專利名稱：石英晶片檢測臺的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種檢測臺，尤其是石英晶片的檢測臺。
背景技術：
目前，在石英晶片制造行業中，對于石英晶片成品或半成品出品前需要對晶片進行檢測，檢測晶片是否有缺損，表面是否有劃傷等瑕疵，通常是將石英晶片逐個進行檢查，這種人工勞動極大地影響了工作效率，同時也增添了工作人員的工作負擔，費時費力。
實用新型內容本實用新型要解決的技術問題是提供一種石英晶片成品檢測臺，能夠快速地、成 批得檢測石英晶片成品或半成品的質量，提高了生產效率。本實用新型是通過以下技術方案來實現的。一種石英晶片檢測臺，其包括了透明的觀察板設置于頂部的檢測臺基座，觀察板設有至少一個石英晶片放置框，且其下方設有若干均勻布置的發光裝置于檢測臺基座內。進一步地，上述石英晶片放置框是由兩對隔板構成的，且上述兩對隔板與觀察板共圍成矩形體空間。進一步地，上述觀察板為玻璃制且厚度一致的平板。進一步地，上述發光裝置設為日光燈管。進一步地，上述日光燈管等間距得平行鋪設于檢測臺基座底部。本實用新型在使用時，將成品(半成品)的石英晶片，放入檢測臺的石英晶片放置框內，石英晶片組的兩端的石英晶片面貼于放置框的兩對應隔板內面，打開日光燈管，從石英晶片的正上方進行觀察，若出現非正常狀的陰影或者區別于正常顏色的亮點時，即為存在缺損的石英晶片。本實用新型的有益效果在于，通過發光裝置將光線打至觀察板的下板面，可清晰得觀察出石英晶片成品是否有缺陷或者劃傷，一次可檢測大量的石英晶片成品，節省了工作時間，提高了生產效率，減少了工作量以及工作負擔。
圖I為本實施案例石英晶片檢測臺的結構示意圖；圖2為圖I的A方向視角示意圖。
具體實施方式
下面根據附圖和實施例對本實用新型作進一步詳細說明。圖I為本實施案例石英晶片檢測臺的結構示意圖，圖2為圖I的A方向視角示意圖，參照圖I、圖2，本實用新型，石英晶片檢測臺1，是由檢測臺基座11、觀察板13、日光燈管
15、石英晶片放置框17構成的，其中日光燈管15設有3個，石英晶片放置框17設有2個。[0016]檢測臺基座11是由底板111、兩對側板即側板113、117和側板115、119圍成的頂部開放式的箱體結構。觀察板13固定在檢測臺基座11的頂端，觀察板13是由玻璃板制作的，并且觀察板13的厚度沒有變化即為等厚板。觀察板13的上端面設置了 2個石英晶片放置框17，石英晶片放置框17是由兩對隔板即隔板171、175和隔板173、177與觀察板13共同構成的，并且共同圍成的空間為矩形體，同時這2個石英晶片放置框17相互平行得設置在觀察板13上端面。本實用新型在使用時，將待檢的石英晶片，放入檢測臺I的石英晶片放置框17內，石英晶片組的兩端的石英晶片面貼于放置框的兩對應隔板171、175的內面處，打開3個日光燈管15，從石英晶片組的正上方進行觀察，若出現非正常狀的陰影或者區別于正常顏色的売點時，即為存在缺損的石英晶片。綜上所述，本實用新型，石英晶片檢測臺可一次性檢測大量的石英晶片，節省了工作時間，提高石英晶片檢測精準度，減少了工作量以及工作負擔。 上述實施例只為說明本實用新型的技術構思及特點，其目的在于讓熟悉此領域技術的人士能夠了解本實用新型內容并加以實施，并不能以此限制本實用新型的保護范圍。凡根據本實用新型精神實質所作的等效變化或修飾，都應涵蓋在本實用新型的保護范圍內。
權利要求1.一種石英晶片檢測臺，其特征在于，所述檢測臺包括了透明的觀察板設置于頂部的檢測臺基座，觀察板設有至少一個石英晶片放置框，且其下方設有若干均勻布置的發光裝置于檢測臺基座內。
2.根據權利要求I所述的石英晶片檢測臺，其特征在于，所述石英晶片放置框是由兩對隔板構成的，且上述兩對隔板與觀察板共圍成矩形體空間。
3.根據權利要求I所述的石英晶片檢測臺，其特征在于，所述觀察板為玻璃制且厚度一致的平板。
4.根據權利要求I所述的石英晶片檢測臺，其特征在于，所述發光裝置設為日光燈管。
5.根據權利要求4所述的石英晶片檢測臺，其特征在于，所述日光燈管等間距得平行鋪設于檢測臺基座底部。
專利摘要本實用新型公開了一種石英晶片檢測臺，其包括了透明的觀察板設置于頂部的檢測臺基座，觀察板設有至少一個石英晶片放置框，且其下方設有若干均勻布置的發光裝置于檢測臺基座內。本實用新型的優點在于能夠快速地、成批地檢測石英晶片成品或半成品的質量，提高了生產效率。
文檔編號G01N21/88GK202512065SQ20112042267
公開日2012年10月31日 申請日期2011年10月31日 優先權日2011年10月31日
發明者夏金鑫, 朱正義, 杜剛, 王麗英 申請人:銅陵市三科電子有限責任公司