專利名稱：：引線框架的測試夾具的制作方法
技術領域：
：本實用新型涉及一種測試設備，尤其涉及一種引線框架的測試夾具。
背景技術：
：引線框架(Leadframe)是封裝廠重要的原材料之一，它的標準與否會直接影響到集成電路(IC)的良率和穩定性。因此如何高效準確地判斷引線框架是否標準顯得尤其重要。目前通常采用手動顯微鏡(如HighPowerMicroscope,STM6)檢查引線框架。檢查的時候，需要采用引線框架的測試夾具。現有的引線框架的測試夾具結構，包括底板和外框。所述外框與底板連接，并且，所述外框位于所述底板的上方。所述外框上對應引線框架上的各個芯片單元位置開有相應的矩形槽孔。使用的時候，首先，將外框和底板分離。接著，將引線框架放置于所述底板上。然后，將外框覆蓋在裝有引線框架的底板上，使得矩形槽孔與引線框架的單元相對應。最后，通過螺栓將外框與所述底板連接。但是這種引線框架的測試夾具只適用于手動顯微鏡。在檢查引線框架時，需要手動選取測量點，手動調整焦距(focus)量測數據，并且還要手動保存數據。由于所有動作都是手動完成，所以存在下列不足l.手動選取量測點，取點數量受到限制且不易統一；2.手動調整焦距量測數據，因人不同造成數據精準度不同；3.手動保存數據，煩瑣；4.耗時長，效率低；以上這種手動檢查引線框架的方法不僅浪費大量的人力和時間，且檢查過程非常煩瑣。因此，改進檢查引線框架的方法和提供一種快速、準確地監測引線框架的設備顯得非常迫切。在現有的資源中有一臺三維視頻顯微鏡(VIDEOC匪-II3DMeasurement)也是用于量測零件的，同時該設備在建好程序(program)后可以自動量測和保存數據，也可以手動量測，而且該三維視頻顯微鏡倍率也能達到我們檢查引線框架的要求。但是要使用這種三維視頻顯微鏡檢查引線框架需要具備兩個條件一是需要相應的程序，二是需要固定引線框架的夾具。現有的夾具存在以下不足l.無法量測引線框架的長度(length)、寬度(Width)、引線框架內長度方向上相鄰單元的間隔(unitpitch)、引線框架內長度方向上首尾單元之間的間隔(cumulativestrippitch)和孔徑(holediameter);2.厚度太厚，重量太重且無法使用背光。綜上所述，如何提供一種合適的測試夾具使之適用于三維視頻顯微鏡，以實現引線框架的全面準確自動測量是本領域技術人員亟待解決的一個技術問題。
實用新型內容本實用新型的目的在于提供一種引線框架的測試夾具，其可以配合三維視頻顯微鏡實現全面、準確地測量引線框架，從而有效提高引線框架的檢查效率。為了達到上述的目的，本實用新型采用如下技術方案—種引線框架的測試夾具，包括外框和底板，所述外框與所述底板連接并位于所述底板的上方，所述外框是由兩條長邊和兩條短邊連接組成的長方形框體，所述長方形框體由隔條分隔出若干矩形的外框槽孔，所述長邊的內側靠近兩端處分別設有第一矩形缺口，所述短邊的內側靠近中心處分別設有第二矩形缺口。在上述引線框架的測試夾具中，所述外框槽孔中靠近各短邊的兩個相鄰的外框槽孔豎向中心線分別位于各自對應的所述第一矩形缺口的兩端內側。在上述引線框架的測試夾具中，所述外框槽孔沿所述長邊方向排成一排，相鄰外框槽孔之間由豎向隔條隔開。在上述引線框架的測試夾具中，所述外框槽孔中靠近各短邊的兩個相鄰的外框槽孔之間相互連通。在上述引線框架的測試夾具中，所述外框槽孔沿所述長邊方向分成兩排，相鄰排外框槽孔之間由橫向隔條隔開，排內相鄰的外框槽孔之間由豎向隔條隔開。在上述引線框架的測試夾具中，每排外框槽孔中靠近各短邊的兩個相鄰的外框槽孔之間相互連通。在上述引線框架的測試夾具中，所述外框槽孔均勻分布。在上述引線框架的測試夾具中，所述底板開有與各所述外框槽孔大小位置相對應的底板槽孔。在上述引線框架的測試夾具中，所述外框和底板通過螺栓連接。綜上所述，本實用新型引線框架的測試夾具通過在所述外框的兩長邊的內側靠近兩端處分別設有第一矩形缺口，以便于測量引線框架內相鄰單元的間隔、引線框架內長度方向上首、尾單元之間的間隔、引線框架的寬度以及引線框架的孔徑；通過在所述短邊的內側靠近中心處分別設有第二矩形缺口，以便于測量引線框架的長度。從而可以配合三維視頻顯微鏡，實現全面準備地測量所述引線框架。另外，在所述測試夾具的底板上對應引線框架每個單元的位置開槽孔，不但可以減輕夾具的自重，還可以使用背光，充分利用光源。本實用新型的引線框架的測試夾具由以下的實施例及附圖給出。圖1是本實用新型引線框架的測試夾具的外框的結構示意圖；圖2是本實用新型引線框架的測試夾具的底板的結構示意圖；圖中，l-外框，10-外框槽孔，11-長邊，111-第一矩形缺口，12-短邊，121-第二矩形缺口，13-橫向隔條，14-豎向隔條，15-螺栓孔，2-底板，20-底板槽孔，25-螺栓孔，3-引線框架。具體實施方式以下將對本實用新型的引線框架的測試裝置作進一步的詳細描述。下面將參照附圖對本實用新型進行更詳細的描述，其中表示了本實用新型的優選實施例，應該理解本領域技術人員可以修改在此描述的本實用新型而仍然實現本實用新型的有利效果。因此，下列描述應當被理解為對于本領域技術人員的廣泛知道，而并不作為對本實用新型的限制。為了清楚，不描述實際實施例的全部特征。在下列描述中，不詳細描述公知的功能和結構，因為它們會使本實用新型由于不必要的細節而混亂。應當認為在任何實際實施例的開發中，必須作出大量實施細節以實現開發者的特定目標，例如按照有關系統或有關商業的限制，由一個實施例改變為另一個實施例。另外，應當認為這種開發工作可能是復雜和耗費時間的，但是對于本領域技術人員來說僅僅是常規工作。為使本實用新型的目的、特征更明顯易懂，以下結合附圖對本實用新型的具體實施方式作進一步的說明。需說明的是，附圖均采用非常簡化的形式且均使用非精準的比率，僅用以方便、明晰地輔助說明本實用新型實施例的目的。請參閱圖1和圖2，圖1是現有的引線框架的測試夾具的外框1的結構示意圖；圖2是引線框架的測試夾具的底板2的結構示意圖。這種引線框架的測試夾具，包括外框l和底板2。所述外框1設置于所述底板2的上方。所述外框1和底板2通過螺栓連接。所述外框1是由兩條長邊11和兩條短邊12連接組成的長方形框體。所述外框1上設有若干矩形的外框槽孔10，相鄰外框槽孔10之間由隔條分開，所述外框槽孔10分別與設于所述引線框架3上的用于放置芯片的單元大小位置相對應。本實施例中，所述外框槽孔10沿所述長邊11方向分成兩排，相鄰排外框槽孔10之間由橫向隔條13隔開，排內相鄰的外框槽孔10之間由豎向隔條14隔開。且每排外框槽孔10中靠近各短邊12的兩個相鄰的外框槽孔IO之間分別相互連通，即中間的豎向隔條14拆除。當然，所述外框槽孔10沿所述長邊11方向可以排成一排或三排以上。[0028]這兩條長邊11的內側靠近兩端處分別設有第一矩形缺口lll，藉此可以便于測量首尾單元的間隔、引線框架3的寬度以及引線框架的孔徑。所述外框槽孔10中靠近各短邊12的兩個相鄰的外框槽孔10的豎向中心線分別位于各自對應的所述第一矩形缺口111的兩端內側，藉此可以便于測量引線框架3內相鄰單元的間隔。所述短邊12的內側靠近中心處分別設有第二矩形缺口121，藉此可以便于測量引線框架3的長度。所述底板2可以不開孔，也可以開孔。本實施例中，所述底板2開有與各所述外框槽孔10大小位置相對應的底板槽孔20。如此，不但可以減輕測試夾具的自重，還可以藉由所述底板槽孔20充分利用背光光源。本實用新型引線框架3的測試夾具的使用方法如下先打開與測試裝置(如三維視頻顯微鏡)相連的計算機，打開程序，準備測試。[0033]然后，將引線框架3放到測試夾具中。具體操作方法如下先將連接外框1和底板2的螺栓擰開，將外框1與底板2分離；然后，將該引線框架3平放在兩者之間，使得引線框架3上用于放置芯片的單元分別與外框1中的外框槽孔10相對應；最后，采用螺栓將外框l和底板2相互連接。接著，將裝有引線框架3的測試夾具放到所述三維視頻顯微鏡的操作平臺(載物臺)上，確保引線框架3的邊緣與在載物臺上的定位件緊密接觸，供測試裝置對該引線框架3進行測量。通過第一矩形缺口111，可以測量該引線框架3內相鄰單元的間隔、首尾單元的間隔及該引線框架3的兩端的寬度。通過第二矩形缺口121，可以測量該引線框架的長度。在程序方面，我們對每種類型的引線框架3新建一個對應的程序，用于量測相關數據。1.編輯程序[0037]a將要測量的引線框架3固定在載物臺的同一位置上，從而使程序簡化和測量準確。b調整焦距使圖像清晰，調整燈光使圖像具有好的對比度，選擇合適的點收集(pointcollector)和構建(constructor)確保試樣測量的準確性。在執行完測量操作后，點標題欄中文件下的程序保存命令(File\SaVeprogram)保存該操作程序。2.引線框架3的自動測量方法[0041]a進入主界面b選標題欄中文件下的程序保存命令(File\0penprogram)，在C:盤下的文件夾"Vcmm2"下的文件夾"programs"(Disk(C:)\Vcmm2\programs)的目錄中打開要執行的程序；c把引線框架3放到操作平臺上并與定位件件對齊，確保引線框架3邊緣與載物臺上面的定位件的定位面緊密接觸，，d選標題欄中VCLscriptMUN，在確認框架左上端位置與十字線(CROSSHAIR)對齊后點'OK'開始測量；如果十字線與引線框架3邊緣不能重合，手動調節使之重合，點"0K"，開始測量。(圖lLeadframe基準點)e測量結束后，可以選標題欄中ResultXsaveworkbook保存測量結果。(圖2data保存界面)以下是采用本實用新型引線框架的測試夾具的測試方法與現有的測試方法之間的對比，如表一所示。引線框架測試前后的對比。[0047]表一[0048]<table>tableseeoriginaldocumentpage6</column></row><table>從表一可見，采用現有的引線框架的測試夾具的顯微鏡僅可以手動選擇四個單元進行測量，而采用本實用新型中的引線框架的測試夾具的3D視頻顯微鏡可以選擇更多的單元進行測量，如本實施例可以選擇20個，每個單元都可以測量。在精準度方面，由于自動代替手動操作，所以防止了人為差異。因此，相比現有的測試方法精準度更高。另外，從表一可見，引線框架的測試效率也提高了一倍，從原來的4分鐘/條降到了2分鐘/條。綜上所述，本實用新型引線框架的測試夾具通過在所述外框的兩長邊的內側靠近兩端處分別設有第一矩形缺口，以便于測量引線框架內相鄰單元的間隔、引線框架內長度方向上首、尾單元之間的間隔、引線框架的寬度以及引線框架的孔徑；通過在所述短邊的內側靠近中心處分別設有第二矩形缺口，以便于測量引線框架的長度。從而，實現全面準備地測量所述引線框架。另外，在所述測試夾具的底板上對應引線框架每個單元的位置開槽孔，不但可以減輕夾具的自重，還可以使用背光，充分利用光源。[0051]顯然，本領域的技術人員可以對本實用新型進行各種改動和變型而不脫離本實用新型的精神和范圍。這樣，倘若本實用新型的這些修改和變型屬于本實用新型權利要求及其等同技術的范圍之內，則本實用新型也意圖包含這些改動和變型在內。權利要求一種引線框架的測試夾具，包括外框和底板，所述外框與所述底板連接并位于所述底板的上方，所述外框是由兩條長邊和兩條短邊連接組成的長方形框體，所述長方形框體由隔條分隔出若干矩形的外框槽孔，其特征在于，所述長邊的內側靠近兩端處分別設有第一矩形缺口，所述短邊的內側靠近中心處分別設有第二矩形缺口。2.如權利要求1所述的引線框架的測試夾具，其特征在于，所述外框槽孔中靠近各短邊的兩個相鄰的外框槽孔豎向中心線分別位于各自對應的所述第一矩形缺口的兩端內側。3.如權利要求1所述的引線框架的測試夾具，其特征在于，所述外框槽孔沿所述長邊方向排成一排，相鄰外框槽孔之間由豎向隔條隔開。4.如權利要求3所述的引線框架的測試夾具，其特征在于，所述外框槽孔中靠近各短邊的兩個相鄰的外框槽孔之間相互連通。5.如權利要求1所述的引線框架的測試夾具，其特征在于，所述外框槽孔沿所述長邊方向分成兩排，相鄰排外框槽孔之間由橫向隔條隔開，排內相鄰的外框槽孔之間由豎向隔條隔開。6.如權利要求5所述的引線框架的測試夾具，其特征在于，每排外框槽孔中靠近各短邊的兩個相鄰的外框槽孔之間相互連通。7.如權利要求1所述的引線框架的測試夾具，其特征在于，所述外框槽孔均勻分布。8.如權利要求1-7中任意一項所述的引線框架的測試夾具，其特征在于，所述底板開有與各所述外框槽孔大小位置相對應的底板槽孔。9.如權利要求1所述的引線框架的測試夾具，其特征在于，所述外框和底板通過螺栓連接。專利摘要本實用新型涉及一種測試設備，尤其涉及一種引線框架的測試夾具。公開了一種引線框架的測試夾具，包括外框和底板，所述外框與所述底板連接并位于所述底板的上方，所述外框是由兩條長邊和兩條短邊連接組成的長方形框體，所述長方形框體由隔條分隔出若干矩形的外框槽孔，所述長邊的內側靠近兩端處分別設有第一矩形缺口，所述短邊的內側靠近中心處分別設有第二矩形缺口。這種引線框架的測試夾具可以配合三維視頻顯微鏡，實現全面、準確測量引線框架，從而有效提高引線框架的檢測效率。另外，在所述測試夾具的底板上對應引線框架每個單元的位置開槽孔，不但可以減輕夾具的自重，還可以使用背光，充分利用光源。文檔編號G01B11/02GK201476767SQ200920208080公開日2010年5月19日申請日期2009年8月18日優先權日2009年8月18日發明者嚴大生,劉鐵,童建橋申請人:中芯國際集成電路制造(上海)有限公司