處理器電壓的檢測裝置及方法
【專利摘要】本發明提供一種處理器電壓的檢測裝置及方法。處理器電壓的檢測裝置包括一電路板、一電壓值測試裝置、一數字開關及一連接數字開關的檢測芯片，電路板包括一CPU插槽、一信號產生芯片及一電壓調整器，檢測芯片插接在CPU插槽中，數字開關用于預設一預設數據，信號產生芯片用于在電路板開機后發送一啟動信號給檢測芯片，檢測芯片用于讀取預設數據，將預設數據轉換成SVID數據并SVID數據發送給電壓調整器，電壓調整器用于根據SVID數據發送一CPU電壓給CPU插槽，電壓值測試裝置用于測試CPU電壓的電壓值大小以確定CPU電壓的電壓值是否匹配預設數據對應的電壓值。
【專利說明】處理器電壓的檢測裝置及方法【技術領域】
[0001]本發明涉及一種電壓測試裝置及方法，特別是涉及一種處理器電壓的檢測裝置及方法。
【背景技術】
[0002]服務器的主板上一般裝設處理器，在開機時處理器會發出SVID (SubsystemVendor ID，子系統廠商識別碼)數據給電壓調節器(Voltage Regulator)，所述電壓調節器根據所述SVID數據發送一電壓給所述處理器的內核從而給所述處理器的內核供電，對于需要檢修的主板的電壓調節器，如果電壓調節器出現問題而輸出一較高的電壓給所述處理器的內核可能燒壞所述處理器。
【發明內容】
[0003]鑒于以上內容，有必要提供一種檢測處理器電壓以保護處理器的檢測裝置及方法。
[0004]一種處理器電壓的檢測裝置，包括一電路板及一電壓值測試裝置，所述電路板包括一 CPU插槽、一連接所述CPU插槽的信號產生芯片及一連接所述CPU插槽的電壓調整器，所述處理器電壓的檢測裝置還包括一數字開關、一連接所述數字開關的檢測芯片及一電壓值測試裝置，所述檢測芯片插接在所述CPU插槽中，所述檢測芯片包括一連接所述數字開關的讀取模塊、一轉換模塊、一發送模塊及一控制模塊，所述數字開關用于預設一預設數據，所述信號產生芯 片用于在所述電路板開機后發送一啟動信號給所述檢測芯片的控制模塊，所述控制模塊用于控制所述讀取模塊讀取所述預設數據，所述轉換模塊用于將所述預設數據轉換成SVID數據，所述發送模塊用于將所述SVID數據發送給所述電壓調整器，所述電壓調整器用于根據所述SVID數據發送一 CPU電壓給所述CPU插槽，所述電壓值測試裝置用于測試所述CPU電壓的電壓值大小以確定所述CPU電壓的電壓值是否匹配所述預設數據對應的電壓值。
[0005]一實施例中，所述預設數據為一 8位二進制數據。
[0006]—實施例中,所述信號產生芯片為一南橋芯片。
[0007]—實施例中，所述電壓值測試裝置為一示波器。
[0008]一種處理器電壓的檢測方法；所述處理器電壓的檢測方法包括如下步驟:
提供一處理器電壓的檢測裝置，所述處理器電壓的檢測裝置，包括一電路板、一電壓值測試裝置、一數字開關、一連接所述數字開關的檢測芯片及一電壓值測試裝置，所述電路板包括一 CPU插槽、一連接所述CPU插槽的信號產生芯片及一連接所述CPU插槽的電壓調整器，所述檢測芯片插接在所述CPU插槽中；
所述數字開關設置一預設數據；
所述信號產生芯片用于在所述電路板開機后發送一啟動信號給所述檢測芯片；
所述檢測芯片讀取所述預設數據，將所述預設數據轉換成SVID數據并發送給所述電壓調整器；
所述電壓調整器根據所述SVID數據發送一 CPU電壓給所述CPU插槽；
所述電壓值測試裝置測試所述CPU電壓的電壓值大小以確定所述CPU電壓的電壓值是否匹配所述預設數據對應的電壓值。
[0009]一實施例中，所述述預設數據為一 8位二進制數據。
[0010]—實施例中,所述信號產生芯片為一南橋芯片。
[0011]一實施例中，所述電壓值測試裝置為一示波器。
[0012]與現有技術相比，本發明處理器的電壓測試裝置及方法通過插接一檢測芯片于CPU插槽中，所述檢測芯片讀取數字開關的數據并轉換成SVID數據給電壓調節器，從而使電壓調節器輸出電壓值給CPU插槽，這樣就可以測試所述電壓值，從而在正式使用處理器時確保處理器不被燒壞。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0013]圖1為本發明處理器電壓的檢測裝置的一較佳實施方式中的示意圖。
[0014]圖2為本發明處理器電壓的檢測方法的一較佳實施方式中的流程圖。
[0015]主要元件符號說明 _
【權利要求】
1.一種處理器電壓的檢測裝置，包括一電路板及一電壓值測試裝置，所述電路板包括一 CPU插槽、一連接所述CPU插槽的信號產生芯片及一連接所述CPU插槽的電壓調整器，其特征在于:所述處理器電壓的檢測裝置還包括一數字開關、一連接所述數字開關的檢測芯片及一電壓值測試裝置，所述檢測芯片插接在所述CPU插槽中，所述檢測芯片包括一連接所述數字開關的讀取模塊、一轉換模塊、一發送模塊及一控制模塊，所述數字開關用于預設一預設數據，所述信號產生芯片用于在所述電路板開機后發送一啟動信號給所述檢測芯片的控制模塊，所述控制模塊用于控制所述讀取模塊讀取所述預設數據，所述轉換模塊用于將所述預設數據轉換成SVID數據，所述發送模塊用于將所述SVID數據發送給所述電壓調整器，所述電壓調整器用于根據所述SVID數據發送一 CPU電壓給所述CPU插槽，所述電壓值測試裝置用于測試所述CPU電壓的電壓值大小以確定所述CPU電壓的電壓值是否匹配所述預設數據對應的電壓值。
2.如權利要求1所述的處理器電壓的檢測裝置，其特征在于:所述預設數據為一8位二進制數據。
3.如權利要求1所述的處理器電壓的檢測裝置，其特征在于:所述信號產生芯片為一南橋芯片。
4.如權利要求1所述的處理器電壓的檢測裝置，其特征在于:所述電壓值測試裝置為一不波器。
5.一種處理器電壓的檢測方法；其特征在于:所述處理器電壓的檢測方法包括如下步驟: 提供一處理器電壓的檢測裝置，所述處理器電壓的檢測裝置，包括一電路板、一電壓值測試裝置、一數字開關、一連接所述數字開關的檢測芯片及一電壓值測試裝置，所述電路板包括一 CPU插槽、一連接所述CPU插槽的信號產生芯片及一連接所述CPU插槽的電壓調整器，所述檢測芯片插接在所述CPU插槽中； 所述數字開關設置一預設數據； 所述信號產生芯片用于在所述電路板開機后發送一啟動信號給所述檢測芯片； 所述檢測芯片讀取所述預設數據，將所述預設數據轉換成SVID數據并發送給所述電壓調整器； 所述電壓調整器根據所述SVID數據發送一 CPU電壓給所述CPU插槽； 所述電壓值測試裝置測試所述CPU電壓的電壓值大小以確定所述CPU電壓的電壓值是否匹配所述預設數據對應的電壓值。
6.如權利要求5所述的處理器電壓的檢測方法，其特征在于:所述述預設數據為一8位二進制數據。
7.如權利要求5所述的處理器電壓的檢測方法，其特征在于:所述信號產生芯片為一南橋芯片。
8.如權利要求5所述的處理器電壓的檢測方法，其特征在于:所述電壓值測試裝置為一不波器。
【文檔編號】G01R19/00GK103969491SQ201310035464
【公開日】2014年8月6日 申請日期:2013年1月30日 優先權日:2013年1月30日
【發明者】喻明 申請人:鴻富錦精密工業（深圳）有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司