專利名稱：微分頭示值誤差的檢定測試用工裝的制作方法
技術領域：
、本實用新型屬于檢定測試技術，涉及用一種裝置檢定微分頭示值誤差的檢定測試
用工裝O
背景技術：
在微分頭示值誤差的檢定時，由于微分頭剛度大，精度要求高，其檢定過程無便捷、可靠的檢測方法，導致檢測效率很低。目前一種現有的微分頭示值誤差的檢定，以5等專用量塊作標，用千分尺弓架作夾具。檢定時，首先要選擇相應規格的千分尺，拆卸其弓架與微分頭相配。因千分尺弓架測砧和微分頭工作面不平行，導致檢定結果不可靠。
發明內容實用新型的目的是提出一種檢定精度高、檢定方便的微分頭示值誤差的檢定測 1 式用工^^ ο實用新型的技術方案是一種微分頭示值誤差的檢定測試用工裝，包括安裝在工裝基座上的作為裝夾機構的滑動裝置和作為測試基準機構的固定裝置，所述固定裝置上設有末端具有調零旋扭的固定套筒，該固定套筒內具有直進式微調測砧，所述直進式微調測砧前端設置有球形測帽；所述滑動裝置包括依次相連的微分頭固定套筒、活動套筒和測力棘輪，其中，微分頭測桿裝在微分頭固定套筒內，且測試時，所述球形測帽之間和微分頭測桿之間放置標準樣塊。所述標準樣塊為5等量塊或相應等級的專用量塊。所述滑動裝置由滑塊緊固螺釘固定在工裝基座上。所述固定套筒、微分測量桿以及固定裝置均由固定螺釘固定。實用新型的優點是本實用新型微分頭示值誤差的檢定測試用工裝結構設計符合阿貝原則，解決了微分頭與千分尺弓架裝夾中因配合不當而影響檢定結果的難題，能在檢定過程方便地對微分頭示值誤差進行快捷、穩定、有效的檢定，避免了不必要的浪費，有效提高了檢定過程的穩定性，檢定結果的可靠性和檢定效率，保證了檢定質量。
圖1是本實用新型微分頭示值誤差的檢定測試用工裝的結構示意圖；其中，1-調零旋扭、2-固定套筒、3-微調測砧、4-球形測帽、5-微分頭測桿、6-活動套筒、7-測力棘輪、8-微分頭固定套筒、9-滑動裝置、10-固定裝置、12-緊固螺釘、13-滑塊緊固螺釘、15-工裝基座、16-專用量塊。
具體實施方式
下面對本實用新型做進一步詳細說明。[0013]請參見圖1，其是本實用新型微分頭示值誤差的檢定測試用工裝的結構示意圖。所述微分頭檢定測試用工裝包括安裝在工裝基座15上的滑動裝置9和固定裝置10。其中，所述固定裝置10上設有末端具有調零旋扭1的固定套筒2，該固定套筒內具有直進式微調測砧3，所述直進式微調測砧3前端設置有球形測帽4。另外，所述固定裝置10上設置有用于緊固直進式微調測砧3的緊固螺釘12。所述裝配好的調零旋扭1、固定套筒2、直進式微調測砧3、球形測帽4、固定裝置10和緊固螺釘12組成測試基準機構。所述滑動裝置9包括依次相連的微分頭固定套筒8、活動套筒6和測力棘輪7。其中，微分頭測桿5裝在微分頭固定套筒8內，并由緊固螺釘12固定，而測力棘輪7與活動套筒6相連。整個滑動裝置9由滑塊緊固螺釘13固定在工裝基座15上。所述微分頭固定套筒8、活動套筒6和測力棘輪7以及緊固螺釘組成裝夾機構。該工裝實際工作時把微分頭裝夾在滑動裝置9中，鎖緊緊固螺釘，調整微分頭處于待檢狀態。轉動測力棘輪7使微分頭測桿5的工作面與球形測帽4接觸，利用調零旋鈕 1調整好零位。然后，分別鎖緊緊固螺釘12和滑塊緊固螺釘13，即可進行檢定測試。將5等量塊或相應等級的專用量塊16依次放入微分頭測桿5的工作面和球形測帽4之間。再利用微分頭測力棘輪7使微分頭測桿5的工作面、專用量塊16的工作而以及球形測帽4相接觸，讀取微分頭固定套筒8上露出的刻線和微分頭活動套筒6上刻線顯示的示值。該檢測點的示值與量塊標稱尺寸之差即為該點的示值誤差。本實用新型微分頭示值誤差的檢定測試用工裝結構設計符合阿貝原則，解決了微分頭與千分尺弓架裝夾中因配合不當而影響檢定結果的難題，能在檢定過程方便地對微分頭示值誤差進行檢定，避免了不必要的浪費，有效提高了檢定過程的穩定性，檢定結果的可靠性，保證了檢定質量，提高工作效率5倍。達到了快捷、穩定、有效的目的。
權利要求1.一種微分頭示值誤差的檢定測試用工裝，包括安裝在工裝基座[15]上的作為裝夾機構的滑動裝置[9]和作為測試基準機構的固定裝置[10]，其特征在于所述固定裝置 [10]上設有末端具有調零旋扭[1]的固定套筒[2]，該固定套筒內具有直進式微調測砧 [3]，所述直進式微調測砧[3]前端設置有球形測帽[4]；所述滑動裝置[9]包括依次相連的微分頭固定套筒[8]、活動套筒[6]和測力棘輪[7]，其中，微分頭測桿[5]裝在微分頭固定套筒[8]內，且測試時，所述球形測帽[4]之間和微分頭測桿[5]之間放置標準樣塊。
2.根據權利要求1所述的微分頭示值誤差的檢定測試用工裝，其特征在于所述標準樣塊為5等量塊或相應等級的專用量塊。
3.根據權利要求2所述的微分頭示值誤差的檢定測試用工裝，其特征在于所述滑動裝置[9]由滑塊緊固螺釘[13]固定在工裝基座[15]上。
4.根據權利要求3所述的微分頭示值誤差的檢定測試用工裝，其特征在于所述固定套筒、微分測量桿以及固定裝置均由固定螺釘固定。
專利摘要本實用新型屬于檢定測試技術，涉及一種用于檢定微分頭示值誤差的檢定測試用工裝。所述微分頭示值誤差的檢定測試用工裝，包括安裝在工裝基座上的作為裝夾機構的滑動裝置和作為測試基準機構的固定裝置，所述固定裝置上設有末端具有調零旋扭的固定套筒，該固定套筒內具有直進式微調測砧，所述直進式微調測砧前端設置有球形測帽；所述滑動裝置包括依次相連的微分頭固定套筒、活動套筒和測力棘輪，其中，微分頭測桿裝在微分頭固定套筒內，且測試時，所述球形測帽之間和微分頭測桿之間放置標準樣塊。本實用新型能在檢定測試過程方便地對微分頭示值誤差進行檢定，保證了測試精度，大大提高了測試效率。
文檔編號G01B21/00GK202304781SQ20112037862
公開日2012年7月4日 申請日期2011年9月29日 優先權日2011年9月29日
發明者楊曉云, 王榮芳, 范學江, 趙曉琴, 韓敏 申請人:中國航空工業第六一八研究所