專利名稱：高溫密封墊片泄漏率測試方法及其測試裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及墊片高溫密封性能的測試，通過設計特殊結構的試驗裝置，提出一種高溫密封墊片泄漏率測試方法及其測試裝置。
背景技術：
螺栓法蘭墊片密封廣泛應用于過程工業的設備和管道連接中，墊片是影響連接密封性能的關鍵元件。流體的密封是通過法蘭和墊片間的相互緊密接觸，依靠墊片的彈塑性變形，減小或堵塞泄漏通道，以增加流動阻力來實現的。
近三十多年來，國內外對螺栓法蘭連接結構的密封特性進行了較為全面研究。在此研究領域最富成果的就是對墊片性能的深入研究。早在1974年美國壓力容器委員會(PVRC)的螺栓法蘭連接分會(S/C ON BFC)開始了墊片常溫性能的研究，對ASME鍋爐和壓力容器規范給出的墊片系數m、y進行評定。采用美國材料試驗學會(ASTM)標準，對石棉墊和纏繞墊進行了常溫氮氣和水密封試驗，研究墊片預緊應力和法蘭表面光潔度對密封性能的影響，以及m、y與墊片寬度、預緊載荷、泄漏率和介質壓力之間的相互關系。后來又提出了更為廣泛的包括里程碑試驗和工況試驗的“墊片試驗計劃II”，作為提供更有效的規范設計參數和ASTM試驗標準的基礎。歷時十多年的研究，PVRC對墊片室溫性能有了較充分的了解，在試驗基礎上可預測各種預緊載荷和室溫操作條件下墊片的密封性能。德國、奧地利等國亦相繼開展了墊片常溫性能及相應試驗裝備和測試技術的研究。與常溫相比，高溫工況下的密封失效問題更為突出。高溫引起墊片的老化、失重、蠕變、松弛、密封性能下降，是導致整個法蘭連接系統失效的主要原因。目前由于缺乏墊片高溫性能數據，高溫法蘭連接設計尚是經驗性的，無法對在役連接系統作出正確的安全評定。
1982年，墊片試驗與高溫連接性能研究小組(S/C ON GT&ETJB)啟動了墊片高溫性能研究計劃，開始了一系列法蘭墊片連接在高溫循環載荷下密封性能的試驗和分析工作。探討了螺栓法蘭墊片各個連接件的高溫行為及連接的密封機理，研究了影響連接系統泄漏的諸因素及它們之間的關系并建立了一系列設計方法，使連接系統在高溫工況下的泄漏率減至最小。
Bazergui，Marchand和Payne于1988年研制出了墊片熱時效試驗裝置和熱緊密性裝置。可以分別做單試件的蠕變松弛試驗和短期密封試驗。他們模擬實際的操作工況，對熱態墊片的特性進行了系統的試驗研究。試驗結果表明溫度和介質壓力的共同作用使墊片的密封性能顯著下降，高溫下墊片產生蠕變和應力松弛，并且蠕變速度比常溫快得多，從而降低了墊片緊密性。
法國的Birembaut和Bravo在1988年試驗研究了石棉橡膠墊片和石棉纏繞墊片的高溫性能。試驗結果表明墊片壓縮量隨溫度的增加而增加；墊片泄漏率隨溫度升高而急劇增大；室溫下泄漏率隨墊片預緊載荷的增大而減小。這一試驗研究比較全面地揭示了墊片的力學性能和密封性能，但缺乏對其性能的定量研究。
PVRC的BFC分委員會與高溫設計分委員會聯合組成一個研究小組于1988年和1989年建立了墊片長期熱態性能研究的試驗裝置，探討了墊片應力、蠕變與松弛對系統緊密性的影響。1998年，L Marchand等人又研制了一套老化松弛夾具，可以對墊片材料進行長期老化，進一步研究墊片的長期熱態性能。
國內南京工業大學朱洪生、顧伯勤等從1981年起對墊片的密封機理以及螺栓法蘭連接系統的緊密性進行了廣泛研究。研制了多功能全自動的墊片性能試驗機和墊片高溫性能試驗裝置，用于常溫和高溫時墊片材料性能試驗，并提出了相應的泄漏率測試方法。石油大學在參考美國ASTM F586-79標準和美國PVRC推薦的A、B試驗方法的基礎上，對纏繞墊、耐油石棉橡膠板、金屬包覆墊、八角和金屬橢圓等型式的墊片性能進行了研究，獲得了大量試驗數據，標繪了力學和密封特性曲線。在此基礎上，指出了各種墊片的結構尺寸、使用范圍、制造要求及其密封參數值，推薦了法蘭連接密封設計的新方法。
現代工業的飛速發展對墊片密封的要求愈來愈嚴格，減少泄漏率、延長密封元件的使用壽命是環境保護、節約能源、安全生產十分迫切的要求。嚴格定量控制泄漏率是保證現代系統和設備安全運行的重要條件，PVRC于1977年提出了泄漏率的定量指標，推薦一般工業泄漏率指標為10-3cm3/s，對原子能和某些化學工業，泄漏率指標控制在10-7cm3/s以下，當裝置的泄漏率達到指標量即可認為密封已經失效。PVRC認為也可以以螺栓載荷松弛至初始載荷的75％作為密封失效的判據。
盡管國內外已有不少高溫墊片密封性能的試驗，但是還沒有完善的高溫墊片泄漏率測試方法，已有的墊片高溫密封性能試驗裝置，結構陳舊，測漏空腔處于介質高壓區，測漏空腔壓力的測量精度低，且容易產生由于測漏空腔密封不嚴帶來試驗誤差大的問題，高溫墊片的泄漏率測試困難。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是，設計一個針對高溫墊片密封性能試驗的低壓測漏空腔作為高溫密封墊片泄漏率測試裝置，并建立相應的高溫密封墊片泄漏率測試方法。
本發明是采取以下的技術方案來實現的 本發明的高溫密封墊片泄漏率測試裝置由“凸”形上法蘭、“凹”形下法蘭、試驗墊片、“Ω”形環狀密封圈、外壓墊、內壓墊、外壓環、內壓環、沉頭螺栓、介質出氣管、溫度傳感器和微壓傳感器組成。“Ω”環形密封圈與試驗墊片及上法蘭、下法蘭及介質出氣管組成一密閉的測漏空腔；試驗介質通過墊片漏入環形測漏空腔，引起空腔內氣體狀態的改變，采用微壓傳感器和溫度傳感器測定氣體狀態，包括壓力、溫度的微小變化，由理想氣體狀態方程計算得到泄漏率；測漏空腔屬于低壓區，可以有效避免以高壓區作為泄漏空腔而帶來的泄漏問題，使測量更準確。
泄漏率測試的基本原理 采用本方法進行泄漏率測量的過程為將試驗墊片加載，待介質溫度達到設定值并穩定后，打開介質進氣閥門，穩定壓力，然后測定在指定時間間隔內測漏空腔中的壓力、溫度和容積變化，依據氣體狀態方程計算出泄漏率。
測試的主要參數包括壓差、溫度和容積。
(1)壓差測量 測漏空腔中介質為經密封墊片由高壓區漏入的介質，測漏空腔處于低壓區，可認為內部介質不向外泄漏。泄漏前由于微差傳感器兩端的壓力相等，電壓輸出值為零。開始測漏后，微壓傳感器一端壓力不變，而與測漏空腔相連的一端壓力變大，微壓傳感器即輸出一個壓差值。
(2)溫度測量 上法蘭、下法蘭溫度采用鎳鉻-鎳鋁熱電偶測量，管路中氣體的溫度均采用鎳鉻-考銅熱電偶測量。考慮熱阻、避免熱損失，所有的熱電偶線均用玻璃纖維、瓷環包覆。熱電偶線末端引接到無電勢轉換開關，待工況穩定后再用數字電壓表記錄數據。由于氣體介質溫度升高帶來管道上的溫度變化，根據溫度的分布情況將測漏空腔分為三段。第一段為墊片外側與上下法蘭形成的空腔Ta1＝T10；第二段為法蘭與管路相接處至軟管左端Ta2＝(T10+T20)/2；第三段為軟管左端至微壓傳感器左端Ta3＝(T20+T30)/2。
一種高溫密封墊片泄漏率測試方法，包括以下步驟 將試驗墊片加載在上法蘭和下法蘭之間，密封上法蘭和下法蘭的“Ω”形環狀密封圈、試驗墊片及上法蘭、下法蘭及下法蘭上的介質出氣管組成一密閉的測漏空腔； 打開閥門，向所述泄漏空腔內注入預定溫度和壓力的的氣體介質，并保持介質壓力穩定； 測定在指定時間間隔內泄漏空腔中的壓力差、溫度和容積，依據氣體狀態方程計算出泄漏率； 所述指定時間間隔內泄漏空腔中的壓力差為連通介質出氣管的微壓傳感器兩端的壓力差； 所述指定時間間隔內泄漏空腔中的溫度包括通過溫度傳感器測量泄漏空腔內三個不同空腔段的溫度，分別為 試驗墊片外側與上法蘭和下法蘭形成的第一段空腔內的溫度Ta1，Ta1＝T10； 下法蘭與管路相接處至金屬軟管左端的第二段空腔內的溫度Ta2，Ta2＝(T10+T20)/2； 第三段為金屬軟管左端至微壓傳感器左測量端的第三段空腔內的溫度Ta3，Ta3＝(T20+T30)/2； T10、T20、T30分別為法蘭的溫度、金屬軟管左端溫度、微壓傳感器左測量端溫度； 所述測定在指定時間間隔內泄漏空腔中的容積包括以下步驟 分別測量上述測漏空腔的三段空腔各段的容積V1、V2、V3； 標定時設定標準容器的初始壓力為P0、容積V0； 打開閥門，等氣體平衡后測得平衡壓力P1； 根據理想氣體狀態方程得 PaVi+(Pa+P0)V0＝(Pa+P1)(V0+Vi) 化簡得 Vi＝(P0-P1)V0/P1 式中Pa為標準大氣壓、P0為標準容器壓力、P1為標準容器和測漏空腔連通后的平衡壓力、V0為標準容器的容積、Vi為測漏空腔的容積(i＝1～3)； 所述依據氣體狀態方程計算出泄漏包括以下步驟 由理想氣體狀態方程PV＝nRT，得到測漏空腔內氣體摩爾數變化量為 將上述氣體摩爾數變化量換算成標準狀況下測漏空腔的體積 得到泄漏率，即單位時間內泄漏的氣體體積量為 式中t為測漏時間、Ta為標準狀態下的溫度值、Pa為標準大氣壓、ΔP為微壓傳感器兩端的壓力差、Δn為測漏空腔氣體摩爾變化量、R為氣體常數、n，n1，n2，n3分別為測漏空腔、測漏空腔第一段空腔、測漏空腔第二段空腔、測漏空腔第三段空腔的氣體摩爾數、L為體積泄漏率。
所述溫度傳感器為鎳鉻-鎳鋁熱電偶，熱電偶線均用玻璃纖維、瓷環包覆；熱電偶線末端引接到無電勢轉換開關，待工況穩定后再用數字電壓表記錄數據。
還包括獲得泄漏率測量精度，包括以下步驟 根據高斯誤差估計法求泄漏率測量系統精度，由泄漏率可求得絕對誤差dL 其中
其中dt為時間t的測量誤差、d(ΔP)為微壓傳感器的測量誤差、d(Vi)為各段容積的測量誤差(i＝1～3)、d(Tai)為各段溫度的測量誤差(i＝1～3)。
一種高溫密封墊片泄漏率測試裝置，其特征是它由“凸”形上法蘭、“凹”形下法蘭、試驗墊片、“Ω”形環狀密封圈、外壓墊、內壓墊、外壓環、內壓環、介質出氣管、溫度傳感器和微壓傳感器組成，所述上法蘭置于下法蘭的凹臺內，試驗墊片加載于上法蘭與下法蘭之間，上法蘭上設有內壓墊和內壓環，下法蘭上設有外壓環和外壓墊，外壓環內壓環通過沉頭螺栓固定，“Ω”形環狀密封圈置于上法蘭與下法蘭之間的縱向間隙處，“Ω”形環狀密封圈、試驗墊片、上法蘭與下法蘭及設置在下法蘭上的介質出氣管組成一密閉的測漏空腔；上法蘭與下法蘭上分別設有溫度傳感器，微壓傳感器的一測量端連通介質出氣管。
所述微壓傳感器的另一測量端連通介質給定裝置，介質出氣管連通連接金屬軟管，金屬軟管末端連通微壓傳感器的一測量端和閥門。
該方法的測試精度與測漏空腔的容積大小、測量時間的長短和微壓傳感器和測溫元件的靈敏度有關。減小測漏空腔的容積，延長測量時間并采用分辨率高的微壓傳感器和熱電偶，有助于提高測量的靈敏度。
本發明的有益效果是 高溫密封墊片泄漏率測試方法及其測試裝置完善了高溫墊片泄漏率測試方法，結構合理，保證了測漏空腔壓力的測量的高精度，克服了由于測漏空腔密封不嚴帶來試驗誤差大的問題，高溫墊片的泄漏率測試因此較容易實現。對測漏空腔的結構做了改進，建立了以低壓區作為測漏空腔的高溫墊片泄漏率測試方法。這對研究高溫墊片密封性能，推動密封技術的進步起到了積極作用。很好地滿足了現代工業的飛速發展對墊片密封的要求。
圖1為本發明的高溫密封墊片泄漏率測試裝置結構示意圖。
圖2為本發明的高溫密封墊片泄漏率測試裝置的測溫點示意圖。
圖3為本發明的測漏空腔容積Vi標定示意圖 其中，1為外壓環、2為外壓墊、3為“Ω”環形密封圈、4為測漏空腔、5為試驗墊片、6為下法蘭、7為上法蘭、8為內壓環、9為內壓墊、10為沉頭螺栓、11為介質出氣管、12為溫度傳感器、13為微壓傳感器、14為金屬軟管、15為閥門、16為閥門。
具體實施例方式 一種高溫密封墊片泄漏率測試方法，包括以下步驟 將試驗墊片5加載在上法蘭7和下法蘭6之間，密封上法蘭7和下法蘭6的“Ω”形環狀密封圈3、試驗墊片5及上法蘭7、下法蘭6及下法蘭6上的介質出氣管11組成一密閉的測漏空腔4； 打開閥門15，向所述泄漏空腔4內注入預定溫度和壓力的的氣體介質，并保持介質壓力穩定； 測定在指定時間間隔內泄漏空腔4中的壓力差、溫度和容積，依據氣體狀態方程計算出泄漏率； 指定時間間隔內泄漏空腔4中的壓力差為連通介質出氣管11的微壓傳感器14兩端的壓力差； 所述指定時間間隔內泄漏空腔4中的溫度包括通過溫度傳感器12測量泄漏空腔4內三個不同空腔段的溫度，分別為 試驗墊片5外側與上法蘭7和下法蘭6形成的第一段空腔內的溫度Ta1，Ta1＝T10； 下法蘭6與管路相接處至金屬軟管14左端的第二段空腔內的溫度Ta2，Ta2＝(T10+T20)/2； 第三段為金屬軟管14左端至微壓傳感器13左測量端的第三段空腔內的溫度Ta3，Ta3＝(T20+T30)/2； T10、T20、T30分別為法蘭的溫度、金屬軟管14左端溫度、微壓傳感器13左測量端溫度； 所述測定在指定時間間隔內泄漏空腔4中的容積包括以下步驟 分別測量上述測漏空腔4的三段空腔各段的容積V1、V2、V3； 標定時設定標準容器的初始壓力為P0、容積V0； 打開閥門16，等氣體平衡后測得平衡壓力P1； 根據理想氣體狀態方程得 PaVi+(Pa+P0)V0＝(Pa+P1)(V0+Vi) 化簡得 Vi＝(P0-P1)V0/P1 式中Pa為標準大氣壓、P0為標準容器壓力、P1為標準容器和測漏空腔連通后的平衡壓力、V0為標準容器的容積、Vi為測漏空腔的容積(i＝1～3)； 所述依據氣體狀態方程計算出泄漏包括以下步驟 由理想氣體狀態方程PV＝nRT，得到測漏空腔4內氣體摩爾數變化量為 將上述氣體摩爾數變化量換算成標準狀況下測漏空腔4的體積 得到泄漏率，即單位時間內泄漏的氣體體積量為 式中t為測漏時間、Ta為標準狀態下的溫度值、Pa為標準大氣壓、ΔP為微壓傳感器兩端的壓力差、Δn為測漏空腔氣體摩爾變化量、R為氣體常數、n，n1，n2，n3分別為測漏空腔、測漏空腔第一段空腔、測漏空腔第二段空腔、測漏空腔第三段空腔的氣體摩爾數、L為體積泄漏率。
溫度傳感器12為鎳鉻-鎳鋁熱電偶，熱電偶線均用玻璃纖維、瓷環包覆；熱電偶線末端引接到無電勢轉換開關，待工況穩定后再用數字電壓表記錄數據。
還包括獲得泄漏率測量精度，包括以下步驟 根據高斯誤差估計法求泄漏率測量系統精度，由泄漏率可求得絕對誤差dL 其中
其中dt為時間t的測量誤差、d(ΔP)為微壓傳感器的測量誤差、d(Vi)為各段容積的測量誤差(i＝1～3)、d(Tai)為各段溫度的測量誤差(i＝1～3)。
如圖1、圖2，一種高溫密封墊片泄漏率測試裝置，其特征是它由“凸”形上法蘭7、“凹”形下法蘭6、試驗墊片5、“Ω”形環狀密封圈3、外壓墊2、內壓墊9、外壓環1、內壓環8、介質出氣管11、溫度傳感器12和微壓傳感器13組成，所述上法蘭7置于下法蘭6的凹臺內，試驗墊片5加載于上法蘭7與下法蘭6之間，上法蘭7上設有內壓墊9和內壓環8，下法蘭6上設有外壓環1和外壓墊2，外壓環1內壓環8通過沉頭螺栓10固定，“Ω”形環狀密封圈3置于上法蘭7與下法蘭6之間的縱向間隙處，“Ω”形環狀密封圈3、試驗墊片5、上法蘭7與下法蘭6及設置在下法蘭6上的介質出氣管11組成一密閉的測漏空腔4；上法蘭7與下法蘭6上分別設有溫度傳感器12，微壓傳感器13的一測量端連通介質出氣管11。
微壓傳感器13的另一測量端連通介質給定裝置，介質出氣管11連通連接金屬軟管14，金屬軟管14末端連通微壓傳感器13的一測量端和閥門15。
如圖3，泄露空腔4與標準容器之間連通，并設有閥門16。
試驗墊片5為不銹鋼柔性石墨纏繞墊片，墊片尺寸為
墊片內環為Q235鋼，鋼帶為1Cr18Ni9Ti，非金屬帶為柔性石墨帶。微壓傳感器型號為1151DR，測量范圍0-0.125～1.5kPa，使用對象為液體、氣體或蒸汽，精度為0.5％。
在本試驗中t＝10s，dt＝0.1s，Ta＝273.15K，Pa＝101.33kPa，ΔP＝1500Pa，R＝8.315J/(mol·K)，V1＝14.273cm3，V2＝15cm3，V3＝76.22cm3，Ta1＝773.15K(500℃)，Ta2＝353.15K(80℃)，Ta3＝303.15K(30℃)，d(Ta1)＝2K，d(Ta2)＝0.5K，d(Ta3)＝0.5K。故其最大絕對誤差為 d(ΔP)＝1.5×103×0.5％＝7.5Pa 由體積測量精度為1％可得 dV1＝0.14cm3，dV2＝0.15cm3，dV3＝0.76cm3 由可求得相對誤差 ...∴ 即泄漏率測量的相對誤差為1％。
由得系統可測的最大泄漏率 測漏系統分辨率可用系統可測得的最小泄漏率來定義。對本測漏系統微壓傳感器13的測量范圍0-0.125～1.5kPa、測量精度0.5％，所以其分辨率d(ΔP)＝0.125×103×0.5％＝0.6Pa，若測量時間為200s，則由可得 即系統可測得的最小泄漏率約為2.5×10-6cm3/s。
增加或減小測漏空腔4容積可增大系統泄漏率測量范圍。
權利要求
1、一種高溫密封墊片泄漏率測試方法，其特征是包括以下步驟
將試驗墊片(5)加載在上法蘭(7)和下法蘭(6)之間，密封上法蘭(7)和下法蘭(6)的“Ω”形環狀密封圈(3)、試驗墊片(5)及上法蘭(7)、下法蘭(6)及下法蘭(6)上的介質出氣管(11)組成一密閉的測漏空腔(4)；
打開閥門(15)，向所述泄漏空腔(4)內注入預定溫度和壓力的氣體介質，并保持介質壓力穩定；
測定在指定時間間隔內泄漏空腔(4)中的壓力差、溫度和容積，依據氣體狀態方程計算出泄漏率；
所述指定時間間隔內泄漏空腔(4)中的壓力差為連通介質出氣管(11)的微壓傳感器(14)兩端的壓力差；
所述指定時間間隔內泄漏空腔(4)中的溫度包括通過溫度傳感器(12)測量泄漏空腔(4)內三個不同空腔段的溫度，分別為
試驗墊片(5)外側與上法蘭(7)和下法蘭(6)形成的第一段空腔內的溫度Ta1，Ta1＝T10；
下法蘭(6)與管路相接處至金屬軟管(14)左端的第二段空腔內的溫度Ta2，Ta2＝(T10+T20)/2；
第三段為金屬軟管(14)左端至微壓傳感器(13)左測量端的第三段空腔內的溫度Ta3，Ta3＝(T20+T30)/2；
T10、T20、T30分別為法蘭的溫度、金屬軟管(14)左端溫度、微壓傳感器(13)左測量端溫度；
所述測定在指定時間間隔內泄漏空腔(4)中的容積包括以下步驟
分別測量上述測漏空腔(4)的三段空腔各段的容積V1、V2、V3；
標定時設定標準容器的初始壓力為P0、容積V0；
打開閥門(16)，等氣體平衡后測得平衡壓力P1；
根據理想氣體狀態方程得
PaVi+(Pa+P0)V0＝(Pa+P1)(V0+Vi)
化簡得
Vi＝(P0-P1)V0/P1
式中Pa為標準大氣壓、P0為標準容器壓力、P1為標準容器和測漏空腔連通后的平衡壓力、V0為標準容器的容積、Vi為測漏空腔的容積(i＝1～3)；
所述依據氣體狀態方程計算出泄漏包括以下步驟
由理想氣體狀態方程PV＝nRT，得到測漏空腔(4)內氣體摩爾數變化量為
將上述氣體摩爾數變化量換算成標準狀況下測漏空腔(4)的體積
得到泄漏率，即單位時間內泄漏的氣體體積量為
式中t為測漏時間、Ta為標準狀態下的溫度值、Pa為標準大氣壓、ΔP為微壓傳感器兩端的壓力差、Δn為測漏空腔氣體摩爾變化量、R為氣體常數、n，n1，n2，n3分別為測漏空腔、測漏空腔第一段空腔、測漏空腔第二段空腔、測漏空腔第三段空腔的氣體摩爾數、L為體積泄漏率。
2、根據權利要求1所述的高溫密封墊片泄漏率測試方法，其特征是所述溫度傳感器(12)為鎳鉻-鎳鋁熱電偶，熱電偶線均用玻璃纖維、瓷環包覆；熱電偶線末端引接到無電勢轉換開關，待工況穩定后再用數字電壓表記錄數據。
3、根據權利要求1所述的高溫密封墊片泄漏率測試方法，其特征是還包括獲得泄漏率測量精度，包括以下步驟
根據高斯誤差估計法求泄漏率測量系統精度，由泄漏率可求得絕對誤差dL
其中
以及相對誤差
其中dt為時間t的測量誤差、d(ΔP)為微壓傳感器的測量誤差、d(Vi)為各段容積的測量誤差(i＝1～3)、d(Tai)為各段溫度的測量誤差(i＝1～3)。
4、一種高溫密封墊片泄漏率測試裝置，其特征是它由“凸”形上法蘭(7)、“凹”形下法蘭(6)、試驗墊片(5)、“Ω”形環狀密封圈(3)、外壓墊(2)、內壓墊(9)、外壓環(1)、內壓環(8)、介質出氣管(11)、溫度傳感器(12)和微壓傳感器(13)組成，所述上法蘭(7)置于下法蘭(6)的凹臺內，試驗墊片(5)加載于上法蘭(7)與下法蘭(6)之間，上法蘭(7)上設有內壓墊(9)和內壓環(8)，下法蘭(6)上設有外壓環(1)和外壓墊(2)，外壓環(1)內壓環(8)通過沉頭螺栓(10)固定，“Ω”形環狀密封圈(3)置于上法蘭(7)與下法蘭(6)之間的縱向間隙處，“Ω”形環狀密封圈(3)、試驗墊片(5)、上法蘭(7)與下法蘭(6)及設置在下法蘭(6)上的介質出氣管(11)組成一密閉的測漏空腔(4)；上法蘭(7)與下法蘭(6)上分別設有溫度傳感器(12)，微壓傳感器(13)的一測量端連通介質出氣管(11)。
5、根據權利要求4所述的高溫密封墊片泄漏率測試裝置，其特征是所述微壓傳感器(13)的另一測量端連通介質給定裝置，介質出氣管(11)連通連接金屬軟管(14)，金屬軟管(14)末端連通微壓傳感器(13)的一測量端和閥門(15)。
全文摘要
一種高溫密封墊片泄漏率測試方法及其測試裝置，建立了相應的高溫密封墊片泄漏率測試方法。高溫密封墊片泄漏率測試方法及其測試裝置完善了高溫墊片泄漏率測試方法，結構合理，保證了測漏空腔壓力的測量的高精度，克服了由于測漏空腔密封不嚴帶來試驗誤差大的問題，高溫墊片的泄漏率測試因此較容易實現。對測漏空腔的結構做了改進，建立了以低壓區作為測漏空腔的高溫墊片泄漏率測試方法。這對研究高溫墊片密封性能，推動密封技術的進步起到了積極作用。很好地滿足了現代工業的飛速發展對墊片密封的要求。
文檔編號G01M3/26GK101666700SQ20091018343
公開日2010年3月10日 申請日期2009年9月21日 優先權日2009年9月21日
發明者黃星路, 邵春雷, 孫振國, 顧伯勤, 曄 陳, 周劍鋒, 麟 劉, 李玉艷 申請人:南京工業大學