專利名稱：硅圓錠斜面測試儀的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種硅圓錠斜面測試儀。
背景技術：
硅圓錠端面為斜面的情況使硅圓錠切割存在著一定的質量隱患，如切片過程中會 因斜面引發跳線、斷線等故障，故需要在切片前針對硅圓錠端面進行檢測。通常的做法是采 用卷尺測量圓錠的長度，三次不同的測量結果的差值為圓錠的斜面，這種測量方法存在誤 差，比如圓錠的截面為平行四邊行時，這種測量方法測量不出。
實用新型內容本實用新型所要解決的技術問題是設計一種硅圓錠斜面測試儀，可方便準確地 得知硅圓錠的斷面是否為斜面。本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是一種硅圓錠斜面測試儀，包括 平臺、圓錠夾具和晶托，在平臺上設置導軌，晶托的平面與導軌垂直，圓錠夾具通過夾具滑 座設置在導軌上，晶托通過晶托滑座設置在導軌上，晶托具有兩個，分別位于圓錠夾具的兩 側。圓錠夾具具有為左右兩個。本實用新型的有益效果是本測試儀能以圓錠的中心線為基準，即使圓錠截面為 平行四邊形也可測量出來，可通過目視或塞尺測量，測量方便。
以下結合附圖和具體實施方式
對本實用新型作進一步詳細的說明；
圖1是本實用新型的結構示意圖；其中1.平臺，1-1.導軌，2.圓錠夾具，2-1.夾具滑座，3.晶托，3-1.晶托滑座， 4.硅圓錠。
具體實施方式
如圖1所示，一種硅圓錠斜面測試儀，包括平臺1、圓錠夾具2和晶托3，在平臺1 上設置導軌1-1，晶托2的平面與導軌1-1垂直，圓錠夾具2通過夾具滑座2-1設置在導軌 1-1上，晶托3通過晶托滑座3-1設置在導軌1-1上，晶托3具有兩個，分別位于圓錠夾具2 的兩側。圓錠夾具2具有為左右兩個。將待檢測的硅圓錠4夾在圓錠夾具2上固定中心線 后，將硅圓錠4兩端面接觸到晶托3的平面，目視檢查是否有間隙，也可用塞尺測量，讀數即 為硅圓錠4的斜面的測量值。
權利要求一種硅圓錠斜面測試儀，其特征是包括平臺(1)、圓錠夾具(2)和晶托(3)，在所述的平臺(1)上設置導軌(1 1)，晶托(2)的平面與導軌(1 1)垂直，圓錠夾具(2)通過夾具滑座(2 1)設置在導軌(1 1)上，所述的晶托(3)通過晶托滑座(3 1)設置在導軌(1 1)上，晶托(3)具有兩個，分別位于圓錠夾具(2)的兩側。
2.根據權利要求1所述的硅圓錠斜面測試儀，其特征是所述的圓錠夾具(2)具有為 左右兩個。
專利摘要本實用新型涉及一種硅圓錠斜面測試儀，包括平臺、圓錠夾具和晶托，在平臺上設置導軌，晶托的平面與導軌垂直，圓錠夾具通過夾具滑座設置在導軌上，晶托通過晶托滑座設置在導軌上，晶托具有兩個，分別位于圓錠夾具的兩側。本測試儀能以圓錠的中心線為基準，即使圓錠截面為平行四邊形也可測量出來，可通過目視或塞尺測量，測量方便。
文檔編號G01B5/24GK201715990SQ20102026573
公開日2011年1月19日 申請日期2010年7月19日 優先權日2010年7月19日
發明者楊康樂 申請人:常州天合光能有限公司