專利名稱：Led測試裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及電子生產作業的測試裝置，尤其涉及LED的測試裝置。
背景技術：
現有技術中，LED在照明領域 得到廣泛應用，特別是隨著液晶顯示技術的快速發展，LED作為液晶顯示面板的背光源得到了更為廣泛的應用，其原因在于，與冷陰極射線管相比，LED的功耗低且壽命長。LED的生產廠家在生產了大批量的LED之后，通常會抽取部分樣品進行LED的耐熱測試，以確定該批量的LED的良率，通常的做法是，將多顆LED與電路板搭配制成成品的LED燈條，然后對LED燈條進行耐熱測試，但是，在制作LED燈條的過程中有可能會造成LED的損壞從而導致測試結果偏離實際良率，而且，作為測試樣品的LED在做完測試之后都作報廢處理，如此，也造成了資源的浪費。
發明內容
本發明的目的在于提供一種新的LED測試方法，以及為實現該LED測試方法所設計的LED測試裝置，從而簡化LED測試，可以對連板狀態下的LED進行全檢而不是采用抽取樣品測試的方式，提升了測試的準確性且避免資源浪費。本發明的一種LED測試裝置，用于測試連板狀態下的LED，該LED測試裝置包括測試電路板，具有第一表面以及與第一表面相對的第二表面，多對測試電極設置于該第一表面，每一對測試電極包括一個正極測試電極以及一個負極測試電極，當測試該連板狀態下的LED時，該LED連板放置于該第一表面且該LED連板上的多顆LED的正極引腳以及負極引腳分別對應于正極測試電極以及負極測試電極，該測試電路板還包括正極接入點以及負極接入點，該正極接入點連接正極測試電極，該負極接入點連接負極測試電極；壓合機構，該壓合機構包括壓合部，該壓合部用于當測試連板狀態下的LED時按壓該LED連板使得該該多顆LED的正極引腳以及負極引腳分別緊密接觸正極測試電極以及負極測試電極，通過外接電源驅動該測試電路板上的該多對測試電極點亮該連板上的多顆LED;集熱罩，該測試電路板以及該壓合部位于該集熱罩熱內，該集熱罩上設置有第一開口，對應第一開口的位置設置有可以開合的擋板。優選的，該多對測試電極以陣列的方式排布于該測試電路板的第一表面。優選的，該壓合部為壓合平板，該壓合平板對應每一列LED的位置開設長條形讓位槽。優選的，該多對測試電極的結構為測試探針結構。優選的，該多對測試電極的結構為可伸縮式的測試探針結構。優選的，于該測試電路板的第一表面上設置有定位結構，用于當測試該連板狀態下的LED時定位該LED連板，使得該LED連板上的多顆LED的正極引腳以及負極引腳分別對應于正極測試電極以及負極測試電極。
優選的，該集熱罩上設置有通孔，該通孔上設置有可移除的蓋子，利用傳熱機構經該通孔向該集熱罩內傳遞熱量。優選的，該傳熱機構為電熱吹風機。優選的，該LED測試裝置更包括測溫計，用于測試該集熱罩內的溫度。利用本發明所述的LED測試裝置以及LED測試方法可以直接對連板狀態下的LED進行測試，如此，可以對每一顆LED進行檢測，保證LED產品出廠時的良率，相比于現有技術中采用的抽樣測試的方式，本發明既保證了測試的準確性且無耗損，不需要像現有技術中一樣對測試樣品做報廢處理。以下在實施方式中詳細敘述本發明的詳細特征以及優點，其內容足以使本領域技術人員了解本發明的技術內容并據以實施，且根據本說明書所揭露的內容、權利要求及圖示，本領域技術人員可輕易地理解本發明相關的目的及優點。
圖I為LED測試流程圖；圖2為本發明一實施例的LED測試裝置的側視結構示意圖；圖3為本發明一實施例的測試電路板的第一表面的結構不意圖；圖4為本發明一實施例測試連板狀態下的LED的側視示意圖；圖5為壓合部的俯視結構示意具體實施例方式為使對本發明的目的、構造、特征、及其功能有進一步的了解，茲配合實施例詳細說明如下。如圖I，為LED測試流程圖，圖I公開一種LED的測試方法，用于測試連板狀態下的LED，所謂的連板狀態是指LED的封裝過程中，多顆LED以陣列的排布方式排布于封裝支架且LED尚未從封裝支架上一顆顆切割下來，該LED測試方法包括如下步驟步驟I :將連板狀態下的LED仿過回流焊爐，所謂的仿過回流焊爐是指模擬回流焊爐的溫度將該連板狀態下的LED置于此溫度環境中特定時間，通常測試LED良率要先將多顆LED與電路板搭配制成成品的LED燈條，此步驟I的目的是，模擬制作LED燈條時的溫度環境，保證測試的準確性。步驟2，冷卻。步驟3，對該連板狀態下的LED執行常溫下的點亮測試的步驟。步驟4，加熱該連板狀態下的LED并達到特定溫度，并于此特定溫度環境下對該連板狀態下的LED執行點亮測試的步驟。步驟5,結束測試。于步驟3以及步驟5中，將未能點亮的LED標示出來。圖2為本發明一實施例的LED測試裝置1000的側視結構示意圖，用于測試連板狀態下的LED，該LED測試裝置1000具有測試電路板10、壓合機構20以及集熱罩40。請參考圖2,測試電路板10具有第一表面11以及與第一表面11相對的第二表面 12，該LED測試裝置1000具有底座30，所述測試電路板10通過固定結構31固定于該底座30上。圖3為本發明一實施例的測試電路板10的第一表面11的結構不意圖，圖4為本發明一實施例測試連板狀態下的LED的側視示意圖，請同時參考圖2、圖3以及圖4，多對測試電極100以陣列的方式排布于該測試電路板10的第一表面11，當然，該多對測試電極100的排布方式不限于陣列的排布方式，該多對測試墊100的排布方式與該多顆LED排布于連板上的排布方式相同，根據連板上的多顆LED的排布方式來設計該多對測試電極100的排布方式。每一對測試電極100包括一個 正極測試電極110以及一個負極測試電極120,于該測試電路板10的第一表面11上設置有多個定位結構300，用于當測試該連板狀態下的LED520時，使該多顆LED520的正極引腳521以及負極引腳522分別對應于正極測試電極110以及負極測試電極120。于一實施例中，該定位結構300為定位柱，對應的，LED連板510上設置有定位孔，通過定位孔與定位柱的配合使該多顆LED520的正極引腳521以及負極引腳522分別對應于正極測試墊110以及負極測試墊120。壓合機構20包括壓合部21，該壓合部21用于當測試連板狀態下的LED時按壓該LED連板510，使得該該多顆LED520的正極引腳521以及負極引腳522分別緊密接觸正極測試電極110以及負極測試電極120，該測試電路板10還包括正極接入點210以及負極接入點220，該正極接入點210連接正極測試電極110，該負極接入點220連接負極測試電極120 ;且通過接入電源至該正極接入點210以及該負極接入點220從而驅動該連板狀態下的LED520。該測試電路板10以及該壓合部21位于該集熱罩熱內，該集熱罩上設置有第一開口(未繪示)，對應第一開口的位置設置有可以開合的擋板(未繪示)。圖5為壓合部21的俯視結構示意圖，通常，LED連板自身的平整度不是很好，LED連板上的LED的引腳與測試電極接觸時會存在不能保證所有引腳都充分接觸到測試電極的風險，通過壓合部21按壓該LED連板510可以使得該多顆LED520的正極引腳521以及負極引腳522分別緊密接觸正極測試墊110以及負極測試墊120，該壓合部21為壓合平板，該壓合平板對應每一列LED的位置開設長條形讓位槽211，從而避免壓合平板壓壞LED，利用該壓合平板按壓該LED連板510的空白處，所謂的空白處是指LED連板上未設置LED的區域，可以使得該多顆LED520的正極引腳521以及負極引腳522分別緊密接觸正極測試墊110以及負極測試墊120。于本實施例中，該多對測試電極100的結構為測試探針結構，優選的，該多對測試電極的結構為可伸縮式的測試探針結構。請參考圖4，該集熱罩40上設置有通孔41，該通孔41上設置有可移除的蓋子42，利用傳熱機構經該通孔41向該集熱罩40內傳遞熱量。在執行步驟3時，打開該集熱罩40的擋板，自該第一開口將LED連板定位于該定位結構300上使該多顆LED520的正極引腳521以及負極引腳522分別對應于正極測試墊110以及負極測試墊120，然后操作壓合手柄22使得壓合部21下降并按壓該LED連板510，使得該該多顆LED520的正極引腳521以及負極引腳522分別緊密接觸正極測試電極110以及負極測試電極120，通過接入電源至該正極接入點210以及該負極接入點220從而在常溫下驅動該連板狀態下的LED520，并通過該第一開ロ觀察是否有未點亮的LED520，并標示出來。在執行步驟4吋，關閉該集熱罩40的擋板，移除該集熱罩40上的通孔41上的蓋子42，利用電熱吹風機經該通孔41向該集熱罩40內傳遞熱量，并利用測溫計監測該集熱罩40內的溫度，當該集熱罩內的溫度達到特定溫度后，關閉該電熱吹風機并打開該擋板，并通過該第一開ロ觀察是否有未點亮的LED520，并標示出來。利用本發明所述的LED測試裝置以及LED測試方法可以直接對連板狀態下的LED進行測試，如此，可以對每ー顆LED進行檢測，保證LED產品出廠時的良率，相比于現有技術中采用的抽樣測試的方式，本發明既保證了測試的準確性且無耗損，不需要像現有技術中ー樣對測試樣品做報廢處理。本發明已由上述相關實施例加以描述，然而上述實施例僅為實施本發明的范例。 必需指出的是，已揭露的實施例并未限制本發明的范圍。相反地，在不脫離本發明的精神和范圍內所作的更動與潤飾，均屬本發明的專利保護范圍。
權利要求
1.一種LED測試裝置，其特征在于，該LED測試裝置用于測試連板狀態下的LED，該LED測試裝置包括 測試電路板，具有第一表面以及與第一表面相對的第二表面，多對測試電極設置于該第一表面，每一對測試電極包括一個正極測試電極以及一個負極測試電極，當測試該連板狀態下的LED時，該LED連板放置于該第一表面且該LED連板上的多顆LED的正極引腳以及負極引腳分別對應于正極測試電極以及負極測試電極，該測試電路板還包括正極接入點以及負極接入點，該正極接入點連接正極測試電極，該負極接入點連接負極測試電極； 壓合機構，該壓合機構包括壓合部，該壓合部用于當測試連板狀態下的LED時按壓該LED連板使得該該多顆LED的正極引腳以及負極引腳分別緊密接觸正極測試電極以及負極測試電極，通過外接電源驅動該測試電路板上的該多對測試電極點亮該連板上的多顆LED ； 集熱罩，該測試電路板以及該壓合部位于該集熱罩熱內，該集熱罩上設置有第一開口，對應第一開口的位置設置有可以開合的擋板。
2.如權利要求I所述的LED測試裝置，其特征在于，該多對測試電極以陣列的方式排布于該測試電路板的第一表面。
3.如權利要求2所述的LED測試裝置，其特征在于，該壓合部為壓合平板，該壓合平板對應每一列LED的位置開設長條形讓位槽。
4.如權利要求I所述的LED測試裝置，其特征在于，該多對測試電極的結構為測試探針結構。
5.如權利要求I所述的LED測試裝置，其特征在于，該多對測試電極的結構為可伸縮式的測試探針結構。
6.如權利要求I所述的LED測試裝置，其特征在于，于該測試電路板的第一表面上設置有定位結構，用于當測試該連板狀態下的LED時定位該LED連板，使得該LED連板上的多顆LED的正極引腳以及負極引腳分別對應于正極測試電極以及負極測試電極。
7.如權利要求I所述的LED測試裝置，其特征在于，該集熱罩上設置有通孔，該通孔上設置有可移除的蓋子，利用傳熱機構經該通孔向該集熱罩內傳遞熱量。
8.如權利要求7所述的LED測試裝置，其特征在于，該傳熱機構為電熱吹風機。
9.如權利要求I所述的LED測試裝置，其特征在于，該LED測試裝置更包括測溫計，用于測試該集熱罩內的溫度。
全文摘要
一種LED測試裝置，用于測試連板狀態下的LED，包括測試電路板、壓合機構以及集熱罩，該測試電路板具有第一表面，多對測試電極設置于該第一表面，當測試該連板狀態下的LED時，該LED連板上的多顆LED的正極引腳以及負極引腳分別對應于正極測試電極以及負極測試電極；該壓合機構包括壓合部，該壓合部用于按壓該LED連板使得該多顆LED的正極引腳以及負極引腳分別緊密接觸正極測試電極以及負極測試電極，通過外接電源驅動該測試電路板上的該多對測試電極點亮該連板上的多顆LED；集熱罩，該測試電路板以及該壓合部位于該集熱罩熱內，如此，可以對每一顆LED進行檢測，保證LED產品出廠時的良率，既保證了測試的準確性且無耗損，不需要像現有技術中一樣對測試樣品做報廢處理。
文檔編號G01R31/26GK102654558SQ20121013449
公開日2012年9月5日 申請日期2012年5月3日 優先權日2012年5月3日
發明者孫豪, 彭浩, 薛江, 袁泉 申請人:威力盟電子(蘇州)有限公司, 威力盟電子股份有限公司