專利名稱：一種集成電路的通用測試系統和方法
技術領域：
本發明涉及集成電路測試領域，特別是一種集成電路的通用測試系統和方法。
背景技術：
通用測試解決方法用于各種類型的集成電路的測試。
在集成電路測試中，現有的集成電路的通用測試方法一般使用PC(電腦主機) 或MCU (微控器)為主要控制模塊，通過PC控制特定的測試功能模塊，提供給總 線測試資源。這種方法中整個系統的數據處理及具體功能控制全在PC端進行后臺 處理，其一般結構如圖l所示。
現有的測試方法中FPGA (邏輯可編程電路) 一般僅使用在測試功能模塊中。 現有的測試方法中，測試向量都需要讀回PC或MCU保存到后臺存儲器中，然 后再進行數據的比較和處理。這樣的方法數據處理速度慢，不能達到實時處理的 效果，并且用戶定制測試功能的增加完全要依靠測試功能模塊的增加，完成周期 很長成本高。
發明內容
本發明目的在于提供一種可以提高測試工作效率的通用測試系統和方法，可 以實時處理測試結果數據。
本發明的技術方案如下
一種集成電路的通用測試系統，包括依次連接的主控模塊、測試功能模塊和 測試資源總線，所述測試功能模塊通過測試資源總線提供給被測集成電路測試資
源，其特征在于所述主控模塊包括MCU和FPGA或者PC和FPGA， MCU或者PC用 于測試流程控制，FPGA用于測試功能模塊的操作及測試結果數據的處理，MCU和 FPGA或者PC和FPGA都是通過通訊協議總線連接。
一種集成電路的通用測試方法，其特征在于工作流程如下所述PC或MCU 根據用戶的測試程序發送相關的測試功能模塊起動指令給FPGA，再由FPGA通過 硬件總線根據測試功能模塊的配置要求進行相關的測試功能模塊的配置，然后由 測試功能模塊為被測電路提供測試資源，最后被測電路的測試數據通過測試資源總線返回給FPGA，由FPGA對測試數據通過FPGA內開發的硬件程序對數據進行 處理，后將測試對錯結果返回給PC或者MCU。 '
所述PC或MCU只需要根據對錯結果控制整個測試流程。由于在控制模塊中 引入FPGA協調各個測試功能模塊工作，所以PC或MCU只需要單一的控制整個 測試流程，不需要像現有的測試方法中PC或MCU既需要控制整個測試流程又需 要協調各個測試功能模塊工作。
本發明在測試時，在每一個測試向量讀回時，利用FPGA中的硬件程序可以 實現實時的對每一個測試向量與標準向量進行判斷比較，這樣不需要等測試向量 全部發回后在全部保存到后臺，然后在進行測試向量與標準向量的判斷比較。 ' 本發明的有益效果如下
本發明可以使PC或者MCU從復雜的測試數據處理及測試功能模塊的具體功能 控制中解脫，只單一的處理控制流程，這樣可以有效降低對PC或者MCU的性能要 求；FPGA本身為可編程器件，可以根據不同的集成電路測試要求，提供部分可以 供測試工程師二次開發的用戶定制測試功能，以達到更好的靈活通用及高效開發 的目的；可以使測試向量的每一個數據在讀回時就進行實時的比較，不用把測試 向量的數據全部讀回后再在后臺進行比較；這樣可以有效的提高測試的效率。
圖1為背景技術中測試方法所用的結構示意圖 圖2為本發明系統的結構示意圖
具體實施例方式
如圖2所示， 一種集成電路的通用測試系統，包括依次連接的主控模塊、測 試功能模塊和測試資源總線，所述測試功能模塊通過測試資源總線提供給被測集 成電路測試資源，所述主控模塊包括MCU和FPGA或者PC和FPGA， MCU或者PC用 于測試流程控制，FPGA用于測試功能模塊的操作及測試結果數據的處理，MCU和 FPGA或者PC和FPGA都是通過通訊協議總線連接。
一種集成電路的通用測試方法，工作流程如下
PC或MCU根據用戶的測試程序發送相關的測試功能模塊起動指令給FPGA， 再由FPGA通過硬件總線根據測試功能模塊的配置要求進行相關的測試功能模塊 的配置，然后由測試功能模塊為被測電路提供測試資源，最后被測電路的測試數 據通過測試資源總線返回給FPGA，由FPGA對測試數據通過FPGA內開發的硬件程序對數據進行處理，后將測試對錯結果返回給PC或者MCU。
所述PC或MCU只需要根據對錯結果控制整個測試流程。由于在控制模塊中 引入FPGA協調各個測試功能模塊工作，所以PC或MCU只需要單一的控制整個 測試流程，不需要像現有的測試方法中PC或MCU既需要控制整個測試流程又需 要協調各個測試功能模塊工作。
本發明在測試時，在每一個測試向量讀回時，利用FPGA中的硬件程序可以 實現實時的對每一個測試向量與標準向量進行判斷比較，這樣不需要等測試向量 全部發回后在全部保存到后臺，然后在進行測試向量與標準向量的判斷比較。
例如，使用嵌入式MCU為控制模塊，配合ALTERA的FPGA。測試功能模塊提 供邏輯高低電平，測試資源總線采用DDK接頭與測試產品測試卡相連接，電源我 們采用5DC/1A電源。
還例如，同樣使用嵌入式MCU為控制模塊，配合ALTERA的FPGA。測試功能 模塊提供電壓測試功能，測試資源總線采用DDK接頭與測試產品測試卡相連接， 電源我們采用5DC/1A電源。
權利要求
1、一種集成電路的通用測試系統，包括依次連接的主控模塊、測試功能模塊和測試資源總線，所述測試功能模塊通過測試資源總線提供給被測集成電路測試資源，其特征在于所述主控模塊包括MCU和FPGA或者PC和FPGA，MCU或者PC用于測試流程控制，FPGA用于測試功能模塊的操作及測試結果數據的處理，MCU和FPGA或者PC和FPGA通過通訊協議總線連接。
2、 一種集成電路的通用測試方法，其特征在于工作流程如下PC或MCU根 據用戶的測試程序發送相關的測試功能模塊起動指令給FPGA，再由FPGA通過硬 件總線根據測試功能模塊的配置要求進行相關的測試功能模塊的配置，然后由測 試功能模塊為被測電路提供測試資源，最后被測電路的測試結果數據通過測試資 源總線返回給FPGA，由FPGA對測試數據通過FPGA內開發的硬件程序對數據進 行處理后將對錯結果返回給PC或者MCU。
3、 根據權利要求1或2所述一種集成電路的通用測試方法，其特征在于所 述PC或者MCU根據對錯結果控制整個測試流程。
全文摘要
本發明公開了一種集成電路的通用測試系統，包括依次連接的主控模塊、測試功能模塊和測試資源總線，測試功能模塊通過測試資源總線提供給被測集成電路測試資源，主控模塊包括MCU和FPGA或者PC和FPGA，MCU或者PC用于測試流程控制，FPGA用于測試功能模塊的操作及測試結果數據的處理，MCU和FPGA或者PC和FPGA通過通訊協議總線連接；本發明可使MCU從復雜的測試數據處理及測試功能模塊的具體功能控制中解脫，只單一的處理控制流程，可有效降低對MCU的性能要求；FPGA可根據不同集成電路測試要求提供可供二次開發的用戶定制測試功能，以達到更好的靈活通用及高效開發的目的，這樣可以有效的提高測試的效率。
文檔編號G01R31/317GK101666855SQ20091005919
公開日2010年3月10日 申請日期2009年5月6日 優先權日2009年5月6日
發明者非 徐 申請人:和芯微電子(四川)有限公司