專利名稱：藍寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑的測量方法
技術領域：
本發明涉及一種測量方法，特別涉及一種大直徑藍寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半 徑的測量方法。
背景技術：
在藍寶石透鏡粗加工過程中，我們常常會遇見大直徑透鏡(透鏡直徑> 10. 00mm、 公差士0. 10mm)曲率半徑的快速批量測量問題。藍寶石透鏡曲率半徑可以采用球徑儀、50倍臥式投影儀或萬能工具顯微鏡檢測。 由于粗加工時藍寶石透鏡表面比較粗糙(RzO. 8 Rz3. 2)，加上藍寶石透鏡為大直徑(透鏡 直徑彡10. 00mm、公差士0. 10mm)時，因此采用上述方法檢測，有以下缺點球徑儀檢測，藍 寶石透鏡表面與球徑儀直接接觸容易損傷球徑儀的紅寶石測量頭(紅寶石測量頭比較昂 責)，且不適合生產現場批量檢測；采用50倍臥式投影儀檢測，由于50倍臥式投影儀的最 大測量范圍是7. 00mm,對于直徑> 7. 00mm的藍寶石透鏡不能完全投影，另外，由于藍寶石 透鏡直徑> 10. 00mm，50倍臥式投影儀投影成像(尤其是凹透鏡)不清晰，測量誤差較大； 采用萬能工具顯微鏡檢測，由于通過萬能工具顯微鏡觀測到的藍寶石凸透鏡曲面線條不清 晰(凹透鏡無法檢測)，加上視覺誤差等因素影響，同樣有測量誤差很大的缺點，且不適合 生產現場批量檢測。千分表的測量精度雖可以達到0. 001mm，但是千分表無法直接檢測藍寶石透鏡粗 加工曲率半徑的數值。
發明內容
本發明的目的是提供一種藍寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑的測量方法，本發明 方法測量準確性，有操作簡單、快速的優點，非常適合生產現場的批量檢測。實現本發明的技術方案是藍寶石透鏡粗加工曲率半徑的測量方法，其特征在于有以下步驟(1)將千分表的測桿穿過檢測支架上半部的孔，千分表的測量頭伸出檢測支架上 半部的孔，形成藍寶石透鏡粗加工曲率半徑的專用測量裝置。檢測支架沿中心線設置有階 梯孔，其中階梯孔中直徑較小的孔位于檢測支架上半部，階梯孔中直徑較大的孔位于檢測 支架下半部，檢測支架的側面設有螺孔，鎖緊螺釘插入螺孔將測桿鎖緊固定，所述檢測支架 的外徑和下半部孔的內徑小于被測件弧面的最大弦長；(2)將步驟(1)所述的專用測量裝置放在檢驗平板上，使檢測支架的下端面以及 千分表的測量頭與檢驗平板接觸，旋轉千分表，使千分表長表針對準0刻度線，將千分表調 零；(3)將經粗加工的藍寶石透鏡放在檢驗平板上，將專用測量裝置放在藍寶石透鏡 的球面上，檢測支架下半部孔的外徑或內徑的邊緣分別與藍寶石凹或凸透鏡的球面圓線接 觸，千分表的測頭下降或上升，表針偏移數值為H，讀出千分表顯示的數值H ；
(4)根據計算公式:
權利要求
一種藍寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑的測量方法，其特征在于有以下步驟(1)將千分表的測桿穿過檢測支架上半部孔，千分表的測量頭伸出檢測支架的上半部孔，形成藍寶石透鏡粗加工曲率半徑的專用測量裝置，檢測支架沿中心線設置有階梯孔，其中階梯孔中直徑較小的孔位于檢測支架上半部，階梯孔中直徑較大的孔位于檢測支架下半部，檢測支架的側面設有螺孔，鎖緊螺釘插入螺孔將測桿鎖緊固定；(2)將步驟(1)所述的專用測量裝置放在檢驗平板上，使檢測支架的下端面以及千分表的測量頭與檢驗平板接觸，旋轉千分表，使千分表長表針對準0刻度線，將千分表調零；(3)將經粗加工的藍寶石透鏡放在檢驗平板上，將專用測量裝置放在藍寶石透鏡的球面上，檢測支架下半部孔的外徑或內徑的邊緣分別與藍寶石凹或凸透鏡的球面圓線接觸，千分表的測頭下降或上升，表針偏移數值為H，讀出千分表顯示的數值H；(4)根據計算公式 <mrow><mi>H</mi><mo>=</mo><mi>SR</mi><mo>-</mo><msqrt> <mrow><mo>(</mo><msup> <mi>SR</mi> <mn>2</mn></msup><mo>-</mo><msup> <mrow><mo>(</mo><mi>D</mi><mn>2</mn><mo>/</mo><mn>2</mn><mo>)</mo> </mrow> <mn>2</mn></msup><mo>)</mo> </mrow></msqrt> </mrow>式中SR為藍寶石凹、凸透鏡曲率半徑、D2為測量裝置測臂下端面的外側或內側兩點之間的距離，令SR公差±0.10mm，D2的公差±0.01mm，計算出Hmax數值和Hmin數值，當千分表表針顯示的數值H在Hmax和Hmin之間，則被測藍寶石透鏡的曲率半徑SR合格。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于所述兩測臂的下端面為水平端面。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于所述檢測支架下半部孔的高度為檢測支 架的高度的1/3。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于所述千分表測量頭為球面。
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于所述檢測平板采用高強度、耐磨損的灰口 鑄鐵材料制備，其精度等級為1級，平面度為10·。
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于所述檢測支架的外徑和下半部孔的內徑 小于被測件弧面的最大弦長。
全文摘要
本發明涉及一種藍寶石凹、凸透鏡粗加工曲率半徑的測量方法，將千分表的測桿穿過檢測支架上半部孔，千分表的測量頭伸出檢測支架，形成藍寶石透鏡粗加工曲率半徑的專用測量裝置，將所述的專用測量裝置放在檢驗平板上，調零；用專用測量裝置檢測藍寶石凹或凸透鏡的曲率半徑，根據其Hmax和Hmin數值，判斷被測藍寶石透鏡的曲率半徑是否合格。采用本發明方法能夠保證在藍寶石透鏡粗加工過程中，透鏡(直徑≥10.00mm，公差±0.10mm)曲率半徑的測量準確性，有操作簡單、快速的優點，非常適合生產現場的批量檢測。
文檔編號G01B5/213GK101995203SQ20091010457
公開日2011年3月30日 申請日期2009年8月10日 優先權日2009年8月10日
發明者柏教林, 牟方財, 鄧遠東 申請人:重慶川儀自動化股份有限公司