專利名稱：微調裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種測試工具的微調裝置，特別涉及一種調整電子探棒的探針之間的距離的微調裝置。
背景技術：
電子探棒廣泛應用于電子產品電氣特性的測量，通常，電子探棒的前端設有導電 材料制成的一對探針，該對探針用于觸接電子產品的測試點，例如電腦主機板上芯片的引 腳，電子探棒的后端用于連接信號分析儀器，如示波器等。電子產品測試點的信號通過電子 探棒顯示在信號分析儀器上，供測試者分析。如今，電子產品越來越小型化，使得測試點的 間距越來越小，如主板或連接器上間距很小的信號引腳及接地引腳，或者用來連接差分信 號線的兩引腳。目前常通過起子伸入電子探棒的小孔內轉動微調旋鈕來調節的兩探針之間 的距離，如此不僅操作麻煩，而且不能準確地調整兩探針的距離。
發明內容
鑒于以上內容，有必要提供一種操作方便且調整精確的微調裝置。一種微調裝置，用以調整一電子探棒的兩探針之間的距離，所述電子探棒的一開 口內設有一可調節兩探針之間距離的微調旋鈕，所述微調裝置包括一用來放置該電子探棒 的承載架、若干可將該電子探棒固定于該承載架的固定桿、一樞接于該承載架且可伸入所 述電子探棒的開口內轉動微調旋鈕的轉動軸及一固定套設于該轉動軸的轉輪，轉輪沿其圓 周設有刻度。本發明微調裝置通過所述固定桿及所述固定桿兩端的固定螺帽固定一電子探棒 并將所述探頭對準電子探棒的具有微調旋鈕的小孔，再轉動所述轉輪使得所述探頭伸入到 所述小孔中并旋轉所述微調旋鈕，不需要使用起子旋轉微調旋鈕，操作方便。
圖1是一電子探棒的立體圖。圖2是本發明微調裝置的較佳實施方式的立體分解圖。圖3是本發明微調裝置的較佳實施方式的立體組合圖。圖4是本發明微調裝置的轉輪平面視圖。
具體實施例方式下面參照附圖結合具體實施方式
對本發明做進一步的描述。如圖1及圖2所示，本發明微調裝置的較佳實施方式用來旋轉一電子探棒100的 小孔Iio中的微調旋鈕以調整所述電子探棒100的兩個探針120之間的距離，其包括一承 載架10、兩固定桿30、四個固定螺母50、一轉動軸70、一轉輪80及一彈簧90。所述承載架10包括一長方形的基板11、一沿基板11的長度方向垂直設置在該基板11的第一安裝板13。該基板11的一側邊上設一長方形的開口 14并于該開口 14的一側緣設一平行該第一安裝板13的第二安裝板15。所述基板11沿所述開口 14的另一側緣向 外延伸形成一凸板16并于該凸板16的外緣設一平行該第一安裝板13的第三安裝板17。 該基板11沿其長度方向設有若干相間隔的第一長通孔112，該第一安裝板13對應設有若 干相間隔的第二長通孔132。該第二安裝板15及第三安裝板17對應地分別設有一樞接孔 152,172ο每一固定桿30呈L形狀，包括相互垂直的兩桿部，每一桿部的末端分別設有螺紋。請同時參考圖4，所述轉輪80的圓心處設有一截面為正四邊形的通孔81，所述轉 輪80的一端面沿圓周設有角度刻度。在其它實施方式中，所述端面沿圓周設有弧長刻度。所述轉動軸70包括一較短的第一轉軸74、一較長的第二轉軸76及設置在第一轉 軸74與第二轉軸76之間與所述轉輪80的通孔81相配合的連接軸78。該第一轉軸74末 端進一步沿軸向延伸形成一探頭742，所述探頭742的橫截面與所述電子探棒100的微調旋 鈕的形狀相匹配。本實施方式中，所述探頭742的截面為正六邊形。所述連接軸78的截面 為正四邊形，其邊長略小于所述轉輪80的通孔81的邊長、所述承載架10的樞接孔152及 172的直徑，且略大于第一轉軸74及第二轉軸76的直徑。請參閱圖3，組裝時，將轉輪80及彈簧90放置在所述承載架10的第二安裝板15 及第三安裝板17之間且轉輪80位于開口 14內，再將所述轉動軸70的第一轉軸74依次穿 設于所述承載架10的樞接孔172、彈簧90、轉輪80的通孔81及所述承載架10的樞接孔 152。所述轉動軸70的連接軸78固定于轉輪80的通孔81，使得所述轉動軸70與轉輪80 可連動。此時，彈簧90的一端接觸承載架10的第三安裝板17，另一端接觸所述轉動軸70 的連接軸78。所述轉輪80靠近第一轉軸74的一端面貼靠所述第二安裝板15，此時所述轉 輪80設有刻度的端面與第三安裝板17相對。使用時，將所述電子探棒100貼靠著所述第一安裝板13放置在所述基板11上，推 動所述轉動軸70向靠近第三安裝板17的方向移動并壓縮彈簧90以使所述電子探棒100 的小孔110正對所述轉動軸70的探頭742，然后松開所述轉動軸70，彈簧90恢復變形向第 二安裝板15的方向推動所述轉動軸70，使轉動軸70的探頭742伸入電子探棒100的小孔 110中。根據所述電子探棒100的尺寸將兩固定桿30的桿部插入所述承載架10對應的第 一長通孔112及第長二通孔132后藉由所述固定螺母50螺鎖于固定桿30，從而將所述電子 探棒100固定于所述承載架10。轉動所述轉輪80使所述轉動軸70的探頭742帶動所述小 孔110中的微調旋鈕轉動以調整所述電子探棒100的兩探針120的間距。下面對本發明微調裝置的工作原理進行說明。設定所述轉輪80的半徑為r，轉輪80轉動360度(2 π )時所述電子探棒100的 兩探針120之間的距離變化量為d。如果兩個探針120之間距離變化量為s，則轉輪80的 需要轉動的角度S以及需要轉動的弧長D可由公式(1)及(2)計算得到δ = 2 π s/d (1)D = r δ = 2 π rs/d (2)相應地，通過轉動所述轉輪80相應的角度δ或弧長D即可準確地調整兩個探針 120之間的距離變化量S。
權利要求
一種微調裝置，用以調整一電子探棒的兩探針之間的距離，所述電子探棒的一開口內設有一可調節兩探針之間距離的微調旋鈕，所述微調裝置包括一用來放置該電子探棒的承載架、若干可將該電子探棒固定于該承載架的固定桿、一樞接于該承載架且可伸入所述電子探棒的開口內轉動微調旋鈕的轉動軸及一固定套設于該轉動軸的轉輪，轉輪沿其圓周設有刻度。
2.如權利要求1所述的微調裝置，其特征在于所述承載架包括一基板及一垂直基板 的第一安裝板，每一固定桿包括相互垂直且設有螺紋的兩桿部，該基板及第一安裝板對應 設有若干相間隔的長通孔，所述固定桿的兩桿部分別滑動穿過基板及第一安裝板的長通孔 且螺鎖于若干螺母，從而將所述電子探棒固定于該承載架。
3.如權利要求2所述的微調裝置，其特征在于所述基板設一收容所述轉輪的開口，所 述基板于該開口的兩側緣分別突設一第二安裝板及一第三安裝板，第二及第三安裝板對應 設有供轉動軸轉動穿過的樞孔。
4.如權利要求3所述的微調裝置，其特征在于所述轉動軸還套設有一夾置于該轉輪 與第二安裝板或第三安裝板之間的一彈簧。
5.如權利要求1所述的微調裝置，其特征在于所述轉輪的圓心處設有一通孔，所述轉 動軸包括一與該通孔固定相接的連接軸。
6.如權利要求5所述的微調裝置，其特征在于所述轉輪的通孔及連接軸的截面為相 對應的正多邊形。
7.如權利要求1所述的微調裝置，其特征在于所述轉動軸面向所述微調旋鈕的一端 進一步沿軸向延伸形成一探頭，所述探頭的橫截面與電子探棒的微調旋鈕的形狀相匹配。
8.如權利要求1所述的微調裝置，其特征在于所述電子探棒的兩探針的距離變化量s 與轉輪轉動的角度S滿足以下關系δ = 2 π s/d，其中d為所述轉輪轉動360度時兩探針之間的距離變化量。
9.如權利要求1所述的微調裝置，其特征在于所述電子探棒的兩探針的距離變化量s 與轉輪轉動的的弧長D滿足以下關系D = 2 π rs/d，其中d為所述轉輪轉動360度時兩探針之間的距離距離變化俄量，r為 所述轉輪的半徑。
10.如權利要求1所述的微調裝置，其特征在于所述轉輪的一端面沿圓周設有角度或 弧長刻度。
全文摘要
一種微調裝置，所述微調裝置包括一承載架、若干固定桿、一樞接于該承載架的轉動軸及一固定套設于該轉動軸的轉輪，轉輪沿其圓周設有刻度。本發明微調裝置通過固定桿及固定螺帽固定一電子探棒并將探頭對準電子探棒的具有微調旋鈕的小孔，再轉動轉輪使得探頭伸入到小孔中并旋轉微調旋鈕，不需要使用起子旋轉微調旋鈕，操作方便。
文檔編號G01R1/02GK101988929SQ20091030511
公開日2011年3月23日 申請日期2009年8月3日 優先權日2009年8月3日
發明者李昇軍, 梁獻全, 許壽國, 陳永杰 申請人:鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司