專利名稱：基于回波損耗補償的窄帶天線測試方法
技術領域：
本發明屬于天線測試領域，具體涉及一種利用回波損耗補償技術在窄帶天線測試中消除多徑干擾信號，提高測量天線參數(包括方向圖和增益、以及其它參數)精度的使用方法。
背景技術：
衡量一付天線的實際輻射性能，需通過精確的測量。測試環境中(室外開闊場和微波暗室)存在多徑干擾，在常規的間接時域測量中，通常采用加時域門的方法去除干擾。這需要有足夠的測試帶寬，以獲得高的距離分辨率。然而，對于窄帶天線，特別是低頻段天線，其工作帶寬窄，對應的距離分辨率難以優于10米量級。當多徑信號與直射波的波程差小于 距離分辨率時，其響應在時間(距離)域上相互重疊，不能明確區分和分辨。這種情況下時域加門技術不能有效去除干擾，難以獲得高的測量精度。而且在低頻段暗室內吸波材料的性能下降，使得暗室側壁、地面等的多徑干擾更嚴重，測試誤差不能滿足要求。微波暗室在300MHz以下頻段，其靜區性能難以優于_30dB，側壁的多徑反射增強，導致天線方向圖的測試精度難以達到±1. 5dB ；IOOMHz以下頻段惡化到±2dB以上。在外場測試時，由于外部環境的不可控，多徑干擾更加嚴重。通常天線的工作帶寬通常取反射系數小于-IOdB (即駐波比小于2)時的頻帶范圍。對于工作帶寬小于30MHz的天線，其距離分辨率大于10m，無法通過加時域們去除干擾。
發明內容
為了避免現有技術的不足之處，本發明提出一種基于回波損耗補償的窄帶天線測試方法，拓展被測天線的測試帶寬。技術方案一種基于回波損耗補償的窄帶天線測試方法，其特征在于步驟如下步驟I :搭建天線測試系統發射端的輔助天線與測試端的被測天線位于同一高度，且位于同一軸線；步驟2 :測試被測天線的反射系數r (f)；步驟3 :根據測試場地的情況，算出要消除代表第m條多徑的多徑波Rm和直射波Rtl的最小波程差Ad = Hiin(Rm-Rtl) (m)，得到測試天線所需的掃頻帶寬
權利要求
1.一種基于回波損耗補償的窄帶天線測試方法，其特征在于步驟如下 步驟I:搭建天線測試系統發射端的輔助天線與測試端的被測天線位于同一高度，且位于同一軸線； 步驟2 :測試被測天線的反射系數r (f)； 步驟3 :根據測試場地的情況，算出要消除代表第m條多徑的多徑波Rm和直射波Rtl的最小波程差A d = min (Rffl-R0)，單位為m，得到測試天線所需的掃頻帶寬2 ^，由(I)式檢驗天線測試系統能否滿足保精度的測試靈敏度要求；
全文摘要
本發明涉及一種基于回波損耗補償的窄帶天線測試方法，其特征在于搭建天線測試系統發射端的輔助天線與測試端的被測天線位于同一高度，且位于同一軸線；根據某一頻點的反射系數，可以推算出天線相應頻點的輻射能量損耗，并加以數值補償，使得時-頻變換后，時域波形沒有畸變。本發明通過對測試帶寬進行拓寬，以獲取理想的時域分辨率，從而有效抑制多徑干擾的影響，將測試技術應用到微波暗室低頻段(300MHz以下頻段)天線測試，以及有近端強反射體的開闊場測試，可使低頻和窄帶天線方向圖精度改善2dB左右，獲得高精度的天線測試結果。
文檔編號G01R29/10GK102798769SQ20121027381
公開日2012年11月28日 申請日期2012年8月2日 優先權日2012年8月2日
發明者張麟兮, 郭靜遠, 宋鵬, 張穎軍, 張曼, 張琦, 魏世京 申請人:西北工業大學