專利名稱：Qfn芯片重力式測試裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及精密機械領域，尤其涉及一種應用于重力式測試分選機的測試裝置。
背景技術：
目前旺盛的封測市場需求對封測企業的生產能力以及生產的穩定性都提出了新的要求。但現有的封測設備(如自動檢測分類機等)難以滿足生產的要求。其主要原因在于，舊有的封測設備自動性能較差，一般都是采用人工或半自動上料機構，難以滿足目前IC 封裝形式、型號快速多變的實際需要。現有的測試機構由于測試裝置機構的外型尺寸偏大，操作不便。而且，測試時對料的沖擊力較大，噪音也大，容易對產品造成損傷。因此，本領域的技術人員一直致力于開發一種換向平穩、沖擊力小、空間占用小的應用于自動檢測分選機的測試裝置。
發明內容
有鑒于現有技術的上述缺陷，本發明所要解決的技術問題是提供一種定位精確、 沖擊力小、空間占用小的應用于自動檢測分選機的測試裝置。為實現上述目的，本發明提供了一種重力式測試分選機的測試裝置；至少包括本體，所述本體上設置有第一氣缸、兩導軌滑塊、彈簧、導柱、擋塊；所述本體上還設置有真空吸桿；所述真空吸桿的首端設置有定位槽，所述真空吸桿的尾端設置有第二氣缸。較佳地，所述定位槽的上方設置有導軌塊。較佳地，利用所述真空吸桿吸附芯片產品的一側面，所述測試裝置適用于四面具有管腿的芯片產品。本發明由于上述結構設計，具有結構簡單，定位精確，自動化程度高，效率高，沖擊力小、空間占用小等有益效果。以下將結合附圖對本發明的構思、具體結構及產生的技術效果作進一步說明，以充分地了解本發明的目的、特征和效果。
圖1是本發明一具體實施例的立體結構示意圖；圖2是圖1所示實施例的另一立體結構示意圖；圖3是圖1中一局部結構示意圖；圖4是圖1所示實施例在工作狀態與插座的位置關系結構示意圖。
具體實施例方式在IC封裝領域，重力式測試分選機是用于檢測流水線上生產出的微小的卡類零件(即待檢工件)。由于待檢工件體積較小，多個待檢工件是裝置在工作料管中一起被轉運或安置。待檢工件僅在檢測工位時從工作料管中滑出，檢測后，又被分選機根據良品、次品分類送入不同的空工作料管中，并被分類運往不同的下一工序。裝有良品的工作料管可以直接包裝出廠，裝有次品的工作料管中的卡類零件被回收再做分析或銷毀。本發明的測試裝置是用于重力式測試分選機中。如圖1、圖2、圖3所示為本發明一具體實施例的結構示意圖，一種重力式測試分選機的測試裝置，至少包括本體1，本體1上設置有第一氣缸21、兩個導軌滑塊22、兩個彈簧 23、導柱M、擋塊25。本體1上還設置有真空吸桿3 ；真空吸桿3的首端設置有定位槽31，真空吸桿3的尾端設置有第二氣缸26。定位槽31的上方設置有導軌塊27。如圖4所示，本裝置把QFN芯片固定在檢測裝置中，之后推送到插座5 (socket) 處，通過外界軟件對其進行特性測試。本裝置主要解決芯片的精確定位及工位變換問題。本裝置的具體操作如下說明一 QFN芯片產品10從上而下滑入導軌塊27中，最終滑到真空吸桿3的定位槽31 內。預先有第一氣缸21推動擋塊25，把芯片產品10卡在定位槽31中以精確定位。同時，真空吸桿3的端部(端部設置有精確的定位槽31)把芯片產品10吸住，吸住的同時第二氣缸26把真空吸桿3繼續向前推。此后，兩側導軌滑塊22在彈簧23的作用下向兩邊張開，真空吸桿3推向插座5方向進行測試。此后，本發明上有精密導柱M與插座5上的導套(圖中未示出)精密定位后，待測試的芯片產品10與測試用的精密連接器(pogopin)接觸，通過外接的信號測試部將測試結果輸出。當測試結束后，測試的芯片產品10隨真空吸桿3退回到待測狀態。然后真空吸氣斷開，芯片產品10順著導軌從真空吸桿3上而下滑出導軌塊27，進入好品料管。如果是次品，將被送入次品料管中。現有技術中，當芯片產品只具有一左一右，或一上一下的管腳布置時，可以在其空閑的側面定位，然后做測試。但對于具有四個管腳的芯片產品，現有設備無法定位。本發明的測試裝置利用真空吸桿3吸附住芯片產品10的一個側面(如本實施例中是芯片產品10 的后側面)，尤其適用于四面具有管腿的芯片產品，解決了現有技術未解決的技術問題。本發明可以采用四軌同時測試，可以大幅度提高產量，每小時單軌的產量可達到 6K 7K。綜上所述，本說明書中所述的只是本發明的幾種較佳具體實施例，以上實施例僅用以說明本發明的技術方案而非限制。凡本技術領域中技術人員依本發明的構思在現有技術的基礎上通過邏輯分析、推理或者有限的實驗可以得到的技術方案，皆應在本發明的權利要求保護范圍之內。
權利要求
1.一種重力式測試分選機的測試裝置；至少包括本體，所述本體上設置有第一氣缸、 兩導軌滑塊、彈簧、導柱、擋塊；其特征在于所述本體上還設置有真空吸桿；所述真空吸桿的首端設置有定位槽，所述真空吸桿的尾端設置有第二氣缸。
2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于所述定位槽的上方設置有導軌塊。
3.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于利用所述真空吸桿吸附芯片產品的一側面，所述測試裝置適用于四面具有管腿的芯片產品。
全文摘要
本發明公開了一種重力式測試分選機的測試裝置；至少包括本體，所述本體上設置有第一氣缸、兩導軌滑塊、彈簧、導柱、擋塊；所述本體上還設置有真空吸桿；所述真空吸桿的首端設置有定位槽，所述真空吸桿的尾端設置有第二氣缸。本發明由于上述結構設計，具有結構簡單，定位精確，自動化程度高，效率高等有益效果。
文檔編號G01R1/02GK102175960SQ20111000886
公開日2011年9月7日 申請日期2011年1月14日 優先權日2011年1月14日
發明者崔學峰, 賀懷珍 申請人:上海微曦自動控制技術有限公司