專利名稱：一種檢測人造石英晶片菱形的裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及測量檢測設備，更具體的說，涉及一種檢測人造石英晶片菱形的
>J-U ρ α裝直。
背景技術：
人造石英晶體材料，由于其具有優異的壓電性能，被廣泛的應用于彩電、計算機、移動電話、尋呼機、錄像機、激光視盤機、電子鐘表、固定電話和各種遙控器等各種民用軍事工業電子設備，主要是用作頻率選擇和頻率穩定的元器件；它還具有優異的光學性能，常被用于制造各種光學透鏡、棱鏡、偏振片和濾波片等；因此，人造石英晶體材料是一種極為重要、且應用廣泛的功能晶體材料；石英晶體又稱為水晶，它常常被人們賦予純潔和吉祥的美 好情懷，故還被用來制成各式各樣的裝飾品；正是由于它的地位重要又用途廣泛，所以，目前已經形成了影響僅次于單晶硅和人造金剛石的人造石英晶體產業。在生產中，人造光學石英晶片主要的檢測指標為平行度、厚度、菱形等。但菱形一直沒有找到很理想的檢測方法和工具，在現有技術中，一直采用的是在燈光下桌面放一塊黑布的目測檢測方法，其主觀性較強，工作效率低，并且檢測誤差率高。為了解決以上存在的問題，人們一直在尋求一種理想的技術解決方案。
發明內容本實用新型的目的是為了針對現有技術中的不足，從而提供一種結構簡單、檢測效率高、檢測準確的檢測人造石英晶片菱形的裝置。本實用新型提供一種檢測人造石英晶片菱形的裝置，由千分尺構成，其特征在于，在所述千分尺的小砧上加裝V型夾持裝置，所述V型夾持裝置具有一個V型開槽，并且V型開槽呈90°，并且所述V型夾持裝置的V型開槽內設置一限制擋塊以便于晶片的放置。進一步，所述限制擋塊采用粘接的方式置于所述V型開槽內。通過本實用新型提出的方案，使有關人造石英晶片菱形的檢測過程更加客觀、高效，并且大大提升了廣品的檢驗合格率。
圖I為本實用新型所述的一種檢測人造石英晶片菱形的裝置的立體圖。圖2為V型夾持裝置的沿Α-Α’的截面圖。圖3為V型夾持裝置的立體圖。
具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型的特征作詳細說明，所舉實例只用于解釋本實用新型，并非用于限定本實用新型的范圍。本實用新型利用正方形對角線長度相等的原理。圖I示出了一種檢測人造石英晶片菱形的裝置的立體圖。在檢測晶片的千分尺I的小砧上加裝V型夾持裝置2。圖2、圖3分別給出V型夾持裝置2的沿A-A’的截面圖和V型夾持裝置2的立體圖。所述V型夾持裝置2具有一個V型開槽，并且V型開槽呈90°，并且V型夾持裝置2的V型開槽內設置一限制擋塊3以便于晶片的放置，限制擋塊3可以采用粘接的方式置于V型開槽內。檢測時，將晶片放入千分尺I的V型夾持裝置2內，并緊貼限制擋塊3，然后轉動 千分尺的旋鈕，壓緊晶片一角，讀取對角線長度讀數。然后將晶片旋轉90°重復上述步驟，讀取另一對角線長度讀數。然后測算對角長度差是否在工藝要求的尺寸范圍內，從而判斷石英晶片菱形檢測是否合格。
權利要求1.一種檢測人造石英晶片菱形的裝置，由千分尺(I)構成，其特征在于，在所述千分尺(I)的小砧上加裝V型夾持裝置(2)，所述V型夾持裝置(2)具有一個V型開槽，并且V型開槽呈90°，并且所述V型夾持裝置(2)的V型開槽內設置一限制擋塊(3)以便于晶片的放置。
2.如權利要求I所述的一種檢測人造石英晶片菱形的裝置，其中所述限制擋塊(3)采用粘接的方式置于所述V型開槽內。
專利摘要本實用新型提供一種檢測人造石英晶片菱形的裝置，由千分尺(1)構成，其特征在于，在所述千分尺(1)的小砧上加裝V型夾持裝置(2)，所述V型夾持裝置(2)具有一個V型開槽，并且V型開槽呈90°，并且所述V型夾持裝置(2)的V型開槽內設置一限制擋塊(3)以便于晶片的放置。通過本實用新型提出的方案，使有關人造石英晶片菱形的檢測過程更加客觀、高效，并且大大提升了產品的檢驗合格率。
文檔編號G01B5/02GK202522182SQ201220121150
公開日2012年11月7日 申請日期2012年3月28日 優先權日2012年3月28日
發明者劉燕, 周家家, 袁磊, 鄒小根, 鄭海燕 申請人:興山縣峽晶電子有限責任公司