專利名稱：導電物體的表面電阻測試裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及測量技術領域，特別是一種導電物體的表面電阻測試裝置。
背景技術：
近年來，隨著導電物體的種類繁多，其應用也非常廣泛。例如導電鍍膜玻璃、導電 襯墊、導電橡膠板等導電物體。而對于一個電子、電氣產品來說，在設計階段就應該考慮其 電磁兼容性，目前在設計制造過程中，難免出現一些電磁干擾等因素，最終影響設備自身及 外部設備的正常工作。為解決此類問題，其中一種常見的電磁兼容處理方法就是在屏蔽體 的裝配處涂導電膠，或在裝配面處加裝導電襯墊加以解決，這些無疑都需要一種專門針對 導電物體的表面導電性能檢測的裝置。目前的導電物體表面體電阻測試裝置大多存在操作 復雜，準確性差等缺點。
發明內容本實用新型的目的在于提供一種高效、輕便的導電物體的表面電阻測試裝置。本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是設計一種導電物體的表面電阻 測試裝置，它包括導電襯墊、導電塊和萬用表，其特征是采用兩塊導電塊，在導電塊下面墊 有導電襯墊，導電襯墊置于被測導電物體的表面，將萬用表的兩表筆分別壓接在兩塊導電 塊的表面。所述的導電塊為銅制材料制成的長、寬、高為IOmmX IOmmX IOmm的銅質導電塊， 表面進行鍍銀處理，該銅質導電塊重量約為8g 9g，其自身電阻小于0. 01 Ω。所述的兩導電塊之間間距為10mm。所述的導電襯墊采用的材質為銅鍍銀顆粒與優質橡膠混合，經過壓制成型的導 電橡膠板剪裁而成，長、寬、高為IOmmX IOmmXO. 75mm，其接觸電阻小于0. 01 Ω。本實用新型的有益效果是通過在導電塊與被測導電物體之間布置導電襯墊可加 大被測導電物體與導電塊的接觸面積，提高測試精度。導電塊的自身電阻和導電襯墊的接 觸電阻均小于0. 01 Ω，以減少測量誤差，本實用新型導電物體表面電阻測試裝置，結構簡 單、可操作性強、誤差小、便于攜帶，能夠快速準確測出導電物體表面電阻，以判定導電物體 導電性能。
以下結合附圖通過對實施例詳述本實用新型。
圖1是導電物體的表面電阻測試裝置示意圖圖1中1、導電襯墊；2、導電塊；3、被測導電物體；4、萬用表。
具體實施方式
如圖1所示，本實施例導電物體表面電阻測試裝置，采用兩塊長、寬、高為IOmmX IOmmX IOmm的導電塊2，兩導電塊2之間間距10mm，在導電塊2下面墊有長、寬、高為 IOmmXlOmmXO. 75mm的導電襯墊1，導電襯墊1置于被測導電物體3的表面，導電襯墊1可 加大被測導電物體1與導電塊2的接觸面積，提高測試精度。將萬用表4的兩表筆壓接在 導電塊2的表面，讀取萬用表4測量到的電阻R_。導電塊2為銅制材料制成的銅質導電塊，表面進行鍍銀處理，該銅質導電塊重量 約為8g 9g，其自身電阻小于0. 01 Ω，。導電襯墊1采用采用的材質為銅鍍銀顆粒與優質橡膠混合，經過壓制成型的導電 橡膠板剪裁而成，其接觸電阻小于0. 01 Ω，以減少測量誤差。對被測導電物體3進行表面電阻測試時，首先對導電銅塊2與被測物體表面用酒 精進行清潔處理。其次，測出該測試裝置內阻禮。再將兩導電塊2放置于被測導電物體3 表面，兩導電塊2間距10mm，在導電塊2與被測導電物體3之間墊上導電襯墊1，并將萬用 表4兩表筆壓接在銅塊表面，讀取測量電阻R_，最終根據下面的公式計算出導電物體表面 電阻值r r = R_-R0。
權利要求導電物體的表面電阻測試裝置，它包括導電襯墊、導電塊和萬用表，其特征是采用兩塊導電塊(2)，在導電塊(2)下面墊有導電襯墊(1)，導電襯墊(1)置于被測導電物體(3)的表面，將萬用表(4)的兩表筆分別壓接在兩塊導電塊(2)的表面。
2.根據權利要求1所述的導電物體的表面電阻測試裝置，其特征是所述的導電塊(2) 為銅制材料制成的長、寬、高為IOmmX IOmmX IOmm的銅質導電塊，表面進行鍍銀處理，該銅 質導電塊重量約為8g 9g，其自身電阻小于0. 01 Ω。
3.根據權利要求1所述的導電物體的表面電阻測試裝置，其特征是所述的兩導電塊 (2)之間間距為10mm。
4.根據權利要求1所述的導電物體的表面電阻測試裝置，其特征是所述的導電襯墊 (1)為導電橡膠板剪裁而成，長、寬、高為IOmmX IOmmXO. 75mm，其接觸電阻小于0. 01 Ω。
專利摘要本實用新型涉及測量技術領域，特別是一種導電物體的表面電阻測試裝置，它包括導電襯墊、導電塊和萬用表，其特征是采用兩塊導電塊，在導電塊下面墊有導電襯墊，導電襯墊置于被測導電物體的表面，將萬用表的兩表筆分別壓接在兩塊導電塊的表面；所述的導電塊為銅制材料制成的長、寬、高為10mm×10mm×10mm的銅質導電塊，表面進行鍍銀處理，該銅質導電塊重量約為8g～9g，其自身電阻小于0.01Ω。它提供了一種高效、輕便的導電物體的表面電阻測試裝置。
文檔編號G01R27/02GK201654132SQ20092031938
公開日2010年11月24日 申請日期2009年12月31日 優先權日2009年12月31日
發明者杜建華, 邱揚 申請人:西安開容電子技術有限責任公司