自動分析裝置以及自動分析裝置中的試劑處理方法
【專利摘要】本發明的目的在于，實現即使在分析動作中也能夠對緊急性高的檢查項目的測定中使用的試劑執行其準備處理的自動分析裝置。作為其構成，在沒有針對新試劑的分析項目的參數的情況下進行其下載，如果試劑準備處理的優先級為“高”，則暫時停止檢體分注調度處理，在優先級不為“高”的情況下，確認是否超過待機極限時間，如果超過則暫時停止檢體分注調度處理后，進行試劑準備處理調度，再開始檢體分注調度(步驟4-1～4-3、4-5、4-8～4-10)。在不超過待機極限時間的情況下，如果優先級為“中”則確認試劑準備處理機構是否空閑，如果空閑則進行試劑準備處理的調度(步驟4-6、4-7)。進行試劑準備處理的機構在使用中的情況以及試劑的優先級為“低”的情況下，返回到步驟4-3。
【專利說明】自動分析裝置以及自動分析裝置中的試劑處理方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及進行血液、尿等生物體試樣的分析的自動分析裝置。
【背景技術】
[0002]自動分析裝置是在血液、尿等生物體試樣中添加試劑并使其反應，進行檢查對象項目的定量的裝置。由于試劑根據對象項目而引起特異性反應，因此用戶在測定多種檢查項目的情況下，設置、登記與此對應的多種試劑而進行使用。
[0003]通常，用戶預先將足夠進行當天的檢查的試劑設置、登記在裝置中后開始分析。
[0004]但是，在檢查數量多的設施中，有時僅靠在分析開始前能夠設置的試劑是不夠的，因此有時需要追加試劑的設置、登記。在該情況下，登記試劑時，如果每次停止裝置，則開始再次分析需要時間，因此能夠在不停止裝置的情況下繼續進行分析的同時追加試劑的登記的話，檢查室的運行效率好。
[0005]作為與此相關的技術，有如下的技術:除了分析用試劑保管設備之外，設置補充用試劑保管設備和試劑瓶運送設備，管理保管在所述2個試劑保管設備中的試劑的信息，從而將試劑登記、試劑更換操作等試劑管理自動化、效率化(專利文獻I)。
[0006]此外，已知即使在操作中等分析動作中也不停止分注等的情況下能夠更換試劑瓶的技術(專利文獻2)等。
[0007]現有技術文獻
[0008]專利文獻
[0009]專利文獻1:日本特開2006-337386號公報
[0010]專利文獻2:日本特開平10-142230號公報
【發明內容】
[0011]發明要解決的課題
[0012]然而，即使將試劑更換操作效率化，在裝置進行分析的狀態下追加登記試劑，需要不僅能夠立即使用所登記的試劑，而且在多數情況下使其能夠使用的準備處理。
[0013]具體地說，需要如下的準備處理。
[0014]例如，在如免疫分析中所使用的試劑那樣含有磁性粒子的試劑為新試劑的情況下，由于磁性粒子沉淀在試劑容器的底部，因此需要事先充分攪拌均勻。
[0015]就含有磁性粒子的試劑的攪拌而言，如果是分析中則數秒即可，但在新投入時，所需的攪拌時間為約30秒。因此，如果自動分析裝置在分析動作中，投入新試劑，進行該新試劑的攪拌操作，則試劑的攪拌機構無法進行分析中的攪拌動作，必須中斷分析。
[0016]此外,通常自動分析裝置中使用的試劑需要校準(calibration),這也需要預先實施。
[0017]因此，在檢查設施中，作為用于開始分析的預先準備，進行在常規測定之前集中進行準備處理等的運用。[0018]但是，在用盡預先登記的試劑時，或者在需要緊急測定的檢查項目中欲使用預先未登記的試劑時，有在分析中途想要追加登記試劑的情況。在該情況下，如果利用專利文獻
1、專利文獻2中記載的技術，則能夠使登記本身效率化，但仍然需要預先準備。
[0019]就該預先準備處理而言，在已有其他的分析委托的情況下，使用以往的技術時有如下的情形:如果與被委托的測定相關的分析動作不結束就無法開始，在此期間無法使用追加登記的試劑。
[0020]例如，為了攪拌磁性粒子而需要使用試劑攪拌機構，但在分析中為了其他的檢查而試劑攪拌機構進行動作，因此如果它的動作不結束則無法使用。
[0021]本發明的目的在于，實現即使在分析動作中也能夠對緊急性高的檢查項目的測定中使用的試劑執行其準備處理的自動分析裝置以及自動分析裝置中的試劑處理方法。
[0022]用于解決課題的方法
[0023]上述本發明的目的通過如下構成來實現。
[0024]自動分析裝置的試劑處理方法中，將根據配置在試劑保管部中的試劑容器的試劑剩余量狀態的試劑準備處理優先級儲存于存儲部，讀取收容于投入到試劑保管部的試劑容器內的試劑的信息，對每個試劑將配置在所述試劑保管部中的試劑容器內的試劑的至少根據剩余量狀態的試劑準備處理優先級更新而儲存于存儲部，基于試劑信息讀取機構讀取的收容于投入到試劑保管部的試劑容器內的試劑的、儲存于存儲部中的試劑準備處理優先級，判斷是否比試樣分析動作優先執行利用試劑準備機構的試劑準備處理，試劑準備處理機構執行投入到試劑保管部中的試劑的準備處理。
[0025]發明效果
[0026]能實現即使在分析動作中，也能夠對緊急性高的檢查項目的測定中使用的試劑，執行其準備處理的自動分析裝置以及自動分析裝置中的試劑處理方法。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0027]圖1是應用了本發明的自動分析裝置的整體構成圖。
[0028]圖2是圖1中所示的分析模塊的一個例子的概略構成圖。
[0029]圖3是包含配置在試劑盤的附近的構件、機器的試劑處理機構的構成圖。
[0030]圖4是決定先行進行本發明的試劑準備處理的流程圖。
[0031]圖5是用于控制圖4的流程圖中所示的動作的整體管理用計算機的功能框圖。
[0032]圖6是由試劑準備調度(scheduling)部控制試劑準備處理機構而實施試劑準備處理的調度的動作流程圖。
[0033]圖7是示出在未應用本發明的情況下、優先級“高”時的試劑的從試劑登記到試劑準備處理(磁性粒子初期攪拌)結束為止的經過時間的圖。
[0034]圖8是示出在應用本發明的情況下、優先級“高”時的試劑的從試劑登記到試劑準備處理(磁性粒子初期攪拌)結束為止的經過時間的圖。
[0035]圖9是示出試劑準備處理優先級設定畫面的一個例子的圖。
[0036]圖10是示出試劑準備處理優先順序修正畫面的一個例子的圖。
[0037]圖11是示出試劑準備處理待機極限時間設定畫面的一個例子的圖。
[0038]圖12是示出同一校準使用條件設定畫面的一個例子的圖。【具體實施方式】
[0039]以下，參照附圖，說明本發明的實施方式。
[0040]實施例1
[0041]圖1是應用了本發明的自動分析裝置的整體構成圖。圖1中，自動分析裝置具備:檢體架投入部1-1、ID讀取部1-2、運送線1-3、再檢查用運送線1-4、分析模塊1_7、檢體架回收部1-5和整體管理用計算機1-8。
[0042]檢體架投入部1-1是投入多個檢體架的部分。校準物儲存部1-6是儲存使用于校準的試劑，可根據要求自動地投入校準物的機構。分析模塊1-7沿運送線1-3配置的同時可拆卸地連接于運送線1-3。
[0043]分析模塊1-7具備進行用于該分析模塊1-7內的所需處理的控制的計算機1-10。此外，就檢體架投入部1-1、運送線1-3、再檢查用運送線1-4以及檢體架回收部1-5而言，它們的動作由計算機1-9控制。
[0044]計算機1-9、1-10以及ID讀取部1_2與整體管理用計算機1_8連接。該計算機
1-8進而與輸入所需信息的操作部1-12、顯示分析結果的顯示部1-11以及外部網絡1-13連接。
[0045]圖2是作為圖1中所示的分析模塊1-7的一個例子的分析模塊2-1的概略構成圖。在本發明的一個實施例中，以分析免疫項目的免疫分析裝置作為分析模塊2-1的一個例子進行說明。
[0046]圖2中，在分析模塊2-1的運送架2-2上，架設有保持樣品的樣品容器2_3，通過架運送線2-18，使運送架2-2移動至樣品分注噴嘴2-4附近的樣品分注位置。
[0047]在恒溫箱盤2-5上，可以設置多個反應容器2-6，可以進行用于使沿圓周方向設置的反應容器2-6分別移動至規定位置的旋轉運動。
[0048]樣品分注吸頭(dispensing tip)以及反應容器運送機構2_7可以在X軸、Y軸、Z軸的3個方向上進行移動，在樣品分注吸頭以及反應容器保持構件2-8、反應容器攪拌機構
2-9、樣品分注吸頭以及反應容器廢棄孔2-10、樣品分注吸頭安裝位置2-11、恒溫箱盤2-5的規定位置的范圍內進行移動，進行樣品分注吸頭以及反應容器2-6的運送。
[0049]在樣品分注吸頭以及反應容器保持構件2-8上，設置有多個未使用的反應容器和樣品分注吸頭。樣品分注吸頭以及反應容器運送機構2-7移動到樣品分注吸頭以及反應容器保持構件2-8的上方，下降并夾持未使用的反應容器后上升，進而移動到恒溫箱盤2-5的規定位置上方，下降并設置反應容器。
[0050]接著，樣品分注吸頭以及反應容器運送機構2-7移動到樣品分注吸頭以及反應容器保持構件2-8的上方，下降并夾持未使用的樣品分注吸頭后，上升并移動到樣品分注吸頭安裝位置2-11的上方，下降并設置樣品分注吸頭。
[0051]樣品分注噴嘴2-4能夠進行轉動和上下移動，轉動移動到樣品分注吸頭安裝位置2-11的上方后，下降并向樣品分注噴嘴2-4的前端壓入樣品分注吸頭而安裝。安裝了樣品分注吸頭的樣品分注噴嘴2-4移動到載置于運送架2-2上的樣品容器2-3的上方后，下降以吸引規定量的保持在樣品容器2-3中的樣品。
[0052]吸引樣品的樣品分注噴嘴2-4移動到恒溫箱盤2-5的上方后，下降并向保持在恒溫箱盤2-5上的未使用的反應容器2-6排出樣品。如果樣品排出結束，則樣品分注噴嘴2-4移動到樣品分注吸頭以及反應容器廢棄孔2-10的上方，從廢棄孔廢棄使用過的樣品分注吸頭。
[0053]在試劑盤2-12上，設置有多個試劑容器2-19。在試劑盤2_12的上部設有試劑盤罩2-13,試劑盤2-12的內部被保持為規定的溫度。在試劑盤罩2-13的一部分,設有試劑盤罩開口部2-14。
[0054]試劑分注噴嘴2-15能夠進行旋轉和上下移動，旋轉移動到試劑盤罩2-13的開口部2-14的上方后下降，將試劑分注噴嘴2-15的前端浸潰在規定的試劑容器內的試劑中，吸引規定量的試劑。接著，在試劑分注噴嘴2-15上升后，旋轉移動到恒溫箱盤2-5的規定位置的上方，向反應容器2-6排出試劑。
[0055]排出有樣品和試劑的反應容器2-6通過恒溫箱盤2-5的旋轉而移動到規定位置，通過樣品分注吸頭以及反應容器運送機構2-7，被運送到反應容器攪拌機構2-9。反應容器攪拌機構2-9通過對反應容器2-6施加旋轉運動，將反應容器內的樣品與試劑攪拌、混合。攪拌結束的反應容器利用樣品分注吸頭以及反應容器運送機構2-7，返回到恒溫箱盤2-5的規定位置。
[0056]反應液吸引噴嘴2-16能夠進行旋轉和上下移動，其分注樣品和試劑，攪拌結束，在恒溫箱盤2-5上移動至經過規定的反應時間的反應容器2-6的上方，下降并吸引反應容器2-6內的反應液。由反應液吸引噴嘴2-16吸引的反應液用檢測部單元2-17進行分析。
[0057]反應液被吸引了的反應容器2-6通過恒溫箱盤2-5的旋轉而移動到規定位置，通過樣品分注吸頭以及反應容器運送機構2-7，從恒溫箱盤2-6移動到樣品分注吸頭以及反應容器廢棄孔2-10的上方，從廢棄孔廢棄。
[0058]予以說明的是，本發明并不限定于上述的分析模塊的構成。只要是具有試劑盤的機構，本發明就可以應用于上述分析模塊的機構以外的其他機構。例如，反應容器、樣品分注吸頭等也可以是通過清洗而反復使用的方式，而不是一次性的，還可以是不具有恒溫箱的裝置構成，例如可以是一般的生物化學自動分析裝置那樣的構成。
[0059]圖3是包含配置在試劑盤2-12 (圖3中，以試劑盤3_2表示)附近的構件、機器的試劑處理機構3-10的構成圖。
[0060]圖3中，3-1是試劑攪拌機構，3-2是旋轉式試劑設置機構，3_3是試劑加載器(reagent loader)。在試劑設置機構3-2、試劑加載器3-3上設置有試劑容器3-5 (2-19)，在試劑容器3-5內設有I個檢查項目測定所需的3個一組的液態試劑。其中的I個是含有磁性粒子的試劑。
[0061]3-6是試劑信息讀取機構,被設置成與試劑加載器3-3相鄰。在試劑容器3-5上賦予試劑信息，可以使用該機構取得試劑加載器3-3上的試劑信息。
[0062]3-8是設置、取出試劑的按鈕，可以通過按壓按鈕，使用試劑加載器3-3，對試劑設置機構3-2進行試劑的設置、取出。
[0063]此外，3-4 (對應于2-15)是試劑分注機構，3_7 (對應于1_10)是操作PC。在操作PC3-7中，保有設置在自動分析裝置中的試劑的剩余量、有效期限、試劑種類、批次(lot)等信息。
[0064]圖4是決定先行進行試劑準備處理的流程圖，圖5是用于控制圖4的流程圖所示的動作的整體管理用計算機1-8的功能框圖。圖5中所示的整體管理用計算機1-8具備試劑登記及讀出部10-1、存儲器10-2、優先級判斷部10-3、計時器10-4、檢體分注控制部10_5和試劑準備處理調度部10-6。試劑的優先級從優先級設定部(顯示部1-11、操作部1-12)傳送到試劑登記讀出部10-1。然后，傳送的試劑的優先級儲存于存儲器10-2。就新試劑的登記而言，由試劑讀取機構3-6讀取的試劑信息通過試劑登記讀出部10-1儲存于存儲器10-2。
[0065]圖4和圖5中，當新試劑被配置在試劑加載器3-3上，由試劑信息讀取機構3_6讀取的試劑信息被登記時，首先在步驟4-1中，試劑登記讀出部10-1根據儲存于存儲器10-2的數據確認是否有針對該試劑的分析項目的參數。如果有參數，則進入步驟4-2。
[0066]步驟4-1中，在沒有參數的情況下，進入步驟4-5，試劑登記讀出部10-1通過外部網絡1-13進行參數的下載，進入步驟4-2。
[0067]步驟4-2中，優先級判斷部10-3根據儲存于存儲器10_2的數據，對于新登記的試齊U，如果新試劑登記前的儲存數據中的試劑準備處理的優先級為“高”，則進入步驟4-8，向檢體分注控制部10-5發送指令信號，使檢體分注調度處理暫時停止。也就是說，檢體分注控制部10-5使檢體分注機構2-4的動作暫時停止。
[0068]步驟4-2中，在試劑準備處理的優先級不為“高”的情況下，進入步驟4-3，優先級判斷部10-3利用計時器10-4的計時，來確認是否超過試劑的待機極限時間(由用戶設定)。該待機時間是從收容新試劑的試劑容器由試劑加載器3-3投入到試劑盤3-2上的時刻起計時。步驟4-3中，如果超過待機極限時間，則進入步驟4-8。
[0069]步驟4-8中，如上所述，暫時停止檢體分注的調度處理后，進入步驟4-9，優先級判斷部10-3向試劑準備處理調度部10-6發送指令信號，該試劑準備處理調度部10-6對作為試劑準備處理機構的試劑處理機構3-10以及校準物儲存部1-6等，進行針對新登記試劑的試劑準備處理調度。然后，進入步驟4-10，優先級判斷部10-3向檢體分注控制部10-5發送指令信號，再開始檢體分注的調度。
[0070]步驟4-3中，在不超過待機極限時間的情況下，進入步驟4-4，優先級判斷部10-3確認存儲于存儲器10-2中的試劑準備處理的優先級。如果所確認的試劑的確認的優先級為“中”，則進入步驟4-6，優先級判斷部10-3通過檢體分注控制部10-5以及試劑準備處理調度部10-6，確認試劑準備處理中使用的機構是否空閑，也就是說，是否能夠重新執行試劑準備處理。
[0071]步驟4-6中，如果進行試劑準備處理的機構空閑，則進入步驟4-7，優先級判斷部10-3向試劑準備處理調度部10-6發送指令信號，使試劑準備處理的調度進行。
[0072]步驟4-6中，在進行試劑準備處理的機構不空閑的情況下，返回到步驟4-3。
[0073]此外，步驟4-4中，在試劑的優先級為“低”的情況下也返回到步驟4-3。
[0074]圖6是由試劑準備調度部10-6控制試劑準備處理機構(1-6、3_10)而實施試劑準備處理的調度的動作流程圖。
[0075]圖6中，首先，在步驟5-1中進行用于確認設置試劑的液量的調度。接下來，在步驟5-2中進行用于攪拌試劑的調度。
[0076]接下來,在步驟5-3中確認是否使用批校準(lot calibration)的設定。在此,所謂批校準是指，作為與已測定校準的試劑相同試劑的、具有同一批號的試劑重新投入到自動分析裝置內時，對于該新的試劑，接著使用已測定的校準數據。
[0077]在不使用批校準的情況下，在步驟5-5中對系統要求實施校準而結束處理。
[0078]步驟5-3中，使用批校準的情況下，進入步驟5-4，進行是否存在批校準的確認。步驟5-4中，不存在批校準的情況下，進入步驟5-5，進行校準實施要求而結束處理。
[0079]步驟5-4中，存在批校準的情況下，直接結束處理。
[0080]圖7、圖8是示出分析中的優先級為“高”時的試劑的從試劑登記到試劑準備處理(磁性粒子初期攪拌)結束為止的經過時間的圖，圖7是不應用本發明時的例子，圖8是應用了本發明時的例子。
[0081]圖7、圖8的任一個例子中，檢查委托都是5個項目。試劑準備處理和分析動作中機構干涉的動作是，“磁性粒子試劑吸引、添加(c)”。當優先級為高時，在“檢查3”之后，計劃針對項目B的磁性粒子初期攪拌，由此經過時間變為t2 < tl。也就是說，在該試劑的優先級為“高”的情況下，應用了本發明的例子能夠在早期結束試劑準備處理。
[0082]圖9是示出顯示部1-11中顯示的試劑準備處理優先級設定畫面7-1的一個例子的圖。在本例子中，雖然為僅著眼于試劑剩余量的試劑準備處理優先級的設定畫面，但也可以采用攪拌試劑時的試劑的穩定性等其他要素來決定優先級。
[0083]圖9中，7-2是試劑狀態，7-3是用于選擇優先級的組合框，7-4是取消按鈕，7-5是更新按鈕。根據通過該畫面而設定的條件，確定試劑準備處理的優先級。試劑狀態可以通過自動分析裝置的試劑登記讀出部10-1來自動地判斷，根據試劑的狀態，優先級被自動地變更，而儲存于存儲器10-2。
[0084]在圖9中所示的例子中，當試劑容器為空時以紅色表示，在試劑容器的試劑減少至規定量而不滿足I天的量時(例如剩余量在半天左右內變成O)以黃色表示，兩者優先級均為“高”。此外，在紫色時，表示在I天內會使用完的試劑剩余量的情況，優先級為“中”。無參數時的試劑的優先級為“高”，無掩碼(no mask)時(有可使用I天以上的剩余量的情況)的優先級為“低”。在投入有未登記的新種類的試劑時，判斷試劑處于空的狀態，優先級變為“高”。
[0085]圖10是示出顯示部1-11中顯示的試劑準備處理優先順序修正畫面11-1的一個例子的圖。圖10中，具備項目11-2、試劑準備處理的優先順序變更用文本框11-3、取消按鈕11-4、更新按鈕11-5。該畫面中，能夠進行儲存于存儲器10-2中的各試劑的準備處理優先順序的確認、以及優先順序的變更。
[0086]圖11是示出顯示部1-11中顯示的試劑準備處理待機極限時間設定畫面8-1的一個例子的圖。
[0087]圖11中，8-2是試劑準備處理優先級，8-3是用于輸入待機極限時間(例示出在優先級“中”時為60分鐘，“低”時為480分鐘)的文本框，8-4是取消按鈕，8-5是更新按鈕。根據通過該畫面設定的條件，確定試劑準備處理的待機極限時間。
[0088]圖12是示出顯示部1-11中顯示的同一校準使用條件設定畫面9-1的一個例子的圖。圖12中，9-2是可選擇的同一校準使用條件，9-3是用于選擇條件的單選按鈕，9-4是取消按鈕，9-5是更新按鈕。根據通過該畫面9-1設定的條件，確定是否使用現有的校準結果O
[0089]在可使用現有的校準結果的設定的情況下，當受到使用以未實施試劑準備處理的狀態設置在試劑設置機構3-2中的試劑的分析委托時，可以使該試劑的試劑準備處理最優先，進行被委托的分析。
[0090]如上所述，在本發明中，根據自動分析裝置中設置的試劑的狀態，對于針對設置試劑的預先準備處理設定優先級而儲存于存儲器中。
[0091]具體地說，首先，在自動分析裝置的操作畫面上，根據自動分析裝置的檢查項目的試劑設置狀態，設置能夠登記針對預先準備動作的優先級的用戶界面。然后，按照設定的優先級，比與其他測定相關的動作優先進行用于使該試劑能夠實際使用的準備處理。
[0092]檢查項目的試劑設置狀態例如存在如下的狀態:試劑剩余量為O而不能測定的狀態、能夠測定但試劑剩余量少的狀態、剩有可使用大約I天的試劑的狀態、剩有I天以上的試劑的狀態、未登記有用于使用試劑的參數的狀態。
[0093]如本發明那樣，對試劑不設定優先級的情況下，針對在分析狀態中追加的試劑容器的預先準備處理需要等到已被委托的分析結束為止。這是因為，試劑的分注、攪拌是對載置于試劑盤上的試劑容器而實施的，因此無法在同一時機實施針對任意試劑容器的分注動作與攪拌動作。
[0094]本發明中，對于針對設置試劑的預先準備動作，設定優先級“高”、“中”、“低”，優先級“高”時，暫時中斷分析調度，優先調度登記試劑的準備處理。優先級“中”時，在對預先準備處理所需的機構的空閑時間調度預先準備處理，而不使分析的吞吐量降低。優先級“低”時，同一試劑在自動分析裝置中例如變為3個以下的情況下，調度預先準備處理。
[0095]由此，對緊急度高的試劑自動地優先進行準備操作，對緊急度低的試劑不進行準備處理而使試劑的劣化延遲，從而可以更加靈活地運用自動分析裝置。
[0096]由此，根據本發明，能夠實現如下的自動分析裝置以及自動分析裝置中的試劑處理方法:即使在分析動作中，也能夠對緊急性高的檢查項目的測定中使用的試劑，執行其準備處理。
[0097]另外，圖5中所示的例子中，示出整體管理計算機1-8內的功能模塊，但各功能模塊10-1?10-6也可以構成為與整體管理計算機1-8不同的電氣電子電路。
[0098]實施例2
[0099]作為其他實施例，也可以對試劑準備處理優先級，利用設置、取出試劑的按鈕3-8，附上優先順序。
[0100]操作人員將設置在試劑加載器中的試劑投入試劑盤內時，按壓設置、取出試劑的按鈕3-8。此時，利用按壓設置、取出試劑的按鈕3-8的方法，能夠決定設置的試劑的試劑準備處理優先級。
[0101]例如在長時間按壓設置、取出試劑的按鈕3-8的情況下，設置試劑的試劑準備處理優先級無條件地變為“高”。在短時間按壓設置、取出試劑的按鈕3-8的情況下，也可以使設置試劑的試劑準備處理優先級根據預先的用戶設定條件來決定。根據本實施例，即使是收容有同一種類的試劑的試劑容器，也能夠根據分析狀況隨機應變地設定優先順序。
[0102]另外，在這樣的情況下，通過具備試劑準備處理優先順序修正畫面11-1，即使在迫切使用投入時優先級被設定為優先級低的試劑的情況下，也能夠根據狀況，設定優先級。
[0103]符號說明
[0104]1-1:檢體架投入部，1-2:ID讀取部，1-3:運送線，1-4:再檢查用運送線，1-5:檢體架回收部，1-6:校準物儲存部，1-7:分析模塊，1-8:整體管理用計算機，1-9:分析模塊用計算機，1-10:分析模塊用計算機，1-11:顯示部，1-12:操作部，1-13:外部網絡，2-1:分析裝置，2-2:架，2-3:樣品容器，2-4:樣品分注噴嘴，2-5:恒溫箱盤，2_6:反應容器，2_7:樣品分注吸頭以及反應容器運送機構，2-8:樣品分注吸頭以及反應容器保持構件，2-9:反應容器攪拌機構，2-10:樣品分注吸頭以及反應容器廢棄孔，2-11:樣品分注吸頭安裝位置，
2-12:試劑盤，2-13:試劑盤罩，2-14:試劑盤罩開口部，2_15:試劑分注噴嘴，2_16:反應液吸引噴嘴，2-17:檢測單元，2-18:架運送線，2-19:試劑容器，3_1:磁性粒子攪拌機構，3_2:試劑設置機構，3-3:試劑加載器，3-4:試劑分注機構，3-5:試劑容器，3-6:試劑信息讀取機構，3-7:操作PC，3-8:設置、取出試劑的按鈕，7-1:試劑準備處理優先級設定畫面，7-2:試劑狀態，7-3:優先級選擇用組合框，7-4:取消按鈕，7-5:更新按鈕，8-1:試劑準備處理待機極限時間設定畫面，8-2:試劑準備處理優先級，8-3:待機極限時間輸入用文本框，8-4:取消按鈕，8-5:更新按鈕，9-1:校準繼承條件設定畫面，9-2:校準繼承條件，9-3:條件選擇用單選按鈕，9-4:取消按鈕，9-5:更新按鈕，10-1:試劑登記讀出部，10-2:存儲器，10-3:優先級判斷部，10-4:計時器，10-5:檢體分注控制部，10-6:試劑準備調度部，11-1:試劑準備處理優先順序修正畫面，11-2:項目，11-3:優先順序變更用文本框，11-4:取消按鈕，11-5:更新按鈕
【權利要求】
1.一種自動分析裝置，其特征在于，為具備試劑保管部、試劑準備處理機構和存儲部的自動分析裝置，所述試劑保管部配置有多個試劑容器，所述試劑準備處理機構至少具有攪拌收容于所述試劑容器中的試劑的試劑攪拌機構，所述存儲部儲存配置在所述試劑保管部的試劑容器的試劑準備處理優先級，所述自動分析裝置具備: 試劑加載器，其即使在該自動分析裝置的分析動作中，也能夠投入重新配置在所述試劑保管部的試劑容器；以及 控制部，其對每個試劑將配置在所述試劑保管部的試劑容器內的試劑的試劑準備處理優先級儲存于所述存儲部，根據儲存于所述存儲部的試劑準備處理優先級，對從所述試劑加載器重新投入的試劑，判斷是否比試樣分析動作優先執行利用所述試劑準備機構的試劑準備處理， 根據所述控制部的判斷，所述試劑準備處理機構執行投入到所述試劑保管部中的試劑的準備處理。
2.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，具備取得與收容于配置在所述試劑保管部內的試劑容器中的試劑的剩余量相關的信息的設備， 所述試劑準備處理優先級是根據與試劑容器內的試劑的剩余量相關的信息來設定，并隨著與剩余量相關的信息的變動而更新。
3.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，具備對每個試劑設定所述試劑準備處理優先級的輸入設備。
4.根據權利要求3所述的自動分析裝置，其特征在于，所述輸入設備是設于所述試劑加載器附近的按鈕，根據所述按鈕的按壓方法來設定試劑準備處理優先級。
5.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，具備手動變更所述試劑準備處理優先級的變更設備。
6.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，所述試劑攪拌機構被控制成:即使在分析動作中也能夠進行攪拌收容于所述試劑容器的試劑的動作。
7.根據權利要求2所述的自動分析裝置，其特征在于，就所述試劑準備處理優先級而言， 在試劑容器內的試劑剩余量比第一閾值少的情況、不滿足I天的使用量的情況以及未設定有用于登記試劑的參數的情況下，為“高”， 在試劑容器內的試劑剩余量為第一閾值以上且第二閾值以下的情況下，為“中”， 在試劑容器內的試劑剩余量超過第二閾值的情況下，為“低”。
8.根據權利要求7所述的自動分析裝置，其特征在于，具備對試劑容器重新投入到所述試劑保管部的時刻起的時間進行計時的計時器， 在所述試劑準備處理優先級為“中”或者“低”的情況下，所述控制部判斷由所述計時器計時的時間是否超過預先設定的待機極限時間，在所述計時的時間超過所述待機極限時間的情況下，根據所述控制部的指令，所述試劑準備處理機構比試樣分析動作優先執行投入到所述試劑保管部中的試劑的準備處理。
9.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，所述試劑準備處理機構具有執行試劑的校準的校準機構。
10.根據權利要求8所述的自動分析裝置，其特征在于，在所述試劑準備處理優先級為“中”的情況下，由所述計時器所計時的時間不超過所述待機極限時間且所述試劑準備處理機構未被使用時，所述試劑準備處理機構執行投入到所述試劑保管部中的試劑的準備處理。
11.根據權利要求10所述的自動分析裝置，其特征在于，具備設定所述待機極限時間的設定設備。
12.根據權利要求9所述的自動分析裝置，其特征在于，在所述存儲部中儲存有配置在試劑保管部中的試劑容器內的試劑信息，在與所述試劑信息讀取機構讀取的試劑容器的試劑同一種類的檢查項目中使用的試劑已經儲存于所述存儲部，并且已執行完校準的情況下，對所述試劑信息讀取機構讀取的試劑容器的試劑，利用所述已執行完的校準結果。
13.根據權利要求7所述的自動分析裝置，其特征在于，在未設定用于登記試劑的參數的情況下，所述控制 部通過外部網絡下載檢查項目的參數。
【文檔編號】G01N35/00GK104024861SQ201280065929
【公開日】2014年9月3日 申請日期:2012年12月26日 優先權日:2012年1月5日
【發明者】萩原孝明, 山澤和方, 藤田浩氣 申請人:株式會社日立高新技術