專利名稱：基于精細頻率柵校準的非線性矢量網絡分析儀相位響應校準方法
技術領域：
本發明涉及一種非線性矢量網絡分析儀的校準方法。
背景技術：
上世紀90年代，隨著射頻、微波理論與技術的進步，直接測量含有非線性元件的 電路、器件和系統的復雜大信號的需求變得越來越突出，非線性矢量網絡分析儀是直接完 成大信號網絡分析的最佳工具。非線性矢量網絡分析儀(NVNA)的相位校準目前我國只能 使用NTN校準法獲取，其校準頻率分辨率只能達到0. 25GHz，相位校準的頻率分辨率較低， 不能滿足現代通信系統的研發與維護迫切需求。
發明內容
本發明是為了解決現有的非線性矢量網絡分析儀的相位校準時相位校準頻率分 辨率較低的問題，而提供一種基于精細頻率柵校準的非線性矢量網絡分析儀精細頻率相位 響應校準新方法。基于精細頻率柵校準的非線性矢量網絡分析儀相位響應校準的方法，它由以下步 驟實現步驟一、采用寬帶采樣示波器檢測一個射頻調幅信號xAM(t)，并采用平方率檢波器 在所述調幅信號xAM(t)的載波頻率f·。的兩側構造精細頻率柵；所述調幅信號xAM (t)的表達式為
權利要求
1.基于精細頻率柵校準的非線性矢量網絡分析儀相位響應校準方法，其特征是它由 以下步驟實現步驟一、采用寬帶采樣示波器檢測一個射頻調幅信號XAM(t)，并采用平方率檢波器在所 述調幅信號xAM(t)的載波頻率f·。的兩側構造精細頻率柵；所述調幅信號Xam (t)的表達式為
2.根據權利要求1所述的基于精細頻率柵校準的非線性矢量網絡分析儀相位響應校 準方法，其特征在于步驟一中所述用寬帶采樣示波器檢測一個射頻調幅信號xAM(t)，并采用 平方率檢波器在所述調幅信號xM(t)的載波頻率f。的兩側構造精細頻率柵的具體方法是 通過改變調幅信號xAM(t)的調制頻率fm。d，在載波f。頻率兩側構造頻率間隔10K-5MHZ的頻 譜，構造出來的頻譜即為精細頻率柵。
3.根據權利要求1所述的基于精細頻率柵校準的非線性矢量網絡分析儀相位響應校 準方法，其特征在于步驟二中采用步驟一構造的精細頻率柵對平方率檢波器進行相位校 準，獲得精細頻率柵相位傳遞標準的方法是將調幅信號XM(t)的載波頻率f。固定，對調制 頻率進行N次改變，并測量每次改變后的平方率檢波器的輸出和輸入信號間的相位差；匯 總N次改變后的平方率檢波器的輸出和輸入信號間的相位差，獲得精細頻率柵相位傳遞標 準，所述精細頻率柵相位傳遞標準采用定標數據表體現，N為正整數。
4.根據權利要求1所述的基于精細頻率柵校準的非線性矢量網絡分析儀相位響應校 準方法，其特征在于步驟三中利用步驟二獲得的精細頻率柵相位傳遞標準，對非線性矢量 網絡分析儀進行精細頻率相位校準的方法是設非線性矢量網絡分析儀在載波頻率f。上的 相位誤差為，在f。_fm。d和f。+fm。d頻率上的相位誤差分別為八約和八％，則非線性矢量網絡 分析儀測得的射頻已調信號為
全文摘要
基于精細頻率柵校準的非線性矢量網絡分析儀相位響應校準方法，涉及一種非線性矢量網絡分析儀的校準方法。它解決現有的非線性矢量網絡分析儀相位校準方法相位校準頻率分辨率較低的問題。其方法是構造調幅信號xAM(t)，并在載波頻率fc的兩側構造精細頻率柵(fine frequency grid)，利用其對平方率檢波器進行相位校準，獲得精細頻率柵相位傳遞標準；再利用獲得的精細頻率柵相位傳遞標準，對非線性矢量網絡分析儀進行精細頻率相位校準。本發明適用于非線性矢量網絡分析儀的相位校準。
文檔編號G01R35/00GK102087346SQ201010591229
公開日2011年6月8日 申請日期2010年12月16日 優先權日2010年12月16日
發明者張亦弛, 張喆, 徐清華, 時穎, 林茂六 申請人:哈爾濱工業大學