專利名稱：一種smd led貼片分光機用芯片探測裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及LED分光機技術領域，特別是涉及一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置。
背景技術：
貼片式發光二極管(SMD LED)是一種新型表面貼裝式半導體發光器件，具有體積小、散射角大、發光均勻性好、可靠性高等優點，發光顏色包括白光在內的各種顏色，因此， 被廣泛應用于顯示屏、液晶面板背光、裝飾燈光和通用照明等各種電子產品上。由于LED封裝出廠前必須進行分色分光處理，按照波長、亮度和工作電壓等參數把LED分成很多檔(Bin)和類別，然后自動根據設定的測試標準把LED分裝在不同的Bin管內。現有技術中的LED分光機包括LED直插分光機、SMD( surface mount device) LED 貼片分光機、大功率LED分光機等。SMD LED貼片分光機就是對SMD LED進行在線分類的一種專用設備，其結構主要包括高速光學光譜儀、電參量測量儀和機械傳送系統。具體的， 其機械傳送系統主要包括振動入料、吸料移送、芯片定位、芯片測試、芯片轉向、分料機構、 收料機構等。芯片測試是LED分光機的核心機構，測試時，芯片電極與探針應充分接觸并保持一定的接觸壓力，這種通過相對運動接觸檢測然后脫離的過程，一般有兩種實現方式一種是帶有緩沖功能的探針固定，芯片移向探針，探針接觸到芯片電極后緩沖保持接觸，檢測后芯片再移開；另一種是芯片固定不動，探針機構移動接觸芯片的各個電極，探針也有緩沖機構，接觸后緩沖保持接觸，檢測后芯片電極再移開。上述探針固定緩沖的方案，對探針的結構要求較簡單，多數為針形結構，其具體結構為在針管內放置彈簧，針軸在針管內可彈性伸縮，然而，這種針形結構的探針頂住芯片電極時，由于接觸面小、接觸電阻大、接觸部位容易氧化，使得一方面對芯片電極有影響，另一方面探針表面氧化也會影響導電性能，從而導致測量結果不準確。再者，針管內的彈簧壽命也有限，這種針形結構的探針的運動壽命一般在 100萬次以內，尺寸越小，壽命越短。由于LED芯片數量大，檢測速度高，當前主流檢測速度為20KUPH，即一秒鐘要檢測 6顆LED芯片，按照一天12小時測量計算，每月的檢測量最高可達720萬顆芯片。因此，上述針形結構的探針，最大的問題就是探針的壽命問題，由于探針更換頻繁，探針將作為易損件，間隔不到5天就要更換一次，導致設備成本不斷增加，而且在更換探針的同時需要停機操作，進而影響整個設備的工作效率。因此，為解決上述問題，亟需提供一種結構簡單、測試精確，且能夠避免頻繁更換探針的SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置的技術尤為重要。
實用新型內容本實用新型的目的在于避免現有技術中的不足之處而提供一種結構簡單、測試精確，且能夠避免頻繁更換探針的SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置。本實用新型的目的通過以下技術方案實現提供一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置，包括有支撐板，所述支撐板的一側設置有驅動源，所述支撐板的另一側設置有彈性探針組件和同步驅動機構，所述同步驅動機構的一端與所述驅動源連接，所述同步驅動機構的另一端與所述彈性探針組件配合連接，所述驅動源驅動所述同步驅動機構，所述彈性探針組件在所述同步驅動機構的作用下可同時接觸或者遠離待測試芯片。其中，所述彈性探針組件包括有第一彈性探針組件和第二彈性探針組件，所述第一彈性探針組件和所述第二彈性探針組件分別包括有探針片、探針滑軌、滑動桿、彈簧和滑動桿座，所述探針滑軌設置有導向槽，所述探針片與所述導向槽滑動配合，所述探針片的尾端與所述滑動桿的一端抵接，所述滑動桿的另一端通過所述彈簧與所述滑動桿座配合連接。其中，所述同步驅動機構包括有轉動件、第一銷軸、第二銷軸、第一連桿滑塊機構、 第二連桿滑塊機構以及第一滑軌和第二滑軌；所述第一連桿滑塊機構包括有第一驅動連桿和第一滑塊，所述第二連桿滑塊機構包括有第二驅動連桿和第二滑塊；所述第一滑軌和所述第二滑軌均設置于所述支撐板；所述轉動件的一端與所述驅動源連接，所述轉動件的另一端設置有第一偏心軸孔和第二偏心軸孔，所述第一銷軸的一端部與所述第一偏心軸孔配合連接，所述第一銷軸的另一端部與所述第一驅動連桿的一端連接，所述第一驅動連桿的另一端與所述第一滑塊連接，所述第一滑塊與所述第一滑軌配合連接；所述第二銷軸的一端部與所述第二偏心軸孔配合連接，所述第二銷軸的另一端部與所述第二驅動連桿的一端連接，所述第二驅動連桿的另一端與所述第二滑塊連接，所述第二滑塊與所述第二滑軌配合連接；所述第一彈性探針組件設置于所述第一滑塊，所述第二彈性探針組件設置于所述第二滑塊。其中，所述第一偏心軸孔與所述轉動件的回轉中心之間的距離等于所述第二偏心軸孔與所述轉動件的回轉中心之間的距離。其中，所述第一滑塊設置有第一限位彈簧，所述第一限位彈簧的一端與所述第一滑塊連接，所述第一限位彈簧的另一端與設置于所述支撐板的第一定位柱連接；所述第二滑塊設置有第二限位彈簧，所述第二限位彈簧的一端與所述第二滑塊連接，所述第二限位彈簧的另一端與設置于所述支撐板的第二定位柱連接。其中，所述第一連桿滑塊機構還包括有第一托板，所述第一托板與所述第一滑塊連接，所述第一彈性探針組件設置于所述第一托板；所述第二連桿滑塊機構還包括有第二托板，所述第二托板與所述第二滑塊連接，所述第二彈性探針組件設置于所述第二托板。其中，所述第一彈性探針組件和所述第二彈性探針組件的探針片均設置有兩個。其中，所述第一彈性探針組件和所述第二彈性探針組件的探針片的上方均設置有探針蓋板；所述第一彈性探針組件和所述第二彈性探針組件的滑動桿座的尾端均設置有滑動桿座蓋板。其中，所述支撐板設置有限位固定塊。其中，所述驅動源為電動機。本實用新型的有益效果[0021]本實用新型的一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置，包括有支撐板，該支撐板的一側設置有驅動源，該支撐板的另一側設置有彈性探針組件和同步驅動機構，同步驅動機構的一端與驅動源連接，同步驅動機構的另一端與彈性探針組件配合連接，驅動源驅動同步驅動機構，彈性探針組件在同步驅動機構的作用下可同時接觸或者遠離待測試芯片。 本實用新型是一種基于芯片固定、探針移動的芯片探測裝置。與現有技術相比，具有結構簡單、容易實現、能夠避免頻繁更換探針的特點，而且能夠保證測試精度，并且探針片的使用壽命為現有技術針式結構的探針的30倍以上。
利用附圖對實用新型作進一步說明，但附圖中的實施例不構成對本實用新型的任何限制，對于本領域的普通技術人員，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據以下附圖獲得其它的附圖。圖1是本實用新型的一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置的結構示意圖。圖2是本實用新型的一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置的分解結構示意圖。圖3是本實用新型的一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置的機構原理示意圖。圖4是本實用新型的一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置的彈性探針組件的分解結構示意圖。圖5是本實用新型的一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置的同步驅動機構的結構示意圖。在圖1、圖2、圖3、圖4和圖5中包括有1—支撐板、11—限位固定塊、2——驅動源、3——彈性探針組件、31——探針蓋板、32——探針片、33——探針滑軌、331—— 導向槽、34——滑動桿、35——彈簧、36——滑動桿座、361——滑動桿孔、37——滑動桿座蓋板、[0032]4——同步驅動機構、41——轉動件、42——第一銷軸、43——第一驅動連桿、 441——第一滑動板、442——第一滑塊、443——第一滑軌、444——第一托板、445——第一限位彈簧、446——第一定位柱、45——第二銷軸、46——第二驅動連桿、471——第二滑動板、472——第二滑塊、473——第二滑軌、474——第二托板、475——第二限位彈簧、 476——第二定位柱、5-芯片。
具體實施方式
結合以下實施例對本實用新型作進一步描述。實施例1本實用新型的一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置的具體實施方式
之一，如圖1、圖2和圖3所示，包括有支撐板1，支撐板1的一側設置有驅動源2，支撐板1的另一側
6設置有彈性探針組件3和同步驅動機構4，同步驅動機構4的一端與驅動源2連接，同步驅動機構4的另一端與彈性探針組件3配合連接，驅動源2驅動同步驅動機構4，彈性探針組件3在同步驅動機構4的作用下可同時接觸或者遠離待測試的芯片5。本實用新型是一種基于芯片5固定、探針移動的芯片探測裝置。與現有技術相比，具有結構簡單、容易實現、能夠避免頻繁更換探針的特點，而且能夠保證測試精度，并且探針片32的使用壽命為現有技術針式結構的探針的30倍以上。工作原理芯片5從芯片定位和芯片轉向工位旋轉到芯片測試的工位時，系統給出開始測試的信號，驅動源2啟動，從而同步驅動機構4工作，在同步驅動機構4的作用下， 彈性探針組件3可同時隨同步驅動機構4被推出或者拉回，從而實現彈性探針組件3能夠從芯片5的兩側同時靠近接觸芯片電極或者遠離芯片電極。實施例2本實用新型的一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置的具體實施方式
之二，如圖4和圖5所示，本實施例的主要技術方案與實施例1相同，在本實施例中未解釋的特征， 采用實施例1中的解釋，在此不再進行贅述。本實施例與實施例1的區別在于，彈性探針組件3包括有第一彈性探針組件和第二彈性探針組件，第一彈性探針組件和第二彈性探針組件分別包括有探針片32、探針滑軌 33、滑動桿34、彈簧35和滑動桿座36，探針滑軌33設置有導向槽331，探針片32與導向槽 331滑動配合，探針片32的尾端與滑動桿34的一端抵接，滑動桿34的另一端通過彈簧35 與滑動桿座36配合連接。滑動桿座36設置有與滑動桿34相配合的滑動桿孔361，滑動桿 34可在滑動桿孔361內往復運動。探針片32可沿探針滑軌33中的導向槽331的軌道滑動，彈簧35通過滑動桿34 將探針片32壓向最前端，探針片32的尾端卡設于導向槽331外的槽壁，構成彈簧緩沖。探針片32接觸芯片電極后，需要保持一定的接觸壓力便于可靠測量芯片5的光電參數，但壓力不可以過大，否則會損壞探針片32和芯片電極，因此，采用彈簧緩沖，使得當探針片32的前端接觸到芯片電極時，受到來自芯片電極的外力(即與彈簧35壓力相反方向的外力)，探針片32在彈簧35的作用下可相對于探針滑軌33作緩沖移動向后收縮，當此外力消除時， 探針片32恢復初始伸長狀態。設置導向槽331，對探針片32的滑動起到導向作用，由于探針片32是嵌設于導向槽331內、并與導向槽331滑動配合，從而限制了探針片32的五個自由度，僅保留了一個往返運動的自由度，確保導向精確。導向槽331的材料采用硬度較大的材料制造，由于探針片 32在導向槽331的運動是高頻率的運動，探針片32在導向槽331中運動時產生摩擦，使得探針片32逐漸被磨損，然而探針片32的壽命與現有技術中的針形結構的探針相比，使用壽命可以達到3000萬次，即4個月更換一次，更換方便，提升了芯片測試探針裝置的測試效率。支撐板1包括第一托板444和第二托板474，第一托板444和第二托板474之間留空，用于芯片5的輸送，第一托板444用于支撐第一彈性探針組件，第二托板474用于支撐第二彈性探針組件。具體的，同步驅動機構4包括有轉動件41、第一銷軸42、第二銷軸45、第一連桿滑塊機構、第二連桿滑塊機構以及第一滑軌443和第二滑軌473;第一連桿滑塊機構包括有第一驅動連桿43和第一滑塊442，第二連桿滑塊機構包括有第二驅動連桿46和第二滑塊 472 ；第一滑軌443和第二滑軌473均設置于支撐板1 ；轉動件41的一端與驅動源2連接， 轉動件41的另一端設置有第一偏心軸孔和第二偏心軸孔，第一銷軸42的一端部與第一偏心軸孔配合連接，第一銷軸42的另一端部與第一驅動連桿43的一端連接，第一驅動連桿43 的另一端與第一滑塊442連接，第一滑塊442與第一滑軌443配合連接；第二銷軸45的一端部與第二偏心軸孔配合連接，第二銷軸45的另一端部與第二驅動連桿46的一端連接，第二驅動連桿46的另一端與第二滑塊472連接，第二滑塊472與第二滑軌473配合連接；第一彈性探針組件設置于第一滑塊442，第二彈性探針組件設置于第二滑塊472。探針片32 的同步驅動機構4為由同一個轉動件41驅動的兩個連桿滑塊機構實現。另外，第一連桿滑塊機構還設置有第一滑動板441，第一滑動板441的下表面與第一滑塊442連接，第一滑動板441的上表面設置有第一彈性探針組件，該第一彈性探針組件在第一滑塊442的帶動下，帶動第一滑動板441往復運動，增設第一滑動板441可以在第一滑動板441設置安裝第一彈性探針組件的安裝孔，而不損壞第一滑塊442 ；同理，第二連桿滑塊機構還設置有第二滑動板471，第二滑動板471的下表面與第二滑塊472連接，第二滑動板471的上表面設置有第二彈性探針組件，該第二彈性探針組件在第二滑塊472的帶動下，帶動第二滑動板471往復運動，增設第二滑動板471可以在第二滑動板471設置安裝第二彈性探針組件的安裝孔，而不損壞第二滑塊472。工作原理芯片5從定位和轉向工位旋轉到芯片測試的工位，系統給出開始測試的信號。此時，驅動源2啟動，帶動轉動件41旋轉，轉動件41分別帶動第一連桿滑塊機構和第二連桿滑塊機構運動，轉動件41在驅動源2的帶動下逆時針轉動時，第一驅動連桿43和第二驅動連桿46分別拉動第一彈性探針組件和第二彈性探針組件向相反的方向移動，第二彈性探針組件被推出，第一彈性探針組件被拉回。此時，兩組彈性探針組件3的將位于兩個組件中間的芯片5夾緊，當兩組彈性探針組件3中的探針片32接觸芯片電極時，在第一限位彈簧445和第二限位彈簧475的作用下保持一定的彈性壓力，然后給電極通電測試；測試完成后，轉動件41在驅動源2的帶動下順時針轉動時，第一驅動連桿43和第二驅動連桿 46分別拉動第一彈性探針組件和第二彈性探針組件向相反的方向移動，第二彈性探針組件被拉回，第一彈性探針組件被推出，然后測試后的芯片5進入下一步工序。具體的，第一滑塊442設置有第一限位彈簧445，第一限位彈簧445的一端與第一滑塊442連接，第一限位彈簧445的另一端與設置于支撐板1的第一定位柱446連接；第二滑塊472設置有第二限位彈簧475，第二限位彈簧475的一端與第二滑塊472連接，第二限位彈簧475的另一端與設置于支撐板1的第二定位柱476連接。具體的，第一彈性探針組件和第二彈性探針組件的探針片32均設置有兩個。分別對應芯片電極。具體的，第一彈性探針組件和第二彈性探針組件的探針片32均為鎢鋼制成。采用鎢鋼制作探針片32，是由于其具有耐磨、韌性好、抗氧化、導電性強等特點。具體的，第一彈性探針組件和第二彈性探針組件的探針片32的上方均設置有探針蓋板31 ；第一彈性探針組件和第二彈性探針組件的滑動桿座36的尾端均設置有滑動桿座蓋板37。探針蓋板31限制探針片32的向上運動，滑動桿座蓋板37限制滑動桿34向后移動的最大位移。[0051]具體的，支撐板1設置有限位固定塊11。限制第二彈性探針組件進一步向轉動件 41的方向滑動，避免第二彈性探針組件與轉動件41碰撞。具體的，驅動源2為電動機。電動機的電機輸出軸與轉動件41的軸心的軸孔樞接， 轉動件41的轉動靠電動機直接驅動實現。實施例3本實用新型的一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置的具體實施方式
之三，本實施例的主要技術方案與實施例2相同，在本實施例中未解釋的特征，采用實施例2中的解釋，在此不再進行贅述，本實施例與實施例2的區別在于，第一偏心軸孔與轉動件41的回轉中心之間的距離等于第二偏心軸孔與轉動件41的回轉中心之間的距離。更好的滿足同步驅動，而且受力均勻，沒有滯后性，提高了第一連桿滑塊機構和第二連桿滑塊機構的傳動精準性。最后應當說明的是，以上實施例僅用以說明本實用新型的技術方案，而非對本實用新型保護范圍的限制，盡管參照較佳實施例對本實用新型作了詳細地說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本實用新型的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本實用新型技術方案的實質和范圍。
權利要求1.一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置，其特征在于包括有支撐板，所述支撐板的一側設置有驅動源，所述支撐板的另一側設置有彈性探針組件和同步驅動機構，所述同步驅動機構的一端與所述驅動源連接，所述同步驅動機構的另一端與所述彈性探針組件配合連接，所述驅動源驅動所述同步驅動機構，所述彈性探針組件在所述同步驅動機構的作用下可同時接觸或者遠離待測試芯片。
2.根據權利要求1所述的一種SMDLED貼片分光機用芯片探測裝置，其特征在于所述彈性探針組件包括有第一彈性探針組件和第二彈性探針組件，所述第一彈性探針組件和所述第二彈性探針組件分別包括有探針片、探針滑軌、滑動桿、彈簧和滑動桿座，所述探針滑軌設置有導向槽，所述探針片與所述導向槽滑動配合，所述探針片的尾端與所述滑動桿的一端抵接，所述滑動桿的另一端通過所述彈簧與所述滑動桿座配合連接。
3.根據權利要求2所述的一種SMDLED貼片分光機用芯片探測裝置，其特征在于所述同步驅動機構包括有轉動件、第一銷軸、第二銷軸、第一連桿滑塊機構、第二連桿滑塊機構以及第一滑軌和第二滑軌；所述第一連桿滑塊機構包括有第一驅動連桿和第一滑塊，所述第二連桿滑塊機構包括有第二驅動連桿和第二滑塊；所述第一滑軌和所述第二滑軌均設置于所述支撐板；所述轉動件的一端與所述驅動源連接，所述轉動件的另一端設置有第一偏心軸孔和第二偏心軸孔，所述第一銷軸的一端部與所述第一偏心軸孔配合連接，所述第一銷軸的另一端部與所述第一驅動連桿的一端連接，所述第一驅動連桿的另一端與所述第一滑塊連接，所述第一滑塊與所述第一滑軌配合連接；所述第二銷軸的一端部與所述第二偏心軸孔配合連接，所述第二銷軸的另一端部與所述第二驅動連桿的一端連接，所述第二驅動連桿的另一端與所述第二滑塊連接，所述第二滑塊與所述第二滑軌配合連接；所述第一彈性探針組件設置于所述第一滑塊，所述第二彈性探針組件設置于所述第二滑塊。
4.根據權利要求3所述的一種SMDLED貼片分光機用芯片探測裝置，其特征在于所述第一偏心軸孔與所述轉動件的回轉中心之間的距離等于所述第二偏心軸孔與所述轉動件的回轉中心之間的距離。
5.根據權利要求3所述的一種SMDLED貼片分光機用芯片探測裝置，其特征在于所述第一滑塊設置有第一限位彈簧，所述第一限位彈簧的一端與所述第一滑塊連接，所述第一限位彈簧的另一端與設置于所述支撐板的第一定位柱連接；所述第二滑塊設置有第二限位彈簧，所述第二限位彈簧的一端與所述第二滑塊連接，所述第二限位彈簧的另一端與設置于所述支撐板的第二定位柱連接。
6.根據權利要求3所述的一種SMDLED貼片分光機用芯片探測裝置，其特征在于所述第一連桿滑塊機構還包括有第一托板，所述第一托板與所述第一滑塊連接，所述第一彈性探針組件設置于所述第一托板；所述第二連桿滑塊機構還包括有第二托板，所述第二托板與所述第二滑塊連接，所述第二彈性探針組件設置于所述第二托板。
7.根據權利要求2所述的一種SMDLED貼片分光機用芯片探測裝置，其特征在于所述第一彈性探針組件和所述第二彈性探針組件的探針片均設置有兩個。
8.根據權利要求2所述的一種SMDLED貼片分光機用芯片探測裝置，其特征在于所述第一彈性探針組件和所述第二彈性探針組件的探針片的上方均設置有探針蓋板；所述第一彈性探針組件和所述第二彈性探針組件的滑動桿座的尾端均設置有滑動桿座蓋板。
9.根據權利要求1所述的一種SMDLED貼片分光機用芯片探測裝置，其特征在于所述支撐板設置有限位固定塊。
10.根據權利要求1所述的一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置，其特征在于所述驅動源為電動機。
專利摘要一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置，包括有支撐板，支撐板的一側設置有驅動源，支撐板的另一側設置有彈性探針組件和同步驅動機構，同步驅動機構的一端與驅動源連接，同步驅動機構的另一端與彈性探針組件配合連接，驅動源驅動同步驅動機構，彈性探針組件在同步驅動機構的作用下可同時接觸或者遠離待測試芯片。本實用新型是一種基于芯片固定、探針移動的芯片探測裝置，與現有技術相比，具有結構簡單、容易實現、能夠避免頻繁更換探針的特點，而且能夠保證測試精度，并且探針片的使用壽命為現有技術針式結構的探針的30倍以上。
文檔編號G01R1/067GK202210136SQ201120308620
公開日2012年5月2日 申請日期2011年8月23日 優先權日2011年8月23日
發明者吳濤, 李斌, 秦小平 申請人:廣東志成華科光電設備有限公司