專利名稱：一種雙孔中心距檢具的制作方法
技術領域：
本發明涉及檢測工具領域，具體為一種雙孔中心距檢具。
背景技術：
在很多零件上都有各種安裝孔，一般對于孔與孔之間的距離，即雙孔的中心距有一定的規格要求，對于雙孔中心距的檢測都是采用錐面銷來進行檢測，錐面銷無法根據實際孔大小調整，與孔內壁接觸不到位，因此檢測出來的誤差較大，無法滿足安裝規格精細的要求
發明內容
為了解決上述問題，本發明提供了一種雙孔中心距檢具，其能夠快速準確的檢測雙孔中心距，誤差小。其技術方案是這樣的其包括底座，其特征在于，所述底座上安裝有與所檢工件的雙孔對應的短錐形銷和長錐形銷，所述短錐形銷、長錐形銷直徑大于所檢工件的雙孔直徑，所述短錐形銷、長錐形銷底部一端安裝有彈性開口銷，所述短錐形銷固定于底座上，所述長錐形銷連接可移動的滑塊，沿所述滑塊移動方向，所述滑塊連接機械表。其進一步特征在于，所述機械表通過表架安裝于底座上，所述機械表與所述表架間設置有加緊墊圈；所述底座下端安裝有雙孔定位塊；所述底座上設置有與所述滑塊配合的滑座。采用本發明的結構后，底座上安裝有與所檢工件的雙孔對應的短錐形銷和長錐形銷，短錐形銷、長錐形銷直徑大于所檢工件的雙孔直徑，短錐形銷、長錐形銷底部一端安裝有彈性開口銷，彈性開口銷可以根據所檢雙孔的大小調整，使得短錐形銷和長錐形銷能夠和雙孔內壁緊密接觸，避免了現有技術中錐面銷無法根據實際孔大小調整，與孔內壁接觸不到位的問題，減小了測量誤差，通過滑塊的移動改變機械表讀數，實現了快速準確的檢測雙孔中心距。
圖I為本發明結構主視 圖2為本發明結構俯視 圖3為本發明結構左視 圖4為圖3中彈性開口銷放大示意圖。
具體實施例方式見圖1，圖2，圖3，圖4所示，其包括底座1，底座I上安裝有與所檢工件的雙孔對應的短錐形銷2和長錐形銷3，短錐形銷2、長錐形銷3直徑大于所檢工件的雙孔直徑，短錐形銷2、長錐形銷3底部一端安裝有彈性開口銷10，短錐形銷2固定于底座I上，長錐形銷3連接可移動的滑塊4，沿滑塊4移動方向，滑塊4連接機械表5，機械表5通過表架6安裝于底座I上，機械表5與表架6間設置有加緊墊圈7，底座I下端安裝有雙孔定位塊8，底座I上設置有與滑塊4配合的滑座9。
檢測過程如下所述將該檢具放置于被檢工件上，短錐形銷2、長錐形銷3插入被檢工件的雙孔內，彈性開口銷10進入孔內后開口根據孔的大小自動調整，使得短錐形銷2、長錐形銷3能與孔內壁緊密接觸，滑塊4會隨著彈性開口銷10的變化發生位置的移動，連接滑塊4的機械表5讀數發生變化，根據讀數判斷是否在誤差范圍內，從而確定雙孔中心距是否符合規格。
權利要求
1.一種雙孔中心距檢具，其包括底座，其特征在于，所述底座上安裝有與所檢工件的雙孔對應的短錐形銷和長錐形銷，所述短錐形銷、長錐形銷直徑大于所檢工件的雙孔直徑，所述短錐形銷、長錐形銷底部一端安裝有彈性開口銷，所述短錐形銷固定于底座上，所述長錐形銷連接可移動的滑塊，沿所述滑塊移動方向，所述滑塊連接機械表。
2.根據權利要求I所述的一種雙孔中心距檢具，其特征在于，所述機械表通過表架安裝于底座上，所述機械表與所述表架間設置有加緊墊圈。
3.根據權利要求2所述的一種雙孔中心距檢具，其特征在于，所述底座下端安裝有雙孔定位塊。
4.根據權利要求3所述的一種雙孔中心距檢具，其特征在于，所述底座上設置有與所述滑塊配合的滑座。
全文摘要
本發明涉及檢測工具領域，具體為一種雙孔中心距檢具，其能夠快速準確的檢測雙孔中心距，誤差小，其包括底座，其特征在于，底座上安裝有與所檢工件的雙孔對應的短錐形銷和長錐形銷，短錐形銷、長錐形銷直徑大于所檢工件的雙孔直徑，短錐形銷、長錐形銷底部一端安裝有彈性開口銷，短錐形銷固定于底座上，長錐形銷連接可移動的滑塊，沿滑塊移動方向，滑塊連接機械表。
文檔編號G01B5/14GK102967234SQ20121046229
公開日2013年3月13日 申請日期2012年11月16日 優先權日2012年11月16日
發明者蔣新芬 申請人:無錫麥鐵精密機械制造有限公司