專利名稱：阻抗測試探針的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種測試探針，尤其涉及一種阻抗測試探針。
背景技術：
請參閱圖1，目前的阻抗測試探針，由套管10’與測試針頭20’兩部份組成，測試 針頭20’位于所述套管10’中并與套管10’為一體結構，所述套管10’內于所述測試針頭 20’的一端抵接有一金屬彈簧30’，在阻抗測試時測試針頭20’直接與PCB板件連接并將測 試信號傳輸到TDR (時域反射計)測試模塊進行測試分析。然而，目前阻抗測試探針在使用時存在如下問題1、由于測試針頭與套管是一體結構，測試針頭會將接觸到的靜電傳遞到整根測試 針上；2、阻抗測試探針與PCB阻抗測試基板直接連接，導致PCB板上的靜電通過金屬彈 簧30’會直接傳輸到TDR測試模塊；而PCB基板上的靜電直接傳輸到TDR測試模塊時，TDR 測試模塊很容易被靜電擊穿，使TDR模塊使用壽命縮短。
實用新型內容本實用新型主要解決的技術問題是提供一種阻抗測試探針，能防止測試針頭將靜 電直接傳遞到整個測試探針上和防止測試時靜電傳輸到測試模塊上而影響測試模塊使用
壽命ο為解決上述技術問題，本實用新型采用的一個技術方案是提供一種阻抗測試探 針，包括一套管和一測試針頭，所述套管內設置有一銅軸電纜和一絕緣彈簧，所述測試針頭 的一端插接于所述套管內，所述絕緣彈簧連接所述測試針頭和所述銅軸電纜，所述套管與 所述銅軸電纜之間具有一絕緣樹脂層，所述套管接地。其中，所述測試針頭具有針頭和與針頭一端連接的針桿，所述針桿的另一端凸伸 有一第一抵接端，所述第一抵接端抵接在所述絕緣彈簧的一端上。其中，所述針頭軸向截面呈三角形。其中，所述測試針頭的針桿的一端到另一端的軸向寬度逐漸變寬，并且所述針桿 于鄰近絕緣彈簧的一端的軸向寬度大于所述絕緣彈簧的直徑。其中，所述測試針頭的第一抵接端的軸向寬度小于所述絕緣彈簧的直徑。其中，所述銅軸電纜于鄰近所述絕緣彈簧的一端凸伸有第二抵接端，遠離絕緣彈 簧的一端具有一信號線接線口。其中，所述第二抵接端的軸向寬度小于所述絕緣彈簧的直徑。本實用新型的有益效果是區別于現有技術的阻抗測試探針的測試針頭與套管為 一體結構并與金屬彈簧連接，測試針頭會將接觸到的靜電傳遞到整根測試針上和測試時靜 電會直接通過金屬彈簧傳輸到測試模塊上而影響測試模塊使用壽命的情況。本實用新型阻 抗測試探針通過將測試針頭與套管設置為分離結構，測試針頭的一端插接在所述套管內，
3并在套管內設置銅軸電纜和連接銅軸電纜與測試針頭的絕緣彈簧，如此在測試針頭接觸到 待測試物時，由于絕緣彈簧的絕緣阻隔使得待測試物上的靜電由測試針頭通過套管流向 地，而當測試針頭下壓待測試物壓縮絕緣彈簧使得測試針頭與銅軸電纜導通測試時，此時 待測試件和測試針頭上的靜電已經導走，沒有靜電，如此就能防止靜電直接傳輸到TDR測 試模塊上使得TDR測試模塊被靜電擊穿的情況，起到保護TDR測試模塊的作用。
圖1是現有阻抗測試探針的結構示意圖；圖2是本實用新型阻抗測試探針的結構示意圖。
具體實施方式
為詳細說明本實用新型的技術內容、構造特征、所實現目的及效果，以下結合實施 方式并配合附圖詳予說明。請參閱圖2，本實用新型阻抗測試探針，包括一套管10和一測試針頭20，所述套管 10內設置有一銅軸電纜30和一絕緣彈簧40，所述測試針頭20的一端插接于所述套管10 內，所述絕緣彈簧40連接所述測試針頭20和所述銅軸電纜30，所述套管10與所述銅軸電 纜30之間具有一絕緣樹脂層50，所述套管10接地。所述測試針頭20具有針頭21和與針頭21 —端連接的針桿22，所述針桿22的另 一端凸伸有一第一抵接端23，所述第一抵接端23抵接在所述絕緣彈簧40的一端上。所述 針頭21軸向截面呈三角形。所述測試針頭20的針桿22的一端到另一端的軸向寬度逐漸變 寬，并且所述針桿22于鄰近絕緣彈簧40的一端的軸向寬度大于所述絕緣彈簧40的直徑。 所述測試針頭20的第一抵接端23的軸向寬度小于所述絕緣彈簧40的直徑。所述銅軸電纜30于鄰近所述絕緣彈簧40的一端凸伸有第二抵接端31，遠離絕緣 彈簧40的一端具有一信號線接線口 32。所述第二抵接端31的軸向寬度小于所述絕緣彈簧 40的直徑。本實用新型阻抗測試探針在測試時，測試針頭20與套管10先相連，測試針頭20 在與待測試件接觸的同時，待測試件所帶的靜電通過測試針頭20和套管10導走；靜電導走 后，繼續下壓測試針頭20，使測試針頭20的第一抵接端23與同軸電纜的第二抵接端31相 連進行阻抗測試；此時待測試件和測試針頭20上的靜電已經導走，沒有靜電，如此能起到 保護TDR測試模塊。本實用新型的有益效果是區別于現有技術的阻抗測試探針的測試針頭與套管為 一體結構并與金屬彈簧連接，測試針頭會將接觸到的靜電傳遞到整根測試針上和測試時靜 電會直接通過金屬彈簧傳輸到測試模塊上而影響測試模塊使用壽命的情況。本實用新型阻 抗測試探針通過將測試針頭20與套管10設置為分離結構，測試針頭20的一端插接在所述 套管10內，并在套管10內設置銅軸電纜30和連接銅軸電纜30與測試針頭20的絕緣彈簧 40，如此在測試針頭20接觸到待測試物時，由于絕緣彈簧40的絕緣阻隔使得待測試物上 的靜電由測試針頭20通過套管流向地，而當測試針頭20下壓待測試物而壓縮絕緣彈簧40 使得測試針頭20與銅軸電纜30導通測試時，此時待測試件和測試針頭20上的靜電已經導 走，沒有靜電，如此就能防止靜電直接傳輸到TDR測試模塊上使得TDR測試模塊被靜電擊穿的情況，起到保護TDR測試模塊的作用。綜上所述，本實用新型阻抗測試探針結構簡單，能有效防止測試時靜電擊穿TDR 測試模塊的情況，提高TDR測試模塊的使用壽命。以上所述僅為本實用新型的實施例，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是 利用本實用新型說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在 其他相關的技術領域，均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內。
權利要求1.一種阻抗測試探針，其特征在于，包括一套管和一測試針頭，所述套管內設置有一銅 軸電纜和一絕緣彈簧，所述測試針頭的一端插接于所述套管內，所述絕緣彈簧連接所述測 試針頭和所述銅軸電纜，所述套管與所述銅軸電纜之間具有一絕緣樹脂層，所述套管接地。
2.根據權利要求1所述的阻抗測試探針，其特征在于所述測試針頭具有針頭和與針 頭一端連接的針桿，所述針桿的另一端凸伸有一第一抵接端，所述第一抵接端抵接在所述 絕緣彈簧的一端上。
3.根據權利要求2所述的阻抗測試探針，其特征在于所述針頭軸向截面呈三角形。
4.根據權利要求2所述的阻抗測試探針，其特征在于所述測試針頭的針桿的一端到 另一端的軸向寬度逐漸變寬，并且所述針桿于鄰近絕緣彈簧的一端的軸向寬度大于所述絕 緣彈簧的直徑。
5.根據權利要求4所述的阻抗測試探針，其特征在于所述測試針頭的第一抵接端的 軸向寬度小于所述絕緣彈簧的直徑。
6.根據權利要求1所述的阻抗測試探針，其特征在于所述銅軸電纜于鄰近所述絕緣 彈簧的一端凸伸有第二抵接端，遠離絕緣彈簧的一端具有一信號線接線口。
7.根據權利要求6所述的阻抗測試探針，其特征在于所述第二抵接端的軸向寬度小 于所述絕緣彈簧的直徑。
專利摘要本實用新型公開了一種阻抗測試探針，包括一套管和一測試針頭，所述套管內設置有一銅軸電纜和一絕緣彈簧，所述測試針頭的一端插接于所述套管內，所述絕緣彈簧連接所述測試針頭和所述銅軸電纜，所述套管與所述銅軸電纜之間具有一絕緣樹脂層，所述套管接地。本實用新型阻抗測試探針在將測試針頭接觸到待測試物時，由于絕緣彈簧的絕緣阻隔使得待測試物上的靜電由測試針頭通過套管流向地，而當測試針頭下壓待測試物壓縮絕緣彈簧使得測試針頭與銅軸電纜導通測試時，此時待測試件和測試針頭上的靜電已經導走，沒有靜電，如此就能防止靜電直接傳輸到TDR測試模塊上使得TDR測試模塊被靜電擊穿的情況，起到保護TDR測試模塊的作用。
文檔編號G01R27/02GK201780334SQ20102028583
公開日2011年3月30日 申請日期2010年8月9日 優先權日2010年8月9日
發明者李剛, 楊青枝, 陳國周 申請人:深南電路有限公司