專利名稱：太陽能硅片檢查裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及太陽能硅片，尤其涉及一種太陽能硅片檢查裝置。
背景技術(shù)：
目前，在太陽能電池硅片的生產(chǎn)過程中，太陽能晶片洗凈后要經(jīng)過操作人員目檢。 在目檢過程中，操作人員需要將晶片進(jìn)行規(guī)格檢查，根據(jù)規(guī)格要求將不良挑出，確定無明顯的物理缺陷后方可進(jìn)入下一步的機械檢測。目前檢測不良硅片的裝置為放大10倍的放大鏡，由于硅片硬度較大，極易磨損放大鏡片，使放大鏡的使用壽命縮短，因此需要研制一種成本低且不易磨損的工具，用來對太陽能硅片進(jìn)行檢查。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種太陽能硅片檢查裝置，以方便對太陽能硅片進(jìn)行各項檢驗。為解決上述技術(shù)問題，本實用新型的技術(shù)方案是太陽能硅片檢查裝置，包括透明的基板，所述基板的板面上設(shè)有亮點和亮線測量部，包括設(shè)于板面邊緣的刻度線；所述板面上設(shè)有污染測量部，包括若干個根據(jù)尺寸大小依次排列的檢驗框；所述板面上設(shè)有雜質(zhì)和黑點測量部，包括填充有顏色的條狀區(qū)域，所述條狀區(qū)域上設(shè)有未填充顏色的若干個根據(jù)直徑大小依次排列的透明圓點，還包括設(shè)于所述板面上的若干個根據(jù)直徑大小依次排列的有色圓點。作為一種改進(jìn)，所述檢驗框包括一排根據(jù)尺寸大小依次排列的正方形檢驗框和一排根據(jù)尺寸大小依次排列的圓形檢驗框。作為一種改進(jìn)，在所述雜質(zhì)和黑點測量部中，所述有色圓點與所述透明圓點一一對應(yīng)，相對應(yīng)的有色圓點和透明圓點直徑相同。作為一種改進(jìn)，所述板面上設(shè)有黑線到硅片邊緣距離測量部，包括若干個根據(jù)線寬大小依次排列的有色線條。作為一種改進(jìn)，所述有色線條設(shè)于所述有色圓點的一側(cè)且與所述有色圓點一一對應(yīng)，相對應(yīng)的有色線條的線寬與有色圓點的直徑相同。作為一種改進(jìn)，所述板面上設(shè)有微晶數(shù)量測量部，包括固定面積的檢驗面。作為一種改進(jìn)，所述檢驗面包括兩個。作為一種改進(jìn)，所述兩個檢驗面的形狀分別為長方形和正方形。作為一種改進(jìn)，所述兩個檢驗面的面積均為2cm2。由于采用了以上技術(shù)方案，本實用新型可以方便對太陽能硅片的質(zhì)量進(jìn)行檢驗， 檢驗方法簡單易行，方便操作人員按照要求進(jìn)行檢片，與使用放大鏡檢片相比，操作方法簡單，降低了檢片過程中的破片率，節(jié)約成本，提高生產(chǎn)效率。
[0014]
以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型進(jìn)一步說明。圖1是本實用新型實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖中10-基板；11-刻度線；12-長方形檢驗框；13-圓形檢驗框；14-條狀區(qū)域； 141-透明圓點；15-有色圓點；16-有色線條；17-正方形檢驗面；18-長方形檢驗面；19-標(biāo)貼欄。
具體實施方式
如圖1所示，太陽能硅片檢查裝置包括有透明材質(zhì)作成的基板10，基板10上設(shè)有亮點和亮線測量部，包括位于基板10的邊緣部設(shè)有刻度線11，亥Ij度線11用來測量太陽能硅片在生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的亮點、亮線的長度或深度。基板10的板面上設(shè)有污染測量部，包括用來測量污染的大小檢驗框，太陽能硅片上的水漬的大小和污染塊的形狀不一，因此本實施例中，檢驗框的形狀包括圓形和正方形兩種，長方形檢驗框12和圓形的檢驗框13皆包括多個尺寸規(guī)格不同的檢驗框，如圖1中所示，長方形檢驗框12包括邊長為0. 5mm-10mm的共15個長方形，15個長方形根據(jù)尺寸大小依次排列成一排，圓形檢驗框13也包括直徑為0. 5mm-10mm的15個圓，按照直徑大小依次排列，在本實施例中，為節(jié)省空間，長方形檢驗框12從左向右尺寸逐漸減小排列成一排，圓形檢驗框13從左到右直徑逐漸增大的排列成一排，長方形檢驗框12位于圓形檢驗框13的上方。檢驗時，例如，要求污染塊的大小不超過2mm，選定邊長或直徑為2mm的檢驗框，將基板10覆蓋在太陽能硅片上，若污染塊的形狀為長方形，挪動基板10將邊長為2mm的檢驗框覆蓋在污染塊上，若污染塊完全位于該檢驗框內(nèi)，該太陽能硅片為合格品，反之，為不合格
P
ΡΠ O本實施例中，基板10的板面上設(shè)有雜質(zhì)和黑點的測量部，包括位于檢驗框下方且填充有顏色的條狀區(qū)域14，條狀區(qū)域14內(nèi)設(shè)有若干個未填充顏色的透明圓點141，透明圓點141由左到右依次排列且直徑逐漸增大，條狀區(qū)域14的下方設(shè)有填充有黑色的有色圓點 15，有色圓點15與透明圓點141 一一對應(yīng)，相對應(yīng)的有色圓點15和透明圓點141的直徑大小相同?；?0上位于有色圓點15下方的位置還設(shè)有黑線到硅片邊緣距離的測量部，包括有色線條16，有色線條16與有色圓點15和透明圓點141 一一對應(yīng)，且有色線條16的線寬大小與有色圓點15和透明圓點141的直徑相同。有色圓點15和條狀區(qū)域14上的透明圓點141用來檢驗太陽能硅片上的黑點或雜質(zhì)，例如，產(chǎn)品要求太陽能硅片上的雜質(zhì)會黑點的直徑不得超過0. 5mm，選定直徑為0. 5mm 的圓點進(jìn)行比對，若黑點的邊緣位于透明圓點內(nèi)部，或黑點的邊緣沒有超出有色圓點的邊界，則該太陽能硅片為合格品，反之，為不合格品。有色線條16用來測量黑線到硅片邊緣的距離，在的生產(chǎn)過程中，太陽能硅片的邊緣處產(chǎn)生一些黑線，產(chǎn)品要求黑線到邊緣的距離不得超過某一數(shù)值，例如，產(chǎn)品要求黑線到邊緣的距離不超過0. 5mm，選定線寬為0. 5mm的有色線條，若黑線不超出有色線條的寬度， 則為合格品，反之，為不合格品。由于太陽能硅片的表面會產(chǎn)生微晶，在生產(chǎn)過程中，要求每2cm2的面積內(nèi)微晶的數(shù)量不超過某一數(shù)值，因此基板10上設(shè)有微晶數(shù)量測量部，包括固定面積的檢驗面，用于
4檢測每2cm2的面積內(nèi)微晶數(shù)量，檢驗面包括正方形檢驗面17和長方形18檢驗面兩種，且面積相同，皆為2cm2，檢驗時，將基板10覆蓋在太陽能硅片上，觀察太陽能硅片落在檢驗面內(nèi)的微晶的數(shù)量，若微晶數(shù)量小于規(guī)定值，則為合格品，反之為不合格品。檢驗裝置的角部設(shè)有標(biāo)貼欄19，方便用戶進(jìn)行儀器分類存檔。由于采用了以上技術(shù)方案，本實用新型可以方便對太陽能硅片的質(zhì)量進(jìn)行檢驗， 檢驗方法簡單易行，方便操作人員按照要求進(jìn)行檢片，與使用放大鏡檢片相比，操作方法簡單，降低了檢片過程中的破片率，節(jié)約成本，提高生產(chǎn)效率。以上顯示和描述了本實用新型的基本原理和主要特征和本實用新型的優(yōu)點。本行業(yè)的技術(shù)人員應(yīng)該了解，本實用新型不受上述實施例的限制，在不脫離本實用新型精神和范圍的前提下，本實用新型還會有各種變化和改進(jìn)，這些變化和改進(jìn)都落入要求保護的本實用新型范圍內(nèi)。本實用新型要求保護范圍由所附的權(quán)利要求書及其等效物界定。
權(quán)利要求1.太陽能硅片檢查裝置，包括透明的基板，其特征在于所述基板的板面上設(shè)有亮點和亮線測量部，包括設(shè)于板面邊緣的刻度線；所述板面上設(shè)有污染測量部，包括若干個根據(jù)尺寸大小依次排列的檢驗框；所述板面上設(shè)有雜質(zhì)和黑點測量部，包括填充有顏色的條狀區(qū)域，所述條狀區(qū)域上設(shè)有未填充顏色的若干個根據(jù)直徑大小依次排列的透明圓點，還包括設(shè)于所述板面上的若干個根據(jù)直徑大小依次排列的有色圓點。
2.如權(quán)利要求1所述的太陽能硅片檢查裝置，其特征在于所述檢驗框包括一排根據(jù)尺寸大小依次排列的正方形檢驗框和一排根據(jù)尺寸大小依次排列的圓形檢驗框。
3.如權(quán)利要求1所述的太陽能硅片檢查裝置，其特征在于在所述雜質(zhì)和黑點測量部中，所述有色圓點與所述透明圓點一一對應(yīng)，相對應(yīng)的有色圓點和透明圓點直徑相同。
4.如權(quán)利要求1、2或3所述的太陽能硅片檢查裝置，其特征在于所述板面上設(shè)有黑線到硅片邊緣距離測量部，包括若干個根據(jù)線寬大小依次排列的有色線條。
5.如權(quán)利要求4所述的太陽能硅片檢查裝置，其特征在于所述有色線條設(shè)于所述有色圓點的一側(cè)且與所述有色圓點一一對應(yīng)，相對應(yīng)的有色線條的線寬與有色圓點的直徑相同。
6.如權(quán)利要求1、2或3所述的太陽能硅片檢查裝置，其特征在于所述板面上設(shè)有微晶數(shù)量測量部，包括固定面積的檢驗面。
7.如權(quán)利要求6所述的太陽能硅片檢查裝置，其特征在于所述檢驗面包括兩個。
8.如權(quán)利要求7所述的太陽能硅片檢查裝置，其特征在于所述兩個檢驗面的形狀分別為長方形和正方形。
9.如權(quán)利要求8所述的太陽能硅片檢查裝置，其特征在于所述兩個檢驗面的面積均為 2cm2。
專利摘要本實用新型公開了一種太陽能硅片檢查裝置，包括透明的基板，所述基板的板面上設(shè)有亮點和亮線測量部，包括設(shè)于板面邊緣的刻度線；所述板面上設(shè)有污染測量部，包括若干個根據(jù)尺寸大小依次排列的檢驗框；所述板面上設(shè)有雜質(zhì)和黑點測量部，包括填充有顏色的條狀區(qū)域，所述條狀區(qū)域上設(shè)有未填充顏色的若干個根據(jù)直徑大小依次排列的透明圓點，還包括設(shè)于所述板面上的若干個根據(jù)直徑大小依次排列的有色圓點。由于采用了以上技術(shù)方案，本實用新型可以方便對太陽能硅片的質(zhì)量進(jìn)行檢驗，檢驗方法簡單易行，方便操作人員按照要求進(jìn)行檢片，與使用放大鏡檢片相比，操作方法簡單，降低了檢片過程中的破片率，節(jié)約成本，提高生產(chǎn)效率。
文檔編號G01B3/04GK202041135SQ20112012435
公開日2011年11月16日 申請日期2011年4月25日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月25日
發(fā)明者管延平, 陳艷 申請人:宇駿(濰坊)新能源科技有限公司