專利名稱：電磁流量計防高頻電磁波干擾裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及ー種電磁流量計防高頻電磁波干擾裝置結構的改進。
背景技術：
目前，電磁流量計已成為用量最大的ー種流量儀表，但在現場使用過程中，其最常見的問題，就是外部的電磁場對電磁流量計內部磁場的干擾問題。而現場的外部電磁場比比皆是。主要有50Hzエ頻電磁場的干擾，和各種高頻電磁波的干擾。防50Hzエ頻電磁場干擾可以采用鐵磁性材料制作的屏蔽罩；但在高頻時，由于鐵磁性材料的磁滯損耗和渦流損失較大，從而造成諧振電路品質因素Q值的下降，故防50Hzエ頻電磁場干擾和影響的技術和材料對高頻信號不起作用
發明內容
針對現有電磁流量計在現場工作時易受外部高頻電磁波的干擾和影響，本發明提供ー種安全可靠、結構簡單、易于生產的電磁流量計防高頻電磁波干擾裝置。電磁流量計防高頻電磁波干擾裝置，其特征在干，內部磁場包裹襯里導管，內部磁場外密封有外殼，外殼表面固定有ー層導體為屏蔽層；襯里導管兩端伸出內部磁場及屏蔽層外；一根電纜一端與內部磁場連接，另一端與轉換器連接；另一根電纜一端與襯里導管電極連接，另一端與轉換器連接。屏蔽層可運用噴涂或電鍍的エ藝方法，將導體噴涂或電鍍到外殼上；或者，采用小于O. 5mm的薄板材導體,鑲貼在外殼上。屏蔽層導體可為銅或為鋁或為鋅。本發明所應用的原理是，高頻電磁波在導電介質中傳播時的趨膚效應理論。防高頻電磁波干擾裝置的工作原理和理論依據高頻電磁波在導電介質中傳播時，其場量(E和H)的振幅隨距離的增加而按指數規律衰減。從能量的觀點看，電磁波在導電介質中傳播時有能量損耗，因此，表現為場量振幅的減小。導體表面的場量最大，愈深入導體內部，場量愈小。這種現象也稱為趨膚效應。也就是說，高頻電磁波在導電介質中傳播時，其主要的能量消耗和衰減在導電介質的表面層上，并且，其導電介質的導電性能越好，則高頻電磁波的能量在其表面層上消耗和衰減的就越多，該導電介質表面層的厚度就越薄。本發明的優點在干采用了防高頻電磁波屏蔽層，從而使電磁流量計在現場使用時，在現場存在的各種頻率的高頻電磁波，均被防高頻電磁波屏蔽層所吸收和衰減掉，進而保證了電磁流量計的內部磁場的正常工作，也就保證了電磁流量計的正常工作和精確度。由于本發明的設計合理，エ藝方法易實施，安裝位置適當，完全不需要對電磁流量計的原有設計進行調整和修改，故很容易實施。本發明可被用于電磁流量計在エ況狀態下防止高頻電磁波對電磁流量計的干擾和影響，保證電磁流量計的正常工作和精確度。
附圖1是本發明結構示意圖。附圖2是圖1的側視圖。I外売、3內部磁場、4襯里導管、5屏蔽層、6電纜、7轉換器。
具體實施例方式結合附圖對本發明作進ー步的描述。電磁流量計防高頻電磁波干擾裝置，內部磁場3包裹襯里導管4，內部磁場外密封有外殼1，外殼表面固定有ー層導體為屏蔽層5 ;襯里導管4兩端伸出內部磁場3及屏蔽層5外；一根電纜6 —端與內部磁場連接,另一端與轉換器7連接；另一根電纜6 —端與襯里導管電極連接，另一端與轉換器7連接。
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屏蔽層的采用銅為導體，運用噴涂的エ藝方法，將導體銅噴涂到外売上；。由于防高頻電磁波干擾裝置基本上包絡了電磁流量計的內部磁場，將外部高頻電磁波的能量絕大部分消耗在防高頻電磁波屏蔽層上。從而保證電磁流量計之內部磁場的正常形成和正常工作，進而保證電磁流量計的計量精確度和正常工作從而保證電磁流量計之內部磁場的正常形成和正常工作。
權利要求
1.電磁流量計防高頻電磁波干擾裝置，其特征在于，內部磁場包裹襯里導管，內部磁場外密封有外殼，外殼表面固定有一層導體為屏蔽層；襯里導管兩端伸出內部磁場及屏蔽層外；一根電纜一端與內部磁場連接，另一端與轉換器連接；另一根電纜一端與襯里導管電極連接，另一端與轉換器連接。
2.按照權利要求I所述的電磁流量計防高頻電磁波干擾裝置，其特征在于，所述屏蔽層可將導體噴涂或電鍍到外殼上；或者，采用小于O. 5mm的薄板材導體，鑲貼在外殼上。
3.按照權利要求I或2所述的電磁流量計防高頻電磁波干擾裝置，其特征在于，所述屏蔽層的導體為銅或為鋁或為鋅。
全文摘要
電磁流量計防高頻電磁波干擾裝置，內部磁場包裹襯里導管，內部磁場外密封有外殼，外殼表面固定有一層導體為屏蔽層；襯里導管兩端伸出內部磁場及屏蔽層外；一根電纜一端與內部磁場連接，另一端與轉換器連接；另一根電纜與襯里導管電極連接，另一端與轉換器連接。所述屏蔽層運用噴涂或電鍍的工藝方法，將導體噴涂或電鍍到外殼上；或者，采用小于0.5mm的薄板材導體，鑲貼在外殼上。所述屏蔽層的導體為銅或為鋁或為鋅。由于防高頻電磁波干擾裝置基本上包絡了電磁流量計的內部磁場，將外部高頻電磁波的能量絕大部分消耗在防高頻電磁波屏蔽層上，從而保證電磁流量計之內部磁場的正常形成和正常工作，進而保證電磁流量計的計量精確度和正常工作。
文檔編號G01F1/58GK102980617SQ20121056113
公開日2013年3月20日 申請日期2012年12月21日 優先權日2012年12月21日
發明者王江, 賈煒鑌 申請人:上海一諾儀表有限公司