專利名稱：一種測量產品對位精度的工具的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種測量產品對位精度的工具。
背景技術：
目前，對于測量產品(如量測PCB板對位熱鉚后的重疊精度)對位精度一般采用以下方式制作與制品相同的模型，然后對模型采用專門的測量工具一一進行測量，從而判斷產品是否合格。這樣的測量方法雖然比較精準，但是比較耗費時間，且模型容易變形，壽命短，成本也比較大。
發明內容本實用新型的目的是提供一種測量產品對位精度的工具。為達到上述目的，本實用新型采用的技術方案是一種測量產品對位精度的工具，該工具包括第一本體、第二本體，所述的第一本體的表面相對的開設有兩排第一孔，所述的第二本體的表面相對的開設有兩排第二孔，所述的第一孔的孔徑大于所述的第二孔的孔徑，當所述的第一本體、第二本體相重疊時，所述的第二孔位于所述的第一孔內。優選地，兩排所述的第一孔開設在所述的第一本體靠近兩條邊的表面，兩排所述的第二孔開設在所述的第二本體靠近兩條邊的表面。優選地，所述的第一本體、第二本體為兩塊鋼材片體。由于上述技術方案運用，本實用新型與現有技術相比具有下列優點本實用新型通過設置開設有孔的兩個本體，將其重疊后采用測量兩孔之間的偏差量來測量產品的對位精度，操作比較簡便，制作成本低。
附圖1為本實用新型的結構示意圖；附圖2為實施例中對位狀態示意圖；附圖3為實施例中偏差狀態示意圖。其中1、第一本體；10、第一孔；2、第二本體；20、第二孔。
具體實施方式
以下結合附圖及實施例對本實用新型作進一步描述如圖1所示的一種測量產品對位精度的工具，該工具包括第一本體1、第二本體2， 第一本體1、第二本體2為了方便制作可以選擇兩塊鋼材片體。第一本體1的表面相對的開設有兩排第一孔10，兩排第一孔10開設在第一本體1 靠近兩條邊的表面；第二本體2的表面相對的開設有兩排第二孔20，兩排第二孔20開設在第二本體2靠近兩條邊的表面，并且第一孔10的孔徑大于第二孔20的孔徑，第一本體10、第二本體20相重疊時，第二孔20位于第一孔10內。兩排第一孔10、第二孔20的每個孔徑大小按照遞增或遞減設計，便于人員目視，孔與孔之間距離大約10mm。以下具體闡述下本實施例的工作原理第一本體1、第二本體2是根據產品所制作的模型，第一孔10、第二孔20的孔徑是根據產品的偏差范圍進行開設，如第一孔10的孔徑為Φ1. Omm ；第二孔的孔徑為Φ0. 5mm, 進行對位測量時，將第一本體1、第二本體2完全重疊，此時，第二孔20會落入第一孔10內。 當產品完全對位時，第一孔10、第二孔20的圓心重合，第一孔10的孔徑減去第二孔20的孔徑1.0- 0.5=0. 5mm，這樣單邊存在0.25mm的相等量，如圖2所示；當產品不完全對位時，第一孔10、第二孔20的圓心偏差，這樣單邊存在不相等的偏差量，如0. lmm、0. 4mm或 0. 2mm、0. 3mm等，如圖3所示，此時根據產品所允許的偏差范圍來判斷其是否在允許范圍之內，從而確定產品是否合格。上述實施例只為說明本實用新型的技術構思及特點，其目的在于讓熟悉此項技術的人士能夠了解本實用新型的內容并據以實施，并不能以此限制本實用新型的保護范圍。 凡根據本實用新型精神實質所作的等效變化或修飾，都應涵蓋在本實用新型的保護范圍之內。
權利要求1.一種測量產品對位精度的工具，其特征在于該工具包括第一本體、第二本體，所述的第一本體的表面相對的開設有兩排第一孔，所述的第二本體的表面相對的開設有兩排第二孔，所述的第一孔的孔徑大于所述的第二孔的孔徑，當所述的第一本體、第二本體相重疊時，所述的第二孔位于所述的第一孔內。
2.根據權利要求1所述的一種測量產品對位精度的工具，其特征在于兩排所述的第一孔開設在所述的第一本體靠近兩條邊的表面，兩排所述的第二孔開設在所述的第二本體靠近兩條邊的表面。
3.根據權利要求1所述的一種測量產品對位精度的工具，其特征在于所述的第一本體、第二本體為兩塊鋼材片體。
專利摘要本實用新型涉及一種測量產品對位精度的工具，該工具包括第一本體、第二本體，所述的第一本體的表面開設有兩排第一孔，所述的第二本體的表面開設有兩排第二孔，所述的第一孔的孔徑大于所述的第二孔的孔徑，當所述的第一本體、第二本體相重疊時，所述的第二孔位于所述的第一孔內。本實用新型通過設置開設有孔的兩個本體，將其重疊后采用測量兩孔之間的偏差量來測量產品的對位精度，操作比較簡便，制作成本低。
文檔編號G01B5/00GK202284937SQ20112040827
公開日2012年6月27日 申請日期2011年10月25日 優先權日2011年10月25日
發明者馮友利, 鄭昌新 申請人:昆山鼎鑫電子有限公司