專利名稱：芯片推力測試儀的制作方法
技術領域：
芯片推力測試儀
技術領域：
本實用新型涉及芯片檢測技術領域，具體地講，涉及一種芯片推力測試儀。
背景技術：
目前要檢測芯片是否焊接牢固，是否是不良品，大都通過肉眼觀察，來判定，不僅檢測結果不準確，而且效率很低。
實用新型內容本實用新型的目的在于克服目前的芯片檢測之不足提供的一種芯片推力測試儀。 本實用新型是通過以下技術方案來實現的一種芯片推力測試儀包括底架、升降裝置、電子推力測量儀、待測量產品安裝支座、待測量產品夾具，所述底座左側上方安裝有一待測量產品安裝支座，所述待測量產品安裝支座上方設有一待測量產品夾具，所述底座右側上方安裝有升降裝置，升降裝置上方設有一電子推力測量儀。下面對以上技術方案作進一步闡述進一步地，所述升降裝置包括立柱、垂直升降搖桿、垂直升降固定塊、電子推力測量儀安裝架、垂直運動直線軸承、高度限位絲桿，所述立柱為4根，均固定在所述底架右側上方，外側兩根立柱上設有一垂直升降固定塊，所述垂直升降固定塊上設有一垂直升降搖桿，垂直升降固定塊上方設有一電子推力測量儀安裝架，所述電子推力測量儀安裝架四角均設有垂直運動直線軸承，所述垂直運動直線軸承套在所述立柱上，所述高度限位絲桿穿過電子推力測量儀安裝架與垂直升降固定塊相連。進一步地，待測量產品安裝支座包括U形底座、推力測試搖桿、絲桿、滑桿、U形安裝架，所述U形底座安裝在所述底架左側上方，所述U形底座左側設有一推力測試搖桿，所述U形底座凹槽內設有兩根滑桿及一根絲桿，絲桿與推力測試搖桿相連，所述U形底座上方設有一 U形安裝架，所述U形安裝架底部穿過滑桿并可以沿滑桿左右移動，所述U形安裝架上方安裝有待測量產品夾具。在使用時可將要檢測的芯片放置在待測量產品夾具內，并固定好，通過垂直升降搖桿將電子推力測量儀降下來，電子推力測量儀的測力指針插入到被檢測芯片的一端，這時通過推力測試搖桿將被檢測芯片向反方向水平移動，即可通過電子推力測量儀測出這時的拉力，根據正常芯片的抗拉力設一個值，低于這個值拉力的芯片即不合格或為不良品。本實用新型的有益效果在于結構簡單、檢測準確、檢測效率高。
圖I為本實用新型的整體結構示意圖。附圖標記1、包括底架；2、升降裝置；3、電子推力測量儀；4、待測量產品安裝支座；5、待測量產品夾具；21、立柱；22、垂直升降搖桿；23、垂直升降固定塊；24、電子推力測量儀安裝架；25、垂直運動直線軸承；26、高度限位絲桿；41、U形底座；42、推力測試搖桿；43、絲桿；44、滑桿；45、U形安裝架。
具體實施方式
以下結合附圖及具體實施方式
對本實用新型做進一步描述參照圖I所示，該結構的芯片推力測試儀，包括底架I、升降裝置2、電子推力測量儀3、待測量產品安裝支座4、待測量產品夾具5，所述底座I左側上方安裝有一待測量產品安裝支座4，所述待測量產品安裝支座4上方設有一待測量產品夾具5，所述底座I右側上方安裝有升降裝置2，升降裝置2上方設有一電子推力測量儀3。進一步地，所述升降裝置2包括立柱21、垂直升降搖桿22、垂直升降固定塊23、電子推力測量儀安裝架24、垂直運動直線軸承25、高度限位絲桿26，所述立柱21為4根，均固定在所述底架I右側上方，外側兩根立柱21上設有一垂直升降固定塊23，所述垂直升降固定塊23上設有一垂直升降搖桿22，垂直升降固定塊23上方設有一電子推力測量儀安裝架 24，所述電子推力測量儀安裝架24四角均設有垂直運動直線軸承25，所述垂直運動直線軸承25套在所述立柱21上，所述高度限位絲桿26穿過電子推力測量儀安裝架24與垂直升降固定塊23相連。進一步地，待測量產品安裝支座4包括U形底座41、推力測試搖桿42、絲桿43、滑桿44、U形安裝架45，所述U形底座41安裝在所述底架I左側上方，所述U形底座41左側設有一推力測試搖桿42，所述U形底座41凹槽內設有兩根滑桿44及一根絲桿43，絲桿43與推力測試搖桿42相連，所述U形底座41上方設有一 U形安裝架45，所述U形安裝架45底部穿過滑桿44并可以沿滑桿44左右移動，所述U形安裝架45上方安裝有待測量產品夾具5。在使用時可將要檢測的芯片放置在待測量產品夾具5內，并固定好，通過垂直升降搖桿22將電子推力測量儀3降下來，電子推力測量儀3的測力指針插入到被檢測芯片的一端，這時通過推力測試搖桿42將被檢測芯片向反方向水平移動，即可通過電子推力測量儀3測出這時的拉力，根據正常芯片的抗拉力設一個值，低于這個值拉力的芯片即不合格或為不良品。根據上述說明書的揭示和教導，本實用新型所屬領域的技術人員還可以對上述實施方式進行適當的變更和修改。因此，本實用新型并不局限于上面揭示和描述的具體實施方式
，對本實用新型的一些修改和變更也應當落入本實用新型的權利要求的保護范圍內。此外，盡管本說明書中使用了一些特定的術語，但這些術語只是為了方便說明，并不對本實用新型構成任何限制。
權利要求1.一種芯片推力測試儀，其特征在于包括底架、升降裝置、電子推力測量儀、待測量產品安裝支座、待測量產品夾具，所述底座左側上方安裝有一待測量產品安裝支座，所述待測量產品安裝支座上方設有一待測量產品夾具，所述底座右側上方安裝有升降裝置，升降裝置上方設有一電子推力測量儀。
2.根據權利要求I所述的芯片推力測試儀，其特征在于所述升降裝置包括立柱、垂直升降搖桿、垂直升降固定塊、電子推力測量儀安裝架、垂直運動直線軸承、高度限位絲桿，所述立柱為4根，均固定在所述底架右側上方，外側兩根立柱上設有一垂直升降固定塊，所述垂直升降固定塊上設有一垂直升降搖桿，垂直升降固定塊上方設有一電子推力測量儀安裝架，所述電子推力測量儀安裝架四角均設有垂直運動直線軸承，所述垂直運動直線軸承套在所述立柱上，所述高度限位絲桿穿過電子推力測量儀安裝架與垂直升降固定塊相連。
3.根據權利要求I所述的芯片推力測試儀，其特征在于待測量產品安裝支座包括U形底座、推力測試搖桿、絲桿、滑桿、U形安裝架，所述U形底座安裝在所述底架左側上方，所述U形底座左側設有一推力測試搖桿，所述U形底座凹槽內設有兩根滑桿及一根絲桿，絲桿與推力測試搖桿相連，所述U形底座上方設有一 U形安裝架，所述U形安裝架底部穿過滑桿并可以沿滑桿左右移動，所述U形安裝架上方安裝有待測量產品夾具。
專利摘要本實用新型提供了一種芯片推力測試儀，涉及芯片檢測技術領域，包括底架、升降裝置、電子推力測量儀、待測量產品安裝支座、待測量產品夾具，所述底座左側上方安裝有一待測量產品安裝支座，所述待測量產品安裝支座上方設有一待測量產品夾具，所述底座右側上方安裝有升降裝置，升降裝置上方設有一電子推力測量儀。本實用新型的有益效果在于結構簡單、檢測準確、檢測效率高。
文檔編號G01N3/08GK202562810SQ201220140110
公開日2012年11月28日 申請日期2012年4月5日 優先權日2012年4月5日
發明者余登華, 盧良軍, 顧南雁 申請人:深圳市金譽半導體有限公司