專利名稱：微帶式環行器的測試架的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種微帶式環行器的測試架，尤其涉及一種寬頻帶小型化微帶式環行器的微波精密測量的專用測試架。
背景技術：
環行器是收發組件的一種重要元件。利用其微波單向傳輸的特性，可以實現發射端口及接收端口與天線有良好的匹配，同時又使接收端口與發射端口有很高的隔離，從而達到了收發信號有序循環轉換。小型化微帶式環行器適用于重量、體積有嚴格要求的應用場合，但由于其尺寸小，長、寬、高均在毫米量級范圍，使得環行器的參數精確測量并非易事。
一種典型的微帶式環行器的測試架，如圖1所示，測試架4為長方體，在其三個側面固定有SMA同軸轉接器2，環行器3設置在測試架4的頂部。使用這種測試架的程序如下
1、 使用軟金屬帶1將50歐姆傳輸線5與環行器3連接，作非破壞性測量；
2、 與在測試架4上三個SMA同軸轉接器2相連的三根50歐姆傳輸線依次接上微帶匹配負載，并調試到每個SMA端口上的駐波系數VSWR^.15;
3、 在測試環行器3前，先用一段與環行器3某輸入、輸出二個端口相同的一段50歐姆微帶線連接這兩個端口，第三個端口接上50歐姆匹配負載。用網絡儀測量該兩個端口的插損為IL1;
4、 用微帶式環行器3替代上述50歐姆傳輸線，并用網絡儀測出同一輸入、輸出兩個端口的插損IL2和端口駐波VSWR，環行器3插損IL為IL=IL2-IL1+K，其中K為修正系數，K-0.ldB~0.17dB，端口駐波系數近似認為是環行器3的駐波系數；
5、 依次測量其它兩端口，直至完成所有的測量。
使用上述測試架來測量微帶式環形器的參數，由于50歐姆傳輸線5插損和SMA同軸轉接器2的影響無法校準，因而只能得到插損和駐波系數近似的測量結果，無法得到微帶式環形器的準確參數。典型的微帶式環行器的測試架用軟金屬帶連接50歐姆傳輸線和環行器的方法接觸可靠性不好。發明內容
本實用新型針對上述問題，提供一種能準確測量微帶式環行器參數的測試架。
按照本實用新型的技術方案 一種微帶式環行器的測試架，所述測試架為U形，U形測試架的一個側壁外側固定有二個同軸轉接器，其另一個側壁外側固
定有一個同軸轉接器，所述同軸轉接器的導體從u形測試架側壁向內伸出，u
形測試架的底板與同軸轉接器的導體之間依次設置有彈性墊片、金屬滑塊及微
帶式環行器，設在u形測試架底部的螺釘穿過u形測試架的底板及彈性墊片后與金屬滑塊螺紋連接，金屬滑塊的側壁上設置有非金屬介質，所述非金屬介質 與金屬滑塊的側壁構成分布電容。
所述u形測試架的固定有一個同軸轉接器的側壁的寬度小于其另一個側壁
的寬度。
本實用新型的技術效果在于金屬滑塊在螺釘與彈性墊片的作用下帶動微
帶式環行器上下移動，使微帶式環行器與同軸轉接器的導體有良好接觸；金屬 滑塊的側壁與側壁上的非金屬介質構成的分布電容，保證了微帶式環行器有良 好的微波接地；將測試界面選在環行器三個端口，經過校準，用網絡儀可得到 環行器精密的測量結果。
圖1為現有的微帶式環行器的測試架的立體示意圖； 圖2為本實用新型的立體示意圖； 圖3為本實用新型的剖面圖。
具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型的具體實施方式
作進一步的說明。
如圖2、圖3所示，本實用新型為一種微帶式環行器的測試架，所述測試架 4為U形，U形測試架4的一個側壁外側固定有二個同軸轉接器2，其另一個側 壁外側固定有一個同軸轉接器2，所述同軸轉接器2的導體從U形測試架4側 壁向內伸出，U形測試架4的底板與同軸轉接器2的導體之間依次設置有彈性 墊片6、金屬滑塊7及微帶式環行器3，設在U形測試架4底部的螺釘8穿過U 形測試架4的底板及彈性墊片6后與金屬滑塊7螺紋連接，金屬滑塊7的側壁 上設置有非金屬介質，所述非金屬介質與金屬滑塊7的側壁構成分布電容。金 屬滑塊7的側壁與側壁上的非金屬介質構成的分布電容，保證了微帶式環行器3 有良好的微波接地。
所述U形測試架4的固定有一個同軸轉接器2的側壁的寬度小于其另一個 側壁的寬度，可使測試架4的結構更簡單。
本實用新型的工作過程轉動測試架4底部的螺釘8，使金屬滑塊7向下平 移，壓緊彈性墊片6，然后插入待測的微帶環行器3，使之與同軸轉接器2的導 體對準。接著反向轉動螺釘8，恢復的彈性墊片6將金屬滑塊7向上推動，直到 環行器3與同軸轉接器2的導體壓緊為止，從而保證了環行器3與同軸轉接器2 的導體電接觸良好。
使用本實用新型既能使環行器3與固定在測試架4上的同軸轉接器2內導 體有良好接觸，又有良好的微波接地。而且可以將測試界面選在環行器3的三 個端口，經過校準，用網絡儀可得到環行器3精密的測量結果。
權利要求1、一種微帶式環行器的測試架，其特征是所述測試架(4)為U形，U形測試架(4)的一個側壁外側固定有二個同軸轉接器(2)，其另一個側壁外側固定有一個同軸轉接器(2)，所述同軸轉接器(2)的導體從U形測試架(4)側壁向內伸出，U形測試架(4)的底板與同軸轉接器(2)的導體之間依次設置有彈性墊片(6)、金屬滑塊(7)及微帶式環行器(3)，設在U形測試架(4)底部的螺釘(8)穿過U形測試架(4)的底板及彈性墊片(6)后與金屬滑塊(7)螺紋連接，金屬滑塊(7)的側壁上設置有非金屬介質，所述非金屬介質與金屬滑塊(7)的側壁構成分布電容。
2、 按照權利要求1所述的微帶式環行器的測試架，其特征是所述U形測試 架(4)的固定有一個同軸轉接器(2)的側壁的寬度小于其另一個側壁的寬度。
專利摘要本實用新型涉及一種微帶式環行器的測試架，所述測試架為U形，U形測試架的一個側壁固定有二個同軸轉接器，另一個側壁固定有一個同軸轉接器，同軸轉接器的導體從測試架側壁向內伸出，測試架的底板與同軸轉接器的導體之間依次設置有彈性墊片、金屬滑塊及微帶式環行器，設在測試架底部的螺釘穿過測試架的底板及彈性墊片后與金屬滑塊螺紋連接，金屬滑塊的側壁上設置有非金屬介質，非金屬介質與金屬滑塊的側壁構成分布電容。金屬滑塊在螺釘與彈性墊片的作用下帶動微帶式環行器上下移動，使微帶式環行器與同軸轉接器的導體有良好接觸；分布電容保證了微帶式環行器有良好的微波接地；可得到環行器精密的測量結果。
文檔編號G01R27/26GK201392369SQ200920040610
公開日2010年1月27日 申請日期2009年4月21日 優先權日2009年4月21日
發明者黃家棟 申請人:無錫華測電子系統有限公司