專利名稱：恒溫老化裝置的制作方法
技術領域：
恒溫老化裝置
技術領域：
本實用新型涉及一種恒溫老化裝置，特別是涉及一種待測物品受熱均勻的恒溫老
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背景技術：
隨著科技的發展進步，電子產品越來越廣泛的應用于家庭和辦公場合。而一些電子產品(如筆記本電腦)在出廠前需要經過老化測試，老化測試的目的是使產品的缺陷在出廠前暴露出來，如焊點連接的可靠性，產品在設計、材料和工藝等方面的各種缺陷，以便提高產品的穩定性，在出廠前發現一些缺陷并進行彌補，減少產品的返修率。目前的恒溫老化裝置，包括恒老化架，待測物品放入老化架中，老化架內設有燈泡，通過打開所述燈泡加熱使得所述老化架內達到預設溫度(例如40°C)，所述老化架內還設有溫控探頭，當所述老化架內的溫度超過預設溫度后，控制所述燈泡關閉，使得所述老化架內自然降溫，或者所述老化架一側還可以包括風扇，于此同時啟動風扇加速降溫。然而，采用以上恒溫老化裝置，由于采用燈泡對老化架內直接加熱，一方面會造成靠近燈泡的待測物品被烤壞的情形；另一方面會導致老化架內溫度不均，使得放置在老化架內的各待測物品的環境會存在差異，溫控探頭只探測到某個點的溫度，進而判斷進行加熱或者降溫也不準確，因此會造成測試結果不準確。PTC(positive temperature coefficient)為正溫度系數熱敏材料，它具有電阻率隨溫度升高而增大的特性。PTC材料的理論日趨成熟，應用范圍也不斷擴大。有鑒于此，實有必要開發一種恒溫老化裝置，以解決上述問題。
發明內容因此，本實用新型的目的在于提供一種恒溫老化裝置，可以提供較為準確的測試環境，且待測物品受熱均勻，避免烤壞。為了達到上述目的，本實用新型提供的恒溫老化裝置，包括老化架，其一側設有開門，所述開門關閉狀態，所述老化架內形成封閉空間，所述老化架的一面上設有開口，所述開口在所述老化架的外壁上的兩側凸設有滑槽，所述滑槽內插設有插板，所述插板遮覆所述開口 ；溫控探頭，其設于所述老化架內，檢測所述老化架內的環境溫度；繼電器，其與所述溫控探頭連接，獲取所述溫控探頭檢測到的環境溫度，并與一預設溫度比較；電磁閥，其與所述繼電器連接，受控于所述繼電器；汽缸，其與所述電磁閥連接，所述汽缸具有一伸縮桿，所述伸縮桿的一端連接于所述老化架的插板的一端，所述汽缸受控于所述電磁閥；PTC加熱器，其設于所述老化架內靠近底部位置，并與所述繼電器連接，當所述繼電器判斷所述老化架內的環境溫度小于所述預設溫度時，所述PTC加熱器啟動加熱。[0015]可選的，所述繼電器判斷所述老化架內的環境溫度大于所述預設溫度時，所述電磁閥控制所述汽缸的伸縮桿收縮，所述插板從所述滑槽內滑出，所述繼電器判斷所述老化架內的環境溫度小于所述預設溫度時，所述電磁閥控制所述汽缸的伸縮桿伸長，所述插板插入所述滑槽。可選的，所述老化架內設有若干個隔板，所述隔板上用以承載待測物品。可選的，所述開口設于所述老化架頂部。可選的，所述恒溫老化裝置還包括風扇，其設于所述老化架底部，并于所述PTC加熱器的下方。可選的，所述老化架內部后方還設有一散熱腔，所述PTC加熱器及所述風扇設于所述散熱腔內。相較于現有技術，利用本實用新型的恒溫老化裝置，由于采用PTC加熱器進行加熱，可以提供較為準確的測試環境。同時，由于采用風扇進行均溫以及設置散熱腔，可以達到增強上述均溫的效果。從而亦可以使得待測物品受熱均勻，避免烤壞。
圖1繪示為本實用新型的恒溫老化裝置一較佳實施例的第一狀態結構示意圖。圖2繪示為圖1的局部放大結構示意圖。圖3繪示為圖2的第二狀態示意圖。圖4繪示為圖1中開門隱藏后的結構示意圖。
具體實施方式請共同參閱圖1、圖2、圖3、圖4，圖1繪示為本實用新型的恒溫老化裝置一較佳實施例的第一狀態結構示意圖、圖2繪示為圖1的局部放大結構示意圖、圖3繪示為圖2的第二狀態示意圖、圖4繪示為圖1中開門隱藏后的結構示意圖。需要說明的是，各示意圖中并未顯示各元件間的線路連接。為了達到上述目的，本實用新型提供的恒溫老化裝置，于本實施例，包括老化架100，其一側設有開門101，所述開門101關閉狀態，所述老化架100內形成封閉空間，所述老化架100的一面上設有開口 102，所述開口 102在所述老化架100的外壁上的兩側凸設有滑槽103，所述滑槽103內插設有插板104，所述插板104遮覆所述開口 102 ；溫控探頭200，其設于所述老化架100內，檢測所述老化架100內的環境溫度；繼電器300，其與所述溫控探頭200連接，獲取所述溫控探頭200檢測到的環境溫
度，并與一預設溫度比較；電磁閥400，其與所述繼電器300連接，受控于所述繼電器300 ；汽缸500，其與所述電磁閥400連接，所述汽缸500具有一伸縮桿501，所述伸縮桿501的一端連接于所述老化架100的插板104的一端，所述汽缸500受控于所述電磁閥 400 ；PTC加熱器600，其設于所述老化架100內靠近底部位置，并與所述繼電器300連接，當所述繼電器300判斷所述老化架100內溫度小于所述預設溫度時，所述PTC加熱器600啟動加熱。其中，所述老化架100內設有若干個隔板105，所述隔板105上用以承載待測物品 (圖未示)。其中，所述開口 102設于所述老化架100頂部，以方便打開后向外散發熱量。其中，較佳的，所述恒溫老化裝置還包括風扇700，其設于所述老化架100底部，并于所述PTC加熱器600的下方。如此可以達到更快更均勻地使所述老化架100內部的環境
溫度升高。其中，較佳的，所述老化架100內部后方還設有一散熱腔800，所述PTC加熱器600 及所述風扇700設于所述散熱腔內，通過所述散熱腔800將所述PTC加熱器600所散發出來的熱量向前方傳導，如此可以達到更好的均溫效果。請再結合參閱圖2、圖3。其中，所述繼電器300判斷所述老化架100內溫度大于所述預設溫度時，所述電磁閥400控制所述汽缸500的伸縮桿501收縮，所述插板104從所述滑槽103內滑出，所述繼電器300判斷所述老化架100內的環境溫度小于所述預設溫度時，所述電磁閥400控制所述汽缸500的伸縮桿501伸長，所述插板104插入所述滑槽103。 從而可以通過對開口 102的關閉與打開，實現保溫與散熱。綜上，利用本實用新型的恒溫老化裝置，由于采用PTC加熱器600進行加熱，可以提供較為準確的測試環境。同時，由于采用風扇700進行均溫以及設置散熱腔800，可以達到增強上述均溫的效果。從而亦可以使得待測物品受熱均勻，避免烤壞。
權利要求1.一種恒溫老化裝置，其特征在于，包括老化架，其一側設有開門，所述開門關閉狀態，所述老化架內形成封閉空間，所述老化架的一面上設有開口，所述開口在所述老化架的外壁上的兩側凸設有滑槽，所述滑槽內插設有插板，所述插板遮覆所述開口 ；溫控探頭，其設于所述老化架內，檢測所述老化架內的環境溫度； 繼電器，其與所述溫控探頭連接，獲取所述溫控探頭檢測到的環境溫度，并與一預設溫度比較；電磁閥，其與所述繼電器連接，受控于所述繼電器；汽缸，其與所述電磁閥連接，所述汽缸具有一伸縮桿，所述伸縮桿的一端連接于所述老化架的插板的一端，所述汽缸受控于所述電磁閥；PTC加熱器，其設于所述老化架內靠近底部位置，并與所述繼電器連接，當所述繼電器判斷所述老化架內的環境溫度小于所述預設溫度時，所述PTC加熱器啟動加熱。
2.如權利要求1所述的恒溫老化裝置，其特征在于，所述繼電器判斷所述老化架內的環境溫度大于所述預設溫度時，所述電磁閥控制所述汽缸的伸縮桿收縮，所述插板從所述滑槽內滑出，所述繼電器判斷所述老化架內的環境溫度小于所述預設溫度時，所述電磁閥控制所述汽缸的伸縮桿伸長，所述插板插入所述滑槽。
3.如權利要求1或2所述的恒溫老化裝置，其特征在于，所述老化架內設有若干個隔板，所述隔板上用以承載待測物品。
4.如權利要求1或2所述的恒溫老化裝置，其特征在于，所述開口設于所述老化架頂部。
5.如權利要求1或2所述的恒溫老化裝置，其特征在于，所述恒溫老化裝置還包括風扇，其設于所述老化架底部，并于所述PTC加熱器的下方。
6.如權利要求5所述的恒溫老化裝置，其特征在于，所述老化架內部后方還設有一散熱腔，所述PTC加熱器及所述風扇設于所述散熱腔內。
專利摘要本實用新型揭示一種恒溫老化裝置，包括老化架，其一側設有開門，所述老化架的一面上設有開口，所述開口在所述老化架的外壁上的兩側凸設有滑槽，所述滑槽內插設有插板；溫控探頭，其設于所述老化架內，檢測所述老化架內的環境溫度；繼電器，其與所述溫控探頭連接，獲取所述溫控探頭檢測到的環境溫度，并與一預設溫度比較；電磁閥，其與所述繼電器連接，受控于所述繼電器；汽缸，其與所述電磁閥連接，且受控于所述電磁閥；PTC加熱器，其設于所述老化架內靠近底部位置，并與所述繼電器連接，當所述所述老化架內的環境溫度小于所述預設溫度時，所述PTC加熱器啟動加熱。從而可以提供較為準確的測試環境，且待測物品受熱均勻，避免烤壞。
文檔編號G01R31/00GK202166704SQ20112025177
公開日2012年3月14日 申請日期2011年7月18日 優先權日2011年7月18日
發明者王忠斌 申請人:神訊電腦(昆山)有限公司