專利名稱：組件隱裂測試暗箱的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種組件隱裂測試暗箱。
背景技術：
傳統組件隱裂測試是光電在組件下面，向上檢測組件位置。傳統的方法具有以下缺點:1、為不遮擋鏡子，采用檢測光電在組件下方斜打光。部分光線被折射，未完全被反射入接受端。2、組件的光電工作面朝上，容易沾染灰塵，影響組件性能。
發明內容本實用新型的目的在于克服上述不足，提供一種光線不被折射可以完全反射入接受端，用于檢測組件的光電工作面不容易沾染灰塵，保證組件性能的組件隱裂測試暗箱。本實用新型的目的是這樣實現的:—種組件隱裂測試暗箱，它包括暗箱本體，所述暗箱本體內設置有輸送平臺，所述輸送平臺的頂部設置有輸送帶，所述輸送帶上方的暗箱本體上向下設置有減速光電檢測器以及停止光電檢測器，所述減速光電檢測器以及停止光電檢測器沿著輸送帶的輸送方向依次布置所述減速光電檢測器以及停止光電檢測器之間的間距為8 12cm。與現有技術相比，本實用新型的有益效果是:本實用新型由于減速光電檢測器以及停止光電檢測器的設置，有利于防止傳輸過程測控失效引發相撞事故，使用時組件的光電工作面朝下，不容易沾染灰塵，減少了光電工作面的清潔保養工作，保證組件性能。
圖1為本實用新型組件隱裂測試暗箱的結構示意圖。其中:暗箱本體I輸送平臺2輸送帶3組件4減速光電檢測器5停止光電檢測器6。
具體實施方式
參見圖1，本實用新型涉及的一種組件隱裂測試暗箱，它包括暗箱本體1，所述暗箱本體I內設置有輸送平臺2，所述輸送平臺2的頂部設置有輸送帶3，所述輸送帶3用于組件4的輸送，所述輸送帶3上方的暗箱本體I上向下設置有減速光電檢測器5以及停止光電檢測器6，所述減速光電檢測器5以及停止光電檢測器6沿著輸送帶3的輸送方向依次布置。所述減速光電檢測器5以及停止光電檢測器6之間的間距為8 12cm。
權利要求1.一種組件隱裂測試暗箱，它包括暗箱本體(1)，所述暗箱本體(I)內設置有輸送平臺(2)，所述輸送平臺(2)的頂部設置有輸送帶(3)，其特征在于所述輸送帶(3)上方的暗箱本體(I)上向下設置有減速光電檢測器(5 )以及停止光電檢測器(6 )，所述減速光電檢測器(5)以及停止光電檢測器(6)沿著輸送帶(3)的輸送方向依次布置。
2.根據權利要求1所述的一種組件隱裂測試暗箱，其特征在于所述減速光電檢測器(5)以及停止光電檢測器(6)之間的間距為8 12cm。
專利摘要本實用新型涉及一種組件隱裂測試暗箱，它包括暗箱本體(1)，所述暗箱本體(1)內設置有輸送平臺(2)，所述輸送平臺(2)的頂部設置有輸送帶(3)，其特征在于所述輸送帶(3)上方的暗箱本體(1)上向下設置有減速光電檢測器(5)以及停止光電檢測器(6)，所述減速光電檢測器(5)以及停止光電檢測器(6)沿著輸送帶(3)的輸送方向依次布置。本實用新型由于減速光電檢測器以及停止光電檢測器的設置，有利于防止傳輸過程測控失效引發相撞事故，使用時組件的光電工作面朝下，不容易沾染灰塵，減少了光電工作面的清潔保養工作，保證組件性能。
文檔編號G01N21/88GK203053875SQ20122071003
公開日2013年7月10日 申請日期2012年12月20日 優先權日2012年12月20日
發明者陳健, 張永亮, 王曉東, 吳瑋 申請人:海潤光伏科技股份有限公司