主板輸出電壓測量機臺及其測量方法
【專利摘要】一種主板輸出電壓測量機臺及其測量方法在此揭露，主板輸出電壓測量機臺用以測量主板的輸出電壓，主板包括具有核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳的中央處理器電壓控制芯片，主板輸出電壓測量機臺包括基座與供電模塊。基座用于承載主板。當主板上電時，供電模塊供電給核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳，使主板的激活電壓不為零。
【專利說明】主板輸出電壓測量機臺及其測量方法
【技術領域】
[0001]本發明是有關于一種主板輸出電壓測量技術，且特別是有關于一種主板輸出電壓測量機臺及其測量方法。
【背景技術】
[0002]近年來由于工商發達、社會進步，相對提供之產品亦主要針對便利、確實、經濟實惠為主旨，因此，當前開發之產品亦比以往更加進步，而得以貢獻社會。
[0003]在主板測試方面，為減少主板電壓不良導致中央處理器(CPU)損壞，必須在測試之前架站測量主板輸出電壓。測量時，必須插中央處理器、內存等元件，否則主板各個測量點的輸出電壓無法輸出。
[0004]此站作業方式為先插中央處理器、內存于主板,連接電源供應器(power supply),完成后按開關使主板上電。接著，人員用表棒接觸主板各個測量點，讀出并判定顯示測量點的電壓值是否正確，測量過程為人工手工作業，測量點位多，速度慢，操作復雜。另一方面，在測量時必須插中央處理器、內存等元件，如果主板電壓不良，則會導致中央處理器損壞；反之，若不插中央處理器時，主板上電后各個測量點無電壓輸出，而無法進行判定。
【發明內容】
[0005]因此，本發明的一目的是在提供一種主板輸出電壓測量機臺及其測量方法，不需插設中央處理器、內存等元件即可完成主板輸出電壓的測試。
[0006]本發明提供的主板輸出電壓測量機臺用以測量主板的輸出電壓，主板包括具有核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳的中央處理器電壓控制芯片，主板輸出電壓測量機臺包括基座與供電模塊。基座用于承載主板。當主板上電時，供電模塊供電給核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳，使主板的激活電壓不為零。
[0007]在本發明的一實施例中，主板輸出電壓測量機臺還包括第一頂針與第二頂針。第一頂針設置于基座，用于接觸核心電壓接腳。第二頂針設置于基座，用于接觸核心顯卡電壓接腳。供電模塊電性耦接于第一頂針與第二頂針。當第一頂針與第二頂針分別接觸核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳時，供電模塊通過第一頂針與第二頂針分別供電給核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳。
[0008]在本發明的一實施例中，供電模塊包括電壓源、第一電阻器與第二電阻器。第一電阻器的一端連接第一頂針，而第一電阻器的另一端連接電壓源。第二電阻器的一端連接第二頂針，而第二電阻器的另一端連接電壓源。
[0009]在本發明的一實施例中，主板輸出電壓測量機臺亦可包括至少一第三頂針。第三頂針用于接觸主板的至少一測量點。
[0010]在本發明的一實施例中，核心電壓接腳的電壓用于對應中央處理器的工作電壓，核心顯卡電壓接腳的電壓用于對應中央處理器中內嵌的視頻控制器的控制電壓。
[0011]在本發明的一實施例中，主板輸出電壓測量機臺亦可包括下壓裝置。當主板承載于基座上時，下壓裝置朝基座運動以下壓主板，使供電模塊供電給核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳。
[0012]本發明還提供了一種主板輸出電壓測量方法，用于測量主板的輸出電壓，主板包括具有核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳的中央處理器電壓控制芯片。主板輸出電壓測量方法包括下列步驟:(a)在主板上電時，供電給核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳，使主板的激活電壓不為零；(b)測量主板的輸出電壓。
[0013]在本發明的一實施例中，步驟(a)包括:使第一頂針與第二頂針分別接觸核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳；分別供電給第一頂針與第二頂針，以使核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳得電。
[0014]在本發明的一實施例中，步驟(b)包括:利用至少一第三頂針接觸主板的至少一測量點，以測量主板的輸出電壓。
[0015]在本發明的一實施例中，核心電壓接腳的電壓用于對應中央處理器的工作電壓，核心顯卡電壓接腳的電壓用于對應中央處理器中內嵌的視頻控制器的控制電壓。
[0016]綜上所述，本發明的技術方案與現有技術相比具有明顯的優點和有益效果。通過上述技術方案，可達到相當的技術進步，并具有產業上的廣泛利用價值，其至少具有下列優點。[0017]1.通過研究，欲測試主板的輸出電壓時，當主板上電時，供電模塊供電給中央處理器電壓控制芯片的核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳，由此改變主板測試時的激活電壓(VBOOT)設定(在現有技術中測試主板的輸出電壓時，VBOOT會始終保持等于O的狀態)，使得測量時主板無需插中央處理器、內存等元件，如此不僅簡化流程，又能避免中央處理器損壞；以及
[0018]2.在本發明的一實施例中，以機臺分布的頂針接觸主板的測試點，實現一次性量測，避免繁復的人工手工作業而導致量測速度慢、操作復雜等缺點。
[0019]以下將以實施方式對上述的說明作詳細的描述，并對本發明的技術方案提供更進一步的解釋。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0020]圖1是依照本發明一實施例的一種主板輸出電壓測量機臺未在測量時的等效電路圖；
[0021]圖2是依照本發明一實施例的一種主板輸出電壓測量機臺在測量時的等效電路圖；
[0022]圖3是依照本發明一實施例的一種主板輸出電壓測量機臺的側視示意圖；
[0023]圖4是依照本發明一實施例的一種下壓裝置的局部結構圖；
[0024]圖5是依照本發明一實施例的一種主板輸出電壓測量方法的流程圖。
[0025]【主要組件符號說明】
[0026]100:主板110:中央處理器電壓控制芯片
[0027]111:核心電壓接腳112:核心顯卡電壓接腳
[0028]120:測量點200:供電模塊
[0029]210:第一頂針220:第二頂針[0030]230:第三頂針300:供電模塊
[0031]400:基座500:下壓裝置
[0032]510:夾鉗520:加壓板
[0033]610:步驟620:步驟
[0034]Rl:第一電阻器R2:第二電阻器
[0035]V:電壓源 【具體實施方式】
[0036]為了使本發明的敘述更加詳盡與完備，可參照附圖及以下所述各種實施例，附圖中相同的號碼代表相同或相似的元件。另一方面，眾所周知的元件與步驟并未描述于實施例中，以避免對本發明造成不必要的限制。
[0037]本發明的一技術態樣是一種主板輸出電壓測量機臺，其可應用在測量系統，或是廣泛地運用在相關的技術環節。以下將搭配圖1~4來說明主板輸出電壓測量機臺的【具體實施方式】。
[0038]圖1是依照本發明一實施例的一種主板輸出電壓測量機臺未在測量時的等效電路圖。如圖1所示，主板100包括中央處理器電壓控制芯片110，用于提供電壓至中央處理器(圖未示)。在此，中央處理器電壓控制芯片110具有核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112。主板輸出電壓測量機臺包括頂針單元200與供電模塊300，其中供電模塊300電性耦接于頂針單元200。在不進行測量時，頂針單元200無需接觸主板100的中央處理器電壓控制芯片110的核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112，即等效于圖1中開關呈斷開狀態。
[0039]另外，在其他實施例中，亦可不設置頂針單元200。在測量時直接使供電模塊300電性連接至中央處理器電壓控制芯片Iio的核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112。或者，也可以實體的開關來代替圖1中的頂針單元200。
[0040]圖2是依照本發明一實施例的一種主板輸出電壓測量機臺在測量時的等效電路圖。在進行測量時，則主板100需上電，且頂針單元200需接觸主板100的中央處理器電壓控制芯片110的核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112，即等效于圖2中開關呈閉合狀態。此時供電模塊300供電給核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112，使主板100的激活電壓(Vboot)不為零。通過激活電壓不為零，可模擬主板100上已安裝中央處理器的狀態，因此主板100實際上無需安裝中央處理器、內存等元件，主板輸出電壓測量機臺亦可測量主板100的輸出電壓，如此不僅簡化流程，又能避免中央處理器損壞。
[0041]具體而言，在本實施例中，頂針單元200包括第一頂針210與第二頂針220，第一頂針210與第二頂針220分別用于接觸核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112。在結構上，供電模塊300電性耦接第一頂針210與第二頂針220，于使用時，供電模塊300用以通過第一頂針210與第二頂針220供電給核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112。
[0042]在本實施例中，供電模塊300包括電壓源V、第一電阻器Rl與第二電阻器R2。第一電阻器Rl的一端連接第一頂針210，而第一電阻器Rl的另一端連接電壓源V;第二電阻器R2的一端連接第二頂針220，而第二電阻器R2的另一端連接同一電壓源V。實作上，電壓源V的電壓值以及第一電阻器Rl與第二電阻器R2的阻值可根據需要的激活電壓的數值來對應設定。
[0043]圖3是依照本發明一實施例的一種主板輸出電壓測量機臺的側視示意圖。如圖3所示，主板輸出電壓測量機臺包括基座400，其可用于承載主板100。頂針單元200可設置于基座400上。
[0044]于圖3中，頂針單元200亦可包括至少一第三頂針230。第三頂針230用于接觸主板100的其中一個測量點120，藉以測量主板100對應此測量點120的輸出電壓。
[0045]應了解到，于圖3中的第三頂針230雖為單一個，然此僅為繪示說明，并不限制本發明，實務上，使用者可根據需要測量的測量點的個數與位置對應地排布頂針，以實現一次性測量，避免繁復的人工手工作業而導致測量速度慢、操作復雜等缺點。
[0046]另一方面，于圖3中，主板輸出電壓測量機臺亦可包括下壓裝置500。于量測過程中，當主板100承載于基座400上時，下壓裝置500用以下壓主板100，使得頂針單元200得以確實接觸核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112。
[0047]圖4是依照本發明一實施例的一種下壓裝置500的局部結構圖。如圖4所示，下壓裝置500至少包括夾鉗510與下壓板520。在結構上，下壓板520可為壓克力板，位于基座400上方，夾鉗510用于對下壓板520施予壓力。于測量時，主板可承載于基座400上，且位于下壓板520下方，當夾鉗510施予壓力至下壓板520時，下壓板520朝基座400運動得以下壓主板，使主板接觸到上述頂針單元。
[0048]在其他實施例中，也可將圖3中的供電模塊300直接連接至下壓裝置500的下壓板520。當主板100承載于圖3中的基座400上時，下壓下壓板520，使得主板100上的核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112與下壓板520上的對應點位電性接觸，從而實現供電模塊供電給核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112的目的。
[0049]本發明的另一技術態樣是一種主板輸出電壓測量方法，用于測量主板的輸出電壓，主板100包括具有核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112的中央處理器電壓控制芯片110。參照圖5，圖5是依照本發明一實施例的一種主板輸出電壓測量方法的流程圖。請一并參考圖3與圖5。此主板輸出電壓測量方法包括下列步驟610、620。于步驟610中，在主板100上電時，供電給核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112，使主板100的激活電壓不為零；于步驟620中，測量主板100的輸出電壓。
[0050]具體而言，步驟610包括:當主板100置于測量機臺的基座400上時，下壓主板100，使基座400上的第一頂針210與第二頂針220分別接觸核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112。此時，可分別供電給第一頂針210與第二頂針220，以使核心電壓接腳111與核心顯卡電壓接腳112得電。
[0051]另一方面，步驟620包括:利用至少一第三頂針230接觸主板100的至少一測量點120，藉以測量主板100對應測量點120的輸出電壓。
[0052]應了解到，在本實施例中所提及的步驟，除特別敘明其順序者外，均可依實際需要調整其前后順序，甚至可同時或部分同時執行。至于實施該些步驟的硬件裝置，由于以上實施例已具體揭露，因此不再重復贅述之。
[0053]在本發明較佳實施例中，通過研究，當欲測試主板的輸出電壓時，在主板上電后，供電模塊供電給中央處理器電壓控制芯片的核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳，由此改變主板測試時的激活電壓(VBOOT)設定，使得測量時主板無需插中央處理器、內存等元件，主板上的各個測試點亦可有電壓輸出，由此克服了本領域內的技術偏見(在現有技術中測試主板的輸出電壓時，VBOOT會始終保持等于O的狀態)，且簡化了流程，又能避免中央處理器損壞。另外，還可利用機臺分布的頂針來接觸主板的測試點，在存在多個測試點時，還可實現一次性量測，避免繁復的人工手工作業而導致量測速度慢、操作復雜等缺點。
[0054]雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其并非用以限定本發明，任何熟悉此技術者，在不脫離本發明的精神和范圍內，當可作各種的更動與潤飾，因此本發明的保護范圍當視權利要求書所界定者為準。
【權利要求】
1.一種主板輸出電壓測量機臺，用以測量主板的輸出電壓，所述主板包括具有核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳的中央處理器電壓控制芯片，其特征在于，所述主板輸出電壓測量機臺包括: 基座，用于承載所述主板；以及 供電模塊，當所述主板上電時，所述供電模塊供電給所述核心電壓接腳與所述核心顯卡電壓接腳，使所述主板的激活電壓不為零。
2.根據權利要求1所述的主板輸出電壓測量機臺，其特征在于，還包括: 第一頂針，設置于所述基座，用于接觸所述核心電壓接腳；以及 第二頂針，設置于所述基座，用于接觸所述核心顯卡電壓接腳， 其中所述供電模塊電性耦接于所述第一頂針與所述第二頂針，當所述第一頂針與所述第二頂針分別接觸所述核心電壓接腳與所述核心顯卡電壓接腳時，所述供電模塊通過所述第一頂針與所述第二頂針分別供電給所述核心電壓接腳與所述核心顯卡電壓接腳。
3.根據權利要求2所述的主板輸出電壓測量機臺，其特征在于，所述供電模塊包括: 電壓源； 第一電阻器，其一端連接所述第一頂針而另一端連接所述電壓源；以及 第二電阻器，其一端連接所述第二頂針而另一端連接所述電壓源。
4.根據權利要求2所述的主板輸出電壓測量機臺，其特征在于，還包括: 至少一第三頂針，用于接觸所述主板的至少一測量點。
5.根據權利要求1所述的主板輸出電壓測量機臺，其特征在于，所述核心電壓接腳的電壓用于對應所述中央處理器的工作電壓，所述核心顯卡電壓接腳的電壓用于對應所述中央處理器中內嵌的視頻控制器的控制電壓。
6.根據權利要求1所述的主板輸出電壓測量機臺，其特征在于，還包括: 下壓裝置，當所述主板承載于所述基座上時，所述下壓裝置朝所述基座運動以下壓所述主板，使所述供電模塊供電給所述核心電壓接腳與所述核心顯卡電壓接腳。
7.—種主板輸出電壓測量方法，用于測量主板的輸出電壓，所述主板包括具有核心電壓接腳與核心顯卡電壓接腳的中央處理器電壓控制芯片，其特征在于，所述主板輸出電壓測量方法包括: (a)在所述主板上電時，供電給所述核心電壓接腳與所述核心顯卡電壓接腳，使所述主板的激活電壓不為零；以及 (b)測量所述主板的輸出電壓。
8.根據權利要求7所述的主板輸出電壓測量方法，其特征在于，步驟(a)包括: 使第一頂針與第二頂針分別接觸所述核心電壓接腳與所述核心顯卡電壓接腳；以及分別供電給第一頂針與所述第二頂針，以使所述核心電壓接腳與所述核心顯卡電壓接腳得電。
9.根據權利要求8所述的主板輸出電壓測量方法，其特征在于，步驟(b)包括: 利用至少一第三頂針接觸所述主板的至少一測量點，以測量所述主板的輸出電壓。
10.根據權利要求7所述的主板輸出電壓測量方法，其特征在于，所述核心電壓接腳的電壓用于對應所述中央處理器的工作電壓，所述核心顯卡電壓接腳的電壓用于對應所述中央處理器中內嵌的視頻控制器的控制電壓。
【文檔編號】G01R19/00GK103575953SQ201210250465
【公開日】2014年2月12日 申請日期:2012年7月19日 優先權日:2012年7月19日
【發明者】邵漢林, 徐前進, 馮世鈿 申請人:名碩電腦(蘇州)有限公司, 和碩聯合科技股份有限公司