專利名稱：測試筆的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種測試筆，特別涉及一種用于測量阻抗的測試筆。
技術背景
目前，大多采用萬用表、微歐姆表等設備測量阻抗，該等設備大多通過一筆式探測表筆進行測量。筆式控制表筆通常具有一金屬筆尖，用于探測待測物體。然而，在測量的過程中，由于探測表筆的金屬筆尖比較尖銳，容易刺破或刮傷鋁箔、銅箔、導電布、導電泡棉等，從而導致材料損傷。發明內容
有鑒于此，有必要提供一種改進的測試筆。
該測試筆，包括筆體、設置于筆體中的導電桿及設置于導電桿前端的筆尖，該筆尖伸出于該筆體前端，用于接觸并探測待測試物體。該測試筆還包括至少一轉動收容于筆體上并與導電桿電性連接的探測臂。該探測臂可從收容于筆體的第一位置轉動至突出筆體前端的第二位置。該探測臂轉動至第二位置時其突出筆體前端的長度要大于筆尖伸出筆體的長度。
借助于上述測試筆，可針對不同材質的待測特體，選擇性選取筆尖或探測臂進行測量，從而避免損害待待物。
外表面101
收容槽124
圓形連接部126
圓珠410
導向孔142
側表面141
卡槽143
自由端420
磁性件430
伸縮件50
套管510
第一磁體520
第二磁體530
彈性件60
第一圓孔522
第二圓孔532
拉桿70
導槽127
導向部128
卡持部129
砝碼80具體實施方式
請參閱圖1，為一較佳實施方式的測試筆100的分解圖。該測試筆100包括筆體 10、設置于筆體10上的導電桿20、設置于導電桿20 —端并伸出于筆體10前端的筆尖30及轉動收容于筆體10并與導電桿20電性連接的六個探測臂40。該六個探測臂40可從收容于筆體10的第一位置轉動至突出筆體10前端的第二位置。當探測臂40位于第一位置時， 該筆尖30用于接觸并探測待測物(未視出)。當探測臂40轉動至第二位置時，每一個探測臂40突出筆體10前端的長度大于該筆尖30伸出筆體10前端的長度，此時，該六個探測臂 40用于接觸并探測待測物。該筆體10由絕緣材料制成，該導電桿20、筆尖30及探測臂40 由導電材料，如鐵、銅等金屬制成。
請一并參考圖2和圖3，該筆體10包括本體120及固定于本體120 —端的筆頭 140。該本體120大至呈圓柱狀，其靠近筆頭140的一端沿其軸線A方向內凹形成圓柱狀的收容部121，其遠離筆頭140的另一端沿軸線A方向開設有固定孔122。該固定孔122與收容部121相互連通，用于容置所述導電桿20。該筆體10外表面101均勻開設有六個收容槽 124，用于分別收容六個探測臂40。每一收容槽124自靠近筆頭140的一端沿平行于軸線A 方向延伸至筆體10中部的位置。探測臂40的一端樞接于相應收容槽IM靠近筆頭140的一端。在本實施例中，收容槽1 靠近筆頭140的一端進一步形成有一圓形連接部126，探測臂40樞接于筆體10的一端設置有一圓珠410，該圓珠410可轉動地收容于該圓形連接部126，從而使得探測臂40可轉動地連接于筆體10。在其它實施方式中，收容槽IM靠近筆頭140的一端開設有軸孔(未示出)，探測臂40可通過一容置于軸孔的轉軸(未示出) 轉動地連接于筆體10。
筆頭140大致呈錐臺狀，并與本體120共軸線A設置。筆頭140沿軸線A方向開設有導向孔142。該導向孔142沿垂直于軸線A方向的直徑小于收容部121沿垂直于軸線 A方向的直徑。該筆頭140側表面141還開設有六個與收容槽IM相對應的卡槽143，該六個卡槽143自筆頭140下表面延伸至與下表面平行的上表面，且其延伸方向與軸線A共面。 該卡槽143用于當探測臂40轉動至第二位置時將探測臂40收容于其中。
導電桿20固設于筆體10的固定孔122中，且與筆體10同軸設置。導電桿20長度要大于筆體10的長度，且導電桿20的直徑小于導向孔142的直徑。導電桿20 —端伸出于固定孔122，另一端則與導向孔142遠離本體120的一端齊平。
筆尖30大致呈錐形，設置于導電桿20收容于導向孔142的一端，并通過該導向孔 142伸出于筆體10前端。在本實施中，筆尖30 —體成型于導電桿20收容于導向孔142的一端。
每一探測臂40均電連接于導電桿20。在本實施例中，每一探測臂40均通過一導線(未示出)與導電桿20電連接。每一探測臂40均具有與上述圓珠410相對的自由端 420。該自由端420表面圓滑且接觸面積較大。當探測臂40從第一位置轉動至伸出筆體10 的第二位置時，筆尖30遠離筆體10的末端位于自由端420與筆頭140之間，此時，該探測臂40的自由端420用以接觸并探測被測物體。
此外，為便于將探測臂40更好的定位于筆體10，該測試筆100還包括伸縮件50及收容于筆體10中的彈性件60。該伸縮件50可滑動地連接于筆體10。該伸縮件50包括中空的套管510及可與探測臂40磁性相吸的第一磁體520和第二磁體530。該套管510收容于筆體10中并滑動地套設于導電桿20上。該彈性件60 —端固定于收容部121遠離筆頭 140的一端，另一端固定于套管510，從而使套管510彈性連接于筆體10。第一磁體520大致呈錐臺狀，其固定于套管510遠離彈性件60的一端，且其上表面及與上表面平行的下表面二者中至少一個的直徑大于筆頭140的導向孔142沿垂直軸線A的直徑。第二磁體530 大致呈圓餅狀，其固定于套管510遠離第一磁體520的另一端，且可滑動收容于本體120的收容部121中。第一磁體520及第二磁體530分別開設第一圓孔522及第二圓孔532。該第一磁體520和第二磁體530通過該第一圓孔522和第二圓孔532可滑動地套設于導電桿20上。當伸縮件50滑入筆體10且探測臂40位于第一位置時，探測臂40收容于收容槽 124，第二磁體530位于收容部121靠近探測臂40的自由端420的一端并與探測臂40磁性相吸，從而使探測臂40更加穩定地收容于收容槽124中。當伸縮件50伸出筆體10且探測臂40轉動至第二位置時，探測臂40收容于卡槽143，探測臂40吸附在第一磁體520四周 (如圖5所示)，使得探測臂40更加穩定地收容于卡槽143，從而確保探測臂40探測被測物體時更加平穩。
另外，為了使探測臂40轉動至第二位置時能夠更好地與第一磁體520相吸，探測臂40靠近自由端420的位置還設置有磁性件430，例如，磁鐵。
可以理解地，在其它實施方式中，為了使探測臂40更好的電連接于導電桿20，上述伸縮件50為導電體，且與導電桿20電性接觸，使得當探測臂40用于探測待測物體時，探測臂40還可通過伸縮件50與導電桿20電相連。
為便于驅動伸縮件50滑入和伸出筆體10，該測試筆100還包括拉桿70。該拉桿 70垂直固定于套管510，用于驅動伸縮件50滑入和伸出筆體10。該本體120側臂還開設有一用于收容拉桿70的導槽127。該導槽127大致呈L形，其包括沿平行軸線A方向延伸的導向部1 及與導向部1 延伸方向垂直的卡持部129。該導向部128沿平行軸線A方向的長度大于筆尖30伸出筆體10的長度，因此，當拉桿70驅動伸縮件50伸出筆體10時，該筆尖30隱藏于伸縮件50中；反之，當拉桿70驅動伸縮件50滑入筆體10，該筆尖30外露。
此外，為保證施加于測試筆100上的力大致相等，該測試筆100還包括若干砝碼 80。該若干砝碼80為絕緣材料制成或其外表面包覆有絕緣層。砝碼80大致辭呈圓餅狀， 其開設有沿軸線A方向延伸的第三圓孔810。該第三圓孔810用于收容導電桿20。使用時，該若干砝碼80套設于導電桿20伸出于筆體10的部分。為便于更好的固定砝碼80，導電桿20伸出筆體10的部分還開設有若干鎖孔210，每一砝碼80還開設有與鎖孔201相對應的固定孔(未示出)。銷桿(未示出)穿過固定孔及與固定孔相對應的鎖孔210從而將砝碼80更穩定地固定于導電桿20上。
組裝時首先，將導電桿20固定至筆體10。將第二磁體530固定于套管510并連同套管510套設于導電桿20。再將探測臂40樞接于收容槽124的圓形連接部126。然后將筆頭140固定于筆體10，并將第一磁體520固定于套管510伸出筆體10的一端。最后， 將拉桿70穿過導槽127固定于套管510。
如圖4和圖5所示，使用時，將拉桿70沿導槽127滑動并卡持于卡持部129，伸縮件50則在拉桿70的作用下伸出筆體10，此時，彈性件60被拉伸。將測試筆100的筆尖30 指向地面，由于第二磁體530滑至收容部121靠近筆頭140的一端，第二磁體530與探測臂 40自由端420之間的吸引力較小，因此，探測臂40在重力作用下轉動至第二位置并吸附于第一磁體520四周，筆尖30隱藏于伸縮件50中，此時，可采用探測臂40探測待測物體。
如圖1所示，當需要使用筆尖30探測待測物體時，操作拉桿70脫離卡持部129， 則伸縮件50在彈性件60的彈性作用下縮回至筆體10中。將測試筆100的筆尖30指向背離地面的方向，此時，由于第一磁體520與探測臂40分離，二者之間的吸引力較小，因此，探測臂40則在重力作用下轉動至第一位置，并在第二磁體530的吸引下穩定地收容于收容槽 124中，筆尖30外露，從而可使用筆尖30探測待測物體。
由上可知，借助于上述測試筆100，可針對不同材質的待測特體，選擇性選取筆尖 30或探測臂40進行測量，從而避免損害待待物。此外，通過在測試筆100上裝配一定質量的砝碼以代替手動施加外力于測試筆100，使測試筆100探測待測物體時作用于待測物體上的力更加均勻，從而提高探測數據的準確性。
綜上所述，盡管為說明目的已經公開了本發明的優選實施例，然而，本發明不只局限于如上所述的實施例，在不超出本發明基本技術思想的范疇內，相關行業的技術人員可對其進行多種變形及應用。
權利要求
1.一種測試筆，包括筆體、設置于筆體中的導電桿及設置于導電桿前端的筆尖，該筆尖伸出于該筆體前端，用于接觸并探測待測試物體，其特征在于該測試筆還包括至少一轉動收容于筆體上并與導電桿電性連接的探測臂，該探測臂可從收容于筆體的第一位置轉動至突出于筆體前端的第二位置，該探測臂轉動至第二位置時其突出筆體的長度要大于筆尖伸出筆體的長度。
2.如權利要求1所述的測試筆，其特征在于所述筆體開設有至少一沿平行于導電桿方向延伸的收容槽，該至少一收容槽用于收容所述至少一探測臂。
3.如權利要求2所述的測試筆，其特征在于所述收容槽靠近筆尖的一端形成有圓形連接部，所述至少一探測臂通該圓形連接部轉動連接于筆體。
4.如權利要求1所述的測試筆，其特征在于該測試筆還包括一伸縮件，該伸縮件套設于所述導電桿上并可軸向伸縮地收容于筆體中，該伸縮件伸出筆體時能夠隱藏所述筆尖， 縮回筆體時能夠使所述筆尖外露。
5.如權利要求4所述的測試筆，其特征在于該測試筆還包括拉桿，該拉桿固定于所述伸縮件上，用于驅動所述伸縮件伸出和縮回筆體。
6.如權利要求5所述的測試筆，其特征在于所述筆體還形成有沿導電桿方向延伸的導槽，所述拉桿收容于該導槽中。
7.如權利要求4所述的測試筆，其特征在于所述測試筆還包括第一磁體及第二磁體， 該第一磁體及第二磁體分別設置于所述伸縮件相對兩端，該第一磁體外露于所述筆體前端，用于當所述探測臂轉動至第二位置及所述伸縮件伸出于所述筆體時吸附所述探測臂于其上；該第二磁體收容于所述筆體中，用于當所述探測臂轉動至第一位置及所述伸縮件縮于所述筆體時將所述探測臂吸固于所述筆體上。
8.如權利要求5所述的測試筆，其特征在于還包括一彈性件，所述伸縮件通過該彈性件連接于筆體。
9.如權利要求4所述的測試筆，其特征在于所述伸縮件為導體，所述探測臂通過所述伸縮件與導電桿電性相連。
10.如權利要求1所述的測試筆，其特征在于該測試筆還包括至少一砝碼，所述導電桿部分伸出于筆體，該至少一砝碼裝配于所述導電桿伸出筆體的部分。
全文摘要
一種測試筆，包括筆體、設置于筆體中的導電桿及設置于導電桿前端的筆尖，該筆尖伸出于該筆體前端，用于接觸并探測待測試物體。該測試筆還包括至少一轉動收容于筆體上并與導電桿電性連接的探測臂。該探測臂可從收容于筆體的第一位置轉動至突出筆體前端的第二位置。該探測臂轉動至第二位置時其突出筆體前端的長度要大于筆尖伸出筆體的長度。
文檔編號G01R1/067GK102478591SQ20101055746
公開日2012年5月30日 申請日期2010年11月24日 優先權日2010年11月24日
發明者岳闖, 黃茂盛 申請人:富泰華工業(深圳)有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司