自動測試裝置、自動測試系統及其自動測試控制的方法

專利名稱：自動測試裝置、自動測試系統及其自動測試控制的方法
技術領域：
本發明涉及一種自動測試裝置、自動測試系統及其自動測試控制的方法，特別是一種可以自動化測試待測裝置，以及自動化記錄測試歷程的自動測試裝置、自動測試系統及其自動測試控制的方法。
背景技術：
隨著時代的進步，現今的生活里已經出現各式各樣的電子產品，其可具有多樣性且不同用途的連接端口，例如分別適用于USB、網絡連接器端子、音頻端子(Audio Jack)、影像端子、HDMI或是IEEE 1394等眾多規格的連接端口。使用者在使用這些電子產品時，都會對連接端口進行多次的插拔動作。因此測試連接端口在多次插拔下的耐久度是各電子產品制造商的重要課題。在先前技術中，通常是藉由測試人員手動插拔的方式，來對連接端口進行耐久度的測試。但此種方式過于耗費人力，且并不符合經濟效益。先前技術的測試裝置可利用氣動方式自動對待測物體執行插拔測試。但先前技術的測試裝置雖可對待測物體達到自動測試的效果，但仍需要對測試單元進行拆解再安裝的步驟，才能調整測試單元的位置與高度，因此測試單元的調整方式過于復雜。同時先前技術的測試裝置無法由一計算機系統自動發送命令與自動記錄下控制過程，仍然需要由測試人員分別執行命令。如此一來，仍會消耗部分無謂的人力。因此，有必要發明一種自動測試裝置、自動測試系統及其自動測試控制的方法，以藉由更方便且更自動化的方式來進行測試，以解決先前技術的缺失。

發明內容
本發明的主要目的在于提供一種自動測試裝置，其具有可以自動化測試待測裝置的效果。本發明的另一主要目的在于提供一種自動測試系統，其具有自動化記錄測試歷程的效果。本發明的又一主要目的在于提供一種用于上述自動測試裝置及自動測試系統的自動測試控制的方法。為達到上述的目的，本發明的自動測試裝置接收一控制信號以測試一待測裝置的一連接端口的耐久度，該自動測試裝置包括一測試平臺、一測試單元以及一動力控制單元；該測試平臺用以設置該待測裝置；該測試單元包括一主體、一組裝單元以及一高度調節單元；該組裝單元接觸于該主體，用以安裝一測試接頭，該測試接頭配合該連接端口的規格；該高度調節單元連接于該主體并與該組裝單元互相配合以調整該組裝單元的一高度；該動力控制單元連接于該測試單元，該動力控制單元在接收該控制信號后，驅動該測試單元以藉由該測試接頭對該連接端口進行測試。本發明的自動測試系統用以測試一待測裝置的一連接端口的耐久度，該自動測試系統包括一計算機系統、一控制器以及一自動測試裝置；該計算機系統產生一控制參數；該控制器與該計算機系統電性連接以接收該控制參數，該控制器包括一緩沖模塊以及一控制模塊；該緩沖模塊儲存該控制參數；該控制模塊與該緩沖模塊電性連接，以根據該控制參數產生一控制信號；該自動測試裝置與該控制器電性連接，用以接收該控制信號，該自動測試裝置包括一測試平臺、一測試單元以及一動力控制單元；該測試平臺用以設置該待測裝置；該測試單元包括一主體、一組裝單元以及一高度調節單元；該組裝單元連接于該主體，用 以安裝一測試接頭，該測試接頭配合該連接端口的規格；該高度調節單元連接于該主體并與該組裝單元互相配合以調整該組裝單元的一高度；該動力控制單元連接于該測試單元，該動力控制單元在接收該控制信號后，驅動該測試單元以藉由該測試接頭對該連接端口進行測試，并經由該控制器以將一測試歷程儲存于該緩沖模塊內，該計算機系統再讀取該測試歷程。本發明的自動測試控制的方法用于一自動測試系統，該自動測試系統具有一自動測試裝置，用以測試一待測裝置的一連接端口的耐久度，該自動測試控制的方法包括以下步驟藉由一計算機系統產生一控制參數；根據該控制參數以藉由一控制器產生一控制信號；根據該控制信號以藉由一動力控制單元驅動一測試單元，以自動對該連接端口進行測試；以及儲存一測試過程。本發明的自動測試控制的方法包括以下步驟提供自動測試裝置以設置待測裝置；藉由計算機系統產生控制參數；根據控制參數以藉由控制器產生控制信號；根據控制信號以藉由動力控制單元驅動測試單元，以自動對連接端口進行測試；以及儲存測試歷程。本發明能夠完全自動化地對待測裝置進行測試，并且也較容易根據不同待測裝置的規格來進行調整，明顯優于先前技術的測試裝置。


圖I是本發明的自動測試系統的架構圖。圖IA是本發明的控制器內的電路架構圖。圖2A是本發明的自動測試裝置的外觀示意圖。圖2B是本發明的自動測試裝置結合待測裝置的示意圖。圖3是本發明的測試單元的結構示意圖。圖4是本發明的自動測試控制的方法的步驟流程圖。主要組件符號說明自動測試系統I 計算機系統10使用者界面 11 記錄模塊12控制器 20 緩沖模塊21控制模塊 22 切換電路23自動測試裝置30 測試平臺31定位裝置 311 定位槽孔312測試單元 32 主體321組裝單元 322 第一組裝件322a第二組裝件 322b 凹槽322c容置槽 322d 高度調節單元323
旋轉件323a彈性件323b外罩324鎖固件325位置調節單元33第一軌道331第一固定件332第二軌道333第二固定件334動力控制單元34電磁閥341汽缸342通氣管343待測裝置40測試接頭50串行數據通信接口 60電阻R1、R2電感L二極管D第一晶體管Ql第二晶體管Q2源極S1、S2漏極D1、D2柵極G1、G2接地端G電源輸入端V
具體實施例方式為讓本發明的上述和其他目的、特征和優點能更明顯易懂，下文特舉出本發明的·具體實施例，并配合所附附圖，作詳細說明如下。請先參考圖I，圖I是本發明的自動測試系統的架構圖。本發明的自動測試系統I可用以自動地對待測裝置40 (如圖2B所示)的連接端口進行耐久度的測試。待測裝置40可為筆記本型計算機、平板計算機、移動電話等具有連接端口的電子產品，但本發明并不限定僅能用于測試電子產品的連接端口。在本發明的一實施方式中，自動測試系統I包括計算機系統10、控制器(Single Chip Microcontroller (單芯片微控制器))20及自動測試裝置30。計算機系統10可為桌上型計算機或是筆記本型計算機等系統，但本發明并不限于此。計算機系統10包括使用者界面11及記錄模塊12。使用者界面11藉由一軟件所架構而成，用以供使用者設定控制參數。其中控制參數可包括選擇自動測試裝置30中要進行測試流程的測試單元32以及設定插拔次數等，但本發明并不以上述列舉的參數為限。計算機系統10再根據控制參數以對自動測試裝置30進行控制。記錄模塊12用以自動記錄下控制參數及自動測試裝置30的測試歷程，以供使用者進行后續的判讀。此外，記錄模塊12亦可記錄下待測裝置40的序號、連接端口的名稱或測試時間等，本發明并不以此為限。控制器20可為一單芯片微計算機(Single Chip Microcomputer),由硬件架構而成，可藉由一串行數據通信接口 60與計算機系統10電性連接，以接收來自計算機系統10的控制參數。串行數據通信接口 60可為RS232。控制器20包括緩沖模塊21、控制模塊22及切換電路23。緩沖模塊21藉由一硬件架構而成，具有儲存數據的功用，用以儲存自計算機系統10傳輸來的控制參數。控制模塊22可由硬件或固件結合硬件等方式架構而成。控制模塊22與緩沖模塊21電性連接，用以根據緩沖模塊21所儲存的控制參數以產生控制信號。需注意的是，為了避免計算機系統10與控制器20之間信號傳遞錯誤，計算機系統10與控制器20之間還可執行信號比對流程。尤其若計算機系統10為筆記本型計算機時，計算機系統10可能利用USB連接端口與串行數據通信接口 60 (如RS232)電性連接來傳遞信號。在此情況下，可能因為USB連接端口與RS232之間信號轉換的問題而導致傳輸錯誤。因此當控制器20接到自計算機系統10傳來的控制參數時，先利用半雙工通信等方式傳送一聯絡信號回計算機系統10。待計算機系統10確認聯絡信號內容與控制參數相同時，控制器20才產生控制信號。由于此比對流程已經被本發明相關技術領域者所熟知，故在此不再贅述其詳細流程。切換電路23由硬件架構而成，并且與控制模塊22電性連接，用以根據控制信號以控制自動測試裝置30的動力控制單元34，使得自動測試裝置30可進行自動測試。而關于切換電路23控制動力控制單元34的方式請參考圖1A，圖IA是本發明的控制器內的電路架構圖。在本實施方式中，動力控制單元34可利用氣動方式以驅動測試單元32。動力控制單元34包括電磁閥341、汽缸342及通氣管343，汽缸342與電磁閥341及測試單元32互 相連接，并與通氣管343相通。切換電路23可以包括第一晶體管Q1、第二晶體管Q2以及其他的電路組件，例如電阻R1、R2、電感L與二極管D，上述電路組件互相電性連接。電阻R1、R2、電感L與二極管D可作為穩壓、整流等作用，由于上述電路組件的作用并非本發明的重點所在且已經被廣泛應用于相關技術領域上，故在此不再贅述其原理。第一晶體管Ql與第二晶體管Q2可視為開關模塊。在本實施方式中，第一晶體管Ql與第二晶體管Q2皆為金屬氧化物半導體晶體管，但本發明并不限于此。第一晶體管Ql具有源極SI、漏極Dl與柵極G1。同樣地，第二晶體管Q2也具有源極S2、漏極D2與柵極G2。源極SI及源極S2與接地端G電性連接，漏極Dl及漏極D2與電源輸入端V電性連接，柵極Gl與控制模塊22電性連接，漏極Dl與柵極G2電性連接，最后漏極D2再電性連接至動力控制單元34的電磁閥341。當控制模塊22輸出的控制信號為高電位時，第一晶體管Ql會導通，使得漏極Dl成為低電位，因此第二晶體管Q2的柵極G2亦為低電位而讓第二晶體管Q2截止。如此一來漏極D2保持高電位而讓電磁閥341斷路。另一方面，當控制模塊22輸出的控制信號為低電位時，第一晶體管Ql會截止，使得漏極Dl成為高電位，因此第二晶體管Q2的柵極G2亦為高電位而讓第二晶體管Q2導通。如此一來漏極D2變成低電位而讓電磁閥341導通。由于上述由第一晶體管Ql及第二晶體管Q2構成開關模塊的方式已經被廣泛應用于相關技術領域上，故在此不再贅述其原理。并需注意的是，切換電路23并不以圖IA中所示的電路架構為限，只要能控制電磁閥341導通或截止的電路皆在本發明的保護范圍內。由上述的說明可知，控制模塊22可藉由輸出高低電位的控制信號來控制電磁閥341導通或截止，以藉由通氣管343提供的壓縮空氣驅動汽缸342來控制測試單元32的動作。控制模塊22亦可以根據測試單元32的數量，經由多個切換電路23分別控制測試單元32的動作。自動測試裝置30與控制器20電性連接，用以根據控制信號對待測裝置40進行測試。自動測試裝置30包括測試平臺31、測試單元32、位置調節單元33及動力控制單元34。而關于自動測試裝置30的詳細結構請參考圖2A到2B的關于自動測試裝置30的相關示意圖，其中圖2A是本發明的自動測試裝置的外觀示意圖；圖28是本發明的自動測試裝置結合待測裝置的示意圖。
在本發明的一實施方式中，自動測試裝置30的測試平臺31用以放置待測裝置40，并可利用定位裝置311將待測裝置40固定于測試平臺31上。測試平臺31上可以設置多個定位槽孔312，定位裝置311可依照待測裝置40不同的規格或大小來安裝于不同的定位槽孔312，以固定待測裝置40。但本發明并不限定僅能利用此方式固定待測裝置40。 自動測試裝置30可具有單一或多個測試單元32，亦可依照需求作增減。測試單元32用以安裝測試接頭50，測試接頭50用以配合待測裝置40的連接端口的規格。測試單元32連接于動力控制單元34的汽缸342，以藉由汽缸342的動作對連接端口進行插拔測試。關于測試單元32的結構在之后會有詳細的說明，在此先不贅述。位置調節單元33連接于動力控制單元34的汽缸342，用來同時調整汽缸342及與汽缸342相連的測試單元32的位置，使得測試單元32可以配合待測裝置40的連接端口位置。位置調節單元33包括第一軌道331、第一固定件332、第二軌道333及第二固定件334。動力控制單元34的汽缸342設置于第一軌道331上，使得測試單元32可以沿著第一方向滑動。第一固定件332與第一軌道331互相配合。當汽缸342藉由第一軌道331滑動到一定點時，可利用第一固定件332將第一軌道331固定住，使得測試單元32可以固定于該定點。同時第一軌道331設置于第二軌道333上，并且第一軌道331與第二軌道333實質上互相垂直，且有一部分互相重疊。汽缸342可連同第一軌道331 —并在第二軌道333上沿著第二方向滑動。由于第一軌道331與第二軌道333實質上互相垂直，因此第一方向與第二方向亦實質上互相垂直。第二固定件334連接于第一軌道331并與第二軌道333互相配合，以固定第一軌道331的位置，進一步將測試單元32固定于該定點。因此位置調節單元33可以藉由滑動的方式，方便地調整測試單元32的位置。接著請參考圖3，圖3是本發明的測試單元的結構示意圖。在本實施方式中，測試單元32可包括主體321、組裝單元322、高度調節單元323及外罩324。組裝單元322配合主體321并與主體321互相接觸，用來組裝測試接頭50。組裝單元322包括第一組裝件322a及第二組裝件322b，第一組裝件322a連接于主體321，第二組裝件322b則可為一 U字形的形狀。第一組裝件322a及第二組裝件322b組合時，利用中間的空隙以夾持測試接頭50，接著再藉由至少一鎖固件325以互相固定。當測試接頭50為扁平狀，例如USB、網絡連接器端子、HDMI或影像端子等接頭時，第一組裝件322a及第二組裝件322b可直接夾持測試接頭50。若測試接頭50的形狀為圓形，例如音頻端子時，可以利用具有凹槽322c的第二組裝件322b來夾持測試接頭50。凹槽322c的形狀配合測試接頭50的形狀，使得第一組裝件322a及第二組裝件322b可以夾持的更穩固。高度調節單元323連接于主體321，并與組裝單元322互相配合。高度調節單元323包括旋轉件323a及彈性件323b。旋轉件323a可為一長條螺絲，穿過主體321及第一組裝件322a，第一組裝件322a還具有相對應的螺紋(圖未示)以配合旋轉件323a。彈性件323b連接于主體321，并放置于第一組裝件322a的內部容置槽322d中。當旋轉件323a轉動時，即可藉由彈性件323b調整組裝單元322的高度。舉例而言，當旋轉件323a沿著第一組裝件322a的螺紋向下旋轉時，可連帶使得第一組裝件322a向上移動。而當旋轉件323a沿著第一組裝件322a的螺紋向上旋轉時，可藉由彈性件323b的彈性以方便地讓第一組裝件322a向下移動。最后測試單元32可以藉由外罩324將主體321、組裝單元322與高度調節單元323的部分區域覆蓋住，并利用鎖固件325將外罩324固定于主體321上。如此一來，即可保持測試單元32的美觀及外觀的整體性。由上述的說明可知，在本實施方式中，測試單元32可以藉由高度調節單元323方便地調整測試接頭50的高度，再搭配位置調節單元33即可調整測試單元32的位置，可以配合不同大小或規格的待測裝置40。最后當控制模塊22輸出控制信號時，控制動力控制單元34的電磁閥341導通或截止，以利用通氣管343提供的壓縮空氣驅動汽缸342，使得測試單元32在汽缸342的推動下對待測裝置40的連接端口重復進行插拔測試，直到達到設定次數為止。控制器20的控制模塊22還可將此測試歷程儲存于緩沖模塊21中。計算機系統10再自緩沖模塊21中讀 取測試歷程，以記錄于記錄模塊12中以供使用者分析。接下來請參考圖4，圖4是本發明的自動測試控制的方法的步驟流程圖。此處需注意的是，以下雖以具有計算機系統10、控制器20及自動測試裝置30的自動測試系統I為例說明本發明的自動測試控制的方法，但本發明的自動測試控制的方法并不以使用在上述的裝置為限。首先進行步驟400 :提供自動測試裝置以設置待測裝置。首先自動測試系統I提供自動測試裝置30以設置待測裝置40，并調整測試單元32的位置及高度以配合待測裝置40的連接端口的規格。由于調整測試單元32的方式已經被詳細描述，故在此不再贅述其調整方式。其次進行步驟401 :藉由計算機系統產生控制參數。計算機系統10提供使用者界面11，以供使用者設定控制參數。此控制參數可包括選擇自動測試裝置30中要進行測試流程的測試單元32以及設定插拔次數等。計算機系統10將控制參數經由串行數據通信接口 60傳輸至控制器20，并同時記錄于記錄模塊12中。接著進行步驟402 :執行信號比對流程。當控制器20啟動時，先執行初始化流程以清空緩沖模塊21的數據。接著控制器20接收到自計算機系統10傳來的控制參數時，直接儲存于緩沖模塊21內，并利用半雙工通信等方式傳送一聯絡信號回計算機系統10。待計算機系統10確認傳送的聯絡信號內容與控制參數相同時，控制器20才進行下一步驟。因此當執行完信號比對流程后，執行步驟403 :根據控制參數以藉由控制器產生控制信號。控制器20的控制模塊22藉由緩沖模塊21所儲存的控制參數，針對不同的電磁閥341產生不同的控制信號，再傳輸至自動測試裝置30的動力控制單元34。接著進行步驟404 :根據控制信號以藉由動力控制單元驅動測試單元，以自動對連接端口進行測試。當動力控制單元34接收到控制信號后，控制電磁閥341的導通與截止，以藉由通氣管343提供的壓縮空氣使得汽缸342得以動作，以推動測試單元32對連接端口執行插拔測試。最后執彳了步驟405 :儲存測試歷程。自動測試裝置30將已經插拔的次數傳輸到控制器20的緩沖模塊21，儲存成一測試歷程。計算機系統10再自緩沖模塊21中讀取測試歷程，一并記錄于記錄模塊12內。
最后在自動測試流程結束后，使用者可利用外觀觀察或是實際測試連接端口的功能，再根據記錄模塊12的記錄以分析出連接端口的耐久度。此處需注意的是，本發明的自動測試控制的方法并不以上述的步驟次序為限，只要能達到本發明的目的，上述的步驟次序亦可加以改變。由上述的說明可知，本發明的自動測試系統I能夠完全自動化地對待測裝置40進行測試，并且自動測試裝置30也較容易根據不同待測裝置40的規格來進行調整，明顯優于先前技術的測試裝置。
綜上所陳，本發明無論就目的、手段及功效，處處均顯示其迥異于公知技術的特征，懇請審查員明察，早日賜準專利，使嘉惠社會，實感德便。惟應注意的是，上述諸多實施例僅是為了便于說明而舉例而已，本發明所要求保護的權利范圍自然應當以權利要求書的范圍所述為準，而非僅限于上述實施例。
權利要求
1.一種自動測試裝置，該自動測試裝置接收一控制信號以測試一待測裝置的一連接端口的耐久度，該自動測試裝置包括 一測試平臺，該測試平臺用以設置該待測裝置； 一測試單元，該測試單元包括 一主體； 一組裝單元，該組裝單元接觸于該主體，用以安裝一測試接頭，該測試接頭配合該連接端口的規格；以及 一高度調節單元，該高度調節單元連接于該主體并與該組裝單元互相配合以調整該組裝單元的一高度；以及 一動力控制單元，該動力控制單元連接于該測試單元，該動力控制單元在接收該控制信號后，驅動該測試單元以藉由該測試接頭對該連接端口進行測試。
2.如權利要求I所述的自動測試裝置，其中該高度調節單元包括一旋轉件及一彈性件，該旋轉件藉由轉動以控制該彈性件調整該組裝單元的該高度。
3.如權利要求2所述的自動測試裝置，其中該組裝單元包括一第一組裝件及一第二組裝件，該第一組裝件及該第二組裝件用以夾持該測試接頭，并藉由至少一鎖固件以互相固定。
4.如權利要求3所述的自動測試裝置，其中該第一組裝件還包括一容置槽，該容置槽用以容納該彈性件。
5.如權利要求3所述的自動測試裝置，其中該第二組裝件還包括至少一凹槽。
6.如權利要求I所述的自動測試裝置，還包括一位置調節單元，該位置調節單元與該動力控制單元相連接以調整該測試單元的一位置，該位置調節單元包括 一第一軌道，該動力控制單元設置于該第一軌道上，使得該測試單元得以沿著一第一方向滑動； 一第一固定件，該第一固定件與該第一軌道互相配合，用以將該測試單元固定于一定占. 一第二軌道，該第二軌道與該第一軌道互相連接，使得該測試單元得以沿著一第二方向滑動；以及 一第二固定件，該第二固定件與該第二軌道互相配合，用以將該測試單元固定于該定點。
7.如權利要求I所述的自動測試裝置，其中該動力控制單元包括 一電磁閥；以及 一汽缸，該汽缸連接于該電磁閥及該測試單元，該控制信號控制該電磁閥的導通或截止，以進一步驅動該汽缸，使得該測試單元得以動作。
8.如權利要求I所述的自動測試裝置，還包括一定位裝置，該定位裝置設置于該測試平臺的一定位槽孔，以固定該待測裝置。
9.如權利要求I所述的自動測試裝置，其中 該高度調節單元包括一旋轉件及一彈性件，該旋轉件藉由轉動以控制該彈性件調整該組裝單元的該高度； 該組裝單元包括一第一組裝件及一第二組裝件，該第一組裝件及該第二組裝件用以夾持該測試接頭，并藉由至少一鎖固件以互相固定；以及 該自動測試裝置還包括 一位置調節單元，該位置調節單元與該動力控制單元相連接以調整該測試單元的一位置；以及 一定位裝置，該定位裝置設置于該測試平臺的一定位槽孔，以固定該待測裝置。
10.一種自動測試系統，該自動測試系統用以測試一待測裝置的一連接端口的耐久度，該自動測試系統包括 一計算機系統，該計算機系統產生一控制參數； 一控制器，該控制器與該計算機系統電性連接以接收該控制參數，該控制器包括 一緩沖模塊，該緩沖模塊儲存該控制參數；以及 一控制模塊，該控制模塊與該緩沖模塊電性連接，以根據該控制參數產生一控制信號；以及 一自動測試裝置，該自動測試裝置與該控制器電性連接，用以接收該控制信號，該自動測試裝置包括 一測試平臺，該測試平臺用以設置該待測裝置； 一測試單元，該測試單元包括 一主體； 一組裝單元，該組裝單元連接于該主體，用以安裝一測試接頭，該測試接頭配合該連接端口的規格；以及 一高度調節單元，該高度調節單元連接于該主體并與該組裝單元互相配合以調整該組裝單元的一高度；以及 一動力控制單元，該動力控制單元連接于該測試單元，該動力控制單元在接收該控制信號后，驅動該測試單元以藉由該測試接頭對該連接端口進行測試，并經由該控制器以將一測試歷程儲存于該緩沖模塊內，該計算機系統再讀取該測試歷程。
11.如權利要求10所述的自動測試系統，其中該高度調節單元包括一旋轉件及一彈性件，該旋轉件藉由轉動以控制該彈性件調整該組裝單元的該高度。
12.如權利要求10所述的自動測試系統，其中該自動測試裝置還包括一位置調節單元，該位置調節單元與該動力控制單元相連接以調整該測試單元的一位置，該位置調節單元包括 一第一軌道，該動力控制單元設置于該第一軌道上，使得該測試單元得以沿著一第一方向滑動； 一第一固定件，該第一固定件與該第一軌道互相配合，用以將該測試單元固定于一定占. 一第二軌道，該第二軌道與該第一軌道互相連接，使得該測試單元得以沿著一第二方向滑動；以及 一第二固定件，該第二固定件與該第二軌道互相配合，用以將該測試單元固定于該定點。
13.如權利要求10所述的自動測試系統，其中該控制器還包括一切換電路，該切換電路與該控制模塊電性連接；該動力控制單元包括一電磁閥，該電磁閥與該切換電路電性連接；以及 一汽缸，該汽缸連接于該電磁閥及該測試單元，該控制信號控制該電磁閥的導通或截止，以進一步驅動該汽缸，使得該測試單元得以動作。
14.如權利要求10所述的自動測試系統，其中該計算機系統還包括 一使用者界面，該使用者界面用以供一使用者設定該控制參數；以及 一記錄模塊，該記錄模塊用以記錄該控制參數及該測試歷程。
15.如權利要求10所述的自動測試系統，其中該計算機系統藉由一串行數據通信接口以電性連接該控制器。
16.一種自動測試控制的方法，該自動測試控制的方法用于一自動測試系統，該自動測試系統具有一自動測試裝置，用以測試一待測裝置的一連接端口的耐久度，該方法包括以下步驟 藉由一計算機系統產生一控制參數； 根據該控制參數以藉由一控制器產生一控制信號； 根據該控制信號以藉由一動力控制單元驅動一測試單元，以自動對該連接端口進行測試；以及 儲存一測試歷程。
17.如權利要求16所述的自動測試控制的方法，其中產生該控制信號的步驟還包括 提供一使用者界面以設定該控制參數。
18.如權利要求16所述的自動測試控制的方法，還包括以下步驟 在該計算機系統及該控制器之間執行一信號比對流程。
19.如權利要求18所述的自動測試控制的方法，其中執行該信號比對流程的步驟包括 自該計算機系統接收該控制參數后，藉由該控制器傳送一聯絡信號回該計算機系統；以及 藉由該計算機系統確認該聯絡信號的內容與該控制參數是否相同。
20.如權利要求16所述的自動測試控制的方法，其中該動力控制單元包括一電磁閥及一汽缸，藉由該動力控制單元驅動該測試單元的步驟還包括 根據該控制信號控制該電磁閥的導通或截止；以及 驅動該汽缸，使得該測試單元得以動作。
全文摘要
本發明涉及一種自動測試裝置、自動測試系統及其自動測試控制的方法。該自動測試裝置接收一控制信號以測試一待測裝置的一連接端口的耐久度，該自動測試裝置包括一測試平臺、一測試單元以及一動力控制單元；該測試平臺用以設置該待測裝置；該測試單元包括一主體、一組裝單元以及一高度調節單元；該組裝單元接觸于該主體，用以安裝一測試接頭，該測試接頭配合該連接端口的規格；該高度調節單元連接于該主體并與該組裝單元互相配合以調整該組裝單元的一高度；該動力控制單元連接于該測試單元，該動力控制單元在接收該控制信號后，驅動該測試單元以藉由該測試接頭對該連接端口進行測試。本發明可完全自動化地測試待測裝置，且易于調整。
文檔編號G01R31/00GK102914704SQ201110220728
公開日2013年2月6日 申請日期2011年8月3日 優先權日2011年8月3日
發明者吳仕平, 王昌浩 申請人:緯創資通股份有限公司, 緯創資通(昆山)有限公司