壓信號，2檔給低壓信號，則三極管Q6、三極管Q8和三極管Q4導通，三極管Q7截止，相對應的，三級管Ql導通，三極管Q5、MOS管Q2和MOS管Q3截止，所以測試模塊中只有電阻R7、電阻R8和電阻R9接入反相放大器，即是量程選擇模塊選擇的是18+2+180=200歐姆檔；運算放大器AR1、電阻R3、三極管Q1、電阻R7、電阻R8和電阻R9形成反相放大器的回路，其中電阻R3起限流的作用，進行線性放大后的信號通過輸出模塊輸出。
[0036]當選擇I檔時，則給2檔、3檔和4檔高電壓信號，I檔給低壓信號，則三極管Q7、三極管Q8和三極管Q4導通，三極管Q6截止，相對應的，三級管Q5導通，三極管Ql、MOS管Q2和MOS管Q3截止，所以測試模塊中電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9接入反相放大器，即是量程選擇模塊選擇的是18+2+180+1800=2000歐姆檔；運算放大器AR1、電阻R4、三極管Q5、電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9形成反相放大器的回路，其中電阻R4起限流的作用，進行線性放大后的信號通過輸出模塊輸出。
[0037]本發明的信號測試電路結構簡單，測試模塊可包括至少一個可供選擇的量程，由量程選擇模塊根據測試精度選擇量程以對被測信號進行測試，能夠便捷地針對不同的測試精度選擇不同的量程進行測試，從而提升了信號測試的準確度和精度。
[0038]以上所揭露的僅為本發明較佳實施例而已，當然不能以此來限定本發明之權利范圍，因此依本發明權利要求所作的等同變化，仍屬本發明所涵蓋的范圍。
【權利要求】
1.一種信號測試電路，其特征在于，包括測試模塊、量程選擇模塊和輸出模塊； 所述測試模塊分別與所述量程選擇模塊和所述輸出模塊連接，所述量程選擇模塊與所述輸出模塊連接； 所述測試模塊包括至少一種量程，所述量程選擇模塊根據測試精度從所述至少一種量程中選擇一種量程，由所述測試模塊根據所述量程選擇模塊所選擇的量程對被測信號進行測試，并由所述輸出模塊輸出測試后的信號。
2.如權利要求1所述的信號測試電路，其特征在于，所述測試模塊包括運算放大器ARl、電阻R6、電阻R7、電阻R8和電阻R9 ； 所述運算放大器ARl的反相輸入端與所述電阻R8 —端連接，所述電阻R8另一端與所述電阻R9 —端連接，所述電阻R9另一端與所述電阻R7 —端連接，所述電阻R7另一端與所述電阻R6 —端連接，所述電阻R6另一端分別與所述量程選擇模塊和所述輸出模塊連接；其中，所述電阻R8組成第一量程，所述電阻R8和所述電阻R9串聯組成第二量程，所述電阻R7、所述電阻R8和所述電阻R9串聯組成第三量程，所述電阻R6、所述電阻R7、所述電阻R8和所述電阻R9串聯組成第四量程。
3.如權利要求2所述的信號測試電路，其特征在于，所述量程選擇模塊包括三極管Ql、MOS管Q2、MOS管Q3和三極管Q4?Q8 ; 所述三極管Q6的集電極分別與所述運算放大器ARl的輸出端和所述三極管Q5的基極連接，所述三極管Q7的集電極分別與所述運算放大器ARl的輸出端和三極管Ql的基極連接，所述三極管Q8的集電極分別與所述運算放大器ARl的輸出端和所述MOS管Q2的柵極連接，所述三極管Q4的集電極分別與所述運算放大器ARl的輸出端和MOS管Q3的柵極連接，所述三極管Q5的發射極分別與所述電阻R6和輸出模塊連接，所述三極管Ql的發射極連接于所述電阻R6和所述電阻R7之間，所述MOS管Q2的源極連接于所述電阻R7和所述電阻R9之間，所述MOS管Q3的源極連接于所述電阻R8和所述電阻R9之間。
4.如權利要求3所述的信號測試電路，其特征在于，所述量程選擇模塊還包括電阻Rl ?R4 ; 所述電阻Rl串聯于所述運算放大器ARl輸出端與所述MOS管Q3的柵極之間，所述電阻R2串聯于所述運算放大器ARl輸出端與所述MOS管Q2的柵極之間，所述電阻R3串聯于所述運算放大器ARl輸出端與所述三極管Ql的基極之間，所述電阻R4串聯于所述運算放大器ARl輸出端與所述三極管Q5的基極之間。
5.如權利要求4所述的信號測試電路，其特征在于，所述三極管Q5的集電極、所述三極管Ql的集電極、所述MOS管Q2的漏極和所述MOS管Q3的漏極均連接電源。
6.如權利要求5所述的信號測試電路，其特征在于，所述三極管Q4的發射極和所述三極管Q6?Q8的發射極均接地。
7.如權利要求6所述的信號測試電路，其特征在于，所述三極管Ql和三極管Q4?Q8均為NPN型三極管。
8.如權利要求7所述的信號測試電路，其特征在于，所述MOS管Q2和MOS管Q3均為N溝道耗盡型MOS管。
9.如權利要求8所述的信號測試電路，其特征在于，所述輸出模塊包括運算放大器AR2 ； 所述運算放大器AR2的同相輸入端連接于所述三極管Q5的發射極和所述電阻R6之間，所述運算放大器AR2的反相輸入端與所述運算放大器AR2的輸出端連接。
10.一種燈具，其特征在于，包括I至9任一項所述的信號測試電路。
【文檔編號】G01R15/08GK104422807SQ201310377101
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2013年8月26日 優先權日:2013年8月26日
【發明者】周明杰, 劉金財 申請人:海洋王（東莞）照明科技有限公司, 海洋王照明科技股份有限公司, 深圳市海洋王照明技術有限公司