專利名稱：微波測量線多頻率信號的測量方法
技術領域：
本發明屬于測試測量領域，具體涉及一種微波測量線多頻率信號的測量方法。
背景技術：
微波技術是無線電技術的一個分支。它主要包括三部分內容電磁場理論、微波電路及元件、微波測量。其中，微波測量是測量微波電路、元件及組件的參量。微波測量對微波技術的發展和應用起著重要的位置。為了達到工程中對于微波元器件、組件的高精度要求，需要用準確的測量結果來保證。測量線是微波系統的一種常用儀器，由三部分組成開槽線、探頭系統和傳動系統。測量線結構簡單，用途廣泛，是微波測量中最基本的儀器之一。在傳統的測量線微波測量中，只能進行單頻點測量，也有支持掃頻測量的測量線，但結構復雜，成本高。但隨著微波技術的發展，多頻率測量的需求越來越多，比如測量微波信號源時需要測量信號源的各個頻率成分，或者是測試空氣中無線信號頻率等等。為了節約測試成本，需要一種測試方法，在使用傳統測量線的基礎上測量不同頻率的信號。
發明內容
本發明的目的在于提供一種微波測量線多頻率信號的測量方法。本發明提出的微波測量線多頻率信號的測量方法，具體步驟如下
(I):在測量線末端加負載或在測量線兩端輸入頻率相同的信號(如可用兩個天線接收無線信號的方式等)，在測量線中形成兩路頻率相同且傳輸方向相反的信號；
在傳輸線內(波導、同軸、微帶等任意形式)，當兩路頻率相同且傳輸方向相反的信號互相疊加，將形成駐波，對于任意一駐波場，可用下式表示
E(x)=馬^(觸
上式中為測量線中的場強分布函數，&、果,為入射波和反射波場強幅值，U為入射波和反射波的相位，$為入射波和反射波的相移常數，，，j為波導波長。設兩路信號幅度差為C = | =常數A。貝IjE(X) = A(eJ{fir-+A) +
假設信號發生器發射第一個、第二個……第n個頻率信號，分別為用, S(X)2……
，測量線中場強分布函數為
E(x) - S(X)1 +S(x)2 +-- +B(X)^
其中
權利要求
1.一種微波測量線多頻率信號的測量方法，其特征在于具體步驟如下 (1):在測量線末端加負載或在測量線兩端輸入頻率相同的信號，在測量線中形成兩路頻率相同且傳輸方向相反的信號； 在波導、同軸或微帶形式的傳輸線內，當兩路頻率相同且傳輸方向相反的信號互相疊力口，將形成駐波，對于任意一駐波場，用下式表示
全文摘要
本發明屬于測試測量領域，具體涉及一種微波測量線多頻率信號的測量方法。具體步驟為在測量線中形成兩路頻率相同且傳輸方向相反的信號，用探針檢測等間隔各點電場強度，作離散傅里葉變換，得到頻譜圖，計算波導波長，通過波導波長，計算信號的各個頻率。本發明采用傳統測量線，使用數字信號處理方法，對檢波器采集到的信號進行分析，通過測量得到測量線中多頻率信號波導波長，分析微波諧振器輸出頻率，結構簡單，成本低。
文檔編號G01R23/16GK102721863SQ20121023786
公開日2012年10月10日 申請日期2012年7月11日 優先權日2012年7月11日
發明者何婷婷, 邵暉 申請人:上海聚星儀器有限公司