專利名稱：光纖本征布里淵線寬測量裝置及測量方法
技術領域：
本發明涉及一種光纖本征布里淵線寬的測量裝置及測量方法。
背景技術：
目前，針對光纖中本征布里淵線寬的測量主要利用掃譜技術實現。其利用微波信 號發生器產生的高頻信號驅動強度調制器，使強度調制器的輸出激光相對于輸入激光產生 一定量的頻移，頻移量等于調節調制信號的頻率。通過調節調制信號的頻率，從而獲得不同 頻移的光信號輸出，通過測量不同頻移下的光信號在布里淵放大過程中的增益，得到頻移 與增益關系的曲線。從該曲線中即可測得布里淵線寬。由于偏振失配的影響，此測量需要 在偏振失配最大情況和最小情況兩種狀態下進行測量，才可測得布里淵線寬。而最大失配 和最小失配兩種狀態要依靠人為觀察確定，其準確性受激光器本身的漂動及人為因素影響 較大。而且，這種方法需要測量的數據較多，誤差來源也較多。此外，這種方法對設備條件 的要求比較高。其中，微波信號發生器價格昂貴，使得一般的實驗室不具備測量本征布里淵 線寬的條件。綜上，現有的用于測量本征布里淵線寬的方法和設備中，不僅需要頻率掃描設備， 而且對光纖激光偏振態敏感，需要考慮增益的偏振相關性問題。
發明內容
本發明的目的是解決現有的用于測量本征布里淵線寬的方法和設備中，存在的需 要頻率掃描設備、對光纖激光偏振態敏感以及需要考慮增益的偏振相關性問題，提供了一 種光纖本征布里淵線寬的測量裝置及測量方法。光纖本征布里淵線寬的測量裝置，它由超窄線寬激光器、第一耦合器、EDFA、布里 淵環形腔、第一可調衰減器、第一偏振控制器、強度調制器、第二可調衰減器、第二耦合器、 單向隔離器、第二偏振控制器、第一環形器及示波器組成；超窄線寬激光器的光輸出端通過光纖與第一耦合器的光輸入端相連，第一耦合器 的第一光輸出端通過光纖連接EDFA的光輸入端，EDFA的光輸出端通過光纖連接第一可調 衰減器的光輸入端，第一可調衰減器的光輸出端通過光纖連接第一環形器的光輸入端，第 一環形器的光輸入/輸出端通過光纖與待測光纖的一端相連接，第一環形器的光輸出端通 過光纖與光電探頭的光輸入端相連接，所述光電探頭的電信號輸出端連接示波器第一信號 輸入端；第一耦合器的第二光輸出端通過光纖連接布里淵環形腔的光輸入端，布里淵環形 腔的光輸出端通過光纖連接第一偏振控制器的光輸入端，第一偏振控制器的光輸出端通過 光纖連接強度調制器的光輸入端，強度調制器的光輸出端通過光纖連接第二可調衰減器的 光輸入端，第二可調衰減器的光輸出端通過光纖連接第二耦合器的光輸入端；第二耦合器的第一光輸出端通過光纖與光電探頭的光輸入端相連接，所述光電探 頭的電信號輸出端連接示波器的第二信號輸入端，第二耦合器的第二光輸出端通過光纖連接單向隔離器的光輸入端，單向隔離器的光輸出端通過光纖連接第二偏振控制器的光輸入 端，第二偏振控制器的光輸出端通過光纖與待測光纖的另一端相連接。光纖本征布里淵線寬的測量方法，它基于本征布里淵線寬的測量裝置實現，所述 測量方法的具體過程為步驟一、調節第一可調衰減器，使透過第一可調衰減器的光信號的光功率Ip最低； 令Sl表示示波器的第一信號輸入端接收到的光信號，S2表示示波器的第二信號輸入端接 收到的光信號，然后利用示波器，獲得光信號Sl的波形與光信號S2的波形；步驟二、獲得光信號Sl的波形參數與光信號S2的波形參數，進而獲得此時光信號 Sl和光信號S2的衰減Gtl和延時Ttl ；步驟三、在光信號Sl的波形不失真的條件下，調整第一可調衰減器，使透過第一 可調衰減器的光信號的光功率Ip升高至I1 ；步驟四、獲得此時光信號Sl的波形與光信號S2的波形，進而獲得光信號Sl的波 形參數和光信號S2的波形參數；然后經過計算，獲得光信號Sl的增益G1及光信號Sl與S2 之間的實測延時T1,定義該步驟獲得的數據為第1實驗點的數據；步驟五、調節第一可調衰減器，使透過第一可調衰減器的光信號的光功率Ip依次 下降至12、13、…、IQ，其中，Q為大于等于5的正整數；同時，分別在所述光功率Ip為12、 13、…、Iq時，獲得每種光功率條件下的光信號Sl的波形與光信號S2的波形；根據所述每 種光功率條件下的光信號Sl的波形與光信號S2的波形，獲得每種光功率條件下的波形參 數，進而計算獲得每種光功率條件下的光信號Sl的實測增益Gi以及光信號Sl與S2之間 的實測延時Ti, i = 2，3，4…Q，定義光功率分別為12、13、…、Iq條件下所獲得的數據分別 為第2實驗點的數據、第3實驗點的數據、…、第Q實驗點的數據；步驟六、根據光功率Ip分別等于IpI2、I3.....Iq時對應的實測延時Ti,光信號Sl
的實測增益Gi,以及Gtl和Ttl對布里淵線寬作最小二乘擬合，最終獲得待測光纖12的布里淵 線寬值。本發明的積極效果本發明的光纖本征布里淵線寬的測量裝置及測量方法，不需 要頻率掃描設備，而且對光纖激光偏振態不敏感，無需考慮增益的偏振相關性問題，其僅測 量強度和時間兩種物理量，測量簡單易行。
圖1為本發明的光纖本征布里淵線寬的測量裝置的結構示意圖；圖2為本發明的 光纖本征布里淵線寬的測量方法的流程圖。
具體實施例方式具體實施方式
一本實施方式的光纖本征布里淵線寬的測量裝置，它由超窄線寬 激光器1、第一耦合器2、EDFA3、布里淵環形腔4、第一可調衰減器5、第一偏振控制器6、強 度調制器7、第二可調衰減器8、第二耦合器9、單向隔離器10、第二偏振控制器11、第一環形 器13及示波器14組成；超窄線寬激光器1的光輸出端通過光纖與第一耦合器2的光輸入端相連，第一耦 合器2的第一光輸出端通過光纖連接EDFA3的光輸入端，EDFA3的光輸出端通過光纖連接第一可調衰減器5的光輸入端，第一可調衰減器5的光輸出端通過光纖連接第一環形器13 的光輸入端13-1，第一環形器13的光輸入/輸出端13-2通過光纖與待測光纖12的一端相 連接，第一環形器13的光輸出端13-3通過光纖與光電探頭的光輸入端相連接，所述光電探 頭的電信號輸出端連接示波器14第一信號輸入端；第一耦合器2的第二光輸出端通過光纖連接布里淵環形腔4的光輸入端，布里淵 環形腔4的光輸出端通過光纖連接第一偏振控制器6的光輸入端，第一偏振控制器6的光 輸出端通過光纖連接強度調制器7的光輸入端，強度調制器7的光輸出端通過光纖連接第 二可調衰減器8的光輸入端，第二可調衰減器8的光輸出端通過光纖連接第二耦合器9的 光輸入端；第二耦合器9的第一光輸出端通過光纖與光電探頭的光輸入端相連接，所述光電 探頭的電信號輸出端連接示波器14的第二信號輸入端，第二耦合器9的第二光輸出端通過 光纖連接單向隔離器10的光輸入端，單向隔離器10的光輸出端通過光纖連接第二偏振控 制器11的光輸入端，第二偏振控制器11的光輸出端通過光纖與待測光纖12的另一端相連接。該測量裝置的工作原理如下超窄線寬激光器1輸出的激光束經第一耦合器2后分為兩束，其中一束注入到 EDFA3中，另一束注入到布里淵環形腔4中；EDFA3將接收到的光束放大后輸出放大后的光束，放大后的光束再經第一可調衰 減器5衰減后入射至第一環形器13的光輸入端13-1，再由第一環形器13的光輸入/輸出 端13-2輸出后作為泵浦光入射至待測光纖12的右端；入射至布里淵環形腔4中的光束發生受激布里淵散射，產生的stokes光束由布里 淵環形腔4輸出至第一偏振控制器6，經第一偏振控制器6調節至與強度調制器7相匹配 的偏振態后，從第一偏振控制器6中輸出至強度調制器7，強度調制器7將接收到的stokes 光束調制成脈沖式stokes光束后輸出至第二可調衰減器8，第二可調衰減器8對接收到的 光進行衰減后輸出至第二耦合器9，第二耦合器9將接收到的光分為兩束，其中一束輸出作 為參考光由示波器14的一個信號端接收，另一束作為信號光經過單向隔離器10后輸出至 第二偏振控制器11，第二偏振控制器11對接收到的信號光進行偏振調節，使所述信號光的 偏振態與泵浦光的偏振態相匹配，然后將信號光輸出至待測光纖12的左端，使信號光與泵 浦光在待測光纖12內發生受激布里淵放大，產生慢光延時，放大后的信號光從待測光纖12 的右端輸出至第一環形器13的光輸入/輸出端13-2，并從第一環形器13的光輸出端13-3 輸出，由示波器14的另一個信號端接收。本發明的本征布里淵線寬的測量裝置，不需要頻率掃描設備，即可對本征布里淵 線寬進行測量，而且對光纖激光偏振態不敏感，無需考慮增益的偏振相關性問題，其僅測量 強度和時間兩種物理量，測量簡單易行。
具體實施方式
二 本實施方式是對實施方式一的光纖本征布里淵線寬的測量裝置 的進一步限定，所述超窄線寬激光器1的輸出激光的波長為1550. 12nm、線寬小于100kHz。
具體實施方式
三本實施方式是對實施方式一或二的光纖本征布里淵線寬的測量 裝置的進一步限定，第一耦合器2的輸出分光比為50% 50%，第二耦合器9輸出分光比 為90% 10%，且90%的輸出端作為第二耦合器9的第二光輸出端，10%的輸出端作為第二耦合器9的第一光輸出端。
具體實施方式
四本實施方式是對實施方式一、二或三的光纖本征布里淵線寬的 測量裝置的進一步限定，所述布里淵環形腔4由第二環形器4-1、第三偏振控制器4-2、增益 介質光纖4-3以及第三耦合器4-4組成；所述第二環形器4-1的光輸入端4-1-1作為布里淵環形腔4的光輸入端，第二環 形器4-1的光輸入/輸出端4-1-2通過光纖與第三偏振控制器4-2的一個光輸入/輸出端， 第三偏振控制器4-2的另一個光輸入/輸出端通過光纖連接增益介質光纖4-3的一端，增 益介質光纖4-3的另一端通過光纖連接第三耦合器4-4的第一光輸出端；所述第二環形器4-1的光輸出端4-1-3通過光纖連接第三耦合器4-4的光輸入 端，第三耦合器4-4的第二光輸出端作為布里淵環形腔4的光輸出端；第三耦合器4-4的輸 出分光比為95% 5%，且5%的輸出端作為第三耦合器4-4的第一輸出端，95%的輸出端 作為第三耦合器4-4的第二光輸出端。
具體實施方式
五本實施方式的光纖本征布里淵線寬的測量方法，它基于光纖本 征布里淵線寬的測量裝置實現，所述測量方法的具體過程為步驟一、調節第一可調衰減器5，使透過第一可調衰減器5的光信號的光功率Ip最 低；令Sl表示示波器14的第一信號輸入端接收到的光信號，S2表示示波器14的第二信號 輸入端接收到的光信號，然后利用示波器14，獲得光信號Sl的波形與光信號S2的波形；步驟二、獲得光信號Sl的波形參數與光信號S2的波形參數，進而獲得此時光信號 Sl和光信號S2的衰減Gtl和延時Ttl ；步驟三、在光信號Sl的波形不失真的條件下，調整第一可調衰減器5，使透過第一 可調衰減器5的光信號的光功率Ip升高至I1 ；步驟四、獲得此時光信號Sl的波形與光信號S2的波形，進而獲得光信號Sl的波 形參數和光信號S2的波形參數；然后經過計算，獲得光信號Sl的增益G1及光信號Sl與S2 之間的實測延時T1,定義該步驟獲得的數據為第1實驗點的數據；步驟五、調節第一可調衰減器5，使透過第一可調衰減器5的光信號的光功率Ip依 次下降至12、13、…、IQ，其中，Q為大于等于5的正整數；同時，分別在所述光功率Ip為12、 13、…、Iq時，獲得每種光功率條件下的光信號Sl的波形與光信號S2的波形；根據所述每 種光功率條件下的光信號Sl的波形與光信號S2的波形，獲得每種光功率條件下的波形參 數，進而計算獲得每種光功率條件下的光信號Sl的實測增益Gi以及光信號Sl與S2之間 的實測延時Ti, i = 2，3，4…Q，定義光功率分別為12、13、…、Iq條件下所獲得的數據分別 為第2實驗點的數據、第3實驗點的數據、…、第Q實驗點的數據；步驟六、根據光功率Ip分別等于I1U2U3.....Iq時對應的實測延時Ti,光信號Sl
的實測增益Gi,以及Gtl和Ttl對布里淵線寬作最小二乘擬合，最終獲得待測光纖12的布里淵 線寬值。本發明的本征布里淵線寬的測量方法，不需要頻率掃描設備，而且對光纖激光偏 振態不敏感，無需考慮增益的偏振相關性問題，其僅測量強度和時間兩種物理量，測量簡單 易行。
具體實施方式
六本實施方式是對實施方式五的光纖本征布里淵線寬的測量方法 的進一步說明，步驟二、步驟四及步驟五中所述的波形參數是指波形的峰值、峰值時間、以及脈寬三個參數。
具體實施方式
七本實施方式是對實施方式五或六的光纖本征布里淵線寬的測量 方法的進一步說明，在步驟二中所述的光信號Sl和光信號S2的衰減
權利要求
1.光纖本征布里淵線寬的測量裝置，其特征在于它由超窄線寬激光器(1)、第一耦合 器(2) ,EDFA(3)、布里淵環形腔(4)、第一可調衰減器(5)、第一偏振控制器(6)、強度調制器 (7)、第二可調衰減器(8)、第二耦合器(9)、單向隔離器(10)、第二偏振控制器(11)、第一環 形器(13)及示波器(14)組成；超窄線寬激光器(1)的光輸出端通過光纖與第一耦合器(2)的光輸入端相連，第一耦 合器(2)的第一光輸出端通過光纖連接EDFA(3)的光輸入端，EDFA(3)的光輸出端通過光 纖連接第一可調衰減器(5)的光輸入端，第一可調衰減器(5)的光輸出端通過光纖連接第 一環形器(13)的光輸入端(13-1)，第一環形器(13)的光輸入/輸出端(13-2)通過光纖與 待測光纖(12)的一端相連接，第一環形器(13)的光輸出端(13-3)通過光纖與光電探頭的 光輸入端相連接，所述光電探頭的電信號輸出端連接示波器(14)第一信號輸入端；第一耦合器(2)的第二光輸出端通過光纖連接布里淵環形腔(4)的光輸入端，布里淵 環形腔(4)的光輸出端通過光纖連接第一偏振控制器(6)的光輸入端，第一偏振控制器(6) 的光輸出端通過光纖連接強度調制器(7)的光輸入端，強度調制器(7)的光輸出端通過光 纖連接第二可調衰減器(8)的光輸入端，第二可調衰減器(8)的光輸出端通過光纖連接第 二耦合器(9)的光輸入端；第二耦合器(9)的第一光輸出端通過光纖與光電探頭的光輸入端相連接，所述光電探 頭的電信號輸出端連接示波器(14)的第二信號輸入端，第二耦合器(9)的第二光輸出端通 過光纖連接單向隔離器(10)的光輸入端，單向隔離器(10)的光輸出端通過光纖連接第二 偏振控制器(11)的光輸入端，第二偏振控制器(11)的光輸出端通過光纖與待測光纖(12) 的另一端相連接。
2.根據權利要求1所述的光纖本征布里淵線寬的測量裝置，其特征在于所述超窄線寬 激光器(1)的輸出激光的波長為1550. 12nm、線寬小于IOOkHz。
3.根據權利要求1所述的光纖本征布里淵線寬的測量裝置，其特征在于第一耦合器 ⑵的輸出分光比為50% 50%，第二耦合器(9)輸出分光比為90% 10%，且90%的輸 出端作為第二耦合器(9)的第二光輸出端，10%的輸出端作為第二耦合器(9)的第一光輸 出端。
4.根據權利要求1所述的光纖本征布里淵線寬的測量裝置，其特征在于所述布里淵環 形腔⑷由第二環形器(4-1)、第三偏振控制器(4-2)、增益介質光纖(4-3)以及第三耦合 器(4-4)組成；所述第二環形器(4-1)的光輸入端(4-1-1)作為布里淵環形腔(4)的光輸入端，第二 環形器(4-1)的光輸入/輸出端(4-1-2)通過光纖與第三偏振控制器(4-2)的一個光輸 入/輸出端，第三偏振控制器(4-2)的另一個光輸入/輸出端通過光纖連接增益介質光纖 (4-3)的一端，增益介質光纖(4-3)的另一端通過光纖連接第三耦合器(4-4)的第一光輸出 端；所述第二環形器(4-1)的光輸出端(4-1-3)通過光纖連接第三耦合器(4-4)的光輸 入端，第三耦合器(4-4)的第二光輸出端作為布里淵環形腔(4)的光輸出端；第三耦合器 (4-4)的輸出分光比為95% 5%，且5%的輸出端作為第三耦合器(4-4)的第一輸出端， 95%的輸出端作為第三耦合器(4-4)的第二光輸出端。
5.本征布里淵線寬的光纖測量方法，它基于權利要求1所述的光纖本征布里淵線寬的測量裝置實現，其特征在于所述測量方法的具體過程為步驟一、調節第一可調衰減器(5)，使透過第一可調衰減器(5)的光信號的光功率Ip最 低；令Sl表示示波器(14)的第一信號輸入端接收到的光信號，S2表示示波器(14)的第二 信號輸入端接收到的光信號，然后利用示波器(14)，獲得光信號Sl的波形與光信號S2的波 形；步驟二、獲得光信號Sl的波形參數與光信號S2的波形參數，進而獲得此時光信號Sl 和光信號S2的衰減Gtl和延時Ttl ；步驟三、在光信號Sl的波形不失真的條件下，調整第一可調衰減器(5)，使透過第一可 調衰減器(5)的光信號的光功率Ip升高至I1 ；步驟四、獲得此時光信號Sl的波形與光信號S2的波形，進而獲得光信號Sl的波形參 數和光信號S2的波形參數；然后經過計算，獲得光信號Sl的增益G1及光信號Sl與S2之 間的實測延時T1,定義該步驟獲得的數據為第1實驗點的數據；步驟五、調節第一可調衰減器(5)，使透過第一可調衰減器(5)的光信號的光功率Ip依 次下降至12、13、…、IQ，其中，Q為大于等于5的正整數；同時，分別在所述光功率Ip為12、 13、…、Iq時，獲得每種光功率條件下的光信號Sl的波形與光信號S2的波形；根據所述每 種光功率條件下的光信號Sl的波形與光信號S2的波形，獲得每種光功率條件下的波形參 數，進而計算獲得每種光功率條件下的光信號Sl的實測增益Gi以及光信號Sl與S2之間 的實測延時Ti, i = 2，3，4…Q，定義光功率分別為12、13、…、Iq條件下所獲得的數據分別 為第2實驗點的數據、第3實驗點的數據、…、第Q實驗點的數據；步驟六、根據光功率Ip分別等于I” 12、I3.....Iq時對應的實測延時Ti,光信號Sl的實測增益Gi,以及Gtl和Ttl對布里淵線寬作最小二乘擬合，最終獲得待測光纖12的布里淵線 寬值。
6.根據權利要求5所述的光纖本征布里淵線寬的測量方法，其特征在于步驟二、步驟 四及步驟五中所述的波形參數是指波形的峰值、峰值時間、以及脈寬三個參數。
7.根據權利要求5所述的光纖本征布里淵線寬的測量方法，其特征在于在步驟二中所述的光信號Sl和光信號S2的衰減GQ=l()log(#)，其中psi為光信號Si波形的峰值，Ps2為光信號S2波形的峰值；所述的延時Ttl，等于光信號Sl波形的峰值時間減去光信號S2波形的峰值時間的差值。
8.根據權利要求5所述的光纖本征布里淵線寬的測量方法，其特征在于步驟五中所述 的計算獲得每種光功率條件下的光信號Sl的實測增益Gi以及光信號Sl與S2之間的實測 延時Ti的具體過程為在所述每種光功率條件下，獲得光信號Sl和光信號S2的峰峰比值P(X)，其中X = I1, 12、13、…或Iq，則該種光功率條件下的光信號Sl的增益Gi = IOlog(P(X))-G0 ；同時，在所述每種光功率條件下，獲得光信號Sl與S2的波形的峰值時間差T(X)，其中 X=Ii、I2、I3、…或Iq，即T (X)=光信號Sl波形的峰值時間-光信號S2波形的峰值時間； 此時光信號Sl與S2之間的實測延時Ti = T(X)-T0, T⑴為光功率為X時、光信號Sl 波形的峰值時間減去光信號S2波形的峰值時間的差值。
9.根據權利要求5所述的光纖本征布里淵線寬的測量方法，其特征在于步驟六所述內容的具體過程為步驟六一、生成線寬值序列1^(\=1，2，..}，所述線寬值序列由多個等間隔的線寬 值組成，即y(j+1)-Y(j) = Δ，其中Δ為固定值；步驟六二、根據所測得的光信號Sl的脈寬，利用快速傅里葉變換(FFT)，生成幅值歸一 化的輸入信號光電場強度頻譜As (ω，0)，其中信號光脈寬由實驗測量數據提供；步驟六三、對于線寬值序列中的每一個線寬值Y ω，計算理論延時與實驗測量延時的累計誤差=Za -Td1)2，其中Ti為實驗測量得到的信號光慢光延時，Tdi為理論計算得 到的慢光延時，進而獲得誤差延時序列{伊，J= 1,2,...}；步驟六四、在所述誤差延時序列J= 1,2, ...}中取最小的誤差延時，則令該誤差 延時對應的線寬值為待測光纖的布里淵線寬值。
10.根據權利要求9所述的光纖本征布里淵線寬的測量方法，其特征在于步驟六三所 述內容的具體過程為步驟六三一、對每一個線寬值r(T)，執行步驟六三二至步驟六三六，獲得對應的累計誤差；步聚六三二、選取第1實驗點數據中的增益值為目標增益，設為Gaim ；令G = g0Ipz作為 未知變量，選取G的取值作為試探解Gtey ；其中go為光纖的增益系數，Ip為泵浦光強度，ζ為待測光纖長度； 步驟六三三、將Gtey代入下式 其中As(G)，ζ)為輸出信號光的頻域電場振幅，ω為信號光頻率，ι·ω為布里淵線寬序 列的第J項；對上式進行傅里葉逆變換，得到經過布里淵放大后的信號光輸出，計算輸出的放大后 的信號光的增益；步驟六三四、判斷步驟六三三獲得的增益與目標增益Gaim是否相等，若不相等，則利用 二分法生成新的Gtey值，返回執行步聚六三三；若相等，則Gtey值為與該實驗點數據相匹配 的增益參數；令下一實驗點數據中的增益值為目標增益Gaim，并重新選擇G的初值作為試探 解Gtey，返回執行步驟六三三，直到完成所有Q個實驗點數據的匹配；然后執行步驟六三五； 步驟六三五、對每一個實驗點數據，將相匹配的增益參數Gtey代入步聚六三三中公式， 并對其作傅里葉變換，計算信號光延時Tdi,并計算延時誤SEi = (Ti-Tdi)2,其中Ti為實驗 測量得到的信號光慢光延時，Tdi為理論計算得到的慢光延時；步驟六三六、計算獲得線寬值ι·ω對應的累計誤差紀=^E1 =^(T1-Td1)2。
全文摘要
光纖本征布里淵線寬測量裝置及測量方法，涉及一種光纖本征布里淵線寬的測量裝置及測量方法，解決了現有技術中存在的需要頻率掃描設備、對光纖激光偏振態敏感以及需要考慮增益的偏振相關性問題。光纖本征布里淵線寬的測量裝置，它由超窄線寬激光器、第一耦合器、EDFA、布里淵環形腔、第一可調衰減器、第一偏振控制器、強度調制器、第二可調衰減器、第二耦合器、單向隔離器、第二偏振控制器、第一環形器及示波器組成。本征布里淵線寬的測量方法基于上述測量裝置實現，通過獲取信號光及放大光的波形，提取信號光增益與慢光延時信息，利用最小二乘擬合，最終獲得待測光纖的本征布里淵線寬。本發明可用于測量光纖中的本征布里淵線寬。
文檔編號G01B11/02GK101995222SQ20101053001
公開日2011年3月30日 申請日期2010年11月3日 優先權日2010年11月3日
發明者呂志偉, 巴德欣 申請人:哈爾濱工業大學