專利名稱：一種適合x射線衍射儀測量小塊不規則固體的樣品臺的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及X射線多晶衍射測量技術領域，特別是一種適合X射線衍射儀測量小塊不規則固體的樣品臺。
(ニ)背景技術X射線多晶衍射儀是ー種用途廣泛的測量儀器，是表征多晶聚集體結構的重要エ 具，現在已被廣泛應用于冶金、化工、環保、能源、生物醫藥エ業和半導體等行業，已成為許多研究機構及エ廠實驗室的必備儀器。在X射線多晶衍射測量中常采用標準樣品臺(見圖I)，其上方通過儀器樣品架頂端三個小柱子固定，下方利用一個可伸縮的彈簧托盤固定(見圖2)。其中陰影部分為2_深的凹槽，主要用于放置樣品，該標準樣品臺僅適合放置粉末樣品或較薄的塊狀樣品。由于樣品分析平面和樣品臺平面必須保持在同一平面內，對于平面尺寸大于30mmX40mm不規則固體樣品可直接裝在樣品架上測量，而針對測量平面小于30mmX40mm的小塊不規則固體樣品，由于樣品分析平面不能和測量平面保持在同一水平面，測量出的衍射峰將會整體向左或向右偏離，衍射峰強度劇烈下降，當兩平面高度相差較大時就無法收集到相關衍射信號，因此設計ー個合理測量小塊不規則固體樣品臺成為從事X射線衍射測量分析人員的迫切需要。
(三)實用新型內容本實用新型的目的是提供一種適合X射線衍射儀測量小塊不規則固體的樣品臺，它能夠在X射線衍射儀上測量平面小于30mmX40mm的小塊不規則固體樣品。本實用新型的技術方案一種適合X射線衍射儀測量小塊不規則固體的樣品臺，它適用于符合布拉格-勃朗泰諾(B-B)衍射幾何并且樣品臺保持水平位置不動、X光源和探測器做Θ-Θ掃描的通用衍射儀，固定在通用衍射儀中的測量臺上的三個小柱子和彈簧托盤之間，其特征在于它由樣品臺主體和凹槽構成，所說的凹槽位于樣品臺主體的中心位置，凹槽的深度為2-25mm，凹槽的外緣有定位標示，所說的樣品臺主體由樣品臺底座和無明顯X射線衍射信號和強烈背景的測量表面構成，所說的測量表面依粘膠層與樣品臺底座的上表面固定連接，測量表面的外緣與樣品臺底座的外緣形狀和尺寸相同。上述所說的符合布拉格-勃朗泰諾(B-B)衍射幾何并且樣品臺保持水平位置不動、X光源和探測器做Θ-Θ掃描的通用衍射儀為Bruker-AXS D8 Advance通用衍射儀。上述所說的樣品臺主體的外形為長方體,長為50mm,寬為50mm,高為30mm。上述所說的凹槽的形狀為圓柱形，它的截面的直徑為20_25mm。本實用新型的工作原理在樣品臺的圓柱槽中放置適量的橡皮泥，依據樣品臺定位標示將小塊不規則固體樣品置于圓柱槽的中心位置固定，同時使樣品測量表面略高于樣品臺表面，取一塊載玻片將樣品壓平至和樣品臺表面齊平，最后利用測量臺上的三個小柱子和彈簧托盤將樣品臺固定即可。[0010]本實用新型的優越性I、加深了凹槽的深度，解決了現有的標準樣品臺無法測量小塊不規則固體樣品的問題；2、只在測量表面應用無明顯X射線衍射信號和強烈背景的材料，可以降低生產成本；3、由于橡皮泥的可伸縮性和粘固性，在樣品槽中采用橡皮泥固定樣品，可根據需要調整樣品的高度，也保證了不規則樣品的固定；4、樣品臺凹槽外緣的定位標示保證了小塊不規則固體樣品在安裝時能夠準確定位于X射線照射范圍中心；4、該樣品臺制作簡單、易于操作，為從事X射線衍射測量工作提供了一個新穎便捷的工具。
圖I為標準樣品臺的結構示意圖。圖2為通用衍射儀中的測量臺的結構示意圖。圖3為本實用新型所涉ー種適合X射線衍射儀測量小塊不規則固體的樣品臺的結構示意圖。其中I為小柱子，2為彈簧托盤，3為樣品臺主體，3-1為樣品臺底座，3-2為測量表面，4為凹槽，5為定位標示。
具體實施方式
實施例一種適合X射線衍射儀測量小塊不規則固體的樣品臺(見圖3)，它適用于符合布拉格-勃朗泰諾(B-B)衍射幾何并且樣品臺保持水平位置不動、X光源和探測器做Θ-Θ掃描的通用衍射儀，固定在通用衍射儀中的測量臺上的三個小柱子和彈簧托盤之間(見圖2)，其特征在于它由樣品臺主體3和凹槽4構成，所說的凹槽4位于樣品臺主體3的中心位置，凹槽4的深度為25mm，凹槽4的外緣有定位標示5，所說的樣品臺主體3由樣品臺底座3-1和無明顯X射線衍射信號和強烈背景的測量表面3-2構成，所說的測量表面3-2依粘膠層與樣品臺底座3-1的上表面固定連接，測量表面3-2的外緣與樣品臺底座3-1的外緣形狀和尺寸相同。上述所說的符合布拉格-勃朗泰諾(B-B)衍射幾何并且樣品臺保持水平位置不動、X光源和探測器做Θ-Θ掃描的通用衍射儀為Bruker-AXS D8 Advance通用衍射儀。上述所說的樣品臺主體3的外形為長方體,長為50mm,寬為50mm,高為30mm。上述所說的凹槽4的形狀為圓柱形，它的截面的直徑為25mm。權利要求1.一種適合X射線衍射儀測量小塊不規則固體的樣品臺，它適用于符合布拉格-勃朗泰諾(B-B)衍射幾何并且樣品臺保持水平位置不動、X光源和探測器做Θ-Θ掃描的通用衍射儀，固定在通用衍射儀中的測量臺上的三個小柱子和彈簧托盤之間，其特征在于它由樣品臺主體和凹槽構成,所說的凹槽位于樣品臺主體的中心位置，凹槽的深度為2-25mm，凹槽的外緣有定位標示，所說的樣品臺主體由樣品臺底座和無明顯X射線衍射信號和強烈背景的測量表面構成，所說的測量表面依粘膠層與樣品臺底座的上表面固定連接，測量表面的外緣與樣品臺底座的外緣形狀和尺寸相同。
2.根據權利要求I所說的ー種適合X射線衍射儀測量小塊不規則固體的樣品臺，其特征在于所說的符合布拉格-勃朗泰諾(B-B)衍射幾何并且樣品臺保持水平位置不動、X光源和探測器做Θ-Θ掃描的通用衍射儀為Bruker-AXS D8 Advance通用衍射儀。
3.根據權利要求I所說的ー種適合X射線衍射儀測量小塊不規則固體的樣品臺，其特征在于所說的樣品臺主體的外形為長方體，長為50mm,寬為50mm,高為30mm。
4.根據權利要求I所說的ー種適合X射線衍射儀測量小塊不規則固體的樣品臺，其特征在于所說的凹槽的形狀為圓柱形，它的截面的直徑為20-25mm。
專利摘要本實用新型公開了一種適合X射線衍射儀測量小塊不規則固體的樣品臺，它由樣品臺主體和凹槽構成，所說的凹槽位于樣品臺主體的中心位置，凹槽的深度為2-25mm，凹槽的外緣有定位標示，所說的樣品臺主體由樣品臺底座和無明顯X射線衍射信號和強烈背景的測量表面構成，所說的測量表面依粘膠層與樣品臺底座的上表面固定連接，測量表面的外緣與樣品臺底座的外緣形狀和尺寸相同。本實用新型的優越性1、解決了現有的標準樣品臺無法測量小塊不規則固體樣品的問題；2生產成本低；3、在樣品槽中采用橡皮泥固定樣品，可根據需要調整樣品的高度，也保證了不規則樣品的固定；4、準確定位小塊不規則固體樣品；5、制作簡單、易于操作。
文檔編號G01N23/20GK202453307SQ201120555019
公開日2012年9月26日 申請日期2011年12月27日 優先權日2011年12月27日
發明者李勇, 李連起 申請人:國家納米技術與工程研究院