專利名稱：光學測定裝置和光學測定方法
技術領域：
本發明涉及用于測定旋光角的光學測定裝置等。
背景技術：
對透過物質的光進行測定，由此不必直接接觸該物質就能夠知道物質的成分。例如，如果確認旋光角，則能夠估計物質的濃度。旋光是例如線偏振光通過葡萄糖那樣的光學活性物質時、其偏振光面旋轉的性質。作為利用了該旋光性的技術，例如在專利文獻I中公開了以下技術:對線偏振光透過被檢體后的透射光正交分離，分別用兩個受光元件接收該正交分離后的偏振光成分，根據該兩個受光元件的輸出電平的差來測定旋光角。
專利文獻1:國際公開第99/30132號在專利文獻I中公開的旋光角的測定技術中，根據兩個受光元件的輸出電平的差來測定旋光角。但是，該測定方法中存在問題。通常，激光作為向被檢體照射的光，但是在輸出激光的半導體激光器等激光器裝置中，有時會產生被稱為所謂返回光噪聲的輸出變動。其是這樣的現象:從激光器裝置射出的光的一部分反射而再次返回到激光器裝置，從而使激光器的振蕩不穩定。該情況下，會產生所謂的光量變動，即，透過被檢體的透射光的光量發生變動。此外，在測定具有吸光度不同的多個成分的被檢體的情況下，各成分在被檢體內不一定均勻分布。即，根據進行測定時的各成分的混合狀態、激光照射的位置、時間經過等，吸光度可以不同，所以會產生透過被檢體的透射光的光量變動。在產生了這樣的光量變動的情況下，無法保證簡單地根據受光元件中的受光電平之差計算的旋光角是正確的測定值。這是因為，當產生光量變動時，受光元件中的受光電平整體上發生變化，受光電平之差發生變化。例如，在極端的例子中，當透射光的光量下降到1/2時，受光元件中的受光電平下降到1/2，因此受光電平之差也下降到1/2。因此，在根據受光電平之差計算旋光角的現有方法中，無法得到正確的旋光角。
發明內容
本發明是鑒于上述課題而完成的，其目的在于，提出一種用于準確地測定旋光角的新方法。為了解決以上的課題，第I方式的光學測定裝置具有:正交分離部，其對線偏振光透過被檢體后的透射光進行正交分離；至少兩個受光部，它們接收由所述正交分離部正交分離后的光；以及旋光角計算部，其具有判定所述透射光的光量或該光量的預定比例的光量的透射光量判定部，使用由所述透射光量判定部判定的光量，對所述受光部接收到的受光電平之差進行歸一化，然后計算旋光角。此外，作為其他的方式，也可以構成為光學測定方法，該光學測定方法包括以下步驟:對線偏振光透過被檢體后的透射光進行正交分離；接收所述正交分離后的光；判定所述透射光的光量或該光量的預定比例的光量；以及使用所述判定的光量，對所述接收到的受光電平之差進行歸一化，然后計算旋光角。根據該第I方式等，線偏振光透過被檢體的透射光被正交分離，接收該正交分離的光。然后，判定透射光的光量或該光量的預定比例的光量，使用所判定的光量對受光部接收的受光電平之差進行歸一化，然后計算旋光角。通過對受光電平之差進行歸一化，由此即便在產生了透射光的光量變動的情況下，也能夠正確地計算旋光角。此外，作為第2方式，光學測定裝置構成為，在第I方式的光學測定裝置中，所述旋光角計算部具有求出所述受光電平之差的差動放大部，還具有可變地設定所述差動放大部的放大率的放大率設定部。根據該第2方式，通過差動放大部求出受光電平之差。通過放大率設定部可變地設定該差動放大部的放大率。例如，根據被檢體的吸光度或旋光角的大小，可變地設定放大率，由此，可以在較大的動態范圍內計算旋光角。此外，作為第3方式，光學測定裝置可以構成為，在第I或第2方式的光學測定裝置中，所述透射光量判定部根據所述受光部接收到的受光電平之和來判定所述光量。根據該第3方式，通過受光部接收到的受光電平之和，能夠簡單地判定透射光的光量。此外，作為第4方式，光學測定裝置可以構成為，在第I或第2方式的光學測定裝置中，該光學測定裝置還具有:無偏振光分割部，其以所述預定比例對所述透射光進行無偏振光分割；以及第2受光部，其接收所述無偏振光分割后的一方的光，所述正交分離部對所述無偏振光分割后的另一方的光進行正交分離，所述透射光量判定部根據所述第2受光部的受光電平，判定所述透射光的所述預定比例的光量。根據該第4方式，通過無偏振 光分割部以預定比例對透射光進行無偏振光分割。然后，進行無偏振光分割后的一方的光被第2受光部接收。與此相對,進行無偏振光分割后的另一方的光被正交分離部正交分離。然后，根據第2受光部的受光電平來判定透射光的預定比例的光量。通過無偏振光分割部對透射光進行無偏振光分割，在第2受光部中接收其一方的光，通過這樣簡易的結構，能夠判定透射光的預定比例的光量。
圖1是示出第I光學測定裝置的結構例的圖。圖2是示出控制用參數數據的數據結構例的圖。圖3是示出第I旋光角測定處理的流程的流程圖。圖4是示出第2光學測定裝置的結構例的圖。圖5是示出第2旋光角測定處理的流程的流程圖。標號說明IA:第I光學測定裝置；1B:第2光學測定裝置；10:光源；20:偏振光部；25:無偏振光分割部；30:正交分離部；40:受光部；40A:P偏振光受光部；40B:S偏振光受光部；50:差動放大部；51:加法器；53:減法器；55:開關；57:放大電路；70 第2差動放大部；80:第2受光部；90:放大部；100:控制部；150:旋光角計算部；200:操作部；300:顯示部；400:聲音輸出部；500:通信部；600:存儲部。
具體實施例方式以下，參照附圖對本發明的優選實施方式的一例進行說明。但是，可應用本發明的方式顯然并不限于以下說明的實施方式。1.第I實施方式1-1.結構圖1是示出第I實施方式中的第I光學測定裝置IA的結構例的圖。作為主要的結構，第I光學測定裝置IA具有光源10、偏振光部20、正交分離部30、受光部40、差動放大部50、控制部100、操作部200、顯示部300、聲音輸出部400、通信部500以及存儲部600而構成。在偏振光部20與正交分離部30之間配置有被檢體A。被檢體A可以是包含光學活性物質的固體或液體等任意的試料。在本實施方式中，將被檢體A設為以葡萄糖為主成分的試劑，接收透過被檢體A的透射光，測定被檢體A的旋光角，由此評價被檢體A的旋光性。光源10是生成并射出光的激光器裝置，例如具有半導體激光器(激光二極管)。光源10從半反射鏡的端面發射激光，該激光是預定波長(例如650納米[nm])的相位一致的光。偏振光部20是將來自光源10的出射光變換為線偏振光的偏振光兀件(偏振鏡)，例如具有偏振光棱鏡等偏振光用光學元件。例如，可以應用作為一種格蘭型偏振鏡的格蘭湯普森棱鏡作為偏振光部20。正交分離部30將線偏振光透過被檢體A后的透射光分離為成預定的開度角的正交成分，即彼此相差90度的偏振光成分。例如，可以應用作為一種偏振光用光學元件的沃拉斯頓棱鏡作為正交分離部30。受光部40是接收由正交分離部30正交分離后的光的元件，具有光電二極管等光檢測器。受光部40至少具有兩個受光部。例如，受光部40具有P偏振光受光部40A和S偏振光受光部40B。而且,檢測由正交分離部30正交分離的互相垂直的偏振光成分(P成分和S成分)，并進行光電轉換，由此將與光量對應的電壓輸出到差動放大部50。在以下的說明中，將P偏振光受光部40A光電轉換的電壓稱作“P偏振光電壓”，將S偏振光受光部40B光電轉換的電壓稱作“ S偏振光電壓”來進行說明。差動放大部50是對受光部40中的受光電平之差及和進行放大并檢測的運算部，具有加法器51、減法器53、開關55以及放大電路57。P偏振光受光部40A和S偏振光受光部40B的輸出通過加法器51和減法器53分別進行加法和減法，通過開關55來選擇加法結果和減法結果中的一個，通過放大電路57進行放大。通過來自控制部100的指示信號來控制開關55的開關切換和 放大電路57的放大率。控制部100按照預定周期進行開關55的切換。根據該控制部100進行的開關控制，差動放大部50以時間分割方式對相當于受光電平之差的電壓和相當于受光電平之和的電壓進行運算并輸出。在以下的說明中，將相當于受光電平之差的電壓稱作“減法輸出電壓”，將相當于受光電平之和的電壓稱作“加法輸出電壓”進行說明。此外，控制部100可變地設定差動放大部50 (放大電路57)的放大率。具體而言，在將開關55切換到減法器53側的情況下，將放大率設定為第I放大率“G1”，由此，以第I放大率“G1”對減法輸出電壓進行放大。與此相對，在將開關55切換到加法器51側的情況下，將放大率設定為比第I放大率“G1”低的第2放大率“G2”，由此，以第2放大率“G2”對加法輸出電壓進行放大。控制部100具有:根據從差動放大部50輸出的加法輸出電壓(受光電平之和)來判定透射光的光量的透射光量判定部Iio ;以及可變地對差動放大部50的放大率進行設定的放大率設定部120。在第I光學測定裝置IA中，由差動放大部50和控制部100構成計算旋光角的旋光角計算部150。控制部100是統一地控制第I光學測定裝置IA的各部的控制裝置，具有CPU(Central Processing Unit:中央處理單兀)或 DSP (Digital Signal Processor:數字信號處理器)等微處理器、ASIC (Application Specific Integrated Circuit:專用集成電路)等。操作部200是具有按鈕開關等的輸入裝置，將被按下的按鈕的信號輸出到控制部100。通過該操作部200的操作，完成旋光角的測定開始指示等各種指示輸入。顯示部300具有IXD (Liquid Crystal Display:液晶顯示器)等,是進行基于從控制部100輸入的顯示信號的各種顯示的顯示裝置。在顯示部300中顯示所測定的旋光角
等信息。聲音輸出部400是進行基于從控制部100輸入的聲音輸出信號的各種聲音輸出的聲音輸出裝置。通信部500是通信裝置，用于根據控制部100的控制，在與外部的信息處理裝置之間收發在裝置內部利用的信息。作為通信部500的通信方式，可以應用通過符合預定通信標準的電纜進行有線連接的形式、或通過兼用作被稱為托座(cradle)的充電器的中間裝置進行連接的形式、利用近距離無線通信進行無線連接的形式等。存儲部600 具有 ROM (Read Only Memory:只讀存儲器)或閃存 ROM、RAM (RandomAccess Memory:隨機存取存儲器)等存儲裝置。存儲部600存儲第I光學測定裝置IA的系統程序、用于實現旋光角測定功能等各種功能的各種程序、數據等。此外，具有臨時存儲各種處理的處理中數據、處理結果等的工作區。存儲部600中存儲有第I旋光角測定程序610，該第I旋光角測定程序610由控制部100讀出，作為第I旋光角測定處理(參照圖3)執行。關于第I旋光角測定處理，使用流程圖在后面詳細敘述。此外，存儲部600存儲控制用參數數據620、輸出電壓數據630以及計算旋光角640。圖2是示出控制用參數數據620的數據結構的一例的圖。控制用參數數據620是為了由控制部100控制差動放大部50而使用的數據，分別針對減法和加法，以表格形式對應地規定了開關55的切換設定與放大電路57的放大率。控制部100根據該控制用參數數據620控制差動放大部50。輸出電壓數 據630是存儲了從差動放大部50輸出的電壓的數據。具體而言，差動放大部50以時間分割方式交互輸出的減法輸出電壓和加法輸出電壓以可識別出是哪種輸出電壓的方式，按照時間順序存儲在輸出電壓數據630中。
此外，計算旋光角640是存儲了由控制部100計算的旋光角的數據。1-2.旋光角的計算方法對第I實施方式的旋光角的計算方法進行具體說明。將透過被檢體A后的透射光的光量設為“Ea2”,將線偏振光相對于正交分離部30的入射角設為“ θ Λ將被檢體A的旋光角設為“ Θ ”。此時，P偏振光的電場分量和S偏振光的電場分量分別由“Eacos ( Θ + Θ。)”和“Easin (Θ + Θ。)”表不。因此,P偏振光電壓和S偏振光電壓分別由“Ea2COS2 ( θ + θ0)，，和“Ea2sin2 (Θ + Θ。)”表示。此時，從P偏振光電壓中減去S偏振光電壓，由此能夠如下式(I)那樣求出減法電壓“Vs”。此外，將P偏振光電壓與S偏振光電壓相加，由此能夠如下式(2)那樣求出加法電壓 “Va”。式IVs = Ea2Cos2 ( Θ + Θ 0) -Ea2Sin2 ( Θ + Θ 0)= Ea2 (cos2 ( Θ + Θ 0) -sin2 ( Θ + Θ 0))...(I)式2Va = Ea2Cos2 ( Θ + Θ 0) +Ea2Sin2 ( Θ + Θ 0)= Ea2 (cos2 ( Θ + Θ 0) +sin2 ( Θ + Θ 0))= Ea2 …(2)
差動放大部50對由式(I)和(2)表示的減法電壓“Vs”和加法電壓“Va”進行運算，以從控制部100指示的放大率對其運算結果進行放大。對減法電壓“Vs”的放大率是“G1”，對加法電壓“Va”的放大率是“G2”，因此，從差動放大部50輸出的減法輸出電壓“VI”和加法輸出電壓“V2”分別由下式(3)和(4)表示。式3Vl = Gl.Vs=Gl.Ea2 (cos2 ( Θ + Θ 0) -sin2 ( Θ + Θ 0))...⑶式4V2 = G2.Va= G2.Ea2…(4)根據式(3)和(4)能夠導出下式(5)。式5- cos ~ (0 4- Oq)- sin1 {Θ 4- (L)
Gl V 2= cos 2(^ + ).* * (5)因此，根據式(5)，能夠如下式(6)那樣計算旋光角“ Θ ”。式6
Γ -1 (οι rnθ = —arcxos--— A
2 {GIV2J 0
I f Fl1麵吹《w.
其中，以“G2/G1=C1”進行了置換。
根據式(6)，為了計算旋光角“ Θ ”，需要“Cl”和“ Qtl ”這兩個參數值。例如，“Cl”可以根據由控制用參數數據620規定的第I放大率“G1”與第2放大率“G2”之比來求出，“ Qtl”可以機械地預先設定為預定角度等。由于是將用極微小的角度表示的旋光角作為測定對象，因此上述參數值對旋光角的測定精度的影響很大。差動放大部50的設計上的放大率(設計值)可能包含因電路元件的溫度特性或設計值的精度等引起的誤差。由于該誤差，也會使旋光角的測定精度下降。因此，在本實施方式中，進行初始校正而設定“Cl”和“ Qtl”。具體而言，使用已知旋光角的2種以上的物質作為被檢體A，建立導出旋光角的方程式。未知數是“Cl”和“ Θ J這兩個數，因此只要建立2個以上的方程式，就可以求出兩個未知數。例如，可以使用最小二乘法等公知的數值計算來計算方程式的解。1-3.處理的流程圖3是示出控制部100根據存儲在存儲部600中的第I旋光角測定程序610執行的第I旋光角測定處理的流程的流程圖。首先，控制部100進行第I初始校正處理(步驟A0)。具體而言，根據上述方法，校正式(6)中的“Cl”和“ Θ J兩個參數值。接著，控制部100進行被檢體A的配置指示(步驟Al)。例如，使顯示部300顯示消息，或從聲音輸出部400輸出音聲向導。然后,控制部100使光源10開始發射激光(步驟A3)。接著，控制部100執行減法用控制(步驟A5)。具體而言，參照控制用參數數據620，將用于切換到減法器53側的開關切換信號SI輸出到開關55。此外，將用于使放大電路57的放大率成為Gl的控制信號輸出到放大電路57。然后，控制部100將來自差動放大部50的輸出電壓作為減法輸出電壓存儲在輸出電壓數據630中(步驟A7)。
`
接著，控制部100執行加法用控制(步驟A9)。具體而言，參照控制用參數數據620，將用于切換到加法器51側的開關切換信號S2輸出到開關55。此外，將用于使放大電路57的放大率成為G2的控制信號輸出到放大電路57。然后，控制部100將來自差動放大部50的輸出電壓作為加法輸出電壓存儲在輸出電壓數據630中(步驟All)。執行以上步驟A5 All的處理，直到得到預定時間的量的輸出電壓數據(步驟A13)。在得到了預定時間的量的輸出電壓數據的情況下(步驟A13:是)，控制部100使光源10停止發射激光(步驟A15)。然后，控制部100使用在第I初始校正處理中校正后的參數值、以及在輸出電壓數據630中存儲的預定時間的量的減法輸出電壓的平均值和加法輸出電壓的平均值，根據式
(6)計算旋光角，并作為計算旋光角640存儲在存儲部600中(步驟A17)。另外，也可以使用減法輸出電壓“VI ”和加法輸出電壓“V2”的瞬時值來計算旋光角“ Θ ”，但是，為了提高旋光角“ Θ ”的計算精度，例如使用預定時間的量的減法輸出電壓“VI”和加法輸出電壓“V2”的平均值，根據式(6)來計算旋光角“ Θ ”的方式的效果更好。由式(6)已知，在本實施方式中，用減法輸出電壓“ V I”除以加法輸出電壓“ V2 ”，使用其結果來計算旋光角“ Θ ”。加法輸出電壓“V2”是相當于透射光的光量的電壓。此外，減法輸出電壓“VI”是相當于受光電平之差的電壓。因此，用減法輸出電壓“VI”除以加法輸出電壓“V2”意味著使用透射光的光量將受光電平之差歸一化，根據歸一化后的受光電平之差來計算旋光角“ Θ ”。返回圖3的流程圖的說明，在計算了旋光角后，控制部100判定是否結束旋光角的測定(步驟A19)，在判定為繼續測定的情況下(步驟A19:否)，返回步驟Al。此外，在判定為結束測定的情況下(步驟A19:是)，結束第I旋光角測定處理。1-4.作用效果在第I光學測定裝置IA中，從光源10射出的光在偏振光部20中被設為線偏振光，并入射到被檢體A。透過被檢體A的透射光在正交分離部30中被正交分離，在正交分離部30中被正交分離的光被至少兩個受光部40 (40A、40B)接收。然后，由控制部100來判定透射光的光量，使用由透射光量判定部判定的光量將在受光部40接收到的受光電平之差歸一化，然后，通過旋光角計算部150計算旋光角。如果簡單地使用受光部40接收的受光電平之差來計算旋光角，則在產生了透射光的光量變動的情況下，由于該光量變動而無法得到正確的旋光角。但是，在第I光學測定裝置IA中，判定透射光的光量，使用該光量將受光電平之差歸一化，然后，計算旋光角，因此即便透射光的光量產生了變動也能夠正確地計算旋光角。更具體而言，在差動放大部50中，以時間分割方式求出受光部40中的受光電平之差與和。控制部100的透射光量判定部通過在受光部40中接收的受光電平之和來判定透射光的光量，使用判定的透射光的光量將受光電平之差歸一化。根據該結構，通過求出受光電平之和的簡易方法，能夠判定透射光的光量。此外，控制部100可變地設定差動放大部50的放大率。具體而言，在差動放大部50計算受光電平之差的情況下，將放大率設定為第I放大率，在差動放大部50計算受光電平之和的情況下，將放大率設定為比第I放大率低的第2放大率。由于受光電平之差為微小的值，因此與求出受光電平之和的情況相比，將放大率設定為較高，由此能夠提高分辨率，計算與受光電平對應的高精度的旋光角。
2.第2實施方式2-1.結構圖4是示出第2實施方式的第2光學測定裝置IB的結構例的圖。第2光學測定裝置IB具有光源10、偏振光部20、無偏振光分割部25、正交分離部30、受光部40、第2差動放大部70、第2受光部80、放大部90、控制部100、操作部200、顯示部300、聲音輸出部400、通信部500以及存儲部600而構成。另外，對與第I光學測定裝置IA相同的結構要素標注相同的標號，省略重復的說明。在第2光學測定裝置IB中，在被檢體A與正交分離部30之間設置有無偏振光分割部25。無偏振光分割部25是偏振光兀件,其維持入射光的偏振光狀態，以預定的光量比率，將入射光分割為透射光和反射光。例如可以應用無偏振光分束器作為無偏振光分割部25。被無偏振光分割部25分割的一方的光入射到正交分離部30，被分離為P偏振光成分和S偏振光成分。與此相對，被無偏振光分割部25分割的另一方的光被第2受光部80接收。將第2受光部80接收的光進行光電轉換，將與光量對應的電壓輸出到放大部90。而且，在放大部90中以預定的放大率放大后，輸出到控制部100。透射光量判定部110根據第2受光部80的受光電平判定透射光的光量。
無偏振光分割部25的入射光的分割光量比率為已知，因此，透射光量判定部110能夠使用第2受光部80的受光電平來計算透射光整體的光量，還能夠計算入射到正交分離部30的光量。另一方面,將由受光部40的P偏振光受光部40A光電轉換的P偏振光電壓與由S偏振光受光部40B光電轉換的S偏振光電壓輸出到第2差動放大部70。在第2差動放大部70中，運算P偏振光電壓與S偏振光電壓的差，并以預定的放大率進行放大，然后輸出到控制部100。因此，從第2差動放大部70僅輸出在第I實施方式中所說的減法輸出電壓。此外，在存儲部600中存儲有通過控制部100作為第2旋光角測定處理(參照圖5)被執行的第2旋光角測定程序612、輸出電壓數據630以及計算旋光角640。2-2.旋光角的計算方法對第2實施方式的旋光角的計算方法具體地進行說明。透過被檢體A的透射光通過無偏振光分割部25進行無偏振光分割而分割為“Tl:T2”(其中，設Tl+T2=l。)。具體而言，透射光的光量“Ea2”被分割為“Tl:T2”，光量“Tl -Ea2"的光被受光部40接收，光量“Τ2.Ea2”的光被第2受光部80接收。此時，由P偏振光受光部40A和S偏振光受光部40B接收并光電轉換的P偏振光電壓和S偏振光電壓分別由“Tl.Ea2cos2 ( θ + θ0)，，和“Tl.Ea2Sin2 (Θ + Θ。)”表示。因此，從P偏振光電壓中減去S偏振光電壓的情況下的減法電壓“Vs”由下式(7)表示。式7Vs = Tl.Ea2 (cos2 ( Θ + Θ 0) -sin2 ( Θ + Θ 0))...(7)
另一方面，第2受光部80接收并光電轉換的電壓“V”由下式(8)給出。式8V = T2.Ea2...(8)第2差動放大部70以放大率“G3”對式(7)表示的減法電壓“Vs”進行放大。其結果是，從第2差動放大部70輸出的減法輸出電壓“V3”由下式(9)示出。式9V3 = G3.Vs= G3.Tl.Ea2 (cos2 ( Θ + Θ 0) -sin2 ( Θ + Θ 0))...(9)此外，放大部90以放大率“G4”對式(8)表示的電壓“V”進行放大。其結果是，從放大部90輸出的輸出電壓“V4”由下式(10)示出。式10V4 = G4.V= G4.T2.Ea2...(10)根據式(9)和(10)導出下式(11)。式11= cos2(0+θΛ-5οι2(θ 4-θΛ C73 71 1 β/ ' 0/= COS 2{θ + #β )...(I I)因此，根據式(11)能夠如下式(12)那樣計算旋光角“ Θ ”。式12
權利要求
1.一種光學測定裝置，其具有: 正交分離部，其對線偏振光透過被檢體后的透射光進行正交分離； 至少兩個受光部，它們接收由所述正交分離部正交分離后的光；以及旋光角計算部，其具有判定所述透射光的光量或該光量的預定比例的光量的透射光量判定部，使用由所述透射光量判定部判定的光量，對所述受光部接收到的受光電平之差進行歸一化，然后計算旋光角。
2.根據權利要求1所述的光學測定裝置，其中， 所述旋光角計算部具有求出所述受光電平之差的差動放大部， 還具有可變地設定所述差動放大部的放大率的放大率設定部。
3.根據權利要求1或2所述的光學測定裝置，其中， 所述透射光量判定部根據所述受光部接收到的受光電平之和來判定所述光量。
4.根據權利要求1或2所述的光學測定裝置，其中， 該光學測定裝置還具有: 無偏振光分割部，其以所述預定比例對所述透射光進行無偏振光分割；以及 第2受光部，其接收所述無偏振光分割后的一方的光， 所述正交分離部對所述無偏振光分割后的另一方的光進行正交分離， 所述透射光量判定部根據所述第2受光部的受光電平，判定所述透射光的所述預定比例的光量。
5.一種光學測定方法，該光學測定方法包括以下步驟: 對線偏振光透過被檢體后的透射光進行正交分離； 接收所述正交分離后的光； 判定所述透射光的光量或該光量的預定比例的光量；以及 使用所述判定的光量，對所述接收到的受光電平之差進行歸一化，然后計算旋光角。
6.根據權利要求5所述的光學測定方法,其中， 該光學測定方法包括以下步驟: 求出所述受光電平之差；以及 可變地設定所述差的放大率。
7.根據權利要求5或6所述的光學測定方法,其中， 該光學測定方法包括以下步驟: 根據接收到的受光電平之和來判定所述光量。
8.根據權利要求5或6所述的光學測定方法,其中， 該光學測定方法還包括以下步驟: 以所述預定比例對所述透射光進行無偏振光分割； 接收所述無偏振光分割后的一方的光； 對所述無偏振光分割后的另一方的光進行正交分離；以及 根據接收所述無偏振光分割后的一方的光而得到的受光電平，判定所述透射光的所述預定比例的光量。
全文摘要
光學測定裝置和光學測定方法。在第1光學測定裝置(1A)中，從光源(10)射出的光在偏振光部(20)中被設為線偏振光，并入射到被檢體(A)。透過被檢體(A)的透射光被正交分離部(30)正交分離，被正交分離部(30)正交分離的光被兩個受光部(40(40A、40B))接收。然后，通過控制部(100)判定透射光的光量，使用由透射光量判定部判定的光量對受光部(40)接收的受光電平之差進行歸一化，然后，通過旋光角計算部(150)計算旋光角。
文檔編號G01N21/21GK103226094SQ201310018020
公開日2013年7月31日 申請日期2013年1月17日 優先權日2012年1月30日
發明者后藤健次, 山田英明 申請人:精工愛普生株式會社