專利名稱：一種印刷品質量和缺陷檢測方法
技術領域：
本發明屬于印刷品全畫面質量檢測和控制領域，尤其涉及一種印刷品質量和缺陷檢測方法。
背景技術：
無論是傳統印刷還是數字印刷，在印刷過程中人們都要面臨一個非常重要的問題，就是印刷品質量檢測與控制。現代印刷機的速度不斷提高，對印刷品的質量檢測與控制提出了更高的要求。傳統的印刷品質量檢測控制手段已不能滿足和保證現代印刷高質、高效、低成本的要求。因此，印刷廠商對實現印刷品質量自動檢測夢寐以求，它不僅是印刷質量數據化、規范化的基礎，更是后續印刷自動控制的必要環節。就目前而言，針對印刷品全畫面檢測技術在國內只是起步性質的研究，在印刷品質量的測控系統方面存在精度差的缺點。國外的研究則已進入了比較成熟的階段，許多知名的膠印機生產廠商都己結合自己的印刷設備成功開發出了各自的印刷圖像色彩檢測和控制系統。這些系統中，大多采用分光光度計測量法、標準樣張色譜值對比法、墨色密度法、 神經網絡識別法、快速傅里葉變換方法等對印刷品質量進行識別和分類，測量準確率較高， 速度比較快。但結合國內印刷行業中紙張、油墨等耗材的多樣性以及印刷設備的型號各有不同的實際情況，國外的研究成果及產品并不能夠完全適應我國印刷材料和印刷機器的印刷質量檢測。但總體上看，國內外大多數印刷質量自動檢測針對于灰度圖像和形狀缺陷的檢測，即灰度圖像下的油墨濺污、墨點、起皺、套印不準、漏白等缺陷檢測，而針對印刷品彩色圖像的自動檢測很少，特別是利用印刷品彩色圖像的色度對比進行的缺陷自動檢測。此外，現有的針對印刷品彩色圖像的自動檢測技術成本較高，設備價格貴，檢測精度不高，誤差較大。
發明內容
本發明提供了一種印刷品質量和缺陷檢測方法，旨在解決國內外針對印刷品彩色圖像的自動檢測很少，特別是利用印刷品彩色圖像的色度對比進行的缺陷自動檢測以及現有的針對印刷品彩色圖像的自動檢測技術成本較高，設備價格貴，檢測精度不高，誤差較大的問題。本發明實施例的目的在于提供一種印刷品全畫面質量和缺陷檢測方法，所述方法包括用光電耦合器獲取標準樣張和待測印刷品的數字圖像；對這兩幅數字圖像分區，提取每個區域內每個像素的RGB值，并轉換為CIELAB 值；對待測印刷品圖像中各個像素的CIELAB值與標準樣張圖像中對應像素CIELAB值進行色差、Δ L*、Δ a*和Δ b*的計算；根據不同質量要求的色差、ΔΙΛ Af和Ab*的閾值來判斷印刷品的差別和缺陷。
本發明提供了一種基于色度識別法的印刷品全畫面質量和缺陷檢測方法，與現有技術相比，不需傳統的測控條，考慮了可變質量檢測及可變區域分區，能夠更加靈活地適應印刷條件的改變。
圖1為本發明實施例提供的印刷品全畫面質量和缺陷檢測方法的實現流程圖；圖2為圖1提供的檢測方法中所使用的標準樣張的數字圖像；圖3為圖1提供的檢測方法中所使用的待測樣張的數字圖像；圖4為圖1提供的檢測方法的色差檢測結果顯示圖像；圖5為圖1提供的檢測方法的ΔΙ；檢測結果顯示圖像；圖6為圖1提供的檢測方法的Af檢測結果顯示圖像；圖7為圖1提供的檢測方法的Ab*檢測結果顯示圖像；圖8為圖1提供的檢測方法的色差、ΔΙΛ Aaln Δ b*最終檢測結果的數據參考表。
具體實施例方式為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。圖1示出了本發明實施例提供的印刷品質量和缺陷檢測方法的實現流程圖。本發明實施例提供的檢測方法的具體步驟如下在步驟SlOl中，用光電耦合器獲取標準樣張和待測印刷品的數字圖像。光電耦合器獲取的數字圖像必須是印刷品上的全部圖像，不允許有任何缺失，以保證該方法的有效性。在步驟S102中，使用計算機對這兩幅數字圖像進行分區，提取每個區域內每個像素的RGB值，并轉換為CIELAB值，其中RGB值轉換為CIELAB值使用的方法是多元線性回歸方程和分段回歸法。在步驟S103中，對待測印刷品圖像中各個像素的CIELAB值與標準樣張圖像中對應像素CIELAB值進行色差、ΔΙΛ Δ 和Ab*的計算。色差計算公式
權利要求
1.一種印刷品全畫面質量和缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括 用光電耦合器獲取標準樣張和待測印刷品的數字圖像；對數字圖像分區，提取每個區域內每個像素的RGB值，并轉換為CIELAB值； 對待測印刷品圖像中各個像素的CIELAB值與標準樣張圖像中對應像素CIELAB值進行色差、ΔΙΛ Δ a*和Ab*的計算；根據不同質量要求的色差、ΔΙΛ Af和Ab*的閾值來判斷印刷品的差別和缺陷。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述數字圖像必須是印刷品上的無缺失的全部圖像。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述RGB值轉換為CIELAB值使用的方法是多元線性回歸方程和分段回歸法。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述色差、ΔΙΛAf和Ab*的計算的計算方法如下色差計算公式
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述色差、ΔΙΛ Aa*, Ab*的閾值的缺省值均為4，選擇范圍均為1-6 ；當檢測得到的差值大于選擇的閾值，則印刷品檢測區域內存在缺陷。
全文摘要
本發明屬于印刷品全畫面質量檢測和控制領域，提供了一種印刷品全畫面質量和缺陷檢測方法，包括用光電耦合器獲取標準樣張和待測印刷品的數字圖像；對數字圖像分區，提取每個區域內每個像素的RGB值，并轉換為CIELAB值；對待測印刷品圖像中各個像素的CIELAB值與標準樣張圖像中對應像素CIELAB值進行色差、ΔL*、Δa*和Δb*的計算；根據不同質量要求的色差、ΔL*、Δa*和Δb*的閾值來判斷印刷品的差別和缺陷。本發明提供了一種基于色度識別法的印刷品全畫面質量和缺陷檢測方法，與現有技術相比，不需傳統的測控條，考慮了可變質量檢測及可變區域分區，能夠更加靈活地適應印刷條件的改變。
文檔編號G01N21/88GK102221554SQ201110085519
公開日2011年10月19日 申請日期2011年4月6日 優先權日2011年4月6日
發明者于治國, 呂晶, 唐萬有, 徐敏, 易端陽, 李志會, 李銘祺, 李雪梅, 汪珊珊, 王學美, 王慧芳, 王文鳳, 蔣瑞雪, 許瑞馨, 郝健強, 陳婧, 馬千里 申請人:天津科技大學