專利名稱：一種小孔徑孔掃描規的制作方法
技術領域：
本發明涉及測量檢驗工具的技術領域，具體為一種小孔徑孔掃描規。
背景技術：
當小孔徑孔內側的跳動進行檢測時，由于孔徑較小，普通的掃描規難以檢測，影響了小孔徑孔的檢測、加工質量。
發明內容
針對上述問題，本發明提供了一種小孔徑孔掃描規，可以簡單、方便、快速對小孔徑孔內側跳動進行檢測，保證了小孔徑孔的檢測、加工質量。其技術方案是這樣的一種小孔徑孔掃描規，其包括掃描規規體，所述掃描規規體內設置有測量儀，所述掃描規規體內設置有測量桿，所述測量桿一端連接所述測量儀，其特征在于所述測量桿另一端為斜面，所述掃描規規體對應所述斜面處設置有通孔，所述通孔內設置有測量頭，所述測量頭長度小于所述測量桿直徑，所述測量頭上設置有與所述斜面配合的V形槽，所述測量頭斜面端伸出或者與所述測量桿在一平面上。其進一步特征在于所述斜面呈45度角；所述掃描規規體上對應所述測量桿設置有限位孔，所述限位孔上設置有限位銷，所述限位銷連接所述測量桿，所述限位銷直徑小于所述限位孔直徑。本發明的上述結構中，測量桿另一端為斜面，掃描規規體對應所述斜面處設置有通孔，通孔內設置有測量頭，測量頭長度小于所述測量桿直徑，測量頭上設置有與斜面配合的V形槽，測量頭斜面端伸出或者與測量桿在一平面上，孔內側的位置度通過測量頭頂出測量桿，從測量儀上簡單、方便、快速對小孔徑孔內側跳動進行檢測，保證了小孔徑孔的檢測、加工質量。
圖I為本發明小孔徑孔掃描規的主視結構圖。
具體實施例方式見圖1，一種小孔徑孔掃描規，其包括掃描規規體1，掃描規規體I內設置有測量儀2，掃描規規體I內設置有測量桿3，測量桿3 —端連接測量儀2，測量桿3另一端為呈45度角的斜面4，掃描規規體I對應斜面4處設置有通孔5，通孔5內設置有測量頭6，測量頭6長度小于所述測量桿3直徑，測量頭6上設置有與斜面4配合的V形槽7，測量頭斜面端10伸出或者與測量桿在一平面上，測量頭6通過V形槽7和斜面的配合把橫向的跳動轉換成豎直方向的位置變化，從而檢測出小孔內徑的跳動，V形槽7與斜面4呈45度的配合，是把橫向的跳動1:1轉換成豎直的位置變化。掃描規規體I上對應測量桿3設置有限位孔8，限位孔8上設置有限位銷9，限位銷9連接測量桿3，限位銷9直徑小于限位孔8直徑，限位銷9是為了限制測量桿3的上下運動，使得V形槽7與斜面4的運動更加靈敏。
權利要求
1.一種小孔徑孔掃描規，其包括掃描規規體，所述掃描規規體內設置有測量儀，所述掃描規規體內設置有測量桿，所述測量桿一端連接所述測量儀，其特征在于所述測量桿另一端為斜面，所述掃描規規體對應所述斜面處設置有通孔，所述通孔內設置有測量頭，所述測量頭長度小于所述測量桿直徑，所述測量頭上設置有與所述斜面配合的V形槽，所述測量頭斜面端伸出或者與所述測量桿在一平面上。
2.根據權利要求I所述的一種小孔徑孔掃描規，其特征在于所述斜面呈45度角。
3.根據權利要求I或者2所述的一種小孔徑孔掃描規，其特征在于所述掃描規規體上對應所述測量桿設置有限位孔，所述限位孔上設置有限位銷，所述限位銷連接所述測量桿，所述限位銷直徑小于所述限位孔直徑。
全文摘要
本發明提供了一種小孔徑孔掃描規，可以簡單、方便、快速對小孔徑孔內側跳動進行檢測，保證了小孔徑孔的檢測、加工質量，其包括掃描規規體，所述掃描規規體內設置有測量儀，所述掃描規規體內設置有測量桿，所述測量桿一端連接所述測量儀，其特征在于所述測量桿另一端為斜面，所述掃描規規體對應所述斜面處設置有通孔，所述通孔內設置有測量頭，所述測量頭長度小于所述測量桿直徑，所述測量頭上設置有與所述斜面配合的V形槽，所述測量頭斜面端伸出或者與所述測量桿在一平面上。
文檔編號G01B5/28GK102980505SQ201210463718
公開日2013年3月20日 申請日期2012年11月18日 優先權日2012年11月18日
發明者蔣新芬 申請人:無錫麥鐵精密機械制造有限公司