專利名稱：一種失效分析方法
技術領域：
本發明涉及一種失效分析方法。
技術背景
產品喪失規定的功能稱為失效，判斷失效的模式，查找失效原因和機理的對策的技術活動和管理活動稱為失效分析。在常見的電路失效分析案例中，眾多的失效案例面臨著失效原因的證明困境，即如何運用失效分析中的工作成果來說服他人，導致了失效分析工作的失敗，從而降低了失效原因判定的有效性。
因此，如何提高失效分析原因判定的有效性，提高失效分析工作的成功率，成為失效分析領域亟待解決的問題
發明內容
為解決現有失效分析工作，原因判定的有效性差，失效分析工作的成功率低的問題，本發明提供以下技術方案一種失效分析方法，該方法包括以下步驟 A、接收良品樣品和不良品樣品；B、對不良品的失效背景和失效現象進行歸納和總結；C、對不良品進行前期無損分析和失效定位匯總，失效機理預計，確定比對特征；D、結合預計失效機理和客戶要求，設計分析方案；E、使用設計的分析方案分別對良品和不良品進行分析，分別確定比對特征的有無；F、根據良品和不良品比對特征的有無，確定出物證特征，判定出不良品的具體失效原因。
作為本發明的一種優選方案，所述失效分析方法還包括步驟G 進行模擬實驗，驗證失效機理。
作為本發明的另一種優選方案，所述步驟A中接收的良品樣品數量和不良品樣品數量都不少于3個。
作為本發明的又一種優選方案，所述步驟E中良品和不良品比對特征的有無狀態包括T1 全部不良品都有該比對特征，全部良品都沒有該比對特征；T2 部分不良品有該比對特征，全部良品都沒有該比對特征；T3 全部不良品都有該比對特征，全部良品都有該比對特征；T4 部分不良品有該比對特征，全部良品都有該比對特征；T5 部分不良品有該比對特征，部分良品有該比對特征；T6 全部不良品有該比對特征，部分良品有該比對特征。
作為本發明的再一種優選方案，所述步驟E中，判斷出比對特征有無的狀態為Tl， 則可以直接進行步驟F。
作為本發明的再一種優選方案，所述步驟E中，判斷出比對特征有無的狀態為T2， 則需要優化分析手段，再次進行分析，如果再次分析判斷出比對特征有無的狀態為Tl，則可以直接進行步驟F，如果再次分析判斷出比對特征有無的狀態為T4，則按照判斷出比對特征有無的狀態為T4結果繼續進行分析。
作為本發明的再一種優選方案，所述步驟E中，判斷出比對特征有無的狀態為T3， 則需要確定新的比對特征，設計新的分析方案，重復步驟E。
作為本發明的再一種優選方案，所述步驟E中，判斷出比對特征有無的狀態為T4， 則將不良品分為兩部分，有比對特征的不良品為一部分，與全部良品共同構成狀態Tl，可直接進行步驟F;沒有比對特征的不良品為一部分，則構成狀態T3，需要確定新的比對特征， 設計新的分析方案，重復步驟E。
作為本發明的再一種優選方案，所述步驟E中，判斷出比對特征的有無狀態為T5 或者T6，則需要確定新的比對特征，設計新的設計方案，重復步驟E。
作為本發明的再一種優選方案，所述失效分析方法還包括步驟H:給出分析結論及建議。
本發明有如下優點本發明方法通過將法學領域中的“同一認定原理”、“相對性原理”、“物質性原理”和“信息轉移原理”運用到失效分析工作中，把針對不同失效模式的失效分析流程標準化，運用法學原理來整合失效分析全過程，從而能夠在各項零散的證據之間實現相互驗證，相對于其他的零散服務模式，對集成電路進行完整的失效分析，得出具有更強大的準確性和說服力的結論。
圖1本發明方法分析步驟流程圖。
具體實施方式
下面對該工藝實施例作詳細闡述，以使本發明的優點和特征能更易于被本領域技術人員理解，從而對本發明的保護范圍作出更為清楚明確的界定。
如圖1所示實施步驟，本實施方式共提供兩組實施例。
實施例1 某單位需要對出現自動撥號問題的手機進行失效分析，分別提供個6不良品樣品(編號為Fl F6)和5個參考樣品(編號為Rl R5)，其不良品樣品中，R6的現象為一直自動撥號，即手機開機后6、7、8號鍵自動撥號，順序不確定，頻率不確定，直到手機沒電自動關機，不良品樣品Fl F5在檢測時，偶爾出現6、7、8號鍵自動撥號現象。
進行前期無損檢測和失效定位。將不良品樣品置于85°C的環境中烘烤45分鐘， 冷卻至室溫，手機加電源開機后，自動撥號現象仍然存在，由此說明自動撥號的因素仍然存在。將不良品樣品手機外殼去掉，剝離手機按鍵鍵盤，加電源開機后，自動撥號的現象仍然存在，排除了手機按鍵鍵盤引發失效。由于自動撥號為6、7、8號鍵，而非單個的號碼，通過手機的電路原理圖可知，6、7、8號鍵有一個公共節點KPD_R3，由此推測，導致自動撥號的信號應該在6、7、8號鍵的公共節點KPD_R3上。
在開機后，用示波器測量不良品樣品KPD_R3上的波形，發現KPD_R3上有異常信號，其異常信號受到鄰近的R366/D15上的信號影響，二者出現的時間和頻率十分相似；而對比良品手機，KPD_R3上與鄰近的R366/D15沒有這種相互影響，公共節點KPD_R3上不會出現這種異常信號。由此說明不良品手機R366/D15上的信號與KPD_R3信號有相互影響， 即對于自動撥號類的不良品手機，一旦開機，R366/D15就會產生信號，此時KPD_R3會同時產生信號，使KPD_R3上的信號由高電平(3V左右)變為低電平，相當于6、7、8號鍵產生自動撥號。
針對上述電學分析，對R366/D15與公共節點KPD_R3間進行電阻測量，結果如表1， 出現一直自動撥號手機F6的R366/D15與公共節點KPD_R3間電阻值比良品手機同一位置的電阻值低很多。
表1 R366/D15與公共節點KPD_R3間的電阻
權利要求
1.一種失效分析方法，其特征在于該方法包括以下步驟 A、接收良品樣品和不良品樣品；B、對不良品的失效背景和失效現象進行歸納和總結；C、對不良品進行前期無損分析和失效定位匯總，失效機理預計，確定比對特征；D、結合預計失效機理和客戶要求，設計分析方案；E、使用設計的分析方案分別對良品和不良品進行分析，分別確定比對特征的有無；F、根據良品和不良品比對特征的有無，確定出物證特征，判定出不良品的具體失效原因，得出失效機理。
2.根據權利要求1所述的一種失效分析方法，其特征在于所述失效分析方法還包括步驟G 進行模擬實驗，驗證失效機理。
3.根據權利要求1所述的一種失效分析方法，其特征在于所述步驟A中接收的良品樣品數量和不良品樣品數量都不少于3個。
4.根據權利要求1所述的一種失效分析方法，其特征在于所述步驟E中良品和不良品比對特征的有無狀態包括T1 全部不良品都有該比對特征，全部良品都沒有該比對特征；T2 部分不良品有該比對特征，全部良品都沒有該比對特征；T3 全部不良品都有該比對特征，全部良品都有該比對特征；T4 部分不良品有該比對特征，全部良品都有該比對特征；T5 部分不良品有該比對特征，部分良品有該比對特征；T6 全部不良品有該比對特征， 部分良品有該比對特征。
5.根據權利要求4所述的一種失效分析方法，其特征在于所述步驟E中，判斷出比對特征有無的狀態為Tl，則可以直接進行步驟F。
6.根據權利要求4所述的一種失效分析方法，其特征在于所述步驟E中，判斷出比對特征有無的狀態為T2，則需要優化分析手段，再次進行分析，如果再次分析判斷出比對特征有無的狀態為Tl，則可以直接進行步驟F，如果再次分析判斷出比對特征有無的狀態為T4， 則按照判斷出比對特征有無的狀態為T4結果繼續進行分析。
7.根據權利要求4所述的一種失效分析方法，其特征在于所述步驟E中，判斷出比對特征有無的狀態為T3，則需要確定新的比對特征，設計新的分析方案，重復步驟E。
8.根據權利要求4所述的一種失效分析方法，其特征在于所述步驟E中，判斷出比對特征有無的狀態為T4，則將不良品分為兩部分，有比對特征的不良品為一部分，與全部良品共同構成狀態Tl，可直接進行步驟F;沒有比對特征的不良品為一部分，則構成狀態T3，需要確定新的比對特征，設計新的分析方案，重復步驟E。
9.根據權利要求4所述的一種失效分析方法，其特征在于所述步驟E中，判斷出比對特征的有無狀態為T5或者T6，則需要確定新的比對特征，設計新的設計方案，重復步驟E。
10.根據權利要求2所述的一種失效分析方法，其特征在于所述失效分析方法還包括步驟H 給出分析結論及建議。
全文摘要
本發明涉及失效分析領域。本發明提供了一種失效分析方法，包括以下步驟A、接收良品樣品和不良品樣品；B、對不良品的失效背景和失效現象進行歸納和總結；C、對不良品進行前期無損分析和失效定位匯總，確定比對特征；D、設計分析方案；E、使用設計的分析方案進行分析，分別確定比對特征的有無；F、根據良品和不良品比對特征的有無，確定出物證特征，判定出不良品的具體失效原因。本發明方法通過將法學領域中的“同一認定原理”、“相對性原理”、“物質性原理”和“信息轉移原理”運用到失效分析工作中，運用法學原理來整合失效分析全過程，從而能夠在各項零散的證據之間實現相互驗證，得出具有更強大的準確性和說服力的結論。
文檔編號G01R31/26GK102495309SQ20111038684
公開日2012年6月13日 申請日期2011年11月29日 優先權日2011年11月29日
發明者劉學森 申請人:蘇州華碧微科檢測技術有限公司