專利名稱：電磁干擾測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電子裝置性能測(cè)試裝置，尤其涉及一種電磁干擾測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的對(duì)電子裝置進(jìn)行電磁干擾測(cè)試的過程一般包括預(yù)測(cè)試步驟以及終測(cè)試步驟，所述預(yù)測(cè)試步驟用以篩選出可能導(dǎo)致待測(cè)裝置輻射超標(biāo)的頻率點(diǎn)，再通過終測(cè)試步驟精確測(cè)量電子裝置在上述每一頻率點(diǎn)工作時(shí)的輻射強(qiáng)度是否超標(biāo)。 一般預(yù)測(cè)試步驟的詳細(xì)操作為首先，將一測(cè)試用天線調(diào)節(jié)到垂直極性狀態(tài)，并將天線依次作動(dòng)于預(yù)定的不同高度，例如lm、2m、3m及4m,且當(dāng)天線處于每一預(yù)定高度時(shí),均通過旋轉(zhuǎn)臺(tái)帶動(dòng)固定于旋轉(zhuǎn)臺(tái)上的待測(cè)裝置旋轉(zhuǎn)一周，以通過天線于以上四個(gè)不同的高度分別接收到待測(cè)裝置輻射的信號(hào)，并將該信號(hào)放大后傳送至頻譜儀，頻譜儀將最終顯示該頻段內(nèi)接收到的信號(hào)中的最強(qiáng)信號(hào)值，即可通過頻譜儀分析出在測(cè)試頻段內(nèi)，待測(cè)裝置垂直極性下的輻射的最強(qiáng)信號(hào)中超出電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)的頻率點(diǎn)。然后，將上述天線調(diào)節(jié)到水平極性狀態(tài)，再重復(fù)上述操作，并通過頻譜儀分析出在測(cè)試頻段內(nèi)，待測(cè)裝置水平極性下輻射的最強(qiáng)信號(hào)中超出電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)的頻率點(diǎn)。終測(cè)試步驟為當(dāng)待測(cè)裝置的垂直極性狀態(tài)下有超出電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)的頻率點(diǎn)，則將天線置于垂直極性；將連接至天線的接收機(jī)調(diào)節(jié)至接收該頻率點(diǎn)的信號(hào)；作動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)帶動(dòng)待測(cè)裝置旋轉(zhuǎn)一周，以通過接收機(jī)確定天線接收的信號(hào)強(qiáng)度最強(qiáng)時(shí)該旋轉(zhuǎn)臺(tái)的角度位置(最大發(fā)射角度)，并使該旋轉(zhuǎn)臺(tái)保持該最大發(fā)射角度；作動(dòng)天線于上述的調(diào)節(jié)高度的方向升降至一最佳接收高度，使得此時(shí)接收機(jī)接收到的天線接收到的信號(hào)強(qiáng)度最大，該信號(hào)強(qiáng)度的最大值即待測(cè)裝置垂直極性下于該頻率點(diǎn)時(shí)的輻射強(qiáng)度，若該輻射強(qiáng)度超出電磁標(biāo)準(zhǔn)，則該天線不合格。當(dāng)待測(cè)裝置的水平極性狀態(tài)下也有超出電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)的頻率點(diǎn)時(shí)，將天線調(diào)節(jié)到水平極性狀態(tài)，再重復(fù)上述操作，確定待測(cè)裝置于上述各頻率點(diǎn)時(shí)的最大輻射強(qiáng)度是否超出現(xiàn)行的電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)。通過上述方法，即可依次確定待測(cè)裝置垂直極性下以及水平極性下的輻射強(qiáng)度，以進(jìn)一步確定所述待測(cè)裝置的輻射強(qiáng)度是否超標(biāo)而不合格，生產(chǎn)人員也可根據(jù)上述測(cè)試結(jié)果對(duì)測(cè)試不合格的裝置進(jìn)行調(diào)整。若上述初測(cè)試步驟中并未檢測(cè)到待測(cè)裝置的輻射強(qiáng)度超出現(xiàn)行的電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)，則無需進(jìn)行后續(xù)的終測(cè)試步驟?？梢姡鲜鰷y(cè)量方法的初測(cè)試步驟中，對(duì)應(yīng)垂直極性狀態(tài)以及水平極性狀態(tài)均要作動(dòng)天線于多個(gè)不同的高度對(duì)待測(cè)裝置進(jìn)行輻射強(qiáng)度測(cè)量，測(cè)試效率較低，且容易導(dǎo)致增加測(cè)試成本。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種測(cè)試效率較高的電磁干擾測(cè)試裝置。—種電磁干擾測(cè)試裝置，用以測(cè)試電子裝置的輻射強(qiáng)度是否超出預(yù)定的電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)，所述電磁干擾測(cè)試裝置包括用以承載電子裝置的轉(zhuǎn)臺(tái)、預(yù)測(cè)試分析儀、終測(cè)試分析儀以及天線陣列，所述天線陣列實(shí)現(xiàn)同時(shí)于不同高度分別接收待測(cè)裝置發(fā)出的不同極性的信號(hào)，所述預(yù)測(cè)試分析儀篩選出上述接收到的不同極性信號(hào)中超出預(yù)定電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)的頻率點(diǎn)，該天線陣列再配合終測(cè)試分析儀確認(rèn)電子裝置于上述頻率點(diǎn)所產(chǎn)生的信號(hào)強(qiáng)度是否超出上述電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)。本發(fā)明電磁干擾測(cè)試裝置，于轉(zhuǎn)臺(tái)帶動(dòng)電子裝置旋轉(zhuǎn)一周的時(shí)間內(nèi)，通過天線陣列同時(shí)于不同高度接收不同極性的信號(hào)，并通過預(yù)測(cè)試分析儀配合主機(jī)篩選出可能導(dǎo)致待測(cè)裝置輻射強(qiáng)度超標(biāo)的頻率點(diǎn)，相對(duì)現(xiàn)有方法，本發(fā)明電磁干擾測(cè)試裝置的預(yù)測(cè)試步驟的時(shí)間僅為轉(zhuǎn)臺(tái)旋轉(zhuǎn)一周的時(shí)間，測(cè)試效率更高。
圖I是本發(fā)明較佳實(shí)施方式的電磁干擾測(cè)試裝置的架構(gòu)圖。圖2是圖I的俯視示意圖。圖3是圖I所示天線陣列示意圖。主要元件符號(hào)說明
權(quán)利要求
1.一種電磁干擾測(cè)試裝置，用以測(cè)試電子裝置的輻射強(qiáng)度是否超出預(yù)定的電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)，所述電磁干擾測(cè)試裝置包括用以承載電子裝置的轉(zhuǎn)臺(tái)、預(yù)測(cè)試分析儀以及終測(cè)試分析儀，其特征在于所述電磁干擾測(cè)試裝置還包括天線陣列，所述天線陣列實(shí)現(xiàn)同時(shí)于不同高度分別接收待測(cè)裝置發(fā)出的不同極性的信號(hào)，所述預(yù)測(cè)試分析儀篩選出上述接收到的不同極性信號(hào)中超出預(yù)定電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)的頻率點(diǎn)，該天線陣列再配合終測(cè)試分析儀確認(rèn)電子裝置于上述頻率點(diǎn)所產(chǎn)生的信號(hào)強(qiáng)度是否超出上述電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)。
2.如權(quán)利要求I所述的電磁干擾測(cè)試裝置，其特征在于所述天線陣列包括若干預(yù)測(cè)試天線，所述若干預(yù)測(cè)試天線按照現(xiàn)行測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分別設(shè)置于不同的測(cè)試高度，且呈垂直極性以及水平極性放置，天線陣列通過上述預(yù)測(cè)試天線同時(shí)于不同高度接收垂直極性以及水平極性的信號(hào)。
3.如權(quán)利要求2所述的電磁干擾測(cè)試裝置，其特征在于所述電磁干擾測(cè)試裝置還包括主機(jī)，所述預(yù)測(cè)試分析儀為多個(gè)，所述多個(gè)預(yù)測(cè)試分析儀均連接至主機(jī)，并分別連接至一預(yù)測(cè)試天線，所述預(yù)測(cè)試分析儀將每一預(yù)測(cè)試天線接收到的信號(hào)最大值傳送至主機(jī)，以通過主機(jī)篩選出電子裝置輻射的不同極性的信號(hào)中超出上述電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)的頻率點(diǎn)。
4.如權(quán)利要求3所述的電磁干擾測(cè)試裝置，其特征在于所述預(yù)測(cè)試分析儀均為頻譜儀。
5.如權(quán)利要求2所述的電磁干擾測(cè)試裝置，其特征在于所述天線陣列還包括連接至一終測(cè)試分析儀的終測(cè)試天線，所述終測(cè)試天線接收電子裝置輻射的最強(qiáng)信號(hào)，并通過終測(cè)試分析儀確定上述超出所述電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)的各頻率點(diǎn)對(duì)應(yīng)的電子裝置輻射的最強(qiáng)信號(hào)是否超出電磁標(biāo)準(zhǔn)。
6.如權(quán)利要求5所述的電磁干擾測(cè)試裝置，其特征在于所述終測(cè)試分析儀為接收機(jī)。
7.如權(quán)利要求5所述的電磁干擾測(cè)試裝置，其特征在于所述電子裝置設(shè)置于轉(zhuǎn)臺(tái)中心處，預(yù)測(cè)試天線以及終測(cè)試天線環(huán)繞轉(zhuǎn)臺(tái)中心設(shè)置，且均與電子裝置保持一預(yù)設(shè)距離。
8.如權(quán)利要求5所述的電磁干擾測(cè)試裝置，其特征在于所述轉(zhuǎn)臺(tái)帶動(dòng)電子裝置旋轉(zhuǎn)一周，并通過接收機(jī)確定終測(cè)試天線接收到的信號(hào)最強(qiáng)時(shí)轉(zhuǎn)臺(tái)的角度，并保持轉(zhuǎn)臺(tái)于該角度，同時(shí)終測(cè)試天線保持待測(cè)試頻率點(diǎn)的極性,并于豎直方向運(yùn)動(dòng),并通過接收機(jī)確定終測(cè)試天線接收到的信號(hào)最強(qiáng)時(shí)終測(cè)試天線的高度，并保持終測(cè)試天線于該高度，此時(shí)接收機(jī)接收到的信號(hào)即電子裝置于該極性的頻率點(diǎn)下的輻射的最強(qiáng)信號(hào)。
9.如權(quán)利要求8所述的電磁干擾測(cè)試裝置，其特征在于所述終測(cè)試天線通過固定機(jī)構(gòu)固定，以通過固定機(jī)構(gòu)帶動(dòng)終測(cè)試天線旋轉(zhuǎn)切換至不同極性，并帶動(dòng)終測(cè)試天線于豎直方向調(diào)整至接收電子裝置輻射的最強(qiáng)信號(hào)的高度。
10.如權(quán)利要求2所述的電磁干擾測(cè)試裝置，其特征在于所述若干預(yù)測(cè)試天線通過天線座固定，每一天線座上承載的兩個(gè)天線極性彼此相同。
全文摘要
一種電磁干擾測(cè)試裝置，用以測(cè)試電子裝置的輻射強(qiáng)度是否超出預(yù)定的電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)，所述電磁干擾測(cè)試裝置包括用以承載電子裝置的轉(zhuǎn)臺(tái)、預(yù)測(cè)試分析儀、終測(cè)試分析儀以及天線陣列，所述天線陣列實(shí)現(xiàn)同時(shí)于不同高度分別接收待測(cè)裝置發(fā)出的不同極性的信號(hào)，所述預(yù)測(cè)試分析儀篩選出上述接收到的不同極性信號(hào)中超出預(yù)定電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)的頻率點(diǎn)，該天線陣列再配合終測(cè)試分析儀確認(rèn)電子裝置于上述頻率點(diǎn)所產(chǎn)生的信號(hào)強(qiáng)度是否超出上述電磁輻射標(biāo)準(zhǔn)。
文檔編號(hào)G01R31/00GK102854409SQ20111018161
公開日2013年1月2日 申請(qǐng)日期2011年6月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月30日
發(fā)明者何小練 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司