專利名稱：電性測試夾具及系統的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種測試用的夾具及系統，特別涉及一種測試芯片電性的夾具及系統。
背景技術：
芯片在進行電性(如電阻、電平、頻率等)測試的時候，需要從芯片的管腳上采集電信號。一種常見的方法是用萬用表的探筆尖端觸碰芯片的管腳，然后進行測試。由于芯片的體積日趨向微型化發展，造成芯片的管腳日趨細密，市面上管腳間距在0.5mm以內的芯片非常常見。用手動方法來操縱探筆去觸碰這種芯片的管腳很容易形成脫接、錯接的問題，影響測試的效率。為了提高測試時探筆和管腳連接的準確性，出現了以一種設有顯微鏡的探針臺。在測試時，操作者通過顯微鏡來觀察芯片的管腳，這樣就容易保證探筆和管腳連接的準確性。但是為了防止撞傷顯微鏡的鏡頭，每次更換芯片或者調整測試管腳時，都需要抬起顯微鏡，設置好芯片之后再重新將顯微鏡落下。這樣的操作不僅繁瑣，而且嚴重降低測試的工作效率。為了提高測試效率，出現了一種專用的接口轉化器進行芯片的電性測試。這種接口轉化器上設計了與芯片的管腳相匹配的接口電路(socket)，然后通過socket將芯片管腳上的電信號輸送到測試儀器上。這種專用的接口轉化器在測試時雖然具有很高的效率，但是也存在兩個明顯的缺陷:(I)接口通用性差，只能連接特定型號的芯片，只要是與socket不匹配的芯片就無法應用；(2) socket的成本高。
實用新型內容本實用新型是為了克服上述現有技術中的缺陷，提供一種電性測試夾具及系統，其具有通用性強、檢測時芯片的安裝和調整速度快、檢測信號不易出錯并且成本低廉的優點。為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案:一種電性測試夾具，其特征在于，包括一個絕緣的本體和一個絕緣的上蓋，所述本體和所述上蓋之間形成轉軸式可開合連接，其中:所述本體上設有至少一個管腳插槽，所述上蓋上設有至少一個管腳壓臺，所述管腳插槽和所述管腳壓臺的位置相互對應，在所述本體和所述上蓋合在一起時，每一個所述管腳插槽正好被一個所述管腳壓臺壓住；所述管腳插槽內設有一個裸露的導片，所述導片上連接有一根延伸至所述本體的導線，并且所述導線的末端在所述本體的外表面上形成為一個檢測點。進一步地，所述管腳插槽可以是復數個，并且所述管腳插槽的寬度和相互的間距按照芯片管腳的封裝標準布置。進一步地，所述本體上可以設有一個標準排線插口，每個所述檢測點均形成該標準排線插口中的一個導線端。[0010]進一步地，所述本體和所述上蓋之間可以設有一個提供頂開力的彈簧。 進一步地，所述本體和所述上蓋可以卡扣和卡槽配合的方式進行扣合。進一步地，所述本體和所述上蓋之間可以設有一個提供頂開力的彈簧。進一步地，所述本體和所述上蓋可以卡扣和卡槽配合的方式進行扣合。一種電性測試系統，包括兩個上述的任一種電性測試夾具，還包括待測芯片，其中:所述待測芯平兩側的管腳分別對應置于兩個所述電性測試夾具的管腳插槽中。進一步地，兩個所述電性測試夾具的本體的標準排線插口分別與測試器件相連，所述測試器件包括測試筆，所述測試筆放置于兩個所述電性測試夾具的不同檢測點上進行測試。進一步地，兩個所述電性測試裝置本體上的標準排線插口分別插入PCB板上。與現有技術相比，本實用新型的一個或多個實施例可具有如下有益效果:1、芯片(或具有管腳的非芯片測試對象)一側的管腳可以很方便地插接在管腳插槽內，管腳上的電信號由導線引出到本體外表面上的檢測點上，在目測條件下就就可以非常方便地進行檢測，不用擔心出現脫接和錯接。這樣一來，可以使得本實用新型的設計不僅適用于芯片，也適用于對包含了由芯片組成的系統模塊等進行相應的電性測試。2、按照芯片管腳的封裝標準布置的管腳插槽可以保證具有同一種封裝的芯片都可以插入到測試夾具上，而不必考慮芯片的具體型號和管腳數量多少，通用性強。3、由于獨特的分體式結構，可以方便滿足芯片正反放置的測試要求，且不限制待測芯片的封裝尺寸，從而有效地降低操作人員的工作難度，減少測試時間，提高測試效率。4、本體和上蓋的結構非常簡單，并且不需要應用高價格的專用socket模塊，降低了測試夾具的成本。5、標準排線插口可以方便將本實用新型與專用的芯片測試儀器形成信號連接，更靈活地適應不同的檢測需求。且與本實用新型的標準排線插口連接后，可以適用于多種測試方法，比如:(I)測試筆等測試器件的金屬探針可直接接觸檢測點進行測試，克服由于芯片管腳太近造成測試短路的情況；(2)連接好的標準排線插口可插到PCB板上進行模塊式電性測試。
圖1是本實用新型第一視角的實施例示意圖；圖2是本實用新型第一視角的實施例示意圖。結合附圖在其上標記以下附圖標記:1-本體，2-上蓋,3-轉軸,4-彈簧,5-管腳插槽,6-管腳壓臺，7-卡槽,8-卡扣，9-標準排線插口。
具體實施方式
以下結合附圖，對本實用新型的優選具體實施方式
進行詳細描述，但應當理解本實用新型的保護范圍并不受具體實施方式
的限制。實施例一如圖1至圖2所示，本實用新型的電性測試夾具，包括一個絕緣的本體I和一個絕緣的上蓋2，二者通過一根轉軸3形成可開合連接。在轉軸3上可套設有一個彈簧4，該彈簧4的兩端各伸出一個勾腳，分別頂在本體I和上蓋2上。當上蓋2壓合在本體I上時，兩個勾腳被壓住，使得彈簧4提供一個能夠頂起上蓋2的力。這樣的頂起力能夠保證上蓋2在不被卡住的時候和本體I保持分離狀態，方便操作者裝卸芯片。本體I上設有一個卡槽7，上蓋2上設有一個對應的卡扣8，當測試夾具需要閉合時，將卡扣8扣在卡槽7內，就能夠保證上蓋2不會被彈起。圖1中，本體I上設有復數個管腳插槽5，用于使芯片可以被插接在本體I上。每個管腳插槽5對應一個管腳，并且管腳插槽5內設有一個裸露的導片(未圖示)，例如金屬片，所述導片上連接有一根延伸至本體I的導線，并且所述導線的末端在本體I的外表面上形成為一個檢測點。這樣，在檢測時就不需要再用探筆去觸碰管腳，而是只需要方便地觸碰檢測點即可。為了便于在目測狀態下檢測，檢測點的面積和間距可以設計得大一些，以免出現脫接和錯接。管腳插槽5的寬度和相互的間距需要按照芯片管腳的封裝標準布置。雖然芯片的具體型號會有不同，但是采用了同一個封裝標準的芯片上管腳的大小和間距是一樣的，這樣一來，采用了同一個封裝標準的不同芯片就可以應用同樣的測試夾具了。為了保證通用性，管腳插槽5的數目需要有足夠的富余，具體數目可根據測試需要靈活掌握。圖1中，上蓋2上設有對應于管腳插槽5的復數個管腳壓臺6，在本體I和上蓋2合在一起時，每一個管腳插槽5正好被一個管腳壓臺6壓住。在測試時，這種結構可以保證芯片上的每個管腳都能夠和裸露在管腳插槽5中的金屬片形成可靠的電連接。圖2中，本體I上還設有一個標準排線插口 9，從每一個管腳插槽5內引出來的每個所述檢測點均形成該標準排線插口 9中的一個導線端。這樣的設計可以方便將本實用新型與專用的芯片測試儀器形成信號連接。另外，探筆的筆尖插入到標準排線插口 9中的某一個口內時還可以得到一定的固定，這樣就可以方便操作者在測試時放開探筆。實施例二本實施例提供一種電性測試系統，其包括兩個如實施例一中所述的電性測試夾具，還包括具有管腳的待測對象(例如待測芯片)和測試器件。其中，兩個電性測試夾具的本體I上的標準排線插口 9分別與測試器件相連。此處的測試器件優選包括測試筆，所述測試筆放置于兩個所述電性測試夾具的不同檢測點上進行測試。進一步地，兩個本體I上的標準排線插口 9分別插入PCB板上。由于這種系統上采用的待測芯片和測試器件的電路連接均采用常規手段，為本領域技術人員所容易想象，所以不再以附圖進行說明。當使用本實施例的電性測試裝置進行電性測試時，首先，將具有若干管腳的芯片的兩側分別置于兩個電性測試夾具中，使芯片的各個管腳和管腳插槽5內的導片接觸，然后將上蓋2扣下，使卡扣8與本體I上的卡槽7咬合完全，以固定待測芯片且保證芯片管腳與管腳插槽5內的導片接觸良好。將標準排線插入標準排線插口 9中，就可以將檢測到的電性測試信號引出。最后根據測試要求，以及管腳分布情況，使用具有測試筆的測試器件(如萬用表)接觸標準排線進行測試。本實施例具有的標準排線插口 9，其與標準排線連接，可將待測芯片置于某些PCB板上進行模塊式電性測試，這樣便不需要采用專用的socket轉接器，節省測試成本。以上公開的僅為本實用新型的較優具體實施例，但是，本實用新型并非局限于此，任何本領域的技術人員能思之的變化都應落入本實用新型的保護范圍。
權利要求1.一種電性測試夾具，其特征在于，包括一個絕緣的本體和一個絕緣的上蓋，所述本體和所述上蓋之間形成轉軸式可開合連接，其中: 所述本體上設有至少一個管腳插槽，所述上蓋上設有至少一個管腳壓臺，所述管腳插槽和所述管腳壓臺的位置相互對應，在所述本體和所述上蓋合在一起時，每一個所述管腳插槽正好被一個所述管腳壓臺壓住； 所述管腳插槽內設有一個裸露的導片，所述導片上連接有一根延伸至所述本體的導線，并且所述導線的末端在所述本體的外表面上形成為一個檢測點。
2.根據權利要求1所述的電性測試夾具，其特征在于，所述管腳插槽是復數個，并且所述管腳插槽的寬度和相互的間距按照芯片管腳的封裝標準布置。
3.根據權利要求1或2所述的電性測試夾具，其特征在于，所述本體上設有一個標準排線插口，每個所述檢測點均形成該標準排線插口中的一個導線端。
4.根據權利要求1所述的電性測試夾具，其特征在于，所述本體和所述上蓋之間設有一個提供頂開力的彈簧。
5.根據權利要求1所述的電性測試夾具，其特征在于，所述本體和所述上蓋以卡扣和卡槽配合的方式進行扣合。
6.根據權利要求3所述的電性測試夾具，其特征在于，所述本體和所述上蓋之間設有一個提供頂開力的彈簧。
7.根據權利要求3所述的電性測試夾具，其特征在于，所述本體和所述上蓋以卡扣和卡槽配合的方式進行扣合。
8.—種電性測試系統,其特征在于,包括兩個上述權利要求1-7中任一項所述的電性測試夾具，還包括待測芯片，其中: 所述待測芯平兩側的管腳分別對應置于兩個所述電性測試夾具的管腳插槽中。
9.根據權利要求8所述的電性測試系統，其特征在于，兩個所述電性測試夾具的本體的標準排線插口分別與測試器件相連，所述測試器件包括測試筆，所述測試筆放置于兩個所述電性測試夾具的不同檢測點上進行測試。
10.根據權利要求8或9所述的電性測試系統，其特征在于，兩個所述電性測試裝置本體上的標準排線插口分別插入PCB板上。
專利摘要本實用新型公開了一種電性測試夾具及系統，包括一個絕緣的本體和一個絕緣的上蓋，所述本體和所述上蓋之間形成轉軸式可開合連接，其中所述本體上設有至少一個管腳插槽，所述上蓋上設有至少一個管腳壓臺，所述管腳插槽和所述管腳壓臺的位置相互對應，在所述本體和所述上蓋合在一起時，每一個所述管腳插槽正好被一個所述管腳壓臺壓住；所述管腳插槽內設有一個裸露的導片，所述導片上連接有一根延伸至所述本體的導線，并且所述導線的末端在所述本體的外表面上形成為一個檢測點。本實用新型具有通用性強、檢測時芯片的安裝和調整速度快、檢測信號不易出錯等優點。
文檔編號G01R31/00GK202975051SQ20122040703
公開日2013年6月5日 申請日期2012年8月16日 優先權日2012年8月16日
發明者楊苗苗, 張立, 張弓長 申請人:國網電力科學研究院, 國家電網公司