專利名稱：Pcb板低阻和開短路同步測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種PCB板測試系統(tǒng)，具體涉及一種PCB板低阻和開短路同步測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在PCB板生產(chǎn)加工工藝中，印刷的銅線路的厚薄直接影響PCB板的導(dǎo)通電阻，銅線路偏薄時，導(dǎo)通電阻會變大。因此，生產(chǎn)加工后的PCB板，存在兩種不同要求測試的線路，SP需要進行普通開短路測試的線路和需要同時進行普通開短路測試和低阻測試的線路。而現(xiàn)有技術(shù)中，測試治具對應(yīng)上述兩種不同測試要求的線路的每個測試焊盤均設(shè)置一支測試探針，即所謂的兩線式測試，這種形式的測試治具雖然可滿足普通測試線路的需求，但是無法滿足同時進行普通開短路測試和低阻測試的線路的需求，這是因為，進行低阻測試時，通常要采用四線式測試完成，兩線式測 試無法測出微小阻值差異。因此，PCB板在進行正常開短路測試后，需要再加一次四線式低阻測試，即通常需要兩次測試才可以完成。這樣，就存在測試流程繁瑣，重復(fù)測試作業(yè)的問題。測試流程繁瑣將直接導(dǎo)致測試工作效率低的問題，且一塊PCB板經(jīng)過多次測試可能會對PCB板造成不必要的刮傷，產(chǎn)生不良產(chǎn)品。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提出一種PCB板低阻和開短路同步測試系統(tǒng)，能夠一次性完成PCB板低阻測試和開短路測試，簡化PCB板測試作業(yè)流程，提高PCB板測試工
作效率。本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的:一種PCB板低阻和開短路同步測試系統(tǒng)，用于同步完成測試PCB板的普通測試線路和低阻測試線路，所述普通測試線路具有第一測試焊盤，所述低阻測試線路具有第二測試焊盤，所述測試系統(tǒng)包括測試機臺和測試治具，所述測試機臺包括普通測試模塊和低阻測試模塊，所述普通測試模塊能夠測試普通測試線路的開短路，所述低阻測試模塊能夠同時測試低阻測試線路的開短路和低阻；對應(yīng)每個所述第一測試焊盤，所述測試治具設(shè)有一支第一測試探針，所述第一測試探針與所述普通測試模塊電連接；對應(yīng)每個所述第二測試焊盤，所述測試治具設(shè)有兩支第二測試探針，所述第二測試探針與所述低阻測試模塊電連接。本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明提供一種PCB板低阻和開短路同步測試系統(tǒng)，對應(yīng)普通測試線路的每個第一測試焊盤按現(xiàn)有技術(shù)方式設(shè)置一支測試探針，可進行普通開短路測試；對應(yīng)低阻測試線路的每個第二測試焊盤設(shè)置兩支測試，兩支測試探針可滿足四線式低阻測試的需求，因此，可對低阻測試線路的普通開短路進行測試的同時，對低阻測試線路的低阻進行四線式測試。這樣，同一套治具包括兩種設(shè)針模式，配合測試機臺的兩種測試模塊，可一次性完成普通開短路測試和四線式低阻測試，達到減少測試流程，提高測試工作效率的目的，且測試流程的減少，避免了多次重復(fù)測試，從而避免重復(fù)測試對PCB板造成的不必要的刮傷，提聞廣品良率。
圖1為本發(fā)明原理示意圖。結(jié)合附圖，作以下說明:1-PCB板2-普通測試線路3—低阻測試線路4—第一測試焊盤5—第二測試焊盤6—第一測試探針7——第二測試探針
具體實施例方式
如圖1所示，一種PCB板低阻和開短路同步測試系統(tǒng)，用于同步完成測試PCB板I的普通測試線路2和低阻測試線路3，所述普通測試線路具有第一測試焊盤4，所述低阻測試線路具有第二測試焊盤5，所述測試系統(tǒng)包括測試機臺和測試治具，所述測試機臺包括普通測試模塊和低阻測試模塊，所述普通測試模塊能夠測試普通測試線路的開短路，所述低阻測試模塊能夠同時測試低阻測試線路的開短路和低阻；對應(yīng)每個所述第一測試焊盤，所述測試治具設(shè)有一支第一測試探針6，所述第一測試探針與所述普通測試模塊電連接；對應(yīng)每個所述第二測試焊盤，所述測試治具設(shè)有兩支第二測試探針7，所述第二測試探針與所述低阻測試模塊電連接。對應(yīng)普通測試線路的每個第一測試焊盤按現(xiàn)有技術(shù)方式設(shè)置一支測試探針，可進行普通開短路測試；對應(yīng)低阻測試線路的每個第二測試焊盤設(shè)置兩支測試，兩支測試探針可滿足四線式低阻測試的需求，因此，可對低阻測試線路的普通開短路進行測試的同時，對低阻測試線路的低阻進行四線式測試。這樣，同一套治具包括兩種設(shè)針模式，配合測試機臺的兩種測試模塊，可一次性完成普通開短路測試和四線式低阻測試，達到減少測試流程，提高測試工作效率的目的，且測試流程的減少，避免了多次重復(fù)測試，從而避免重復(fù)測試對PCB板造成的不必要的刮傷，提高產(chǎn)品良率。以上實施例是參照附圖，對本發(fā)明的優(yōu)選實施例進行詳細說明。本領(lǐng)域的技術(shù)人員通過對上述實施例進行各種形式上的修改或變更，但不背離本發(fā)明的實質(zhì)的情況下，都落在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種PCB板低阻和開短路同步測試系統(tǒng)，用于同步完成測試PCB板(I)的普通測試線路(2)和低阻測試線路(3)，所述普通測試線路具有第一測試焊盤(4)，所述低阻測試線路具有第二測試焊盤(5)，其特征在于:所述測試系統(tǒng)包括測試機臺和測試治具，所述測試機臺包括普通測試模塊和低阻測試模塊，所述普通測試模塊能夠測試普通測試線路的開短路，所述低阻測試模塊能夠同時測試低阻測試線路的開短路和低阻；對應(yīng)每個所述第一測試焊盤，所述測試治具設(shè)有一支第一測試探針(6)，所述第一測試探針與所述普通測試模塊電連接；對應(yīng)每個所述第二測 試焊盤，所述測試治具設(shè)有兩支第二測試探針(7)，所述第二測試探針與所述低阻測試模塊電連接。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種PCB板低阻和開短路同步測試系統(tǒng)，用于同步完成測試PCB板的普通測試線路和低阻測試線路，普通測試線路具有第一測試焊盤，低阻測試線路具有第二測試焊盤，測試系統(tǒng)包括測試機臺和測試治具，測試機臺包括普通測試模塊和低阻測試模塊，普通測試模塊能夠測試普通測試線路的開短路，低阻測試模塊能夠同時測試低阻測試線路的開短路和低阻；對應(yīng)每個第一測試焊盤，測試治具設(shè)有第一測試探針，第一測試探針與普通測試模塊電連接；對應(yīng)每個第二測試焊盤，測試治具設(shè)有第二測試探針，第二測試探針與低阻測試模塊電連接。本發(fā)明能夠一次性完成PCB板低阻測試和開短路測試，簡化PCB板測試作業(yè)流程，提高PCB板測試工作效率。
文檔編號G01R31/02GK103217619SQ20131013266
公開日2013年7月24日 申請日期2013年4月17日 優(yōu)先權(quán)日2013年4月17日
發(fā)明者李澤清 申請人:競陸電子(昆山)有限公司