專利名稱：一種接觸器觸頭參數的測試裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及電器產品參數的測試裝置，特別涉及一種接觸器觸頭參數的測試
直O
背景技術：
接觸器不僅能接通和切斷電路，而且還具有低電壓釋放保護作用。接觸器是控制電路控制系統中的重要元件之一。它的精密程度直接影響到自動控制系統的穩定性和安全性。接觸器的開距與超程參數是影響接觸器精密程度的最重要的參數之一。在傳統的開距與超程測試過程中，多采用卡尺進行測量。測試過程是當卡尺的深度尺頭部接觸接觸器的觸頭，在卡尺上記錄一個位置，深度尺頂著觸頭繼續前行至接觸器內部的動觸點與靜觸點接觸，此時測試燈亮。由此測試出接觸器的開距。這種測試方式的測試精度受限于操作者的責任心，身體素質，操作熟練程度等多因素的影響。
實用新型內容本實用新型為解決現有技術中存在的技術問題，提供了一種能精確且自動測試接觸器觸頭參數的測試裝置，接觸器觸頭參數包括接觸器的開距和超程。接觸器的開距是指接觸器動觸點和靜觸點之間的間隙。接觸器通電吸合時，接觸器動靜觸點導通時觸頭的位置至接觸器觸頭被磁力吸合時的極限位置，兩位置的距離即超程，即觸點導通后多行走的距離。在測試接觸器的開距時，因接觸器的動觸點與觸頭之間不會產生相對位移，所以測試過程中觸頭的位移即為動觸點的位移。本實用新型解決上述技術問題，提供的技術方案是提供接觸器觸頭參數的測試裝置，包括一驅動電機和一由驅動電機驅動的絲桿，還包括一由所述絲桿傳動的測試頭，其中，所述測試頭包括，一測試固定臺，所述測試固定臺兩端分別設有第一凸起和第二凸起； 一測針，所述測針從所述第一凸起穿出；一導電柱，所述導電柱固定于所述第二凸起，所述測針與所述導電柱之間有間隙；一彈簧，所述測針穿過彈簧的軸心；一信號采集單元，所述信號采集單元一端與所述測針電連接，另一端與所述導電柱電連接。作為本實用新型的一優選方案，所述測針上設有第一限位套和第二限位套，所述彈簧一端與所述第一限位套接觸，另一端與所述第一凸起的外壁接觸，所述第二限位套位于所述第一凸起的內壁。作為本實用新型的另一優選方案，所述第二凸起的內壁設有一彈簧座，所述彈簧一端固定于所述測針，另一端固定于所述彈簧座。作為本實用新型的再一優選方案，所述測針的頭部設有一鉗狀測頭。作為本實用新型的又一優選方案，所述測針與所述導電柱之間的間隙為0. 5mm 1. Omm0采用上述技術方案，相對于現有技術，取得的有益效果是(1)接觸器開距與超程的測試過程完全自動化，不需要考慮人為的因素導致測試的數據不準確。( 測針的頭部可以根據接觸器的多種形狀，進行相應的設計。如鉗狀測頭或直桿狀測頭等。(3)接觸器的開距與超程的測試可連續測試，無需更換組件，也無需對組件進行調整，提高測試效率。
圖1是本實用新型所述的接觸器觸頭參數的測試裝置示意圖；圖2是本實用新型所述的測試裝置的測試頭第一實施例示意圖；圖3是本實用新型所述的測試裝置的測試頭第二實施例示意圖；圖4是本實用新型所述的測試裝置的測試頭第二實施例俯視圖；圖5是本實用新型所述的接觸器觸頭參數的測試裝置及接觸器的結構示意圖；圖6是本實用新型所述的測試裝置測試接觸器開距的流程圖；圖7是本實用新型所述的測試裝置測試接觸器超程的流程圖。
具體實施方式
以下結合附圖及具體實施方式
詳細說明本實用新型的技術方案。如圖1、圖2所示，本實用新型所述的一種接觸器觸頭參數的測試裝置，包括驅動電機14、由驅動電機14驅動的絲桿12和由絲桿12傳動的測試頭10 ；測試頭10包括測試固定臺沈、測針20、導電柱M、彈簧22和信號采集單元16，測試固定臺沈兩端分別設有第一凸起26a和第二凸起^b，測針20從第一凸起26a穿出，導電柱M固定于第二凸起^b， 測針20與導電柱M之間有間隙，測針20穿過彈簧22的軸心，信號采集單元16 —端與測針20電連接，另一端與導電柱M電連接。驅動電機14通過伺服電機座11固定在軸承座 13上，軸承座13固定于支座17上，測試頭10固定在移動支架15上，移動支架15固定于滑塊19上。固定于移動支架15上的測試頭20可以在絲桿的帶動下移動。如圖2所示，本實用新型所述的接觸器觸頭參數測試裝置的測試頭第一實施例示意圖。測試頭10的測針20上設有第一限位套21a和第二限位套21b，彈簧22 —端與第一限位套21a接觸，彈簧22的另一端與第一凸起^a的外壁接觸，因此彈簧22被限位于第一限位套21a與第一凸起^a的外壁之間，彈簧22處于預壓縮狀態。第二限位套21b位于第一凸起26a的內壁，也即第一凸起26a與第二凸起26b之間，第二限位套21b可對彈簧22 進行限位。測針20的頭部是針狀針頭20a。測針20的尾部20b與導電柱M之間的間隙距離Δ，彈簧22的彈性系數需根據接觸器內部的彈簧的彈性系數來設定，以滿足測針在回退間隙距離Δ時，觸頭沒有發生位移。優選地，間隙距離Δ可選0. 5mm至1. 0mm。如圖3、圖4所示，本圖示出接觸器觸頭參數測試裝置的測試頭第二實施例示意圖。在本實施例中，彈簧22設于第一凸起^a的內壁，也即第一凸起與第二凸起26b 之間；同時，在第二凸起的內壁設有彈簧座23，彈簧22的一端固定于彈簧座23上，另一端固定于測針20上，測針20的尾部20b與導電柱M之間的間隙距離Δ 2與第一實施例中的Δ取值范圍相同。彈簧22設于第一凸起26a與第二凸起26b之間，可使測試頭10的結構更加緊湊。本實施例中，測針20的針頭20a是鉗狀測頭，可根據需要進行更換成其它形狀的針頭。結合圖5、圖6說明本實用新型所述的接觸器開距、超程的測試方法。接觸器30設有動觸點32、靜觸點34接觸器內彈簧36及觸頭38，接觸器內彈簧36的兩端分別頂在鐵芯 37和線圈39之間。步驟A，驅動電機14通過絲桿12帶動測試頭10的測針20向接觸器30的觸頭38 移動；步驟B，測試頭10測針20的頭部20a接觸觸頭38并被觸頭38壓回，測試頭10的測針20的尾部20b與導電柱M接觸從而產生第一電信號；步驟C，信號采集單元16接收該第一電信號，即記錄為觸頭38的初始位置；步驟D，測試頭10的測針20在驅動電機14作用下繼續頂著觸頭38前行，當動觸點32與靜觸點34接觸時產生第二電信號；步驟E，信號采集單元16接收該第二電信號，即記錄為動觸點32行進距離的終點位置。通過步驟A至步驟E的過程，測試裝置即完成了接觸器30動觸點32的初始位置及動靜觸點接觸時的終點位置的測量，兩位置之間的距離即為開距。采用上述方法測試接觸器的開距具有精確度高的效果。結合圖5、圖7說明，本實用新型所述的測試接觸器超程的測試方法。在完成上述步驟E后，進行以下步驟，步驟F，驅動電機14停止運動并對接觸器30的線圈進行通電，動觸點32與靜觸點 34吸合；步驟G，測試頭10的測針20在彈簧22彈力作用下被彈出繼續與觸頭38接觸，測試頭10的測針20的尾部20b與導電柱M斷開；步驟H，信號采集單元16采集測試頭10的測針20的尾部20b與導電柱M斷開的第三電信號，并記錄此時觸頭38的位置信息；步驟I，驅動電機14啟動并帶動測針20前行，當導電柱M與測試頭10的測針20 的尾部20b再次接觸時，產生第四電信號；步驟J，信號采集單元16采集到該第四電信號，并記錄此時觸頭38的位置信息。通過步驟F至步驟J的過程，完成了接觸器30超程參數的測試。此過程無需重新調整測試裝置組件的參數及配置，在完成開距的測試工作后，直接可進行超程的測試。以上所述，僅為本實用新型較佳實施例，不以此限定本實用新型實施的范圍.依本實用新型的技術方案及說明書內容所作的等效變化與修飾，皆應屬于本實用新型涵蓋的范圍。
權利要求1.一種接觸器觸頭參數的測試裝置，包括一驅動電機和一由驅動電機驅動的絲桿，其特征在于，還包括一由所述絲桿傳動的測試頭，其中，所述測試頭包括，一測試固定臺，所述測試固定臺兩端分別設有第一凸起和第二凸起；一測針，所述測針從所述第一凸起穿出；一導電柱，所述導電柱固定于所述第二凸起，所述測針與所述導電柱之間有間隙；一彈簧，所述測針穿過彈簧的軸心；一信號采集單元，所述信號采集單元一端與所述測針電連接，另一端與所述導電柱電連接。
2.根據權利要求1所述的一種接觸器觸頭參數的測試裝置，其特征在于，所述測針上設有第一限位套和第二限位套，所述彈簧一端與所述第一限位套接觸，另一端與所述第一凸起的外壁接觸，所述第二限位套位于所述第一凸起的內壁。
3.根據權利要求1所述的一種接觸器觸頭參數的測試裝置，其特征在于，所述第二凸起的內壁設有一彈簧座，所述彈簧一端固定于所述測針，另一端固定于所述彈簧座。
4.根據權利要求1所述的一種接觸器觸頭參數的測試裝置，其特征在于，所述測針的頭部設有一鉗狀測頭。
5.根據權利要求1所述的一種接觸器觸頭參數的測試裝置，其特征在于，所述測針與所述導電柱之間的間隙為0. 5mm 1. 0mm。
專利摘要本實用新型公開了一種接觸器觸頭參數的測試裝置。測試裝置包括驅動電機和由驅動電機驅動的絲桿，還包括一由所述絲桿傳動的測試頭，其中，所述測試頭包括，測試固定臺，所述測試固定臺兩端分別設有第一凸起和第二凸起；測針，所述測針從所述第一凸起穿出；導電柱，所述導電柱固定于所述第二凸起，所述測針與所述導電柱之間有間隙；彈簧，所述測針穿過彈簧的軸心；信號采集單元，所述信號采集單元一端與所述測針電連接，另一端與所述導電柱電連接。采用上述技術方案，取得的有益效果是接觸器開距與超程的測試過程完全自動化，不需要考慮人為的因素導致測試的數據不準確。
文檔編號G01R31/327GK202057768SQ20112013780
公開日2011年11月30日 申請日期2011年5月3日 優先權日2011年5月3日
發明者施曉紅, 胡熙鵬, 雷鳴 申請人:廈門精合電氣自動化有限公司