專利名稱：屏蔽蓋檢具的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及エ件尺寸檢驗工具技術領域，特別是涉及ー種屏蔽蓋檢具。
背景技術：
目前，在對屏蔽蓋或者具有兩個孔以上的類似エ件是否合格進行檢驗時，采用的檢驗設備主要是三次元，此類設備在檢驗屏蔽蓋或類似エ件時需要按以下步驟操作1、將エ件固定在三次元檢驗平臺上，確保エ件在檢驗過程中不會移動和晃動。2、建立基準點、基準線、基準平面，用于確認エ件的擺放位置。3、操作三次元上探針移動手柄，并從待檢驗的孔內壁取3 4個點用于構成ー個圓，并以此確認該圓的坐標位 置。4、按上述第3點操作方法把其它所有圓孔全部檢驗完成。5、最后根據檢驗后產品的實際數據和圖紙提供的理論數據比較。至此，可判斷エ件上的孔位是否有偏差。上述三次元檢驗設備檢驗エ件的主要缺陷是檢驗時間長，檢驗投入成本高，檢驗環境要求高，不能實現エ件的大批量檢驗。造成上述問題的原因有以下幾個方面I、三次元設備本身屬高精密度檢驗設備，檢驗用探針很容易損壞，操作過程中要特別小心。2、三次元檢驗原理需要根據構成エ件的幾何形狀進行創建，并且要等檢驗原理創建完成后才可以檢驗エ件，此步驟所花費的時間很長。3、三次元設備造價很高(達到15 25萬RMB/臺)，并且設備內的零件精密度很高，必須要有良好的作業環境(防塵、防震、防潮、防高溫、防低溫)，這些都需要投入專用的資金用于維護設備的有效運行。4、設備保養維修困難。在大批量檢驗エ件的過程中，雖然三次元能夠做到精確測量，但是由于其購置成本高、檢驗時間長、檢驗效率低、對操作人員專業素質要求高的問題會制約エ件的大批量生產，因此，人們迫切希望一種購置成本低、檢驗效率高、操作簡單、環境適應能力強的屏蔽蓋檢具問世。
發明內容本實用新型所要解決的技術問題是克服現有技術的三次元檢驗設備購置成本高、檢驗時間長、檢驗效率低、對操作人員專業素質要求高的缺陷，滿足人們的愿望，提供一種屏蔽蓋檢具，這種屏蔽蓋檢具購置成本低、檢驗效率高、操作簡單、環境適應能力強。本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是屏蔽蓋檢具，包含ー塊底板，在底板上設置有A定位針、B定位針和多根圓柱形鑲針，A定位針設置在底板上表面左前角或左后角位置，B定位針設置在底板上表面右后角或右前角位置，多根圓柱形鑲針分別設置在底板上表面符合檢具標準的相應位置。在上述技術方案中，所述A定位針和B定位針分別呈圓柱形。優選的，A定位針設置在底板上表面左前角位置，B定位針設置在底板上表面右后角位置。進ー步的，每兩根圓柱形鑲針之間相距一定距離。本實用新型的有益效果是該屏蔽蓋檢具在制作和使用過程中，具有以下優點
I、該屏蔽蓋檢具制作エ藝簡單，使用的材料易得。主要使用45#鋼和CR12鋼材，采用磨床加工和線切割加工エ藝制作完成。2、由于第I點原因，該屏蔽蓋檢具的制作成本就會很低，約500RMB/件。3、該屏蔽蓋檢具對于存放和工作地點的環境要求不高，不需要采取特殊的防塵、防高溫、防低溫、防震動的措施，即可對エ件進行檢驗。因為使用的材料和設備結構都可以在比較惡劣的環境中使用而不會失效。4、該屏蔽蓋檢具操作方法簡單，操作人員不需要經過專業的培訓，即可使用該屏蔽蓋檢具對エ件進行檢驗。5、使用該屏蔽蓋檢具對エ件進行檢驗，檢驗結果很容易判斷，不需要通過數據對比即可得出エ件是否合格的結論。
圖I是本實用新型的俯視圖；圖2是本實用新型的立體結構示意圖；圖3是本實用新型在檢驗待檢驗エ件時的使用狀態圖。圖I至圖3中的附圖標記說明1——底板；2——A定位針；3——B定位針；4——圓柱形鍵針；5 待檢驗エ件；6 A基準孔；7 B基準孔；8 待檢驗孔。
具體實施方式
以下結合附圖和實施例對本實用新型作進ー步詳細的說明，并不是把本實用新型的實施范圍局限于此。如圖I和圖2所示，本實施例所述的ー種屏蔽蓋檢具，包含一塊底板1，在底板I上設置有A定位針2、B定位針3和多根圓柱形鑲針4，A定位針2設置在底板I上表面左前角位置，B定位針3設置在底板I上表面右后角位置，多根圓柱形鑲針4分別設置在底板I上表面符合檢具標準的相應位置上，所述A定位針2和B定位針3分別呈圓柱形，每兩根圓柱形鑲針4之間相距一定距離。本文中的方位“左” “右”以圖I為參考方向，其中以圖I的下方為“前”，上方為“后”。作為另ー個優選方式，A定位針2設置在底板I上表面左后角位置，B定位針3設置在底板I上表面右前角位置。如圖3所示，在待檢驗エ件5上設置有A基準孔6、B基準孔7和多個待檢驗孔8，A基準孔6設置在待檢驗エ件5左前角位置，B基準孔7設置在待檢驗エ件5右后角位置，根據待檢驗エ件5的設計要求，多個待檢驗孔8分別設置在待檢驗エ件5的相應位置上。當使用本實施例檢驗待檢驗エ件5時，把該屏蔽蓋檢具平放在桌面上，即把底板I平放在桌面上，A定位針2、B定位針3和多根圓柱形鑲針4朝上，再把待檢驗エ件5放在該屏蔽蓋檢具上，在放待檢驗エ件5的過程中，要使A定位針2對準A基準孔6、B定位針3對準B基準孔7、多根圓柱形鑲針4與多個待檢驗孔8對應分別一一對準，由于該屏蔽蓋檢具是針對待檢驗エ件5的結構設計的，即A定位針2在底板I上所處的位置與A基準孔6在待檢驗エ件5上所處的位置對應，B定位針3在底板I上所處的位置與B基準孔7在待檢驗エ件5上所處的位置對應，多根圓柱形鑲針4分別在底板I上所處的位置與多個待檢驗孔8分別在待檢驗エ件5上所處的位置都分別一一對應，所以，當待檢驗エ件5可套入該屏蔽蓋檢具，就可判斷此待檢驗エ件5所有待檢驗孔8的尺寸合格，則該待檢驗エ件5檢驗合格。如果該待檢驗エ件5上有ー個以上的待檢驗孔8其位置有偏差時，該待檢驗エ件5就不能放入該屏蔽蓋檢具，此時，可判斷該待檢驗エ件5的待檢驗孔8孔位尺寸不合格，則該待檢驗エ件5檢驗不合格。該屏蔽蓋檢具可用于快速檢驗屏蔽蓋類(或者是具有兩個孔以上的類似エ件)所有孔與孔之間的相對位置，以及所有孔的定型尺寸。并且能夠有效的保證檢驗合格后的エ件能夠與電路板(或者本身需要裝配的エ件)很好的裝配。以上所述僅是本實用新型的一個較佳的實施例，故凡依本實用新型專利申請范圍所述的構造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均包含在本實用新型專利申請的保護范圍內。
權利要求1.屏蔽蓋檢具，包含一塊底板(I)，其特征在于在底板(I)上設置有A定位針(2)、B定位針(3)和多根圓柱形鑲針(4)，A定位針(2)設置在底板(I)上表面左前角或左后角位置，B定位針(3)設置在底板(I)上表面右后角或右前角位置，多根圓柱形鑲針(4)分別設置在底板(I)上表面符合檢具標準的相應位置。
2.根據權利要求I所述的屏蔽蓋檢具，其特征在于所述A定位針(2)和B定位針(3)分別呈圓柱形。
3.根據權利要求I或2所述的屏蔽蓋檢具，其特征在于A定位針(2)設置在底板(I)上表面左前角位置，B定位針(3)設置在底板(I)上表面右后角位置。
4.根據權利要求I所述的屏蔽蓋檢具，其特征在于每兩根圓柱形鑲針(4)之間相距一定距離。
專利摘要屏蔽蓋檢具，屬于工件尺寸檢驗工具領域。現有技術的三次元檢驗設備購置成本高、檢驗時間長、檢驗效率低、對操作人員專業素質要求高。本實用新型包含一塊底板，在底板上設置有A定位針、B定位針和多根圓柱形鑲針，A定位針設置在底板上表面左前角或左后角位置，B定位針設置在底板上表面右后角或右前角位置，多根圓柱形鑲針分別設置在底板上表面符合檢具標準的相應位置上，A定位針和B定位針分別呈圓柱形，每兩根圓柱形鑲針之間相距一定距離。本實用新型作為屏蔽蓋檢具，可用于快速檢驗屏蔽蓋或者具有兩個孔以上的類似工件所有孔與孔之間的相對位置以及所有孔的定型尺寸是否合格，并且能夠有效的保證檢驗合格后的工件能夠與電路板很好的裝配。
文檔編號G01B5/14GK202452932SQ201120562049
公開日2012年9月26日 申請日期2011年12月29日 優先權日2011年12月29日
發明者楊廷建 申請人:東莞市建升壓鑄科技有限公司