測試設備及其可移動式測試室的制作方法
【專利摘要】本發明揭露一種測試設備及其可移動式測試室。測試設備包含多條軌道、多個測試區域以及一可移動式測試室。這些測試區域是位于這些軌道之間。可移動式測試室包含一通道、至少一加熱源以及至少一對滾珠。加熱源是用以加熱通道。此對滾珠分別可滑動地容置于兩條軌道中，以將通道移動至不同的測試區域上方。
【專利說明】測試設備及其可移動式測試室
【技術領域】
[0001]本發明是有關于一種測試設備，且特別是有關于一種用于燒機測試(Burn-1nTest)的測試設備及其可移動式測試室。
【背景技術】
[0002]目前的各種電子產品在正式販售前，為了確保其可靠度，大部分會事先進行燒機測試(Burn-1n Test)。在一般室溫下所進行的燒機測試，通常需消耗較多的時間才能確保產品的可靠度。舉例而言，若欲在一般室溫下對變頻器的類的電子產品進行燒機測試，必須經過48小時才能夠完成，而這樣長時間的測試勢必會消耗大量的人力及電力，無法滿足日益增長的產量需求。但若縮短測試時間，卻又無法保障產品的可靠度。
[0003]為了解決這樣的困境，遂有廠商在燒機測試站裝設高溫測試室，使得產品在一定的高溫下運行(例如攝氏50度)，如此一來，不僅可維持燒機測試的嚴苛條件，保障產品的可靠度，更可縮短燒機測試的時間。
[0004]然而，為了縮短燒機測試的時間，通常會同時對好幾臺產品進行測試，因此必須對應配置有好幾臺高溫測試室。舉例來說，倘若欲對六臺變頻器進行燒機測試，則必須同時配置有六臺高溫測試室，無疑地會增加成本上的負擔。
[0005]此外，若以機柜型變頻器為例，傳統的操作方式是將變頻器的系統柜先置于高溫測試室中，再將模塊、變壓器、及散熱風機等裝置安裝至系統柜中，最后再進行配線、清潔等，操作上十分不便，且亦浪費時間。
[0006]另外，如中壓變頻器(MVD)等高壓大電流大功率的驅動器，一般都屬于重型裝備類產品，其重量動輒以十幾噸或幾十噸計，因而該類產品的高溫燒機測試一直是國內外業界難以克服的困難點。按照一般思維，構建高溫燒機測試室后需費盡周章將如此巨大的產品裝載進測試室中或由測試室中卸載，非常不方便，因而一般會被認為不切實際而放棄，只能讓這些巨大的產品在室溫中進行燒機。
【發明內容】
[0007]有鑒于此，本發明的技術方案在于提供一種測試設備及其所采用的可移動式測試室，從而解決了將重型產品裝載進測試室中或由測試室中卸載的問題(實際上是讓重型產品保持不動，而將活動式的燒機測試室移動，從而實現對重型產品的包覆)。
[0008]通過在燒機測試室中對重型產品進行高溫燒機測試，不僅可以保證產品品質，而且可以大幅縮短燒機測試所需時間。
[0009]本發明的一目的是在于利用一臺可移動式測試室來做為多臺待測物的燒機測試環境，從而大幅降低先前技術采用多臺測試室所需負擔的成本。
[0010]為了達到上述目的，依據本發明的一實施方式，一種測試設備包含多條軌道、多個測試區域以及一可移動式測試室。這些測試區域是位于這些軌道之間。可移動式測試室包含一通道、至少一加熱源以及至少一對滾珠。加熱源是用以加熱通道。此對滾珠分別可滑動地容置于兩條軌道中，以將通道移動至不同的測試區域上方。
[0011]依據本發明的另一實施方式，一種可移動式測試室包含一對側壁、一通道、一對隔熱簾、至少一個加熱源以及至少一對滾珠。通道是夾設于此對側壁之間。此對隔熱簾是可卷起地罩住通道的相對兩端，其中此對隔熱簾與此對側壁共同形成一測試空間。加熱源是用以加熱測試空間。此對滾珠是分別設置于此對側壁的底面。
[0012]通過上述實施方式，本發明可利用具有滾珠的可移動式測試室在軌道中滑動，故此可移動式測試室可被移動至各個不同的測試區域來做為不同待測物(例如不同的變頻器)的燒機測試環境。因此，本發明上述實施方式可僅利用一臺測試室來做為多臺待測物的燒機測試環境，大幅降低先前技術利用多臺測試室所需負擔的高額成本。
[0013]此外，通過本發明的實施方式，當可移動式測試室正用于某一臺待測物時,測試人員可同時組裝下一臺待測物或是拆卸上一臺已測完的產品，故可縮短燒機測試的時間。
[0014]以上所述僅是用以闡述本發明所欲解決的問題、解決問題的技術手段、及其產生的功效等等，本發明的具體細節將在下文的實施方式及相關附圖中詳細介紹。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0015]為讓本發明的上述和其他目的、特征、優點與實施例能更明顯易懂，所附附圖的說明如下:
[0016]圖1繪示依據本發明一實施方式的測試設備的示意圖；
[0017]圖2繪示依據本發明一實施方式的軌道的剖面圖；
`[0018]圖3繪示依據本發明一實施方式的可移動式測試室的一操作方式的立體圖；
[0019]圖4繪示圖3的可移動式測試室的另一操作方式的立體圖；
[0020]圖5繪示依據本發明一實施方式的滾珠的剖面圖。
[0021]【主要元件符號說明】
[0022]100:可移動式測試室
[0023]110:側壁
[0024]112:底面
[0025]120:通道
[0026]125:測試空間
[0027]130:隔熱簾
[0028]140:滾珠
[0029]141:第一球體
[0030]142:滾珠座
[0031]143:弧狀槽
[0032]144:第二球體
[0033]145:間隙
[0034]150:加熱源
[0035]160:排氣口
[0036]170:進氣窗
[0037]180:溫度感測器[0038]190:溫度顯示器
[0039]200:軌道
[0040]210:經向軌道
[0041]220:緯向軌道
[0042]300:測試區域
[0043]310:待測物放置區域
[0044]320:緩沖區域
[0045]400:蓋板
[0046]A:箭頭
[0047]B:箭頭
[0048]C:箭頭
【具體實施方式】
[0049]以下將以附圖揭露本發明的多個實施方式，為明確說明起見，許多實務上的細節將在以下敘述中一并說明。然而，熟悉本領域的技術人員應當了解到，在本發明部分實施方式中，這些實務上的細節并非必要的，因此不應用以限制本發明。此外，為簡化附圖起見，一些已知慣用的結構與元件在附圖中將以簡單示意的方式繪示。
[0050]圖1繪示依據本發明一實施方式的測試設備的示意圖。如圖所示，本實施方式的測試設備可包含多條軌道200、多個測試區域300以及一可移動式測試室100。這些測試區域300是位于這些軌道200之間。可移動式測試室100包含一通道120、至少一加熱源150以及至少一對滾珠140。加熱源150是用以加熱通道120。此對滾珠140分別可滑動地容置于兩條軌道200中，以將通道120移動至不同的測試區域300上方。
[0051]本發明上述實施方式在可移動式測試室100下方設置滾珠140，并使滾珠140在軌道200中滑動，又由于可移動式測試室100具有貫穿的通道120，在移動時，即使測試區域300上已放置了多個待測物(例如變頻器的機柜等等)，可移動式測試室100仍可順利移動至各個測試區域300上方并由加熱源150進行加熱，以提升燒機測試的環境溫度。因此，本發明上述實施方式可僅利用一臺可移動式測試室100來做為多臺待測物(例如變頻器的機柜等等)的燒機測試環境，大幅降低先前技術利用多臺測試室所需負擔的高額成本。
[0052]于部分實施方式中，可移動式測試室100可進一步包含一對側壁110，而通道120是夾設于此對側壁110之間。于部分實施方式中，此對滾珠140是分別設置于此對側壁110的底面112。具體來說，側壁110的底面112是面對著軌道200，而滾珠140是位于側壁110的底面112與軌道200之間。借此，滾珠140可承載著側壁110并可滑動地容置于軌道200中，當滾珠140滑動時，其可帶動側壁110移動，從而移動可移動式測試室100。
[0053]于部分實施方式中，可移動式測試室100可進一步包含一對隔熱簾130，此對隔熱簾130是可卷起地罩住通道120的相對兩端。具體來說，由本圖觀之，側壁110是位于通道120的左右兩側，亦即，沿著X方向的兩側，而隔熱簾130則是設置于通道120的前后兩端，亦即，沿著y方向的兩端。借此，當隔熱簾130罩住通道120時，即可阻隔熱能向外逸散，以利加熱源150加熱，提升可移動式測試室100的內部溫度，而幫助待測物(例如變頻器的機柜等等)做燒機測試。[0054]另外，由于隔熱簾130是可卷起地罩住通道120，故若欲移動可移動式測試室100時，僅需將隔熱簾130卷起即可進行移動。于部分實施方式中，隔熱簾130可為由隔熱材料所制成的卷簾，其可由手動或電動的方式來卷起或降下。
[0055]于部分實施方式中，軌道200可包含多條經向軌道210，而測試區域300可包含多個待測物放置區域310，這些待測物放置區域310是沿著經向軌道210的長度方向排列于這些經向軌道210之間。如圖所示，經向軌道210的長度方向可平行于y方向，而待測物放置區域310可位于兩條經向軌道210之間并沿著其長度方向排列。換句話說，待測物放置區域310可沿著y方向排列，且每個待測物放置區域310的兩側均配置有一條經向軌道210。
[0056]于部分實施方式中，通道120的法線方向是平行于經向軌道210的長度方向。具體而言，通道120的法線方向平行于y方向，而經向軌道210的長度方向亦平行于y方向。本領域的技術人員應可了解通道120的法線方向是代表貫穿著通道120前后兩端的方向。
[0057]借此，當可移動式測試室100的滾珠140在經向軌道210滑動時，即可帶動通道120沿著J方向移動，而使可移動式測試室100移動至至任一個待測物放置區域310上，以做為不同的待測物(例如變頻器的機柜等等)的燒機測試環境。
[0058]于部分實施方式中，軌道200可包含多條緯向軌道220，其是交接于經向軌道210，而測試區域300包含多個緩沖區域320，這些緩沖區域320均是由兩條經向軌道210與該些緯向軌道220所環繞而成。如圖所示，緯向軌道220的長度方向可平行于X方向，而緩沖區域320可被兩條沿著I方向的經向軌道210以及兩條沿著X方向的緯向軌道220所環繞而成。換句話說，緩沖區域320的上下兩側配置有兩條緯向軌道220,而左右兩側配置有兩條經向軌道210。
[0059]緩沖區域320與待測物放置區域310的主要差異在于緩沖區域320上方無放置任何待測物(例如變頻器的機柜等等)，故即使可移動式測試室100沿著X方向的兩側具有側壁110，緩沖區域320仍可提供可移動式測試室100進行橫向的移動，亦即，沿著X方向移動。
[0060]具體來說，滾珠140除了可在經向軌道210中滑動，亦可在緯向軌道220中滑動，借此，當可移動式測試室100通過經向軌道210沿著箭頭A的方向從圖中左側的待測物放置區域310移動至圖中左側的緩沖區域320時，可通過緯向軌道220沿著箭頭B的方向往圖中右側的緩沖區域320移動，待移動至圖中右側的緩沖區域320后，即可沿著箭頭C朝向圖中右側的待測物放置區域310移動。換句話說，緩沖區域320可幫助可移動式測試室100沿著X方向移動，而使可移動式測試室100不僅局限于y方向的移動而已。借此，可移動式測試室100可被移動至不同的經向軌道210之間的待測物放置區域310，而不單僅局限于特定兩條經向軌道210之間移動而已。
[0061]圖2繪示依據本發明一實施方式的軌道200的剖面圖。如圖所示，本實施方式可進一步包含多個蓋板400，其可覆蓋于部分軌道200上。具體來說，當可移動式測試室100無移動時，可將蓋板400覆蓋于軌道200上,一方面可避免灰塵掉入軌道200中，另一方面亦可頂住滾珠140(請并參閱圖1)，以避免其任意滑動。于部分實施方式中，蓋板400與軌道200的形狀及尺寸相契合，以利蓋板400緊密地覆蓋軌道200。舉例來說，軌道200由剖面觀之可為一 U形凹槽，而蓋板400可恰好容納于此U形凹槽中。
[0062]圖3繪示依據本發明一實施方式的可移動式測試室100的一操作方式的立體圖，圖4繪示圖3的可移動式測試室100的另一操作方式的立體圖。如圖3及圖4所示，本實施方式的可移動式測試室100包含一對側壁110、一通道120、一對隔熱簾130、至少一個加熱源150以及至少一對滾珠140。通道120是夾設于此對側壁110之間。此對隔熱簾130是可卷起地罩住通道120的相對兩端，其中此對隔熱簾130與此對側壁110共同形成一測試空間125。加熱源150是用以加熱測試空間125。此對滾珠140是分別設置于此對側壁110的底面112。
[0063]本發明上述實施方式可將滾珠140設置于可移動式測試室100的側壁110的底面112，而在側壁110之間則夾設有通道120。借此，可移動式測試室100可通過滾珠140任意地或沿著特定方向地移動，當隔熱簾130被卷起時(如圖3所示)，通道120可將待測物(例如變頻器的機柜等等)容納入可移動式測試室100中。當欲進行燒機測試時，隔熱簾130可被放下而罩住通道120的相對兩端(如圖4所示)，并與側壁110形成測試空間125，接著再由加熱源150對測試空間125進行加熱即可幫助提升燒機測試的環境溫度。
[0064]于部分實施方式中，可移動式測試室100可進一步包含至少一個排氣口 160，其可用以排出可移動式測試室100中的空氣。具體來說，由于加熱源150會持續對測試空間125提供熱能，故測試空間125的空氣溫度會不斷上升。然而，在進行燒機測試時，測試人員通常希望將溫度保持在一恒定值(例如攝氏50度)，而不希望溫度持續上升。因此，本發明的實施方式采用排氣口 160來排出測試空間125內的高溫空氣，以減緩溫度的上升。于部分實施方式中，排氣口 160可外接抽風管(未示于圖中)，以加速排出測試空間125中的高溫空氣。
[0065]另外，于部分實施方式中，可移動式測試室100可進一步包含至少一個進氣窗170，其可用以自可移動式測試室100外吸入空氣至可移動式測試室100中。借此，進氣窗170可將外界較低溫的空氣送入可移動式測試室100中，以減緩溫度的上升。
[0066]于部分實施方式中，可移動式測試室100可同時具備排氣口 160及進氣窗170,以通過排氣口 160排出可移動式測試室100內部的高溫空氣并同時由進氣窗170吸入外界較低溫的空氣，從而幫助達到溫度恒定的效果(例如將測試空間125內的溫度維持在攝氏50度左右)。具體來說，排氣口 160可開設于此對側壁110的其中一者上，而進氣窗170可相對排氣口 160開設于此對側壁110的另一者上，以利空氣的流動。舉例來說，如圖3及圖4所示，排氣口 160是開設于圖中左邊的側壁110上，而進氣窗170是開設于圖中右邊的側壁110 上。
[0067]于部分實施方式中，可移動式測試室100可進一步包含至少一個溫度感測器180，其可用以偵測可移動式測試室100的溫度。具體來說，溫度感測器180可設置于可移動式測試室100的測試空間125中，以偵測測試空間125的溫度，來幫助測試人員判斷溫度是否正常。如圖3及圖4所示，溫度感測器180可設置于可移動式測試室100的頂部且位于兩個加熱源150之間。
[0068]于部分實施方式中，可移動式測試室100可進一步包含至少一溫度顯示器190，其是用以顯示溫度感測器180所感測到的溫度。具體來說，溫度顯示器190可設置于其中一個側壁110的外表面，借此，測試人員從可移動式測試室100的外部即可得知測試空間125中的溫度狀況。如圖3及圖4所示，溫度顯示器190可與進氣窗170設置于同一側壁110上。[0069]于部分實施方式中，滾珠140可為一種萬向滾珠，以朝各個方向移動。舉例來說，可參閱圖5，本圖繪示依據本發明一實施方式的滾珠140的剖面圖。如圖所示，滾珠140可包含一第一球體141、一滾珠座142、一弧狀槽143、多個第二球體144以及一間隙145。弧狀槽143是挖設于滾珠座142中，這些第二球體144是容置于弧狀槽143中并被第一球體141所抵住。由于第二球體144可在弧狀槽143中朝任意方向滾動，而第一球體141又可相對第二球體144朝任意方向滾動，故第一球體141的滾動方向可不受限制，而可使滾珠140成為萬向滾珠。另外，間隙145是形成于第一球體141與滾珠座142之間，以避免第一球體141在滾動時摩擦滾珠座142。
[0070]于部分實施方式中，加熱源150可等距或非等距地設置于可移動式測試室100的頂部，其可為一電熱管，由外部通電產生熱能并透過熱輻射的方式對測試空間125進行加熱，但不以上述手段為限。
[0071]雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其并非用以限定本發明，任何熟悉此技藝者，在不脫離本發明的精神和范圍內，當可作各種的更動與潤飾，因此本發明的保護范圍當視所附的權利要求書所界定的范圍為準。
【權利要求】
1.一種測試設備,其特征在于,包含: 多條軌道； 多個測試區域，位于所述多條軌道之間；以及 一可移動式測試室，包含: 一通道； 至少一加熱源，用以加熱該通道； 至少一對滾珠，分別可滑動地容置于兩條所述軌道中，以將該通道移動至所述測試區域上方。
2.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，該可移動式測試室還包含: 一對側壁，而該通道是夾設于該對側壁之間，其中該對滾珠分別設置于該對側壁的底面。
3.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，該可移動式測試設備還包含: 一對隔熱簾，可卷起地罩住該通道的相對兩端。
4.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述多條軌道包含: 多條經向軌道，其中所述多個測試區域包含多個待測物放置區域，所述多個待測物放置區域沿著所述多條經向軌道的長度方向排列于所述多條經向軌道之間，該通道的法線方向平行于所述多條經向軌道的長度方向。
5.根據權利要求4所述的測試設備，其特征在于，所述多條軌道還包含: 多條緯向軌道，交接于所述多條經向軌道，其中所述多個測試區域包含多個緩沖區域，每一所述緩沖區域均是由兩條所述經向軌道與兩條所述緯向軌道所環繞而成。
6.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，該可移動式測試室還包含: 至少一個排氣口，用以排出該可移動式測試室中的空氣；以及 至少一個進氣窗，用以自該可移動式測試室外吸入空氣至該可移動式測試室中。
7.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，該可移動式測試室還包含: 至少一個溫度感測器，用以偵測該可移動式測試室的溫度；以及 至少一溫度顯示器，用以顯示該溫度感測器所感測到的溫度。
8.—種可移動式測試室，其特征在于，包含: 一對側壁； 一通道，夾設于該對側壁之間； 一對隔熱簾，可卷起地罩住該通道的相對兩端，其中該對隔熱簾與該對側壁共同形成一測試空間； 至少一個加熱源，用以加熱該測試空間；以及 至少一對滾珠，分別設置于該對側壁的底面。
9.根據權利要求8所述的可移動式測試室，其特征在于，還包含: 至少一個排氣口，開設于該對側壁的其中一者上；以及 至少一個進氣窗，相對該排氣口開設于該對側壁的另一者上。
10.根據權利要求8所述的可移動式測試室，其特征在于，還包含: 至少一個溫度感測器，設置于該測試空間中；以及 至少一溫度顯示器，設置于該對側壁的其中一者的外表面。
【文檔編號】G01R31/00GK103630767SQ201210297922
【公開日】2014年3月12日 申請日期:2012年8月20日 優先權日:2012年8月20日
【發明者】謝超, 蕭棨湰, 鄒自強, 夏鳴 申請人:臺達電子工業股份有限公司