專利名稱：雙測(cè)試鏡測(cè)距儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)量距離用的儀器，特別涉及一種雙測(cè)試鏡測(cè)距儀。
背景技術(shù)：
目前使用的測(cè)距儀大多是落地支架結(jié)構(gòu)式，這對(duì)于野外作業(yè)人員來說，攜帶極為不便，且支架固定后安裝、調(diào)整都很繁瑣，如遇酷暑、嚴(yán)寒天氣，工作人員測(cè)量起來就更加困難，影響了工作效率。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種雙測(cè)試鏡測(cè)距儀，該雙測(cè)試鏡測(cè)距儀攜帶方便，安裝和調(diào)整簡(jiǎn)便，適應(yīng)在惡劣的環(huán)境下使用。本實(shí)用新型是由固定測(cè)試鏡、轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡、支架和轉(zhuǎn)軸組成，固定測(cè)試鏡固定在支架的一端上，固定測(cè)試鏡的中心線與支架的中心線固定連接成直角，轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡的下端固定有轉(zhuǎn)軸，轉(zhuǎn)軸的下端鑲在支架上的孔內(nèi)并與之形成轉(zhuǎn)動(dòng)連接。本實(shí)用新型的工作原理是首先從固定測(cè)試鏡中找到測(cè)量目標(biāo)點(diǎn)P，再通過轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡找到目標(biāo)點(diǎn)P，因固定測(cè)試鏡和轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡之間的距離L為定值，所以通過轉(zhuǎn)角α便可確定所測(cè)量的距離H，根據(jù)三角函數(shù)正切定理可知H = L · tga。本實(shí)用新型的有益效果是體積小、攜帶方便、測(cè)量精確，同時(shí)簡(jiǎn)化了安裝、調(diào)整工作，方便實(shí)用。
，圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例的主視圖。圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例的俯視圖。圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例的左視圖。圖4為圖1中的A-A剖視放大圖。
具體實(shí)施方式
請(qǐng)參閱圖1、圖2、圖3和圖4所示實(shí)施例1 本實(shí)施例是由固定測(cè)試鏡1、轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡2、支架3和轉(zhuǎn)軸4組成。固定測(cè)試鏡1固定在支架3的一端上，且固定測(cè)試鏡1的中心線N-N與支架3的中心線0-0固定連接成直角，轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡2的下端固定有轉(zhuǎn)軸4，轉(zhuǎn)軸4的下端鑲在支架3上的孔6內(nèi)并與之形成轉(zhuǎn)動(dòng)連接。實(shí)施例2 本實(shí)施例與實(shí)施例1不同的是在轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡2后端下面固定有指針7， 在轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡2下方支架3上的半圓平面板8上設(shè)置有刻度線9，通過指針7指示的刻度即可讀出距離H，其它組成和連接關(guān)系與實(shí)施例1相同。實(shí)施例3 本實(shí)施例與實(shí)施例1、實(shí)施例2不同的是支架3上的孔6上設(shè)置有凹坑10，在轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡2下端的轉(zhuǎn)軸4上設(shè)置有凹坑10相對(duì)應(yīng)的孔11，在孔11內(nèi)設(shè)置有彈簧 12，彈簧12的上面設(shè)置有球5，球5的直徑與凹坑10的直徑相同，目的是當(dāng)轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡2轉(zhuǎn)動(dòng)后，便于定位，免得滑轉(zhuǎn)，其它組成和連接關(guān)系與實(shí)施例1和實(shí)施例2相同。
權(quán)利要求1.一種雙測(cè)試鏡測(cè)距儀，其特征在于是由固定測(cè)試鏡(1)、轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡O)、支架⑶ 和轉(zhuǎn)軸(4)組成，固定測(cè)試鏡(1)固定在支架(3)的一端上，固定測(cè)試鏡(1)的中心線N-N 與支架(3)的中心線0-0固定連接成直角，轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡(2)的下端固定有轉(zhuǎn)軸，轉(zhuǎn)軸(4) 的下端鑲在支架C3)上的孔(6)內(nèi)并與之形成轉(zhuǎn)動(dòng)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種雙測(cè)試鏡測(cè)距儀，其特征在于所述的轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡(2) 后端下面固定有指針(7)，在轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡( 下方支架C3)上的半圓平面板(8)上設(shè)置有刻度線(9)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種雙測(cè)試鏡測(cè)距儀，其特征在于所述支架C3)上的孔(6)上設(shè)置有凹坑(10)，在轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡( 下端的轉(zhuǎn)軸(4)上設(shè)置有凹坑(10)相對(duì)應(yīng)的孔(11)，在孔(11)內(nèi)設(shè)置有彈簧(12)，彈簧(12)的上面設(shè)置有球(5)，球(5)的直徑與凹坑(10)的直徑相同。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種雙測(cè)試鏡測(cè)距儀，是由固定測(cè)試鏡、轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡、支架和轉(zhuǎn)軸組成，固定測(cè)試鏡固定在支架的一端上，固定測(cè)試鏡的中心線與支架的中心線固定連接成直角，轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試鏡的下端固定有轉(zhuǎn)軸，轉(zhuǎn)軸的下端鑲在支架上的孔內(nèi)并與之形成轉(zhuǎn)動(dòng)連接；本實(shí)用新型具有體積小、攜帶方便、測(cè)量精確的特點(diǎn)，同時(shí)簡(jiǎn)化了安裝、調(diào)整工作，提高了工作效率，方便實(shí)用。
文檔編號(hào)G01C3/14GK202057325SQ20112012921
公開日2011年11月30日 申請(qǐng)日期2011年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月28日
發(fā)明者張麗娟, 李東明, 王慧 申請(qǐng)人:長(zhǎng)春工業(yè)大學(xué)